北京絕緣材料巖石介電常數測試儀生產廠家主要(yao)(yao)技術特性(xing)：介質損耗和介電常(chang)數(shu)是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷，還(huan)有復合材料等的一項重要(yao)(yao)的物(wu)理性(xing)質，通過測定(ding)介質損耗角正(zheng)切(qie)tanδ及介電常數(ε)，可進一步了解影響介質損耗和介電常(chang)數的各種因素，為提高材(cai)料的性能提供依據；

北京絕緣材料巖石介電常數測試儀生產廠家儀器(qi)的基本原理(li)是采用(yong)(yong)高頻諧振(zhen)法(fa)，并提供(gong)了，通用(yong)(yong)、多(duo)用(yong)(yong)途、多(duo)量程的阻抗測(ce)試(shi)。

它以單片計算機作為儀器的控(kong)制，測(ce)量(liang)核(he)心采用了頻率(lv)數字鎖定(ding)，標(biao)準頻率(lv)測(ce)試點自(zi)動設定(ding)，諧(xie)振點自(zi)動搜索，Q值(zhi)量程自動轉換，數(shu)值(zhi)顯示(shi)等新(xin)技術(shu)，改進了調(diao)諧回(hui)(hui)路(lu)(lu)，使得調(diao)諧測試(shi)回(hui)(hui)路(lu)(lu)的殘余電(dian)感減至zui低(di)，并(bing)保(bao)留了原Q表中(zhong)自(zi)動穩幅等技術，使得新儀器在使用時更為方便，測量值(zhi)更為精(jing)確。

高頻介質樣品（選購件）：
在現行高頻介質材料檢定系統中，檢定部門為高頻介質損耗測量儀提供的測量標準是高頻標準介質樣品。

該(gai)樣(yang)品由人工藍寶石，石英玻(bo)璃，氧(yang)化鋁陶瓷，聚四(si)氟(fu)乙(yi)烯，環氧(yang)板等材料做(zuo)成(cheng)Φ50mm，厚1～2mm測試(shi)樣(yang)品。用戶可按需訂(ding)購，以保證測試(shi)裝置的重復性(xing)(xing)和準(zhun)確性(xing)(xing)。

較高(gao)(gao)的測(ce)試頻(pin)率(lv)條件下，測(ce)量高(gao)(gao)頻(pin)電感或諧振回(hui)路(lu)的Q值，電(dian)感(gan)器的電(dian)感(gan)量和(he)分布(bu)電(dian)容量，電(dian)容器的電(dian)容量和(he)損耗角正(zheng)切(qie)值，電(dian)工材料的高(gao)頻介質(zhi)損耗，高(gao)頻回(hui)路有效并聯及(ji)串聯電(dian)阻，傳輸線的特(te)性阻抗(kang)等

電感器：

按測試(shi)頻率要求，需要配置不(bu)同量的電感(gan)器。

例如：在(zai)1MHz測(ce)試(shi)頻率時，要(yao)配250μH電(dian)感器(qi)，在(zai)50MHz測(ce)試(shi)頻率時，要(yao)配0.1μH電(dian)感器(qi)等。

特點： 

◎ 本公司(si)創新(xin)的自動Q值保持技術(shu)，使測Q分(fen)辨率(lv)(lv)至0.1Q，使tanδ分(fen)辨率(lv)(lv)至0.00005 。

◎ 能對固體絕緣材(cai)料在(zai)10kHz～120MHz介質損耗角(tanδ)和介電(dian)常數(ε)變(bian)化的測試。

◎ 調諧回路殘余電感值低(di)至(zhi)8nH，保證(zheng)100MHz的(de)(tanδ)和(ε)的(de)誤差較小。

◎ 特(te)制LCD屏菜單(dan)式顯(xian)示多參數：Q值，測試(shi)頻率(lv)，調諧狀(zhuang)態(tai)等。

◎ Q值(zhi)量(liang)程(cheng)(cheng)自動/手(shou)動量(liang)程(cheng)(cheng)控制(zhi)。

◎ DPLL合(he)成(cheng)發生1kHz～60MHz, 50kHz～160MHz測試(shi)信(xin)(xin)號(hao)。獨立信(xin)(xin)號(hao)   源輸(shu)出口，所(suo)以本機又是(shi)一臺(tai)合(he)成(cheng)信(xin)(xin)號(hao)源。

◎ 測試裝(zhuang)置符(fu)合國標GB/T 1409-2006,美標ASTM D150以(yi)及(ji)IEC60250規(gui)范要(yao)求。

工作頻率(lv)(lv)范圍是10kHz～160MHz,它能(neng)完成工作頻率(lv)(lv)內材(cai)料(liao)的高(gao)頻介(jie)質損耗角(tanδ)和介(jie)電常數(ε)變化的測試(shi)。

本儀(yi)器中測試(shi)裝(zhuang)置是(shi)由(you)平板電容器和測微圓筒線性(xing)電容器組成，平板電容器一般用來(lai)夾(jia)被測樣品，配用Q表(biao)作為指示儀(yi)器。

絕緣(yuan)材料的(de)損(sun)耗角正切值是通過被測樣(yang)品放入平(ping)板電容器和不放樣(yang)品的(de)Q值變化(hua)和厚度(du)的(de)刻度(du)讀(du)數通過公式計算(suan)得(de)到。

同樣，由測微圓筒(tong)線性電容器的電容量讀(du)數變化(hua)，通過公式計算得到介電常(chang)數。

主要技術指標：

2.1 tanδ和ε性能：

2.1.1 固體絕緣(yuan)材料(liao)測試(shi)頻率10kHz～120MHz的(de)tanδ和ε變(bian)化的(de)測試(shi)。

2.1.2 tanδ和ε測(ce)量范圍：

tanδ：0.1～0.00005，ε：1～50

2.1.3 tanδ和ε測量精度（1MHz）：

tanδ：±5%±0.00005，ε：±;2%

工作頻率(lv)范圍：50kHz～50MHz    四位數顯，壓控振蕩器

Q值(zhi)測(ce)量范圍：1～1000三(san)位數顯，±1Q分(fen)辨率(lv)

可調(diao)電容范圍：40～500 pF  ΔC±3pF

電容測量(liang)誤差：±1%±1pF

Q表殘余電感值：約20nH

電感測量

a．測量范圍：0.1μH～1H。

b．分 檔：分七個量程。

0.1～1μH， 1～10μH， 10～100μH，

0.1～lmH， 1～10mH， 10～100mH， 100 mH～1H。

振(zhen)蕩頻率

a．振蕩頻率范圍：25kHz～50MHz；

b．頻率分檔：

25～74kHz， 74～213kHz， 213-700kHz， 700kHz～1.95MHz，

1.95MHz～5.2MHz， 5.2MHz～17MHz， 17～50MHz。

c．頻率誤差：2×10±1個字。

Q合格指示預置功能，預置范圍：5～999。