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掃描型紫外可見光分光光度計

型 號ph-31

更新時間(jian)2023-08-05

廠(chang)商性質生產廠家

報價(jia)

產品描述:掃描型紫外可見光分光光度計儀器特點:

7寸TFT大屏幕真彩液晶顯示,數字式薄膜按鍵輸入;

ARM處理器,高精度AD,高運算速度,海量數據存儲;

豐富輸入輸出接口,支持U盤功能;

加厚底板和光學支架,進口關鍵零部件,經久耐用;

高精度,低雜散光,低噪聲。

產品概述

掃描(miao)型紫外可見光(guang)分光(guang)光(guang)度(du)計儀器特點:

7TFT大屏幕真彩(cai)液(ye)晶顯(xian)示(shi),數字式薄(bo)膜(mo)按鍵輸入;

ARM處理器,高精度AD,高運算速度,海量數據存儲;

豐富輸入(ru)輸出(chu)接口,支持U盤(pan)功能;

加厚(hou)底板(ban)和光(guang)學支(zhi)架,進口關鍵零部件,經久耐用(yong);

高(gao)精度,低雜散光,低噪聲。

掃(sao)描型紫(zi)外可見光分光光度計(ji)聯機功能:(選配(pei)PC掃(sao)描軟件)

光度(du)測(ce)試,定量測(ce)試(標準曲線),波長掃描(miao)(光譜掃描(miao)),時間掃描(miao)(動(dong)力(li)學),核酸蛋白測(ce)試,數據處(chu)理(li)、圖譜處(chu)理(li)、報告(gao)打印等。

技術(shu)指(zhi)標和基本參數:

定量(liang)機(ji)型

PS13

PS13A

分光方式

單光束

光譜帶寬

4.0nm

2.0nm

波長范圍

190-1100nm

波長(chang)準確度

±0.8nm

±0.5nm

波長重復性

≤0.2nm

光度范圍

0-200%T,-0.3­3A

光度準確度

±0.5%T

±0.3%T

光度重復性

≤0.2%T

≤0.15%T

雜散光

≤0.05%T

基線平直度

±0.002A

±0.0015A

基線漂移(穩定性(xing))

±0.002A/h

±0.001A/h

噪(zao)聲

±0.001A

分(fen)光元件

高性能1200條/mm光柵

檢測(ce)器

進口硅光(guang)二極管

光源(yuan)

進口長壽命鎢(wu)燈、氘燈

顯示

7寸(cun)800*480點(dian)陣TFT真(zhen)彩液晶

鍵盤輸入

數字式薄(bo)膜按鍵

輸入(ru)輸出接(jie)口

串口,USB口

電源

AC 90-250V,50/60Hz

尺寸

545*468*245mm

重量(liang)

20kg

技術特點(dian):

    • 能在紫(zi)外、可見(jian)光譜區域(yu)對樣品(pin)物質做定性定量的分(fen)析。 快速調整(zheng)(整(zheng)時間小于3S)。
    • 采用微(wei)機測量系統,T-A轉(zhuan)換精確,自(zi)(zi)動調(diao)整(zheng)"0"和調(diao)整(zheng)"100",具有GOTOλ,時間掃描,自(zi)(zi)動八聯樣(yang)品架,自(zi)(zi)動扣除比色皿誤差(cha),濃度多點標(biao)定,斜率和載(zai)距設置(zhi)等功能,具有RS-232接口和并(bing)行打印口(印機,另(ling)行選(xuan)項配)。
    • 聯機功(gong)能:通過(guo)RS-232串行接口(kou),可利用上層軟件做(zuo)全波長掃描(miao),時間(jian)掃描(miao),濃度回歸方程(cheng)(1次,2次,3次),多波長測試,并大大擴展測試功(gong)能(除主(zhu)機功(gong)能外(wai))提供數(shu)據向Excel傳送方式,便(bian)于用戶的后期處理。
    • 基于(yu)Windows開(kai)發的(de)UVCONTROL控(kong)制(zhi)(zhi)軟(ruan)件,可(ke)對(dui)主機進行全面控(kong)制(zhi)(zhi)。包括(kuo)數(shu)(shu)據采集(單點測(ce)量,光(guang)譜(pu)掃(sao)描(miao)定量測(ce)定,時(shi)間掃(sao)描(miao))各種數(shu)(shu)據處理。
    • 標準化、峰谷檢測、面積計算。 圖(tu)譜的放(fang)大(da)、縮(suo)小、平滑、導樹、四則運(yun)算、1~4 次導樹, T~A轉換單波(bo)長、多波(bo)長定(ding)量測定(ding)。 K系數(shu)法、一點(dian)(dian)工(gong)作曲線法,可(ke)進行(xing)次函數(shu)擬(ni)合定(ding)量分析中異常(chang)點(dian)(dian)剔除。
    • 掃描圖譜、工作曲線和測量(liang)(liang)結果可(ke)海量(liang)(liang)存儲,方便(bian)您的辦(ban)公(gong)。 測試(shi)報告可(ke)以以標準文件(jian)或者Excel輸出。

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