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直流交流電阻率測試儀廠家

型 號(hao)/BEST-121/

更新(xin)時(shi)間2023-08-08

廠商性質生產廠家

報價

產品描述:直流交流電阻率測試儀廠家 根據歐姆定律,被測電阻Rx等于施加電壓V除以通過的電流I。BEST121型數字高阻計是同時測出電阻兩端的電壓V和流過電阻的電流I,通過內部的大規模集成電路完成電壓除以電流的計算,然后把所得到的結果經過A/D轉換后以數字顯示出電阻值,即便是電阻兩端的電壓V和流過電阻的電流I是同時變化,其顯示的電阻值不象普通高阻計那樣因被測電壓V的變化或電流I的變化而變。

產品概述

直流交流電阻率測試儀廠家  主要特點

    電(dian)阻測(ce)量(liang)范圍 1×104Ω ~1×1018 Ω;

    電流測量(liang)范圍 2×10-4A ~1×10-16A;

    體積小、重(zhong)量輕、準確度高;

    *的被(bei)測電阻、和流過電阻的電流雙顯示,使操作測量更加方便(bian);

    性(xing)能穩定、讀數方便;

    既能測(ce)電阻(zu)又能測(ce)電流;

    測試電壓有六種(zhong)選(xuan)擇DC10V、50V、100V、250V、500V、1000V;

使(shi)用操作簡便(bian),在(zai)任何電阻量程和(he)測(ce)試電壓下均直(zhi)接讀顯示數(shu)字結果,免去要(yao)乘以(yi)一個系數(shu)的麻(ma)煩,使(shi)測(ce)量超(chao)高電阻就(jiu)如用萬用表測(ce)量普通電阻樣(yang)簡便(bian)。

直流交流電阻率測試儀廠家  注(zhu)意(yi)事項

儀(yi)(yi)器使用前請(qing)仔細閱讀以(yi)下內(nei)容,否則(ze)將造(zao)成儀(yi)(yi)器損壞或電擊情況(kuang)。

1.檢查(cha)儀器后面板(ban)電壓量程(cheng)是否置(zhi)于(yu)10V檔(dang),電流電阻(zu)量程(cheng)是否置(zhi)于(yu)104檔(dang)。

2.接通電源調零,(注意此時主機不得與(yu)屏蔽箱線路連(lian)接)在“Rx”兩端開路的情況下,調零使電流表的顯示為0000。然(ran)后關(guan)機。

3.將待測試樣(yang)平鋪在不保(bao)(bao)(bao)護(hu)(hu)電(dian)(dian)極正中央,然(ran)后用保(bao)(bao)(bao)護(hu)(hu)電(dian)(dian)極壓住樣(yang)品,再插入被(bei)保(bao)(bao)(bao)護(hu)(hu)電(dian)(dian)極(不保(bao)(bao)(bao)護(hu)(hu)電(dian)(dian)極、保(bao)(bao)(bao)護(hu)(hu)電(dian)(dian)極、被(bei)保(bao)(bao)(bao)護(hu)(hu)電(dian)(dian)極應同軸且確認電(dian)(dian)極之間(jian)無短路)。

4.測(ce)體積(ji)電阻(zu)時測(ce)試按鈕撥(bo)到Rv邊,測(ce)表面電阻(zu)時測(ce)試按鈕撥(bo)到Rs邊,

5.接(jie)好(hao)測(ce)(ce)試線,將(jiang)測(ce)(ce)試線將(jiang)主機與屏蔽箱連接(jie)好(hao)。量程置(zhi)于104檔,打開(kai)主機后面板電(dian)源開(kai)關按(an)鈕(niu)。從儀器后面板調電(dian)壓(ya)按(an)鈕(niu)到所(suo)要(yao)求的測(ce)(ce)量電(dian)壓(ya)。(比如(ru):GBT 1692-2008 硫化(hua)橡(xiang)膠 絕(jue)緣電(dian)阻率的測(ce)(ce)定 標準中注明要(yao)求在500V電(dian)壓(ya)進(jin)行測(ce)(ce)定,那么電(dian)壓(ya)就(jiu)要(yao)升到500V)

6.電(dian)(dian)(dian)(dian)流(liu)電(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)量程(cheng)按鈕從(cong)低檔(dang)位(wei)逐漸撥(bo)(bo)高檔(dang),每撥(bo)(bo)一次停留(liu)1-2秒觀察顯(xian)示(shi)數(shu)字(zi),當(dang)被(bei)測電(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)大于儀器測量量程(cheng)時(shi)(shi),電(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)表顯(xian)示(shi)“1”,此(ci)時(shi)(shi)應繼續將儀器撥(bo)(bo)到量程(cheng)更(geng)高的(de)位(wei)置。測量儀器有顯(xian)示(shi)值時(shi)(shi)應停下,在1min的(de)電(dian)(dian)(dian)(dian)化時(shi)(shi)間后測量電(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu),當(dang)前的(de)數(shu)字(zi)乘以檔(dang)次即是被(bei)測電(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)。

7.測試完畢先將量(liang)程撥(bo)至(zhi)(104)檔(dang)(dang),然后將測量(liang)電壓(ya)撥(bo)至(zhi)10V檔(dang)(dang), 后將測試按鈕(niu)撥(bo)到中央位置(zhi)后關(guan)閉電源(yuan)。然后進(jin)行下(xia)一次測試。

8.應在“Rx”兩端開路(lu)時調(diao)零,一般一次調(diao)零后在測試過程中不需再調(diao)零。

9.禁止將“RX”兩端(duan)短(duan)路,以免微(wei)電流(liu)(liu)放(fang)大器受大電流(liu)(liu)沖擊。

10.不(bu)得(de)在測試過程中不(bu)要隨意改動測量電壓(ya)。

11.測量時從低次(ci)檔逐漸(jian)撥往高(gao)次(ci)檔。

12.接(jie)通電源后,手指不能觸(chu)及高(gao)壓(ya)線的金屬(shu)部分。

13.不得測試過程(cheng)中不能觸摸微電流測試端。

14.在測量高阻時(shi),應采(cai)用(yong)屏蔽盒將被測物體屏蔽。

15.嚴禁在試測過程隨(sui)意改變電壓量程及在通電過程中打開主機。

16.嚴(yan)禁電流電阻量程未(wei)在104檔(dang)及電壓在10V檔(dang),更換試樣(yang)。

 

 

表(biao)面電阻率

表面(mian)電阻率(lv)應按下式計算:

 

式中:

PS一一表面電(dian)阻率,單(dan)位為(wei)歐姆(Ω);

RS一一按11. 2 規定而(er)測得的表面電阻(zu),單位為(wei)歐姆(Ω);

P一一特定使用(yong)電極(ji)裝置中被保護電極(ji)的有效周(zhou)長,單位(wei)為米(m)(或(huo)厘(li)米(cm)

g一(yi)一(yi)兩電極之間的距離,單位為米(mi)(m)(或(huo)厘米(mi)(cm)

 

 

重現性(xing)

由于給(gei)定試(shi)樣的電阻隨試(shi)驗條(tiao)件(jian)而(er)改變以(yi)及(ji)各個試(shi)樣之(zhi)間材料(liao)的不(bu)均勻性,故通常測量(liang)的不(bu)重(zhong)現性不(bu)是接近(jin)于土10%,而(er)常常有(you)較大(da)的分散性(在(zai)大(da)致相同的條(tiao)件(jian)下測得(de)值的比值可能會是10比1)。

為(wei)使在相似的試樣上進(jin)行的測量(liang)具有可比性,必(bi)須在大致(zhi)相等的電位梯度下(xia)進(jin)行測量(liang)。

 

 

試驗程序

測量試(shi)樣(yang)及電極的(de)(de)尺寸、表(biao)面間隙的(de)(de)寬(kuan)度(du)(du)g(兩電極之間距(ju)離(li)),}lj士(shi)1%。然而(er),如有必要,對薄試(shi)樣(yang)可在(zai)有關的(de)(de)規范中(zhong)規定不同的(de)(de)度(du)(du)。

為測定體積(ji)電(dian)阻(zu)率,應按(an)照有關的規范測量每個試樣的平均厚(hou)度,其厚(hou)度測量點應均勻地分布(bu)在由被(bei)保護電(dian)極所覆蓋(gai)的整(zheng)個面積(ji)上。

注:對于薄試樣(yang)無論(lun)如何在加上電(dian)極(ji)前測(ce)量厚度。

一般說來,應(ying)與條件處理(li)時相同的(de)濕度(漫在液體(ti)中的(de)條件處理(li)除(chu)外)和溫度下測試電阻。但有時也可在停止條件處理(li)后(hou)的(de)規定時間內(nei)進行測量。

 

 

 

試樣處(chu)置

電(dian)(dian)極(ji)之間或測(ce)量電(dian)(dian)極(ji)與(yu)大地(di)之間的(de)雜散(san)電(dian)(dian)流對于測(ce)試(shi)(shi)儀器的(de)讀數(shu)沒有明顯的(de)影響這一點很(hen)重要。 測(ce)試(shi)(shi)時加電(dian)(dian)極(ji)到試(shi)(shi)樣(yang)上和安放(fang)試(shi)(shi)樣(yang)時均要極(ji)為小(xiao)心(xin),以免可(ke)能產生(sheng)對測(ce)試(shi)(shi)結(jie)果(guo)有不良影響的(de)雜散(san)電(dian)(dian)流通道。

測(ce)量表面電(dian)阻(zu)時(shi),不要(yao)清洗表面,除(chu)非另有協(xie)議或規定(ding)。 除(chu)了(le)同(tong)二(er)材料的(de)另 一個(ge)試樣的(de)未被(bei)觸(chu)模過 的(de)表面可(ke)觸(chu)及被(bei)測(ce)試樣外(wai),表面被(bei)測(ce)部分不應被(bei)任(ren)何(he)東(dong)西觸(chu)及。

 

 

條(tiao)件處(chu)理

試樣的處理條(tiao)(tiao)件取決于被試材料(liao),這(zhe)些條(tiao)(tiao)件應在材料(liao)規范(fan)中規定。

推(tui)薦按 GB/T 10580一2003 進行條件處(chu)理(li);由各種鹽溶液所產生(sheng)的相對溫度在 IEC 60260 中給出。

可以采用(yong)機械(xie)蒸發(fa)系統。

體積電(dian)阻(zu)率(lv)和表面電(dian)阻(zu)率(lv)都對(dui)(dui)溫(wen)度變化(hua)特別敏感。 這種變化(hua)是指數式的(de)(de)。 因(yin)此必(bi)須在(zai)規定(ding)(ding)的(de)(de)條件(jian) 下(xia)來測量試樣(yang)的(de)(de)體積電(dian)阻(zu)和表面電(dian)阻(zu)。 由于(yu)水分被吸收(shou)(shou)到電(dian)介質內是相對(dui)(dui)緩慢(man)的(de)(de)過程(cheng),因(yin)此測定(ding)(ding)溫(wen)度 對(dui)(dui)體積電(dian)阻(zu)率(lv)的(de)(de)影響需要延長(chang)處理期。 吸收(shou)(shou)水分后通常會降(jiang)低體積電(dian)阻(zu)。 有些試樣(yang)可能需要處理數月 才(cai)能達到平衡。

 

 

 

技術參(can)數:

1、電阻測量范圍(wei): 0.01×104Ω ~1×1018Ω。

2、電(dian)流測量范(fan)圍: 2×10-4A~1×10-16A

3、顯 示(shi) 方 式:液(ye)晶、電阻、電流雙(shuang)顯示(shi)

4、內置(zhi)測試電壓(ya): 10V 、50V、100V、250V、500V、1000V(任意切換);

5、基(ji)本準確度:≤1%;

6、使用環境:溫度:0℃~40℃,相對濕度<80%

7、供(gong)電形(xing)式:AC 220V,50HZ,功(gong)耗約5W

8、全自動測(ce)量、體積小、重量輕(qing)、準確度高,電(dian)阻、電(dian)流雙顯示(shi),性能(neng)好穩(wen)定、讀數方便

9、所(suo)有測(ce)試電壓(10V/50V/100/250/500/1000V) 測(ce)試時電阻結果直讀

 

 

使用方法

1接好電源線

確保電源為(wei)220VAC/50Hz

2接(jie)通電源

   將電流電阻量程置(zhi)(zhi)于(yu) 104 檔(dang),電壓量程置(zhi)(zhi)于(yu)10V,然后開機。

3調(diao)零

在(zai)(zai)“Rx”兩(liang)(liang)端開路的(de)情況(kuang)下(xia),調(diao)零使電流表的(de)顯示為(wei)0000 .注(zhu)意(yi):在(zai)(zai)“Rx”兩(liang)(liang)端不(bu)開路,如接(jie)在(zai)(zai)電阻箱或被測(ce)量物體上時調(diao)零后測(ce)量會產生很大的(de)誤差。一般一次調(diao)零后在(zai)(zai)測(ce)試過程中(zhong)不(bu)需再(zai)調(diao)零。 完(wan)畢后關(guan)機(ji)。

4連(lian)接線(xian)路

    接好測(ce)試線,將(jiang)測(ce)試線將(jiang)主機與(yu)屏蔽箱連接好,測(ce)體積(ji)電(dian)(dian)阻時測(ce)試按鈕撥到Rv邊,測(ce)表面(mian)電(dian)(dian)阻時測(ce)試按鈕撥到Rs邊。然后開機。

5選擇合(he)適(shi)的測量(liang)電(dian)壓(ya)

電(dian)(dian)壓(ya)選擇(ze)開關在(zai)后面板(ban),注意,在(zai)測(ce)試(shi)過程中不要隨意改(gai)動測(ce)量電(dian)(dian)壓(ya),可能因電(dian)(dian)壓(ya)的過高或電(dian)(dian)流(liu)過大損壞被(bei)測(ce)試(shi)器件(jian)或測(ce)試(shi)儀(yi)器;

6測試

測(ce)量(liang)(liang)時(shi)(shi)從低(di)檔位逐漸拔往(wang)高(gao)檔,每(mei)撥一(yi)次(ci)稍停留1~2秒以使觀察顯示數(shu)字, 當被測(ce)電(dian)阻大于儀(yi)器測(ce)量(liang)(liang)量(liang)(liang)程(cheng)時(shi)(shi),電(dian)阻表顯示“1”,此(ci)時(shi)(shi)應繼續(xu)將儀(yi)器撥到(dao)量(liang)(liang)程(cheng)更高(gao)的(de)位置,當測(ce)量(liang)(liang)儀(yi)器有(you)顯示值時(shi)(shi)應停下,當前的(de)數(shu)字乘以檔次(ci)即是被測(ce)電(dian)阻值。當有(you)顯示數(shu)字時(shi)(shi)不(bu)要再往(wang)更高(gao)次(ci)檔撥,否測(ce)儀(yi)器會(hui)過(guo)量(liang)(liang)程(cheng),機內保護電(dian)路(lu)開(kai)始(shi)工作,儀(yi)器測(ce)量(liang)(liang)準確度會(hui)下降。

7 測試完畢將電阻電流量(liang)程拔至(zhi)“104 ”檔(dang),電壓(ya)量(liang)程調(diao)至(zhi)10V后關閉電源

每測量一次均應將量程(cheng)開關撥回到104&ldquo;調零”檔的量程(cheng)位(wei)置以免開機或測量端短路時(shi)而損壞儀(yi)器。

8 測量電(dian)流及(ji)1015Ω以(yi)上超(chao)高電(dian)阻的測量應用(yong)測量電(dian)流后用(yong)歐姆(mu)定律以(yi)電(dian)壓除以(yi)電(dian)流計算(suan)電(dian)阻的方法,詳見8.5節內容。

9 體積(ji)電(dian)阻(zu)和表(biao)面電(dian)阻(zu)轉(zhuan)換

在(zai)測試過程中(zhong),使(shi)用屏(ping)蔽(bi)箱在(zai)進行(xing)體積電(dian)阻(zu)和(he)表面電(dian)阻(zu)轉換(huan)時,必須把(ba)電(dian)源關(guan)閉(bi)后(hou)進行(xing)檔位轉換(huan),否則會(hui)導致(zhi)電(dian)壓沖擊(ji)到(dao)主機無法顯示(shi)或損壞。

 

 

電(dian)(dian)(dian)阻率(lv)是(shi)用來表示(shi)各種(zhong)物(wu)(wu)質(zhi)電(dian)(dian)(dian)阻特性的(de)(de)(de)(de)物(wu)(wu)理量。某種(zhong)物(wu)(wu)質(zhi)所制成的(de)(de)(de)(de)原件(常溫下20°C)的(de)(de)(de)(de)電(dian)(dian)(dian)阻與橫截面積的(de)(de)(de)(de)乘積與長度的(de)(de)(de)(de)比(bi)值叫做(zuo)這種(zhong)物(wu)(wu)質(zhi)的(de)(de)(de)(de)電(dian)(dian)(dian)阻率(lv)。電(dian)(dian)(dian)阻率(lv)與導體(ti)(ti)的(de)(de)(de)(de)長度、橫截面積等因素無關,是(shi)導體(ti)(ti)材(cai)(cai)料本(ben)身的(de)(de)(de)(de)電(dian)(dian)(dian)學性質(zhi),由導體(ti)(ti)的(de)(de)(de)(de)材(cai)(cai)料決定,且與溫度、壓(ya)力、磁場等外界因素有(you)關。

電阻率在單(dan)位(wei)(wei)制中的單(dan)位(wei)(wei)是Ω·m,讀(du)作歐(ou)姆米(mi)(mi),簡稱歐(ou)米(mi)(mi)。常用單(dan)位(wei)(wei)為“歐(ou)姆·厘(li)米(mi)(mi)”。

 

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