全自動介質損耗測試儀技術指標1、工作電源：AC 220V±10%、50Hz±1Hz2、高壓輸出：0.5kV～10kV  每隔0.1kV精    度：2%大電流：200mA容    量：2000VA3、自激電源：AC 0V～50V/15A  45Hz/55Hz、55Hz/65Hz、47.5Hz/52.5Hz4、分 辨 率：tgδ：0.001%Cx：0.001pF5、精    度：△tgδ：±（讀數*1.0%+0.040%）              △Cx：±（讀數*1.0%+1.00PF）6、測量范圍：tgδ：無限制Cx：15pF＜Cx＜300nF10kV  Cx＜60 nF5kV  Cx＜150nF1kV  Cx＜300nFCVT測試：Cx＜300nF7、CVT變比范圍：10～10000全自動介質損耗測試儀按測試頻率要求，需要配置不同量的電(dian)感器。

操作規程：

　　1、本儀器必須有(you)專(zhuan)人(ren)負責保管，使(shi)用，非專(zhuan)職操(cao)作(zuo)者應在使(shi)用前了解和(he)熟(shu)悉本說明書，以免造(zao)成不必要的損(sun)失和(he)事故。

　　2、每次(ci)使用(yong)前應仔細檢查接(jie)地線是否完好，確保以后方可通電使用(yong)。

　　3、接通電(dian)源前應將靈敏度開(kai)關(guan)調到低(di)位置。

　　4、測量(liang)試品前應先對試品進行(xing)高壓試驗(yan)，在電橋工作電壓下無噪聲(sheng)，電離等現象出(chu)現，然后才能(neng)進行(xing)測試(若(ruo)試品己做過高壓試驗(yan)，該項可不必(bi)每次測量(liang)都(dou)做)。

　　5、對試品施加高壓時緩慢升高，不可(ke)以加突(tu)變(bian)電壓。

　　6、測(ce)試時操作人員必須集(ji)中(zhong)思(si)想，工(gong)作前做(zuo)好(hao)一切準備工(gong)作，測(ce)試地點周(zhou)圍(wei)應有明(ming)顯的標記或金(jin)屬屏蔽圍(wei)成高(gao)壓(ya)危(wei)險區，以防止非操作人員闖入(ru)。

　　7、在測量過程中，如有放電(dian)管發光時，則必須及(ji)時切(qie)斷電(dian)源(yuan)，仔細檢查接線及(ji)試(shi)品(pin)都(dou)無擊穿,待檢查排除故障后，再進行高壓測量工(gong)作。

體(ti)(ti)積表面電(dian)(dian)(dian)阻(zu)率測(ce)定(ding)儀配不同的測(ce)量電(dian)(dian)(dian)（夾(jia)具(ju)）可以測(ce)量不同材(cai)料（固(gu)體(ti)(ti)、粉體(ti)(ti)或液(ye)體(ti)(ti)）的體(ti)(ti)積電(dian)(dian)(dian)阻(zu)率和表面電(dian)(dian)(dian)阻(zu)率或電(dian)(dian)(dian)導率。適用于橡膠、塑料、薄膜、及粉體(ti)(ti)、液(ye)體(ti)(ti)、及固(gu)體(ti)(ti)和膏體(ti)(ti)形狀的各(ge)種絕緣(yuan)材(cai)料體(ti)(ti)積和表面電(dian)(dian)(dian)阻(zu)值的測(ce)定(ding)。

　　體積(ji)表面電(dian)阻率(lv)測試(shi)儀產品簡(jian)介：

　　1、體積表面電(dian)阻率測(ce)(ce)試儀(yi)又簡稱(cheng)高阻計(ji)測(ce)(ce)試儀(yi)既可以測(ce)(ce)量(liang)高電(dian)阻又可以測(ce)(ce)量(liang)微電(dian)流(liu)。

　　2、采用了(le)進口大規(gui)模集成電路。

　　3、采用進口電子元器件，使儀(yi)器測量精度高，操作簡單，體積小，重量輕(qing)，觸摸屏操作，主(zhu)界面顯示(shi)電壓、電流、電阻、電阻率、厚度、化時間(jian)。

　　4、測試模(mo)式切(qie)換可(ke)以切(qie)換固體(ti)、粉體(ti)、液體(ti)。

　　5、電(dian)阻(zu)測量(liang)(liang)(liang)量(liang)(liang)(liang)限從1×104Ω～1×1018Ω，電(dian)流測量(liang)(liang)(liang)量(liang)(liang)(liang)限從2×10-4～1×10-16A。

　　6、體(ti)(ti)(ti)積表(biao)面電(dian)(dian)阻(zu)率測(ce)試(shi)儀適(shi)用于橡膠、塑(su)料、薄膜、及(ji)粉(fen)體(ti)(ti)(ti)、液體(ti)(ti)(ti)、及(ji)固體(ti)(ti)(ti)和(he)(he)膏體(ti)(ti)(ti)形狀的(de)各(ge)種絕緣材料體(ti)(ti)(ti)積和(he)(he)表(biao)面電(dian)(dian)阻(zu)值的(de)測(ce)定。本儀器除(chu)能測(ce)電(dian)(dian)阻(zu)外，還能直接測(ce)量微弱電(dian)(dian)流。

　　例如：在(zai)1MHz測試頻(pin)率(lv)時(shi)，要(yao)配250μH電(dian)感器，在(zai)50MHz測試頻(pin)率(lv)時(shi)，要(yao)配0.1μH電(dian)感器等(deng)。

　　高頻(pin)介質樣(yang)(yang)品(pin)(選購件(jian))：采(cai)用(yong)測(ce)(ce)微計電(dian)時，數量級(ji)是(shi)0.03的(de)(de)(de)(de)介質損耗(hao)因數可(ke)測(ce)(ce)到(dao)(dao)真值的(de)(de)(de)(de)±0.000 3，數量級(ji)0.0002的(de)(de)(de)(de)介對于非常(chang)準確的(de)(de)(de)(de)測(ce)(ce)量，在厚(hou)度(du)(du)的(de)(de)(de)(de)測(ce)(ce)量能達(da)到(dao)(dao)足夠的(de)(de)(de)(de)晶(jing)度(du)(du)時，可(ke)采(cai)用(yong)試樣(yang)(yang)上不加電(dian)的(de)(de)(de)(de)系統。對于相對電(dian)容率(lv)不都過(guo)10的(de)(de)(de)(de)管狀(zhuang)試樣(yang)(yang)，醉方便(bian)的(de)(de)(de)(de)電(dian)是(shi)用(yong)金(jin)屬(shu)筋、汞或沉(chen)積金(jin)屬(shu)膜。相對電(dian)容率(lv)在10以上的(de)(de)(de)(de)管狀(zhuang)試樣(yang)(yang)，應采(cai)用(yong)沉(chen)積金(jin)屬(shu)膜電(dian);燒管上可(ke)采(cai)用(yong)燒熔金(jin)屬(shu)電(dian)。電(dian)可(ke)像帶材(cai)一樣(yang)(yang)包覆在管狀(zhuang)試樣(yang)(yang)的(de)(de)(de)(de)全部圓周(zhou)或部分氮(dan)周(zhou)上。

　　在現行高(gao)頻(pin)介(jie)質材料檢定系(xi)統中，檢定部門為高(gao)頻(pin)介(jie)質損耗測(ce)量儀提(ti)供的測(ce)量標準是高(gao)頻(pin)標準介(jie)質樣(yang)品。

　　該樣(yang)品由人工藍寶石、石英玻璃、氧化鋁陶瓷、聚(ju)四氟乙烯、環氧板等材料(liao)做成Φ50mm，厚1～2mm測試樣(yang)品。用戶可(ke)按(an)需(xu)訂購，以保(bao)證測試裝置的重復性和準確性。