產品概述
工程塑料、薄膜高頻介電常數測試儀振蕩頻(pin)率
a.振(zhen)蕩(dang)頻率(lv)范圍:25kHz~50MHz;
b.頻率分檔:
25~74kHz, 74~213kHz, 213-700kHz, 700kHz~1.95MHz,
1.95MHz~5.2MHz, 5.2MHz~17MHz, 17~50MHz。
c.頻(pin)率誤(wu)差:2×10±1個字。
Q合格指示(shi)預置功能,預置范圍:5~999。
工程塑料、薄膜高頻介電常數測試儀主要技術指標:
2.1 tanδ和ε性能:
2.1.1 固體絕緣(yuan)材料測(ce)試(shi)頻率(lv)10kHz~120MHz的tanδ和ε變化的測(ce)試(shi)。
2.1.2 tanδ和(he)ε測量范(fan)圍:
tanδ:0.1~0.00005,ε:1~50
2.1.3 tanδ和ε測量精度(du)(1MHz):
tanδ:±5%±0.00005,ε:±2%
工作頻(pin)率(lv)范(fan)圍:50kHz~50MHz 四位數(shu)顯,壓控振蕩器
Q值測量范圍(wei):1~1000三位數顯,±1Q分辨率
可調電(dian)容(rong)范圍:40~500 pF ΔC±3pF
電容測量誤差:±1%±1pF
Q表殘余電(dian)感值:約20nH
特點:
◎ 本(ben)公司創新(xin)的自動Q值保持技(ji)術,使(shi)(shi)測Q分辨率至0.1Q,使(shi)(shi)tanδ分辨率至0.00005 。
◎ 能對固體絕緣材料在(zai)10kHz~120MHz介質損耗角(tanδ)和介電(dian)常數(ε)變化的測(ce)試。
◎ 調(diao)諧回路殘余電(dian)感值(zhi)低至8nH,保證100MHz的(tanδ)和(ε)的誤差(cha)較小。
◎ 特制LCD屏菜單式顯(xian)示(shi)多參數:Q值,測試頻率,調諧狀態等。
◎ Q值量程(cheng)自動/手動量程(cheng)控制。
◎ DPLL合(he)(he)成發生1kHz~60MHz, 50kHz~160MHz測(ce)試信(xin)(xin)號。獨立信(xin)(xin)號 源輸出口,所以本機又是一臺合(he)(he)成信(xin)(xin)號源。
◎ 測試裝置符合國標(biao)GB/T 1409-2006,美標(biao)ASTM D150以及(ji)IEC60250規范要求。
電感器:
按(an)測試頻率要求,需(xu)要配置不同量的電感器。
例如:在(zai)1MHz測試頻率時,要(yao)配250μH電感(gan)(gan)器,在(zai)50MHz測試頻率時,要(yao)配0.1μH電感(gan)(gan)器等(deng)。
高頻介質樣品(選購件):
在現行高頻介質材料檢定系統中,檢定部門為高頻介質損耗測量儀提供的測量標準是高頻標準介質樣品。
該樣(yang)品由(you)人工藍寶石,石英(ying)玻璃,氧化(hua)鋁陶瓷,聚(ju)四氟乙(yi)烯,環氧板(ban)等材料做(zuo)成Φ50mm,厚1~2mm測(ce)試樣(yang)品。用戶可按需訂(ding)購,以保證測(ce)試裝(zhuang)置(zhi)的重復(fu)性和準確(que)性。
工作頻率范圍是10kHz~160MHz,它能(neng)完成工作頻率內材料的(de)高頻介(jie)質(zhi)損(sun)耗角(tanδ)和介(jie)電常數(ε)變化的(de)測試。
本儀器中測試裝置是(shi)由平板電容(rong)(rong)器和測微(wei)圓筒(tong)線(xian)性電容(rong)(rong)器組成,平板電容(rong)(rong)器一般(ban)用(yong)來夾被(bei)測樣品(pin),配用(yong)Q表作(zuo)為指示儀器。
絕緣(yuan)材料的(de)損(sun)耗角(jiao)正切值(zhi)是通(tong)過被測樣品放(fang)入平板電容器和(he)不(bu)放(fang)樣品的(de)Q值(zhi)變化和(he)厚度的(de)刻(ke)度讀數通(tong)過公式計算得到。
同樣,由測微圓筒(tong)線性電(dian)(dian)容(rong)器(qi)的(de)電(dian)(dian)容(rong)量讀數變化,通過公式計算得(de)到介(jie)電(dian)(dian)常(chang)數。
電(dian)感測量
a.測(ce)量范圍:0.1μH~1H。
b.分 檔(dang):分七個(ge)量程(cheng)。
0.1~1μH, 1~10μH, 10~100μH,
0.1~lmH, 1~10mH, 10~100mH, 100 mH~1H。
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