碳素四探針電阻測試儀參數：

1. 材料尺寸(由選配測試臺和測試方式決定)

直 徑(jing)：圓(yuan)測試(shi)臺直接測試(shi)方(fang)式(shi) Φ15～130mm，手持方(fang)式(shi)不限

方測(ce)試(shi)(shi)(shi)臺(tai)直接(jie)測(ce)試(shi)(shi)(shi)方式 180mm×180mm，手持方式不(bu)限(xian). 長(chang)(高)度： 測(ce)試(shi)(shi)(shi)臺(tai)直接(jie)測(ce)試(shi)(shi)(shi)方式 H≤100mm, 手持方式不(bu)限(xian).

BEST-300C 測試儀能(neng)夠測量半導(dao)體(ti)材料體(ti)電(dian)阻率(lv)(lv)ρ、方塊電(dian)阻（薄片電(dian)阻率(lv)(lv)）R 口

以及(ji)體電(dian)阻(zu) R，測(ce)量時需調整相應的修正系數和選(xuan)擇相應的功能(neng)。

本產品(pin)不但提(ti)供了電(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)率ρ、方(fang)塊(kuai)電(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu) R 口以及體電(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu) R 測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)的基本修正系數(shu)設定， 還提(ti)供了產品(pin)厚(hou)度(du) G、外形和(he)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)位(wei)置的修正系數(shu) D 設定，極大(da)的提(ti)高(gao)了測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)精度(du)。測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)類別的快捷選擇方(fang)式，方(fang)便了用(yong)戶同(tong)時(shi)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)多個參數(shu)，提(ti)高(gao)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)效率。整(zheng)機測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)最大(da)相對誤差：≤±3%；整(zheng)機測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)標準不確(que)定度(du)：≤±3%四位(wei)半顯(xian)示(shi)(shi)(shi)讀數(shu)；八量(liang)(liang)程自(zi)(zi)動(dong)(dong)或手動(dong)(dong)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)；范(fan)圍寬： 電(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)：10-4Ω～105Ω ；方(fang)阻(zu)(zu)：10-4Ω/□～105Ω/□；正反向電(dian)(dian)(dian)流源修正測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)電(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)誤差恒(heng)(heng)流源：電(dian)(dian)(dian)流量(liang)(liang)程分為： 1uA、10uA、100uA、1mA、10mA 、100mA六檔；儀器配有恒(heng)(heng)流源開(kai)關可(ke)有效保護被測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)件，即先(xian)讓探(tan)針頭壓觸在(zai)被測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)材料(liao)上，后(hou)開(kai)恒(heng)(heng)流源開(kai)關，避免接觸瞬間打火。為了提(ti)高(gao)工作(zuo)(zuo)效率，如探(tan)針帶電(dian)(dian)(dian)壓觸單晶對材料(liao)及測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)并無影響(xiang)時(shi)，恒(heng)(heng)流源開(kai)關可(ke)一(yi)直處于開(kai)的狀態(tai)。可(ke)配合多種探(tan)頭進行(xing)(xing)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)；也可(ke)配合多種測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)臺進行(xing)(xing)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)。校正功能(neng)：可(ke)手動(dong)(dong)或自(zi)(zi)動(dong)(dong)選擇測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)量(liang)(liang)程 全量(liang)(liang)程自(zi)(zi)動(dong)(dong)清零(ling)。厚(hou)度(du)可(ke)預設，自(zi)(zi)動(dong)(dong)修正樣品(pin)的電(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)率,無需(xu)查表即可(ke)計算(suan)出電(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)率自(zi)(zi)動(dong)(dong)進行(xing)(xing)電(dian)(dian)(dian)流換向,并進行(xing)(xing)正反向電(dian)(dian)(dian)流下的電(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)率(或方(fang)塊(kuai)電(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu))測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang),顯(xian)示(shi)(shi)(shi)平均值.測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)薄片(pian)時(shi),可(ke)自(zi)(zi)動(dong)(dong)進行(xing)(xing)厚(hou)度(du)修正。雙電(dian)(dian)(dian)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)模式，測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)精度(du)高(gao)、穩定性(xing)好(hao).具備溫度(du)補(bu)償功能(neng)，修正被測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)材料(liao)溫漂(piao)帶來(lai)的測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)結果偏差。比(bi)較器判斷燈直接顯(xian)示(shi)(shi)(shi)，勿需(xu)查看屏幕(mu)，作(zuo)(zuo)業(ye)效率得(de)以提(ti)高(gao)。

3檔分選(xuan)功能(neng)：超上限(xian)，合格(ge)，超下限(xian)，可(ke)對(dui)被測(ce)件(jian)進行HI/LOW判斷，可(ke)直接在LCD使用標志顯示；也(ye)可(ke)通(tong)過USB接口(kou)(kou)、RS232接口(kou)(kou)輸出(chu)更(geng)為(wei)詳細的分選(xuan)結果。測(ce)試(shi)模(mo)式：可(ke)連接電腦測(ce)試(shi)、也(ye)可(ke)不連接電腦單機測(ce)試(shi)。接口(kou)(kou)，Handler接口(kou)(kou)、RS232接口(kou)(kou)、USB HOST、USB DEVICE。實現遠程控制(zhi)。U盤(pan)可(ke)記錄(lu)(lu)測(ce)試(shi)數(shu)據(ju)軟(ruan)(ruan)件(jian)功能(neng)（選(xuan)配）：軟(ruan)(ruan)件(jian)可(ke)記錄(lu)(lu)、保存、各點的測(ce)試(shi)數(shu)據(ju)；可(ke)供用戶對(dui)數(shu)據(ju)進行各種數(shu)據(ju)分

在設定模(mo)式下（設定完(wan)畢，保(bao)存好(hao)數據后(hou)），選擇測量類別（電阻(zu)率(lv)ρ、方(fang)塊(kuai)電阻(zu)

（薄片電(dian)阻(zu)率）R 口(kou)或體(ti)電(dian)阻(zu) R 中三選一(yi)，切換儀器到(dao)“測量"模式，窗口(kou)左側(ce)“測量" 模式燈亮(liang)。電(dian)阻(zu)測量,注(zhu)意良(liang)好(hao)接(jie)(jie)觸，電(dian)壓測試(shi)端在內側(ce)；半導體(ti)參數測試(shi)，將(jiang)探針與樣(yang)品良(liang)好(hao)接(jie)(jie)觸，注(zhu)意壓力要適中；由數字(zi)顯示窗直接(jie)(jie)讀出測量值(zhi)。

注意！測量狀態中，電(dian)(dian)流(liu)(liu)(liu)量程(cheng)默認為自動方(fang)式，也可調整(zheng)為手動方(fang)式，手動方(fang)式下(xia)， 電(dian)(dian)流(liu)(liu)(liu)量程(cheng)適合(he)(he)的(de)，儀器會穩定顯示數據(ju)，電(dian)(dian)流(liu)(liu)(liu)量程(cheng)不適合(he)(he)的(de)會給出超(chao)(chao)量程(cheng)或欠量程(cheng)閃爍提示，對(dui)于超(chao)(chao)量程(cheng)，說明電(dian)(dian)流(liu)(liu)(liu)過(guo)大(da)，要調到較(jiao)小電(dian)(dian)流(liu)(liu)(liu)檔；對(dui)于欠量程(cheng)，說明電(dian)(dian)流(liu)(liu)(liu)過(guo)小， 要調到較(jiao)大(da)電(dian)(dian)流(liu)(liu)(liu)檔。

碳素四探針電阻測試儀操作：

1、測試溫度23±2℃，相對濕度65±5%，無(wu)外界電磁場干擾環(huan)境中進(jin)行。

2、測(ce)試時對試樣所加電壓為(wei)100V~500V的直流電壓，選擇電壓檔次(ci)。

3、將試樣倒入高壓(ya)電極(ji)內，使(shi)液面剛(gang)好(hao)和(he)環(huan)電極(ji)下綠全部接觸為止。

4、將充分放電后(hou)的試(shi)樣和電極(ji)，按固體(ti)(液體(ti))體(ti)積及表面電阻(zu)率測試(shi)儀要求(qiu)接線。

注意事項：