四探針低電阻率測試儀功(gong)能概述Overview：

　　1. 可以測試到1uΩ方阻值

　　2. 恒流輸出

　　3. 液晶顯示

　　4. 自動數據測量

　　5. 雙電(dian)組(zu)合(he)測試方法.

　　6. 提(ti)供中文(wen)或(huo)英文(wen)語言版本.

　　7. PC軟件運行(xing).

四探針低電阻率測試儀

適(shi)用范(fan)圍Widely used：

　　1.覆蓋膜(mo)(mo);導(dao)電(dian)高(gao)分子膜(mo)(mo)，高(gao)、低(di)溫(wen)電(dian)熱(re)膜(mo)(mo);隔熱(re)、導(dao)電(dian)窗膜(mo)(mo) 導(dao)電(dian)(屏(ping)蔽)布(bu)、裝(zhuang)飾膜(mo)(mo)、裝(zhuang)飾紙;金(jin)屬化標簽、合金(jin)類箔膜(mo)(mo);熔(rong)煉、燒結、濺射(she)、涂覆、涂布(bu)層，電(dian)阻(zu)(zu)式、電(dian)容式觸(chu)屏(ping)薄(bo)膜(mo)(mo);電(dian)極涂料(liao)，其他半(ban)導(dao)體(ti)材料(liao)、薄(bo)膜(mo)(mo)材料(liao)方(fang)阻(zu)(zu)測試

　　2.硅(gui)晶塊、晶片電(dian)(dian)阻率及擴散層、外延層、ITO導電(dian)(dian)箔(bo)膜(mo)(mo)、導電(dian)(dian)橡膠等材料(liao)方塊電(dian)(dian)阻 半導體材料(liao)/晶圓(yuan)、太陽(yang)能電(dian)(dian)池、電(dian)(dian)子元器件，導電(dian)(dian)薄(bo)膜(mo)(mo)（ITO導電(dian)(dian)膜(mo)(mo)玻璃等），金屬膜(mo)(mo)，導電(dian)(dian)漆膜(mo)(mo)，蒸發鋁膜(mo)(mo)，PCB銅箔(bo)膜(mo)(mo)，

　　3.EMI涂(tu)層等物(wu)質的薄層電(dian)阻與電(dian)阻率 導(dao)電(dian)性(xing)(xing)油漆(qi)，導(dao)電(dian)性(xing)(xing)糊狀物(wu)，導(dao)電(dian)性(xing)(xing)塑料，導(dao)電(dian)性(xing)(xing)橡膠(jiao)，導(dao)電(dian)性(xing)(xing)薄膜，金屬(shu)薄膜，

　　4.抗靜電材料， EMI 防護材料，導(dao)(dao)電性纖(xian)維，導(dao)(dao)電性陶(tao)瓷(ci)等

步驟及流程

　　1. 開啟電源(yuan)，預熱5分鐘.

　　2. 裝配(pei)好探頭(tou)和測試平臺.

　　3. 設定所需參數.

　　4. 測量樣品

　　5. 導出(chu)數據.

　　優點描述：

　　1. 自動量程

　　2. 準確穩(wen)定性.

　　3. 雙電(dian)組合測試方法

　　4. 標準(zhun)電阻校準(zhun)儀器

　　5. PC軟件運行(xing)

　　6. 同時(shi)顯示電(dian)阻、電(dian)阻率、電(dian)導率數據.

　　7. 可顯示5位(wei)數(shu)字.

　　8. 中、英文界(jie)面

1.方塊電阻范圍： 10-6～2×105Ω/□

2.電(dian)阻率范圍： 10-7～2×105Ω-cm

3.測試(shi)電流(liu)范圍： 1A、100mA、10mA、1mA、100uA、10uA、1uA、0.1uA

4.電流(liu)精(jing)度： ±0.1%讀數

5.電阻精(jing)度： ≤0.3%

6.PC軟件界面： 電(dian)阻、電(dian)阻率、方阻、溫度(du)、單位換算、溫度(du)系數、電(dian)流、電(dian)壓、

探(tan)針形(xing)狀、探(tan)針間距、厚度 、電導率、電阻率、壓強

7.測(ce)試方式: 四探針測(ce)量（體電阻率）和四端法（接觸(chu)電阻測(ce)量）