薄膜直流體積電阻率測試儀符合標準：

　　GB/T 1410-2006《 塑料(liao)薄膜電(dian)阻(zu)率測定儀固體絕緣材(cai)料(liao)體積電(dian)阻(zu)率和表面電(dian)阻(zu)率試驗方法》

　　ASTM D257-99 《絕(jue)緣材料(liao)的直(zhi)流電阻或電導(dao)試(shi)驗方(fang)法》

　　GB/T 2439-2001《硫化橡膠或熱(re)塑(su)性橡膠導(dao)電(dian)性能和耗散性能電(dian)阻(zu)率的測定》

　　GB/T 10581-2006《絕緣材料在高溫下(xia)電阻和電阻率的(de)試(shi)驗方法》

　　GB/T 1692-2008《硫化橡膠(jiao)絕緣電阻率(lv)的(de)測定》

　　GB/T 12703.4-2010《紡(fang)織品 靜電(dian)性能的評(ping)定 第４部分：電(dian)阻率》

　　GB/T 10064-2006《測定固體絕緣材料絕緣電阻的(de)試驗方法(fa)》

薄膜直流體積電阻率測試儀每(mei)撥(bo)一次稍(shao)停留3～5秒以便觀察顯(xian)(xian)示(shi)(shi)(shi)數(shu)(shu)字(zi)，當有(you)顯(xian)(xian)示(shi)(shi)(shi)值時應(ying)(ying)停下(xia)，記錄當前的 數(shu)(shu)字(zi)即是(shi)被測電(dian)阻值。若顯(xian)(xian)示(shi)(shi)(shi)“1”時，表(biao)示(shi)(shi)(shi)欠量程(cheng)應(ying)(ying)往高次檔拔。直到有(you)顯(xian)(xian)示(shi)(shi)(shi) 數(shu)(shu)字(zi)時為止(zhi)。當有(you)顯(xian)(xian)示(shi)(shi)(shi)數(shu)(shu)字(zi)時不(bu)能再往高次檔撥(bo)，否則有(you)可能損(sun)壞儀(yi)器(機內(nei)有(you)過電(dian)流(liu)保(bao)護電(dian)路)。除104 Ω檔之外(wai)，當顯(xian)(xian)示(shi)(shi)(shi)低于(yu)1.99，表(biao)示(shi)(shi)(shi)過量程(cheng)應(ying)(ying)換低檔!

如(ru)接在(zai)電阻箱或被(bei)測量(liang)物體上時調(diao)零(ling)后(hou)(hou)測量(liang)會產生很大的誤差。一般一次調(diao)零(ling) 后(hou)(hou)在(zai)測試過(guo)程中不(bu)需再調(diao)零(ling)，但改(gai)變測量(liang)電壓后(hou)(hou)可(ke)能要重新調(diao)零(ling)。禁止將“電壓與電流(liu)”兩端短路，以(yi)免(mian)微電流(liu)放大器受大電流(liu)沖擊。