直讀式介質常數測試儀簡介：

采(cai)用(yong)高(gao)頻(pin)(pin)(pin)諧(xie)振法，并(bing)提供了(le)通(tong)用(yong)、多用(yong)途(tu)、多量程的阻抗測(ce)(ce)(ce)試。它以單片計算機(ji)控制(zhi)儀器，測(ce)(ce)(ce)量核心采(cai)用(yong)了(le)頻(pin)(pin)(pin)率數字(zi)鎖定、標準頻(pin)(pin)(pin)率測(ce)(ce)(ce)試點自(zi)動(dong)(dong)設定、諧(xie)振點自(zi)動(dong)(dong)搜(sou)索、Q值(zhi)量程自(zi)動(dong)(dong)轉換、數值(zhi)顯示等新技術(shu)，改進了(le)調(diao)諧(xie)回(hui)路(lu)(lu)，使得(de)調(diao)諧(xie)測(ce)(ce)(ce)試回(hui)路(lu)(lu)的殘余電感(gan)減至低，并(bing)保留了(le)原(yuan)Q表中自(zi)動(dong)(dong)穩幅等技術(shu)，使得(de)新儀器在使用(yong)時更(geng)為方便，測(ce)(ce)(ce)量時更(geng)為。儀器能在較高(gao)的測(ce)(ce)(ce)試頻(pin)(pin)(pin)率條(tiao)件下，測(ce)(ce)(ce)量高(gao)頻(pin)(pin)(pin)電感(gan)或諧(xie)振回(hui)路(lu)(lu)的Q值(zhi)，電感(gan)器的電感(gan)量和分布(bu)電容量，電容器的電容量和損耗(hao)角正切值(zhi)，電工材料的高(gao)頻(pin)(pin)(pin)介(jie)質損耗(hao)，高(gao)頻(pin)(pin)(pin)回(hui)路(lu)(lu)有效(xiao)并(bing)聯及(ji)串聯電阻，傳輸線的特性阻抗等。

工作原理

1．“Q"的定義

Q表是(shi)根據串聯諧(xie)振原理設計，以諧(xie)振電壓的比值來定位Q值。

“Q"表示(shi)元(yuan)(yuan)件(jian)或系統的“品質(zhi)因(yin)數"，其物理含義是在(zai)一個振蕩周(zhou)期內(nei)貯存的能(neng)量與損耗的能(neng)量之(zhi)比(bi)。對于(yu)電(dian)抗(kang)元(yuan)(yuan)件(jian)(電(dian)感或電(dian)容)來(lai)說(shuo)，即在(zai)測試頻率上呈現的電(dian)抗(kang)與電(dian)阻(zu)之(zhi)比(bi)。

電容器容量的測量

A. 在測(ce)量范圍內的小于主調(diao)電容量的電容器的測(ce)量

a．選一個適當(dang)的(de)諧振電(dian)感(gan)接到“Lx"的(de)兩端；

b．將調(diao)諧電容器調(diao)到最大值(zhi)附近(jin)，令這個電容是C1，如(ru)未(wei)知電容是小數值(zhi)的，C1應調(diao)到較小電容值(zhi)附近(jin)，以便達到盡可能高的分辨(bian)率；

c．調訊(xun)號源的(de)頻(pin)率，使測(ce)試回路(lu)諧(xie)振，令諧(xie)振器Q的(de)讀數為(wei)Q1；

d．將(jiang)被測電容接在“Cx"兩(liang)端(duan)，調(diao)節調(diao)諧(xie)(xie)電容器，使測試電路(lu)再諧(xie)(xie)振(zhen)，令(ling)新的(de)調(diao)諧(xie)(xie)電容值(zhi)(zhi)為C2和指示Q值(zhi)(zhi)為Q2。

被(bei)測電容(rong)的有效電容(rong)為：Cx= C1－C2

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直讀式介質常數測試儀測試注意事項

1．本(ben)儀器應水平安(an)放(fang)。

2．如果(guo)你需要較精確地測量，請接通電(dian)源后，預(yu)熱30分鐘。

3．調節主調電容數碼開關時(shi)，當接(jie)近諧振點時(shi)請(qing)緩調。

4．被測件和測試(shi)電路接線柱間的接線應(ying)盡(jin)量短(duan)，足夠粗，并應(ying)接觸(chu)良好(hao)、可(ke)靠，以減少(shao)因接線的電阻和分(fen)布參數所帶來的測量誤差。

5．被測件不要直接擱在面板頂部，離頂部一公(gong)分(fen)以上，必(bi)要時(shi)可用(yong)低損耗的絕緣(yuan)材料如聚苯乙烯(xi)等做成的襯(chen)墊物襯(chen)墊。

6．手不得靠(kao)近試件，以免人體感(gan)應(ying)影響造(zao)成測量誤差，有屏蔽的(de)試件，屏蔽罩應(ying)連接(jie)在低電位端的(de)接(jie)線柱(zhu)。