絕緣電阻測試儀 高阻計工作原理根(gen)據(ju)歐姆定律(lv)，被測電(dian)(dian)阻(zu)(zu)(zu)Rx等(deng)于施加電(dian)(dian)壓(ya)V除以通(tong)過的(de)(de)(de)電(dian)(dian)流I。傳(chuan)統的(de)(de)(de)高阻(zu)(zu)(zu)計的(de)(de)(de)工作原理是(shi)測量(liang)電(dian)(dian)壓(ya)V固(gu)定，通(tong)過測量(liang)流過取樣電(dian)(dian)阻(zu)(zu)(zu)的(de)(de)(de)電(dian)(dian)流I來得到電(dian)(dian)阻(zu)(zu)(zu)值(zhi)。從歐姆定律(lv)可以看出，由于電(dian)(dian)流I是(shi)與電(dian)(dian)阻(zu)(zu)(zu)成反比(bi)，而(er)不是(shi)成正(zheng)比(bi)，所以電(dian)(dian)阻(zu)(zu)(zu)的(de)(de)(de)顯示(shi)值(zhi)是(shi)非(fei)線性的(de)(de)(de)，即電(dian)(dian)阻(zu)(zu)(zu)無窮大時，電(dian)(dian)流為零(ling)，即表頭(tou)的(de)(de)(de)零(ling)位處是(shi)∞，其(qi)附(fu)近的(de)(de)(de)刻度(du)非(fei)常密，分(fen)辨率(lv)很低。整個刻度(du)是(shi)非(fei)線性的(de)(de)(de)。又由于測量(liang)不同的(de)(de)(de)電(dian)(dian)阻(zu)(zu)(zu)時，其(qi)電(dian)(dian)壓(ya)V也(ye)會有些變化(hua)，所以普通(tong)的(de)(de)(de)高阻(zu)(zu)(zu)計是(shi)精度(du)差(cha)、分(fen)辨率(lv)低。

本(ben)儀器是同(tong)時測(ce)出電(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)(zu)兩端的(de)電(dian)(dian)(dian)壓(ya)V和流(liu)過(guo)電(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)(zu)的(de)電(dian)(dian)(dian)流(liu)I，通過(guo)內部的(de)大(da)規模集成(cheng)電(dian)(dian)(dian)路(lu)完(wan)成(cheng)電(dian)(dian)(dian)壓(ya)除以電(dian)(dian)(dian)流(liu)的(de)計算，然后把所(suo)得到的(de)結果經過(guo)A/D轉換后以數字(zi)顯示出電(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)(zu)值，即(ji)便是電(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)(zu)兩端的(de)電(dian)(dian)(dian)壓(ya)V和流(liu)過(guo)電(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)(zu)的(de)電(dian)(dian)(dian)流(liu)I是同(tong)時變(bian)化，其顯示的(de)電(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)(zu)值不(bu)象(xiang)普通高(gao)阻(zu)(zu)(zu)計那樣因(yin)被測(ce)電(dian)(dian)(dian)壓(ya)V的(de)變(bian)化或電(dian)(dian)(dian)流(liu)Ｉ的(de)變(bian)化而變(bian)，所(suo)以，即(ji)使測(ce)量電(dian)(dian)(dian)壓(ya)、被測(ce)量電(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)(zu)、電(dian)(dian)(dian)源(yuan)電(dian)(dian)(dian)壓(ya)等發生變(bian)化對其結果影響不(bu)大(da)，其測(ce)量精度(du)很高(gao)，從理論(lun)上講其誤差可以做到零(ling)，而實際誤差可以做到千分之(zhi)幾或萬分之(zhi)幾。

典型應用

1、測量(liang)絕緣材料電阻(率)

2、測量防靜(jing)電材料的電阻及電阻率(lv)

3、測量(liang)計算(suan)機(ji)房用活動地板的系統電阻值

4、測量防靜電(dian)(dian)鞋(xie)、導電(dian)(dian)鞋(xie)的電(dian)(dian)阻值

5、光電(dian)(dian)二極管暗電(dian)(dian)流(liu)測(ce)量(liang)

6、物(wu)理(li)(li),光學和(he)材料研究體積(ji)表面電(dian)阻(zu)(zu)率(lv)測(ce)(ce)定儀是(shi)同時測(ce)(ce)出電(dian)阻(zu)(zu)兩(liang)端的(de)(de)(de)電(dian)壓V和(he)流(liu)(liu)過電(dian)阻(zu)(zu)的(de)(de)(de)電(dian)流(liu)(liu)I，通過內部(bu)的(de)(de)(de)大(da)(da)規模集成電(dian)路完成電(dian)壓除(chu)以電(dian)流(liu)(liu)的(de)(de)(de)計(ji)算，然后(hou)把所得到的(de)(de)(de)結(jie)果(guo)經(jing)過A/D轉換后(hou)以數字顯(xian)示出電(dian)阻(zu)(zu)值，即(ji)便(bian)是(shi)電(dian)阻(zu)(zu)兩(liang)端的(de)(de)(de)電(dian)壓V和(he)流(liu)(liu)過電(dian)阻(zu)(zu)的(de)(de)(de)電(dian)流(liu)(liu)I是(shi)同時變化(hua)，其(qi)顯(xian)示的(de)(de)(de)電(dian)阻(zu)(zu)值不象普通高阻(zu)(zu)計(ji)那樣因被測(ce)(ce)電(dian)壓V的(de)(de)(de)變化(hua)或(huo)電(dian)流(liu)(liu)Ｉ的(de)(de)(de)變化(hua)而變，所以，即(ji)使測(ce)(ce)量(liang)(liang)電(dian)壓、被測(ce)(ce)量(liang)(liang)電(dian)阻(zu)(zu)、電(dian)源電(dian)壓等發生變化(hua)對(dui)其(qi)結(jie)果(guo)影(ying)響不大(da)(da)，其(qi)測(ce)(ce)量(liang)(liang)精(jing)度很高，從理(li)(li)論上講其(qi)誤差可以做到零，而實際誤差可以做到千分之幾或(huo)萬分之幾。

絕緣電阻測試儀 高阻計適用于高阻(zu)值絕緣(yuan)材料(liao)、電(dian)(dian)(dian)工產品(pin)、各類元器件及(ji)電(dian)(dian)(dian)線電(dian)(dian)(dian)纜(lan)用橡膠和(he)(he)塑料(liao)的(de)(de)絕緣(yuan)電(dian)(dian)(dian)阻(zu)的(de)(de)測(ce)量，選配電(dian)(dian)(dian)極箱(xiang)能測(ce)量絕緣(yuan)材料(liao)的(de)(de)表面電(dian)(dian)(dian)阻(zu)和(he)(he)體(ti)(ti)積電(dian)(dian)(dian)阻(zu)。符合(he)標準(zhun)：符合(he)標準(zhun)《ASTM D257-2007體(ti)(ti)積電(dian)(dian)(dian)阻(zu)率》、《GBT 1410-2006材料(liao)體(ti)(ti)積電(dian)(dian)(dian)阻(zu)率和(he)(he)表面電(dian)(dian)(dian)阻(zu)率試驗方法》。主要技術指標：測(ce)量電(dian)(dian)(dian)壓：10V、25V、50V、100V(8500-9000)、250V、500V、1000V