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GB/T 26825-2011 硅膠電阻率測定儀

型 號BEST-121

更新(xin)時間2023-08-08

廠商性質生產廠家

報價(jia)

產品描述:GB/T 26825-2011 硅膠電阻率測定儀具有精度高、顯示迅速、性好穩定、讀數方便,適用于橡膠、塑料、薄膜、地毯、織物及粉體、液體、及固體和膏體形狀的各種絕緣材料體積和表面電阻值的測定。

產品概述

GB/T 26825-2011 硅膠電阻率測定儀

一(yi)、概述

本標準規定了固體(ti)(ti)絕(jue)緣材(cai)料(liao)體(ti)(ti)積(ji)(ji)電(dian)(dian)阻(zu)(zu)(zu)(zu)率(lv)(lv)和(he)表(biao)(biao)面(mian)電(dian)(dian)阻(zu)(zu)(zu)(zu)率(lv)(lv)的試驗(yan)方(fang)法。這些(xie)試驗(yan)方(fang)法包括對(dui)固體(ti)(ti)絕(jue)緣材(cai)料(liao)體(ti)(ti)積(ji)(ji)電(dian)(dian)阻(zu)(zu)(zu)(zu)和(he)表(biao)(biao)面(mian)電(dian)(dian)阻(zu)(zu)(zu)(zu)的測定程(cheng)序及體(ti)(ti)積(ji)(ji)電(dian)(dian)阻(zu)(zu)(zu)(zu)率(lv)(lv)和(he)表(biao)(biao)面(mian)電(dian)(dian)阻(zu)(zu)(zu)(zu)率(lv)(lv)的計算方(fang)法。體(ti)(ti)積(ji)(ji)電(dian)(dian)阻(zu)(zu)(zu)(zu)和(he)表(biao)(biao)面(mian)電(dian)(dian)阻(zu)(zu)(zu)(zu)的試驗(yan)都(dou)受到下列(lie)因(yin)素影(ying)響:施加(jia)電(dian)(dian)壓的大小和時間;電(dian)(dian)極的性(xing)質和尺寸;在(zai)試樣(yang)處理和測試過程中周圍(wei)大氣條件和試樣(yang)的溫度。電阻(zu)率(lv)測試儀(適用于(yu)橡膠(jiao)、塑料、聚酯薄膜、膠(jiao)片、硅膠(jiao)、光伏(fu)組件、汽車零(ling)部(bu)件、復合材(cai)(cai)(cai)料、陶瓷、玻璃(li)、云母、樹脂等固體絕緣材(cai)(cai)(cai)料)。配(pei)備不同(tong)電極還可測試液(ye)體、粉末材(cai)(cai)(cai)料。

二、主要特點(dian)

1、電阻測量范圍(wei)寬 1×104Ω ~1×1018Ω。

2、電流(liu)測量范圍為(wei) 2×10-4A ~1×10-16A。

3、體(ti)積(ji)小、重量輕、準確度(du)高。

4、內置測試(shi)電壓: 10V 、50V、100V、250、500、1000V.

5、基本準確度:1% (*注).

6、使用(yong)環境: 溫度(du):0℃~40℃,相對濕度(du)<80%.

7、機內測試(shi)電壓: 10V/50V/100V/250V/500V/1000V 任(ren)意切(qie)換(huan).

8、供電形(xing)式: AC 220V,50HZ,功耗約5W.

9、顯示類別:電(dian)阻(zu)(zu)、電(dian)阻(zu)(zu)率、電(dian)流。

10、輸入(ru)方式(shi):真(zhen)彩64位手寫(xie)觸摸。

11、顯示結果:電(dian)阻、電(dian)阻率、電(dian)流。

備(bei)注(zhu):電(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)、電(dian)(dian)(dian)(dian)流(liu)、電(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)率(lv)(lv)同(tong)時(shi)顯(xian)(xian)示(shi)、并(bing)且(qie)由彩色大(da)(da)屏顯(xian)(xian)示(shi)。直(zhi)接顯(xian)(xian)示(shi)電(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)和電(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)率(lv)(lv),無(wu)須換算(suan)只需輸(shu)入式(shi)樣厚度即可(ke)由儀器(qi)自動算(suan)出電(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)率(lv)(lv)。所有(you)測試電(dian)(dian)(dian)(dian)壓(10V/50V/100V/250V/500V/1000V) 測試時(shi)電(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)與(yu)電(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)率(lv)(lv)結果直(zhi)讀,免去老式(shi)高阻(zu)(zu)計在不同(tong)測試電(dian)(dian)(dian)(dian)壓下或不同(tong)量程(cheng)時(shi)要乘以系(xi)數等使用不便的麻(ma)煩,并(bing)且(qie)支持試驗結果的存(cun)儲調取(qu)打印。既能測超高電(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)又能測微電(dian)(dian)(dian)(dian)流(liu)還可(ke)以直(zhi)接測得電(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)率(lv)(lv)。超大(da)(da)觸摸彩屏顯(xian)(xian)示(shi),可(ke)直(zhi)接讀取(qu)電(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)和電(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)率(lv)(lv)。內置軟件(jian)測試系(xi)統測試式(shi)樣可(ke)選擇儀器(qi)自動分配計算(suan)顯(xian)(xian)示(shi)指標:電(dian)(dian)(dian)(dian)壓、電(dian)(dian)(dian)(dian)流(liu)、電(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)、電(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)率(lv)(lv)及(ji)式(shi)樣

GB/T 26825-2011 硅膠電阻率測定儀

三、標準(zhun)配置:

1、測試儀器:1臺。

2、.電源線:1條。

3、測量(liang)線(xian)(xian):3根(屏蔽線(xian)(xian)、測試接線(xian)(xian)、接地線(xian)(xian))。

4、使用說明書(shu):1份。

備注:此款儀器(qi)為我公司xing研發產品(pin),支持大屏幕輸(shu)入,即可使用戶直接(jie)得(de)出(chu)電阻率也可以(yi)直接(jie)得(de)出(chu)電阻配(pei)不同(tong)的測量電極(ji)(夾具)可以(yi)測量不同(tong)材料(固體(ti)、粉(fen)體(ti)或(huo)液體(ti))的體(ti)積電阻率和表面電阻率或(huo)電導率。

四(si)、符(fu)合標準:

GB/T 1410-2006《 固(gu)體絕(jue)緣(yuan)材料(liao)體積電(dian)(dian)阻率和表面(mian)電(dian)(dian)阻率試驗(yan)方法》;

ASTM D257-99《絕緣材(cai)料的直流電阻或(huo)電導(dao)試驗方法(fa)》;

GB/T 10581-2006 《絕緣材料在高溫下電阻(zu)(zu)和電阻(zu)(zu)率的試驗(yan)方法》;

GB/T 1692-2008 《硫化橡(xiang)膠(jiao) 絕緣電阻(zu)率(lv)的測(ce)定》;

GB/T 2439-2001《硫化(hua)橡(xiang)膠(jiao)或(huo)熱塑性橡(xiang)膠(jiao) 導(dao)電性(xing)能和耗散性(xing)能電阻率(lv)的測定》;

GB/T 12703.4-2010 《紡織品(pin) 靜電(dian)性能的評定 第4部分:電(dian)阻(zu)率》;

GB/T 10064-2006_《測(ce)定固體絕緣(yuan)材料絕緣(yuan)電阻的試驗方法》;

五、 注意事項:
儀器使(shi)用前請(qing)仔(zi)細閱讀以(yi)下內容,否則將造成儀器損壞或電擊情況。
1.檢查儀器后面(mian)板電(dian)壓量程是否置(zhi)于10V檔(dang),電(dian)流電(dian)阻量程是否置(zhi)于104檔(dang)。
2.接(jie)通電源調(diao)零(ling),在“Rx”兩端開路(lu)的(de)情況下,調(diao)零(ling)使電流(liu)表(biao)的(de)顯示(shi)為0000。然(ran)后(hou)關機。
3.將待測試樣(yang)平(ping)鋪(pu)在不保護(hu)(hu)電極(ji)(ji)正中央,然后用保護(hu)(hu)電極(ji)(ji)壓住樣(yang)品,再插入被保護(hu)(hu)電極(ji)(ji)。
4.測(ce)體積電(dian)阻時測(ce)試(shi)按鈕(niu)撥到Rv邊(bian),測(ce)表面電(dian)阻時測(ce)試(shi)按鈕(niu)撥到Rs邊(bian),
5.接(jie)好(hao)測(ce)試線(xian),將(jiang)(jiang)測(ce)試線(xian)將(jiang)(jiang)主(zhu)機(ji)與屏蔽箱連接(jie)好(hao)。量(liang)程置于104檔,打開(kai)主(zhu)機(ji)后(hou)面(mian)板(ban)電源開(kai)關按鈕。從儀器后(hou)面(mian)板(ban)調電壓(ya)按鈕到(dao)所要求的(de)測(ce)量(liang)電壓(ya)

6.電(dian)(dian)流電(dian)(dian)阻(zu)量(liang)程按(an)鈕從低(di)檔位逐漸撥,每撥一次停(ting)留1-2秒觀察顯示數字,當被測(ce)電(dian)(dian)阻(zu)大(da)于儀(yi)器測(ce)量(liang)量(liang)程時(shi),電(dian)(dian)阻(zu)表顯示“1”,此時(shi)應繼續將儀(yi)器撥到量(liang)程更高的(de)位置。測(ce)量(liang)儀(yi)器有顯示值時(shi)應停(ting)下,在1min的(de)電(dian)(dian)化時(shi)間后測(ce)量(liang)電(dian)(dian)阻(zu),當前的(de)數字乘以檔次即是被測(ce)電(dian)(dian)阻(zu)。
7.測(ce)試(shi)完(wan)畢(bi)先將(jiang)量程撥至(zhi)(104)檔(dang),然后(hou)將(jiang)測(ce)量電壓撥至(zhi)10V檔(dang),后(hou)將(jiang)測(ce)試(shi)按鈕撥到中央位置后(hou)關閉電源。然后(hou)進行下一次(ci)測(ce)試(shi)。
8.應在“Rx”兩端開路時調零(ling),一般一次(ci)調零(ling)后在測試過程中不需再(zai)調零(ling)。
9.禁止將“RX&rdquo;兩端短路,以免微電(dian)流(liu)放大器(qi)受(shou)大電(dian)流(liu)沖(chong)擊(ji)。
10.不(bu)得在(zai)測試過程中不(bu)要(yao)隨意改動測量電壓。
11.測量時從(cong)低(di)次檔逐漸撥往高(gao)次檔。
12.接通電源后,手指(zhi)不能觸(chu)及高壓線的金屬(shu)部(bu)分。
13.不得測(ce)試過(guo)程中不能觸摸微電(dian)流(liu)測(ce)試端。
14.在測(ce)(ce)量高阻時,應采(cai)用屏蔽(bi)盒將被測(ce)(ce)物體屏蔽(bi)。
15.嚴禁在(zai)(zai)試測過(guo)程(cheng)隨意改變(bian)電(dian)壓量程(cheng)及在(zai)(zai)通電(dian)過(guo)程(cheng)中打(da)開(kai)主機。
16.嚴(yan)禁電流電阻(zu)量程未在104檔及電壓在10V檔,更(geng)換試樣。

六、使用(yong)方法
6.1接好電(dian)源線:
確(que)保電源為(wei)220VAC/50Hz.
6.2接通電源:
將電流電阻量程(cheng)置于(yu) 104 檔(dang),電壓量程(cheng)置于(yu)10V,然后開機。
6.3調(diao)零:
在(zai)“Rx”兩(liang)(liang)端開路的情況(kuang)下,調零使(shi)電流表的顯示為0000 .注意:在(zai)“Rx”兩(liang)(liang)端不(bu)(bu)開路,如接(jie)在(zai)電阻箱或(huo)被測(ce)量物體(ti)上時(shi)調零后(hou)(hou)測(ce)量會(hui)產生很大的誤差。一般一次調零后(hou)(hou)在(zai)測(ce)試過程中不(bu)(bu)需(xu)再調零。完畢(bi)后(hou)(hou)關機。
6.4連接線路:
接好測試(shi)線,將(jiang)測試(shi)線將(jiang)主機與(yu)屏蔽箱連接好,測體(ti)積電(dian)阻時測試(shi)按鈕(niu)撥到(dao)Rv邊,測表面電(dian)阻時測試(shi)按鈕(niu)撥到(dao)Rs邊。然后開機。
6.5選擇(ze)合適的測量電壓(ya):
電(dian)壓(ya)(ya)選擇開關在后面板,注(zhu)意(yi),在測試(shi)(shi)(shi)過(guo)(guo)程中不(bu)要隨意(yi)改動測量電(dian)壓(ya)(ya),可能因電(dian)壓(ya)(ya)的過(guo)(guo)高(gao)或(huo)電(dian)流過(guo)(guo)大損壞被測試(shi)(shi)(shi)器(qi)件或(huo)測試(shi)(shi)(shi)儀器(qi);
6.6測試:
測量(liang)時(shi)從低檔(dang)位逐(zhu)漸拔往(wang),每撥(bo)一(yi)次稍停留(liu)1~2秒以(yi)(yi)使(shi)觀(guan)察(cha)顯示數字,當被測電(dian)阻(zu)大(da)于儀器(qi)測量(liang)量(liang)程時(shi),電(dian)阻(zu)表(biao)顯示“1”,此(ci)時(shi)應繼續將儀器(qi)撥(bo)到量(liang)程更(geng)高的位置,當測量(liang)儀器(qi)有(you)顯示值(zhi)時(shi)應停下,當前的數字乘以(yi)(yi)檔(dang)次即是(shi)被測電(dian)阻(zu)值(zhi)。當有(you)顯示數字時(shi)不要(yao)再(zai)往(wang)更(geng)高次檔(dang)撥(bo),否測儀器(qi)會過量(liang)程,機內保護電(dian)路(lu)開始工作,儀器(qi)測量(liang)準(zhun)確度會下降。
6.7 測試完畢將電(dian)阻電(dian)流量程拔至“104 ”檔,電(dian)壓量程調至10V后關(guan)閉電(dian)源
每測量(liang)(liang)(liang)一(yi)次均應(ying)將量(liang)(liang)(liang)程(cheng)開關(guan)撥回到104“調零”檔的(de)量(liang)(liang)(liang)程(cheng)位置以免開機或測量(liang)(liang)(liang)端(duan)短路時而損壞(huai)儀器。6.8 測量(liang)(liang)(liang)電(dian)流及1015Ω以上超(chao)高(gao)電(dian)阻的(de)測量(liang)(liang)(liang)應(ying)用測量(liang)(liang)(liang)電(dian)流后用歐姆定律以電(dian)壓除以電(dian)流計算電(dian)阻的(de)方(fang)法,詳(xiang)見8.5節內容。
6.8體(ti)積電阻和表面電阻轉換(huan):
在測試過程中,使用(yong)屏蔽箱在進(jin)行體(ti)(ti)積電阻和表面(mian)電阻轉(zhuan)換(huan)時,必(bi)須把電源關閉后進(jin)行檔位轉(zhuan)換(huan),否則會(hui)導致(zhi)電壓沖擊到主機無法(fa)顯示(shi)或(huo)損壞。

七、下列定義適用于本標準:

7.1體積電阻 volume resistance:

在(zai)試(shi)樣(yang)(yang)兩(liang)(liang)相對(dui)表面(mian)上(shang)放置的(de)兩(liang)(liang)電極間所加直流(liu)電壓與(yu)流(liu)過這兩(liang)(liang)個電極之間的(de)穩態電流(liu)之商,不包 括沿試(shi)樣(yang)(yang)表面(mian)的(de)電流(liu),在(zai)兩(liang)(liang)電極上(shang)可能形成的(de)極化忽略不計。

注:除非另有規定(ding)(ding),體積電阻(zu)是在電化一(yi)分鐘后測定(ding)(ding)。

7.2體積(ji)電阻率 volume resistivity:

在絕緣材料里面的直流(liu)電(dian)場強度(du)(du)和穩態(tai)電(dian)流(liu)密度(du)(du)之商,即單位體(ti)積(ji)內的體(ti)積(ji)電(dian)阻。

注:體積(ji)電阻率的SI單位是。 ' m。 實際上也(ye)使(shi)用。? cm 這一單位。

7.3表(biao)面電(dian)阻 surface resistance:

在(zai)試(shi)樣的(de)其表面上(shang)的(de)兩(liang)電極間(jian)所加(jia)電壓與在(zai)規定(ding)的(de)電化時間(jian)里流(liu)過兩(liang)電極間(jian)的(de)電流(liu)之商(shang),在(zai)兩(liang)電 極上(shang)可(ke)能(neng)形成(cheng)的(de)極化忽略(lve)不計。

注1:除(chu)非另(ling)有規(gui)定(ding),表面電阻(zu)是在電化(hua)一(yi)分鐘(zhong)后測定(ding)。

注2:通常電流(liu)主要流(liu)過試(shi)樣的(de)一個(ge)表(biao)面層,但(dan)也包括流(liu)過試(shi)樣體積(ji)內(nei)的(de)成分。

7.4表(biao)面(mian)電阻(zu)率 surface resistivity:

在絕緣材(cai)料的(de)表面層里的(de)直(zhi)流電(dian)場強(qiang)度與線電(dian)流密度之商(shang),即(ji)單位面積內的(de)表面電(dian)阻。 面積的(de)大 小是不(bu)重要(yao)的(de)。

注:表面電阻率的SI單(dan)位是0。實際上有時也(ye)用 “歐(ou)每平(ping)方單(dan)位”來表示。

7.5電極electrodes:

電極是具有(you)一定形狀、尺寸和結構的與被測試樣相接觸的導體。

注(zhu):絕緣電阻(zu)是加在與試樣相接觸的(de)(de)兩(liang)電極之(zhi)間(jian)的(de)(de)直(zhi)流電壓(ya)與通過兩(liang)電極的(de)(de)總電流之(zhi)商(shang)。絕緣電阻(zu)取(qu)決于試樣的(de)(de)表面(mian)電阻(zu)和體積電阻(zu)(見GB/T10064一(yi)(yi)一(yi)(yi)2006)。

212外觀圖 

 操作方式:

1、輸入式樣厚度

2、讀取結果 包(bao)含(電阻(zu) 電阻(zu)率)

八(ba)、體(ti)積電阻(zu)率測(ce)定(ding)儀(yi)測(ce)量技術 :

a.通常,絕(jue)緣材(cai)(cai)料(liao)用(yong)于電氣(qi)系統的(de)各部件相互絕(jue)緣和對地絕(jue)緣,固體絕(jue)緣材(cai)(cai)料(liao)還(huan)起機(ji)械支(zhi)撐作(zuo)用(yong)。一般希(xi)望材(cai)(cai)料(liao)有(you)盡可能高的(de)絕(jue)緣電阻(zu),并具有(you)合適的(de)機(ji)械、化學(xue)和耐(nai)熱性能。

b.絕緣材料的電阻率一般都很高,也(ye)(ye)就(jiu)是傳導電流很小。如果不注意外(wai)界(jie)因(yin)素的干擾和漏(lou)電流的影響,測量(liang)(liang)結果就(jiu)會發生(sheng)很大(da)的誤(wu)差。同時(shi)絕緣材料本身的吸濕性和環境條(tiao)件(jian)的變(bian)化對測量(liang)(liang)結果也(ye)(ye)有很大(da)影響。

c.影響體(ti)積電(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)率(lv)和(he)表面(mian)電(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)率(lv)測試的主要因(yin)素是溫(wen)(wen)度(du)和(he)濕度(du)、電(dian)(dian)(dian)(dian)場強度(du)、充電(dian)(dian)(dian)(dian)時間及殘余電(dian)(dian)(dian)(dian)荷等。體(ti)積電(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)率(lv)可(ke)作為選擇絕緣(yuan)材料的一個參數(shu),電(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)率(lv)隨溫(wen)(wen)度(du)和(he)濕度(du)的變化而顯(xian)著變化。體(ti)積電(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)率(lv)的測量(liang)常常用來檢(jian)查絕緣(yuan)材料是否均(jun)勻,或者用來檢(jian)測那(nei)些能(neng)(neng)影響材料質(zhi)量(liang)而又不能(neng)(neng)用其他方法檢(jian)測到(dao)的導電(dian)(dian)(dian)(dian)雜(za)質(zhi)。

d.由于體積電(dian)阻(zu)總是要被或多或少地(di)包括到表面(mian)(mian)電(dian)阻(zu)的(de)測試中去(qu),因此只(zhi)能近似地(di)測量表面(mian)(mian)電(dian)阻(zu),測得(de)的(de)表面(mian)(mian)電(dian)阻(zu)值主要反映被測試樣表面(mian)(mian)污染(ran)的(de)程度(du)。所以,表面(mian)(mian)電(dian)阻(zu)率不(bu)是表征材料(liao)本身特性(xing)的(de)參數(shu),而(er)是一(yi)個有關材料(liao)表面(mian)(mian)污染(ran)特性(xing)的(de)參數(shu)。當表面(mian)(mian)電(dian)阻(zu)較高時,它常隨時間以不(bu)規則的(de)方式(shi)變化。測量表面(mian)(mian)電(dian)阻(zu)通常都規定1min的(de)電(dian)化時間。

(1)溫度(du)(du)和(he)濕(shi)度(du)(du):固體(ti)絕(jue)緣(yuan)材(cai)料(liao)的(de)(de)絕(jue)緣(yuan)電(dian)(dian)(dian)阻(zu)率(lv)(lv)隨(sui)溫度(du)(du)和(he)濕(shi)度(du)(du)的(de)(de)升高(gao)(gao)而(er)(er)降低,特別是(shi)體(ti)積電(dian)(dian)(dian)阻(zu)率(lv)(lv)隨(sui)溫度(du)(du)改(gai)變而(er)(er)變化非常大。因此,電(dian)(dian)(dian)瓷(ci)材(cai)料(liao)不但要測(ce)定(ding)(ding)常溫下(xia)(xia)(xia)的(de)(de)體(ti)積電(dian)(dian)(dian)阻(zu)率(lv)(lv),而(er)(er)且還要測(ce)定(ding)(ding)高(gao)(gao)溫下(xia)(xia)(xia)的(de)(de)體(ti)積電(dian)(dian)(dian)阻(zu)率(lv)(lv),以評定(ding)(ding)其絕(jue)緣(yuan)性能的(de)(de)好壞。由(you)于水的(de)(de)電(dian)(dian)(dian)導(dao)大,隨(sui)著濕(shi)度(du)(du)增大,表面電(dian)(dian)(dian)阻(zu)率(lv)(lv)和(he)有開口孔隙的(de)(de)電(dian)(dian)(dian)瓷(ci)材(cai)料(liao)的(de)(de)體(ti)積電(dian)(dian)(dian)阻(zu)率(lv)(lv)急(ji)劇下(xia)(xia)(xia)降。因此,測(ce)定(ding)(ding)時(shi)應嚴格地按照規定(ding)(ding)的(de)(de)試樣(yang)處理要求和(he)測(ce)試的(de)(de)環境條件下(xia)(xia)(xia)進行。

(2)電(dian)(dian)(dian)(dian)場強(qiang)(qiang)度(du)(du):當電(dian)(dian)(dian)(dian)場強(qiang)(qiang)度(du)(du)比較高(gao)時,離子的遷移率(lv)隨電(dian)(dian)(dian)(dian)場強(qiang)(qiang)度(du)(du)增(zeng)高(gao)而增(zeng)大,而且在(zai)接近擊穿時還(huan)會出現大量的電(dian)(dian)(dian)(dian)子遷移,這時體積電(dian)(dian)(dian)(dian)阻率(lv)大大地降低。因(yin)此在(zai)測定(ding)時,施加的電(dian)(dian)(dian)(dian)壓應不超過規定(ding)的值。

(3)殘余(yu)電(dian)荷(he):試樣(yang)在(zai)(zai)(zai)加工和測試等過程中,可能產(chan)生靜(jing)電(dian),電(dian)阻越高(gao)越容易產(chan)生靜(jing)電(dian),影(ying)響(xiang)測量(liang)的(de)準確(que)性。因此(ci),在(zai)(zai)(zai)測量(liang)時,試樣(yang)要*放(fang)電(dian),即可將幾個電(dian)極連(lian)在(zai)(zai)(zai)一起進行(xing)短路(lu)。

(4)雜(za)散(san)電(dian)(dian)(dian)(dian)勢(shi)(shi)(shi)的(de)消除(chu):在(zai)絕緣電(dian)(dian)(dian)(dian)阻測量(liang)電(dian)(dian)(dian)(dian)路中(zhong),可能存(cun)在(zai)某些雜(za)散(san)電(dian)(dian)(dian)(dian)勢(shi)(shi)(shi),如熱電(dian)(dian)(dian)(dian)勢(shi)(shi)(shi)、電(dian)(dian)(dian)(dian)解(jie)電(dian)(dian)(dian)(dian)勢(shi)(shi)(shi)、接觸電(dian)(dian)(dian)(dian)勢(shi)(shi)(shi)等,其(qi)中(zhong)影(ying)響大的(de)為電(dian)(dian)(dian)(dian)解(jie)電(dian)(dian)(dian)(dian)勢(shi)(shi)(shi)。用高(gao)阻計(ji)(ji)測量(liang)表(biao)面潮濕的(de)試(shi)樣(yang)(yang)的(de)體積電(dian)(dian)(dian)(dian)阻時,測量(liang)極與保護極間可產生20mv的(de)電(dian)(dian)(dian)(dian)勢(shi)(shi)(shi)。試(shi)驗前(qian)應檢(jian)查有無(wu)雜(za)散(san)電(dian)(dian)(dian)(dian)勢(shi)(shi)(shi)。可根據試(shi)樣(yang)(yang)加壓前(qian)后高(gao)阻計(ji)(ji)的(de)二次指示是否相同來判(pan)斷有無(wu)雜(za)散(san)電(dian)(dian)(dian)(dian)勢(shi)(shi)(shi)。如相同,證明無(wu)雜(za)散(san)電(dian)(dian)(dian)(dian)勢(shi)(shi)(shi);否則應當(dang)尋(xun)找并排除(chu)產生雜(za)散(san)電(dian)(dian)(dian)(dian)勢(shi)(shi)(shi)的(de)根源,才能進行(xing)測量(liang)。

(5)防止漏電流(liu)的(de)(de)影(ying)響(xiang):對于(yu)高(gao)電阻材料(liao),只有采取保(bao)(bao)(bao)護(hu)(hu)技術(shu)才能去除(chu)漏電流(liu)對測(ce)量的(de)(de)影(ying)響(xiang)。保(bao)(bao)(bao)護(hu)(hu)技術(shu)就(jiu)是在引起(qi)(qi)測(ce)量誤差的(de)(de)漏電路徑上(shang)安置(zhi)保(bao)(bao)(bao)護(hu)(hu)導(dao)體(ti),截住可能引起(qi)(qi)測(ce)量誤差的(de)(de)雜散電流(liu),使之不流(liu)經測(ce)量回路或儀表。保(bao)(bao)(bao)護(hu)(hu)導(dao)體(ti)連(lian)接(jie)(jie)在一起(qi)(qi)構(gou)成保(bao)(bao)(bao)護(hu)(hu)端,通(tong)常保(bao)(bao)(bao)護(hu)(hu)端接(jie)(jie)地(di)。測(ce)量體(ti)積電阻時(shi),三電極系統的(de)(de)保(bao)(bao)(bao)護(hu)(hu)極就(jiu)是保(bao)(bao)(bao)護(hu)(hu)導(dao)體(ti)。此(ci)時(shi)要求保(bao)(bao)(bao)護(hu)(hu)電極和測(ce)量電極間的(de)(de)試樣表面電阻高(gao)于(yu)與(yu)它(ta)并聯元件的(de)(de)電阻10~100倍。線路接(jie)(jie)好后,應首(shou)先檢查是否存在漏電。此(ci)時(shi)斷開(kai)與(yu)試樣連(lian)接(jie)(jie)的(de)(de)高(gao)壓(ya)線,加上(shang)電壓(ya)。如(ru)在測(ce)量靈敏度范(fan)圍內(nei),測(ce)量儀器指示(shi)的(de)(de)電阻值(zhi)為無限大,則線路無漏電,可進行測(ce)量。

(6)條(tiao)(tiao)(tiao)件(jian)處(chu)(chu)(chu)(chu)理(li)(li)和測(ce)(ce)試條(tiao)(tiao)(tiao)件(jian)的(de)(de)(de)規(gui)(gui)定(ding)(ding):固體絕緣材料(liao)的(de)(de)(de)電阻隨溫度、濕度的(de)(de)(de)增(zeng)加(jia)而(er)下降。試樣的(de)(de)(de)預(yu)(yu)(yu)處(chu)(chu)(chu)(chu)理(li)(li)條(tiao)(tiao)(tiao)件(jian)取決于被測(ce)(ce)材料(liao),這些條(tiao)(tiao)(tiao)件(jian)在(zai)材料(liao)規(gui)(gui)范中規(gui)(gui)定(ding)(ding)。推(tui)薦使(shi)用GB10580《固體絕緣材料(liao)在(zai)試驗(yan)前和試驗(yan)時(shi)采用的(de)(de)(de)標準條(tiao)(tiao)(tiao)件(jian)》中規(gui)(gui)定(ding)(ding)的(de)(de)(de)預(yu)(yu)(yu)處(chu)(chu)(chu)(chu)理(li)(li)方法(fa)。可使(shi)用甘油—水(shui)溶(rong)液(ye)潮(chao)濕箱進行濕度預(yu)(yu)(yu)處(chu)(chu)(chu)(chu)理(li)(li)。測(ce)(ce)試條(tiao)(tiao)(tiao)件(jian)應與預(yu)(yu)(yu)處(chu)(chu)(chu)(chu)理(li)(li)條(tiao)(tiao)(tiao)件(jian)盡(jin)可能(neng)(neng)地*,有(you)些時(shi)候(如浸水(shui)處(chu)(chu)(chu)(chu)理(li)(li))不能(neng)(neng)保持預(yu)(yu)(yu)處(chu)(chu)(chu)(chu)理(li)(li)條(tiao)(tiao)(tiao)件(jian)和測(ce)(ce)試條(tiao)(tiao)(tiao)件(jian)*時(shi),則應在(zai)從預(yu)(yu)(yu)處(chu)(chu)(chu)(chu)理(li)(li)環境中取出后在(zai)盡(jin)可能(neng)(neng)短時(shi)間內完成測(ce)(ce)試,一般不超過5分(fen)鐘。

(7)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)化(hua)(hua)時(shi)間(jian)(jian)(jian)的(de)規定(ding)(ding):當(dang)(dang)直流(liu)(liu)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)壓(ya)加到(dao)與(yu)試樣(yang)接觸的(de)兩電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)極(ji)間(jian)(jian)(jian)時(shi),通(tong)過(guo)(guo)試樣(yang)的(de)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)會指數式地衰減到(dao)一個(ge)穩定(ding)(ding)值。電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)隨(sui)時(shi)間(jian)(jian)(jian)的(de)減小(xiao)(xiao)可(ke)能是由于(yu)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)介質極(ji)化(hua)(hua)和可(ke)動離子位(wei)移到(dao)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)極(ji)所(suo)致(zhi)。對(dui)于(yu)體積電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)率小(xiao)(xiao)于(yu)1010Ω·m的(de)材(cai)料,其(qi)穩定(ding)(ding)狀態通(tong)常(chang)在1分鐘內達到(dao)。因(yin)此,要(yao)經過(guo)(guo)這(zhe)個(ge)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)化(hua)(hua)時(shi)間(jian)(jian)(jian)后測(ce)定(ding)(ding)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)。對(dui)于(yu)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)率較高的(de)材(cai)料,電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)減小(xiao)(xiao)的(de)過(guo)(guo)程可(ke)能會持續幾(ji)分鐘、幾(ji)小(xiao)(xiao)時(shi)、幾(ji)天,因(yin)此需要(yao)用較長的(de)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)化(hua)(hua)時(shi)間(jian)(jian)(jian)。如果需要(yao)的(de)話,可(ke)用體積電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)率與(yu)時(shi)間(jian)(jian)(jian)的(de)關(guan)系來(lai)描述材(cai)料的(de)特性。當(dang)(dang)表面電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)較高時(shi),它常(chang)隨(sui)時(shi)間(jian)(jian)(jian)以不規則的(de)方式變(bian)化(hua)(hua)。測(ce)量(liang)表面電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)通(tong)常(chang)都規定(ding)(ding)1分鐘的(de)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)化(hua)(hua)時(shi)間(jian)(jian)(jian)。

北廣精(jing)儀公(gong)司簡介

北廣精(jing)儀(yi)公司隸屬于北廣集團(tuan)旗(qi)下是一家專業從事(shi)檢測儀(yi)器,自動化設備生(sheng)產的高新科技企業(ye)公司 
“精細其(qi)表,*于內”是北(bei)廣精儀(yi)一慣(guan)秉(bing)承的原則。其先(xian)進的設計(ji)風格,的制造技術(shu)和(he)完善的服務(wu)體系,為科研(yan)機構、大(da)專院校,企業和(he)質(zhi)量檢測機構提供一流的產品和(he)優質的服務。北廣精儀公司集軟件設計(ji)、機械、力學、汽壓、電(dian)子、電(dian)機以及研發(fa)、品(pin)保、生(sheng)管、檢測等專業人才,獲取即時資訊(xun),發(fa)展*的(de)產品(pin)與服務。產品(pin)符合:ISO、AATCC、ASTM、DIN、EN、GB、BS、JIS、ANSI、UL、TAPPI、IEC、VDE等標準,廣(guang)泛適用于(yu):科研單(dan)位(wei)、質檢機構、大(da)專院校(xiao)以及 絕(jue)緣材料、橡膠(jiao)塑料、海綿泡沫材料、橡膠、塑料、制鞋、皮(pi)革(ge)、包裝、航空等(deng)產業,為材料開發、物性試驗(yan)、教學研究(jiu)、品質管理(li)、進料檢驗(yan)等(deng)提供(gong)精準(zhun)的數據。

現公司總資產達數千萬(wan)元。擁有現代化設計開發(fa)技術和先(xian)進的生產設備。積ji力于多種高性能檢測設(she)備及非(fei)標自(zi)動化設(she)備的生產和(he)研制,其中本公(gong)司產品:絕緣材(cai)料檢測儀器,海綿泡沫檢測儀器,家具檢測設備量已(yi)*進(jin)水平,并(bing)成功申請中國國家zui利。

無(wu)需和任何大學合作 *有自主研發(fa)(fa)的能力(li)并(bing)多次參加(jia)世界儀(yi)器展覽會與討論會聚結精華注于研發(fa)(fa)
北廣精儀公司,同時在香港(gang)、上海、廣東、福(fu)建、重(zhong)慶、北京、長沙等地(di)為客戶提供(gong)實驗(yan)室整體(ti)解決方案,包括實驗(yan)室的(de)設計規劃、儀(yi)器(qi)選型、安裝、培(pei)訓、保養、校正、對比測試(shi)、管理(li)體(ti)系、認證等(deng)一(yi)站式技術服務。

北(bei)廣精儀公司保持以發展與中國(guo)測試產業相適(shi)應的(de)應用技術(shu)為主線,通過與產業界協調發展的(de)方式提高本公司的(de)競(jing)爭(zheng)實力(li)和技術(shu)含量。

與此(ci)同時(shi),本公(gong)司自成立(li)以來,堅持走"研發生產"相結合的道路,借助國家工業研(yan)究(jiu)院的(de)理論知識和(he)強勁的(de)科研(yan)實力(li),在消化(hua)、吸(xi)收(shou)先進(jin)生(sheng)產(chan)(chan)技術(shu)的(de)基(ji)礎上,大膽創新、銳意(yi)改革(ge)、努(nu)力(li)創造(zao),開發出具有(you)中(zhong)(zhong)國特色的(de)新產(chan)(chan)品(pin),為提高中(zhong)(zhong)國的(de)科研(yan)及產(chan)(chan)品(pin)質量作出了應有(you)的(de)貢獻

經營理念:

  一、誠信待戶 顧(gu)客至上      全心(xin)全意為顧(gu)客考慮,使顧(gu)客能切身感受(shou)到人性化(hua)的儀器。

  二(er)、精(jing)準檢測 保質保量      精(jing)準檢測是我們(men)的責任 保質保量是我們(men)對客戶的鄭(zheng)重(zhong)承諾

  三、技術* 創新理念    儲(chu)備yi流的開發人才(cai),引進世(shi)界ling先技術(shu),采用先進的(de)設計理念(nian),打造較精良的(de)檢測儀器。 

質(zhi)(zhi)量(liang)承諾:質(zhi)(zhi)量(liang)不過關(guan)外觀不合格的產品(pin)寧(ning)愿被廢棄(qi)也不出(chu)廠

北廣精儀產(chan)品(pin)廣泛應用于國防、大專院校以及檢測所等(deng)行業(ye),本公司以技術的(de)創(chuang)新(xin)為(wei)企業(ye)的(de)發展方(fang)向,以新(xin)型實(shi)用的(de)產(chan)品(pin)引導客(ke)戶的(de)需(xu)求

北(bei)廣精儀公司所(suo)供產品嚴格按照國家(jia)標(biao)準生產制(zhi)(zhi)造,嚴謹(jin)的制(zhi)(zhi)造環節確保每一臺(tai)出(chu)廠(chang)儀器質量和性能(neng)的,服務優質,質優價(jia)廉 確保您的放心 !

 

 

 

 

 

 

 

 

序(xu)號

設備名稱

設備型號

測試指標

備注

1

電壓(ya)擊穿試驗儀

BDJC10KV-150KV

介電強度、泄(xie)漏電流

介電強度、泄(xie)漏(lou)電流

2

體積表面電(dian)阻測定儀

BEST-121

體(ti)積電阻率、表面電阻率

液晶顯示(shi)

3

體積表面電阻率測定儀

BEST-212

體(ti)積(ji)電阻(zu)率、表(biao)面電阻(zu)率

液晶觸摸、電阻率直(zhi)接測試

4

導體(ti)電阻率測(ce)定儀

BEST -19

導(dao)體電阻率

導電(dian)材質(zhi)電(dian)阻測試

6

半導體(ti)電(dian)阻率測(ce)定儀(yi)

BEST-300C

半導體電阻率

四探(tan)針 電阻率直接測(ce)試

7

高頻介電(dian)常數測試儀

GDAT--A

介電常數、介質損耗

測試頻率50HZ-160MHZ

8

工頻(pin)介電常數測試儀

BQS-37A

介(jie)電常數(shu)、介(jie)質損耗

測試(shi)頻率50HZ

9

耐電弧試(shi)驗儀(yi)

BDH-20KV

耐電弧

微機控制、觸摸屏控制

10

高壓(ya)漏電起痕試驗儀

BLD-6000V

高壓等級測(ce)試

zui高(gao)電壓(ya)6KV

11

耐電(dian)痕化指(zhi)數測定儀

BLD-600V

漏電痕跡、電痕化(hua)CTIPTI

zui高(gao)電壓600V

 

 

 

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