四探針碳素電阻測試儀參數：

1. 材料尺寸(由選配測試臺和測試方式決定)

直(zhi)(zhi) 徑：圓(yuan)測(ce)試(shi)臺直(zhi)(zhi)接測(ce)試(shi)方式 Φ15～130mm，手持方式不(bu)限(xian)

方測(ce)試(shi)臺直接測(ce)試(shi)方式(shi) 180mm×180mm，手持方式(shi)不限(xian). 長(高)度： 測(ce)試(shi)臺直接測(ce)試(shi)方式(shi) H≤100mm, 手持方式(shi)不限(xian).

BEST-300C 測試儀(yi)能夠測量半導體材料體電阻率ρ、方塊電阻（薄片電阻率）R 口

以及體(ti)電阻 R，測(ce)量時需調(diao)整相(xiang)(xiang)應的修正(zheng)系(xi)數(shu)和(he)選擇(ze)相(xiang)(xiang)應的功能(neng)。

本產(chan)品不但提(ti)供了(le)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)率(lv)(lv)ρ、方塊電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu) R 口以及(ji)體電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu) R 測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)的(de)基本修(xiu)(xiu)正(zheng)系數設定(ding)， 還提(ti)供了(le)產(chan)品厚(hou)度 G、外形和(he)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)位(wei)置(zhi)的(de)修(xiu)(xiu)正(zheng)系數 D 設定(ding)，極(ji)大(da)的(de)提(ti)高(gao)(gao)(gao)了(le)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)精度。測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)類別的(de)快捷選(xuan)擇(ze)方式(shi)，方便(bian)了(le)用戶同時(shi)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)多(duo)個(ge)參數，提(ti)高(gao)(gao)(gao)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)效率(lv)(lv)。整機測(ce)(ce)(ce)量(liang)最(zui)大(da)相對(dui)誤差(cha)：≤±3%；整機測(ce)(ce)(ce)量(liang)標準不確定(ding)度：≤±3%四位(wei)半顯示(shi)讀數；八量(liang)程(cheng)自動(dong)(dong)(dong)(dong)或(huo)手動(dong)(dong)(dong)(dong)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)；范圍寬： 電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)：10-4Ω～105Ω ；方阻(zu)：10-4Ω/□～105Ω/□；正(zheng)反向電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)流(liu)源(yuan)(yuan)修(xiu)(xiu)正(zheng)測(ce)(ce)(ce)量(liang)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)誤差(cha)恒(heng)流(liu)源(yuan)(yuan)：電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)流(liu)量(liang)程(cheng)分(fen)為(wei)： 1uA、10uA、100uA、1mA、10mA 、100mA六檔；儀器(qi)配(pei)有(you)恒(heng)流(liu)源(yuan)(yuan)開(kai)關可(ke)(ke)有(you)效保護被(bei)測(ce)(ce)(ce)件(jian)，即先讓(rang)探針頭壓觸(chu)(chu)在被(bei)測(ce)(ce)(ce)材料(liao)(liao)上，后開(kai)恒(heng)流(liu)源(yuan)(yuan)開(kai)關，避免接觸(chu)(chu)瞬間打火(huo)。為(wei)了(le)提(ti)高(gao)(gao)(gao)工(gong)作效率(lv)(lv)，如(ru)探針帶電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)壓觸(chu)(chu)單晶對(dui)材料(liao)(liao)及(ji)測(ce)(ce)(ce)量(liang)并(bing)無(wu)影響時(shi)，恒(heng)流(liu)源(yuan)(yuan)開(kai)關可(ke)(ke)一(yi)直處于(yu)開(kai)的(de)狀態。可(ke)(ke)配(pei)合(he)多(duo)種探頭進(jin)行(xing)(xing)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)；也可(ke)(ke)配(pei)合(he)多(duo)種測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)臺(tai)進(jin)行(xing)(xing)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)。校正(zheng)功(gong)能(neng)：可(ke)(ke)手動(dong)(dong)(dong)(dong)或(huo)自動(dong)(dong)(dong)(dong)選(xuan)擇(ze)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)量(liang)程(cheng) 全量(liang)程(cheng)自動(dong)(dong)(dong)(dong)清零。厚(hou)度可(ke)(ke)預設，自動(dong)(dong)(dong)(dong)修(xiu)(xiu)正(zheng)樣(yang)品的(de)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)率(lv)(lv),無(wu)需查(cha)表即可(ke)(ke)計算出電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)率(lv)(lv)自動(dong)(dong)(dong)(dong)進(jin)行(xing)(xing)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)流(liu)換向,并(bing)進(jin)行(xing)(xing)正(zheng)反向電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)流(liu)下的(de)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)率(lv)(lv)(或(huo)方塊電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu))測(ce)(ce)(ce)量(liang),顯示(shi)平均值.測(ce)(ce)(ce)薄片(pian)時(shi),可(ke)(ke)自動(dong)(dong)(dong)(dong)進(jin)行(xing)(xing)厚(hou)度修(xiu)(xiu)正(zheng)。雙電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)測(ce)(ce)(ce)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)模(mo)式(shi)，測(ce)(ce)(ce)量(liang)精度高(gao)(gao)(gao)、穩定(ding)性好.具備溫度補(bu)償(chang)功(gong)能(neng)，修(xiu)(xiu)正(zheng)被(bei)測(ce)(ce)(ce)材料(liao)(liao)溫漂帶來的(de)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)結果偏差(cha)。比較器(qi)判斷燈直接顯示(shi)，勿需查(cha)看屏幕，作業效率(lv)(lv)得以提(ti)高(gao)(gao)(gao)。

3檔分選功能(neng)：超上限，合格，超下限，可(ke)對(dui)被測(ce)(ce)件進行(xing)HI/LOW判斷，可(ke)直接(jie)(jie)在LCD使(shi)用(yong)標志顯示(shi)；也可(ke)通過USB接(jie)(jie)口(kou)、RS232接(jie)(jie)口(kou)輸出更為詳細的(de)分選結果。測(ce)(ce)試(shi)模(mo)式：可(ke)連接(jie)(jie)電腦測(ce)(ce)試(shi)、也可(ke)不連接(jie)(jie)電腦單機測(ce)(ce)試(shi)。接(jie)(jie)口(kou)，Handler接(jie)(jie)口(kou)、RS232接(jie)(jie)口(kou)、USB HOST、USB DEVICE。實現遠程控制。U盤可(ke)記錄測(ce)(ce)試(shi)數(shu)(shu)據(ju)軟件功能(neng)（選配）：軟件可(ke)記錄、保(bao)存、各(ge)點的(de)測(ce)(ce)試(shi)數(shu)(shu)據(ju)；可(ke)供用(yong)戶對(dui)數(shu)(shu)據(ju)進行(xing)各(ge)種數(shu)(shu)據(ju)分

在設(she)定模式下（設(she)定完畢，保存好數據后），選(xuan)擇測量(liang)類(lei)別（電(dian)阻(zu)率ρ、方塊電(dian)阻(zu)

（薄片電(dian)(dian)阻(zu)(zu)率）R 口或體電(dian)(dian)阻(zu)(zu) R 中三選(xuan)一(yi)，切換儀器(qi)到“測(ce)量"模式(shi)，窗口左(zuo)側“測(ce)量" 模式(shi)燈亮。電(dian)(dian)阻(zu)(zu)測(ce)量,注(zhu)意良(liang)好接觸(chu)，電(dian)(dian)壓(ya)測(ce)試(shi)端在內側；半導體參數測(ce)試(shi)，將探針與(yu)樣品(pin)良(liang)好接觸(chu)，注(zhu)意壓(ya)力要適中；由數字(zi)顯示窗直接讀出測(ce)量值。

注意！測量(liang)狀(zhuang)態中，電(dian)流量(liang)程默(mo)認為自(zi)動(dong)方(fang)式(shi)，也可調(diao)整為手動(dong)方(fang)式(shi)，手動(dong)方(fang)式(shi)下， 電(dian)流量(liang)程適(shi)合的，儀器會穩定顯示(shi)數據(ju)，電(dian)流量(liang)程不適(shi)合的會給出超量(liang)程或欠量(liang)程閃爍提示(shi)，對(dui)于超量(liang)程，說(shuo)明電(dian)流過大，要(yao)調(diao)到(dao)較小電(dian)流檔(dang)；對(dui)于欠量(liang)程，說(shuo)明電(dian)流過小， 要(yao)調(diao)到(dao)較大電(dian)流檔(dang)。

四探針碳素電阻測試儀操作：

1、測(ce)試溫度23±2℃，相(xiang)對濕度65±5%，無外界電磁(ci)場干擾環境中進行。

2、測試時對(dui)試樣所(suo)加電壓(ya)為100V~500V的(de)直流電壓(ya)，選擇電壓(ya)檔次。

3、將試(shi)樣倒入(ru)高壓(ya)電(dian)極內，使液面剛好和環電(dian)極下綠全部接觸為止。

4、將充(chong)分(fen)放電(dian)后的試(shi)樣和電(dian)極，按固體(ti)(液體(ti))體(ti)積及(ji)表(biao)面電(dian)阻率測試(shi)儀要求接線。