四探針導電材料電阻率測試儀在測試過程中，在滿足基本條件下可以不考慮探針間距、樣品尺寸及探針在樣品表面上的位置等因素。四探針導電材料電阻率測試儀自(zi)動(dong)修正，降低了(le)其(qi)對測(ce)(ce)(ce)試(shi)結(jie)果(guo)的(de)影(ying)響(xiang)(xiang)，從而提高了(le)測(ce)(ce)(ce)量(liang)結(jie)果(guo)的(de)準確度。通過采用四探(tan)(tan)針雙位組合測(ce)(ce)(ce)量(liang)技術，將(jiang)范德堡測(ce)(ce)(ce)量(liang)方法(fa)應用到直線四探(tan)(tan)針上。利用電流探(tan)(tan)針和(he)電壓探(tan)(tan)針的(de)組合變(bian)換，進行兩次電測(ce)(ce)(ce)量(liang)，其(qi)最后計算(suan)結(jie)果(guo)能自(zi)動(dong)消除由樣品(pin)幾何尺寸、邊界效應以及探(tan)(tan)針不(bu)等距和(he)機械游移等因(yin)素所引起的(de)，對測(ce)(ce)(ce)量(liang)結(jie)果(guo)的(de)不(bu)利影(ying)響(xiang)(xiang)。適用于生(sheng)產(chan)企業、高等院校、科研部門(men)，是檢(jian)驗(yan)和(he)分析半導(dao)體材料質量(liang)的(de)工(gong)具(ju)；液晶(jing)顯(xian)示，自(zi)動(dong)測(ce)(ce)(ce)量(liang)和(he)系(xi)數(shu)補償(chang)，并帶有溫度補償(chang)功能，自(zi)動(dong)轉換量(liang)程；采用AD芯片控(kong)制，恒流輸出，選配：PC軟(ruan)件(jian)，保(bao)存(cun)和(he)打印數(shu)據，生(sheng)成報表

用于：覆(fu)蓋膜(mo);導(dao)電高分子膜(mo)，高、低溫電熱膜(mo);隔熱、導(dao)電窗(chuang)膜(mo) 導(dao)電(屏蔽)布(bu)、裝飾(shi)膜(mo)、裝飾(shi)紙;金屬化標簽、合金類箔膜(mo);熔煉、燒(shao)結(jie)、濺(jian)射、涂覆(fu)、涂布(bu)層，電阻(zu)式(shi)、電容(rong)式(shi)觸屏薄膜(mo);電極涂料，其他半導(dao)體材料、薄膜(mo)材料方阻(zu)測試(shi)等相關產品

電阻測量范圍： 
1、電阻率(lv)： 1×10-6～2×106Ω.cm、

電   阻：1×10-5～2×105Ω

電導率：5×10-6～1×108ms/cm

分辨率：  最小1μΩ
測量誤差±5%
2、測量電壓量程： 2mV   20mV  200mV 2V 
   測量精度(du)±（0.1%讀數）

分辨率：  0.1uV  1uV  10uV  100uV
3、⑴電流輸出：直流電流 0～1000mA 連續可調，由交流電源供電。
   ⑵量程：1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，1000mA, 
   ⑶誤差：±0.2%讀數±2字

4. 主機外(wai)形尺寸(cun)：330mm*350mm*110mm

5、顯示(shi)方(fang)式：液晶顯示(shi)6、電源：220±10% 50HZ/60HZ

7、標(biao)配：測(ce)試平臺一套、主機一套、電源線數(shu)據線一套。

四端測(ce)(ce)試(shi)法是目(mu)前較(jiao)先進(jin)之(zhi)測(ce)(ce)試(shi)方法，主要針對(dui)高精度要求之(zhi)產品測(ce)(ce)試(shi)；本儀器廣(guang)泛(fan)用于生產企業、高等院校、科研(yan)部門，是檢(jian)驗和分析導(dao)體材(cai)料和半導(dao)體材(cai)料質(zhi)量的一種重要的工具。

本儀(yi)器配置(zhi)各類測量裝置(zhi)可以(yi)測試(shi)(shi)不同材(cai)料(liao)(liao)之電(dian)(dian)導(dao)率(lv)。液(ye)晶顯(xian)示，無需人工計(ji)算，并帶有溫度補(bu)償功(gong)能，電(dian)(dian)導(dao)率(lv)單位自(zi)動選擇，BEST-300C 材(cai)料(liao)(liao)電(dian)(dian)導(dao)率(lv)測試(shi)(shi)儀(yi)自(zi)動測量并根據測試(shi)(shi)結果(guo)自(zi)動轉換量程，無需人工多次和重復設置(zhi)。選配：配備軟件(jian)可以(yi)由電(dian)(dian)腦操控(kong)，并保存和打印數據，自(zi)動生成圖表(biao)和報表(biao)。

本儀器采用4.3吋大液晶屏幕(mu)顯(xian)示(shi)，同時顯(xian)示(shi)電阻值、電阻率(lv)、方阻、電導率(lv)值、溫度、壓強值、單位(wei)自動換算，配置不同的測(ce)(ce)試(shi)治具可(ke)以滿(man)足不同材料的測(ce)(ce)試(shi)要(yao)求。測(ce)(ce)試(shi)治具可(ke)以根(gen)據(ju)產品及(ji)測(ce)(ce)試(shi)項目要(yao)求選購.

提供(gong)中文(wen)或英(ying)文(wen)兩(liang)種語言操作界面選(xuan)擇，滿(man)足國(guo)內及(ji)國(guo)外客戶需(xu)求(qiu)硅片電阻率測量的標準（ASTM F84）及(ji)國(guo)家(jia)標準設計制造(zao)；GB/T 1551-2009 《硅單(dan)晶電阻率測定(ding)方法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單(dan)晶電阻率測定(ding)直流四探針法》.