比(bi)較-電流(liu)(liu)計(ji)(ji)——計(ji)(ji)算電阻(zu)或(huo)電導的(de)(de)(de)*百(bai)分(fen)比(bi)誤(wu)差(cha)(cha)是(shi)指Rs,電流(liu)(liu)計(ji)(ji)偏(pian)移(yi)(yi)(yi)或(huo)放(fang)大(da)(da)器(qi)讀(du)數(shu)的(de)(de)(de)百(bai)分(fen)比(bi)誤(wu)差(cha)(cha)總(zong)和,同時假(jia)設(she)電流(liu)(liu)靈敏(min)度(du)與偏(pian)移(yi)(yi)(yi)無關。對(dui)于新式(shi)電流(liu)(liu)計(ji)(ji)(直(zhi)流(liu)(liu)電流(liu)(liu)放(fang)大(da)(da)器(qi)可(ke)能發生1/3刻(ke)度(du)偏(pian)移(yi)(yi)(yi)),后者的(de)(de)(de)假(jia)設(she)精(jing)度(du)到±2%有用(yong)(yong)范(fan)圍之(zhi)內(在(zai)1/10滿(man)刻(ke)度(du)偏(pian)移(yi)(yi)(yi)之(zhi)上(shang))。Rs的(de)(de)(de)誤(wu)差(cha)(cha)取決于采用(yong)(yong)的(de)(de)(de)電阻(zu)器(qi)類型(xing),但(dan)是(shi)1MΩ電阻(zu)的(de)(de)(de)誤(wu)差(cha)(cha)極(ji)限低至0.1%是(shi)適用(yong)(yong)的(de)(de)(de)。對(dui)于滿(man)刻(ke)度(du)偏(pian)移(yi)(yi)(yi),采用(yong)(yong)靈敏(min)度(du)為(wei)(wei)(wei)10nA的(de)(de)(de)電流(liu)(liu)計(ji)(ji)或(huo)直(zhi)流(liu)(liu)電流(liu)(liu)放(fang)大(da)(da)器(qi),500V施加(jia)到5TΩ電阻(zu)上(shang)將(jiang)能產生1%的(de)(de)(de)偏(pian)移(yi)(yi)(yi)。在(zai)該電壓處,采用(yong)(yong)先前(qian)標記的(de)(de)(de)標準電阻(zu)器(qi),Fs=105,ds將(jiang)大(da)(da)約(yue)為(wei)(wei)(wei)1/2的(de)(de)(de)滿(man)刻(ke)度(du)偏(pian)移(yi)(yi)(yi),可(ke)讀(du)性誤(wu)差(cha)(cha)不大(da)(da)于±1%。如果(guo)dx大(da)(da)約(yue)為(wei)(wei)(wei)1/4滿(man)刻(ke)度(du)偏(pian)移(yi)(yi)(yi),可(ke)讀(du)性誤(wu)差(cha)(cha)將(jiang)不超過±4%,同時可(ke)以在(zai)±5-1/2%*誤(wu)差(cha)(cha)下測量200GΩ電阻(zu)。

電(dian)(dian)壓變化(hua)速(su)率(lv)——測量精(jing)度(du)直接(jie)與(yu)施加電(dian)(dian)壓和(he)電(dian)(dian)流計(ji)讀數變化(hua)的(de)(de)時(shi)間率(lv)測量精(jing)度(du)成(cheng)比例(li)。靜電(dian)(dian)計(ji)開關打開的(de)(de)時(shi)間長短和(he)采用的(de)(de)刻度(du)應使得可(ke)以精(jing)確測量時(shi)間,同時(shi)可(ke)獲得滿刻度(du)讀數。在這(zhe)些(xie)條件下,精(jing)度(du)將與(yu)其它測量電(dian)(dian)流方法的(de)(de)精(jing)度(du)相當。

比(bi)(bi)(bi)較電(dian)(dian)(dian)橋——當探(tan)測(ce)器(qi)(qi)具(ju)有適當的(de)(de)(de)靈(ling)敏度,電(dian)(dian)(dian)腦電(dian)(dian)(dian)阻(zu)的(de)(de)(de)*百分(fen)比(bi)(bi)(bi)誤(wu)差(cha)是指臂A,B和N的(de)(de)(de)百分(fen)比(bi)(bi)(bi)誤(wu)差(cha)總和。當采用1 mV/分(fen)刻(ke)度的(de)(de)(de)探(tan)測(ce)器(qi)(qi)靈(ling)敏度時,500V電(dian)(dian)(dian)壓施加到電(dian)(dian)(dian)橋上,RN=1GΩ,電(dian)(dian)(dian)阻(zu)為1000TΩ將能產(chan)生一(yi)個(ge)分(fen)刻(ke)度的(de)(de)(de)探(tan)測(ce)器(qi)(qi)偏移。假設(she)忽(hu)略RA和RB的(de)(de)(de)誤(wu)差(cha),已知RN=1GΩ在(zai)±2%之內(nei),同時電(dian)(dian)(dian)橋平衡在(zai)一(yi)個(ge)探(tan)測(ce)器(qi)(qi)分(fen)刻(ke)度,可采用±6%的(de)(de)(de)*誤(wu)差(cha)來測(ce)量100TΩ的(de)(de)(de)電(dian)(dian)(dian)阻(zu)。

 幾個制造商可提供必要的(de)(de)滿足本方法要求的(de)(de)零(ling)件或專用系統。

涂層漆體積電阻率測試儀測試電壓10V/50V/100V/250V/500V/1000V任(ren)意可調(diao)。具有精度高、顯示迅速、性好穩定、讀數方(fang)便(bian)。適用于(yu)橡膠、塑料、薄(bo)膜、地毯、織物及粉體(ti)、液體(ti)、及固(gu)體(ti)和(he)膏體(ti)形(xing)狀的(de)各種(zhong)絕緣材(cai)料體(ti)積和(he)表面電阻值的(de)測定。

 ?

測量參數  絕緣電(dian)阻 R，泄漏(lou)電(dian)流 I，表面電(dian)阻 Rs，體積電(dian)阻 Rv

測試(shi)電壓 1-1000v任意電壓  

測試范圍  5*102Ω~1X10 20Ω（超出顯示(shi)電(dian)流最大換算可到20次(ci)方），2mA ~ 0.01pA  

測試(shi)速(su)度（MAX）  ;快速(su) 5 次/秒(miao)，慢速(su) 1 次/秒(miao)，

回讀(du)電壓精(jing)度  0.5%±1V

量(liang)程超(chao)限顯示  量(liang)程上超(chao)

輸入(ru)端子  香蕉插(cha)頭，BNC 插(cha)頭

操作(zuo)鍵  橡膠鍵

顯(xian)示  4.3寸TFT

精(jing)度保證期  1年 根據計量證書有效期

操作溫(wen)度和(he)濕(shi)度 0℃到40℃80%RH以下(無凝結)

存儲(chu)溫(wen)度和濕度 -10℃到60℃ 80%RH以下(xia)(無凝結)

符合標準：

GB/T 1410-2006《 固體絕緣材料體積電阻率(lv)和表面(mian)電阻率(lv)試驗方法》

ASTM D257-99《絕緣材料的直(zhi)流(liu)電阻或電導(dao)試驗方法》

GB/T 10581-2006 《絕(jue)緣(yuan)材料在高(gao)溫下電阻(zu)和電阻(zu)率的試驗方法》

GB/T 1692-2008 《硫化橡膠 絕緣電阻率的測定(ding)》

GB/T 2439-2001《硫化橡膠或(huo)熱塑性橡膠 導電性能(neng)和耗散(san)性能(neng)電阻率的測定》

GB/T 12703.4-2010 《紡織品 靜電性能(neng)的評(ping)定 第4部(bu)分(fen)：電阻率》

GB/T 10064-2006_《測定(ding)固體(ti)絕(jue)(jue)緣材料(liao)絕(jue)(jue)緣電(dian)阻的試驗方(fang)法》

涂層漆體積電阻率測試儀陶(tao)瓷介(jie)電(dian)(dian)(dian)(dian)常數測試儀可以(yi)在較高(gao)測試頻(pin)率下測量高(gao)頻(pin)電(dian)(dian)(dian)(dian)感(gan)或諧振電(dian)(dian)(dian)(dian)路的(de)(de)Q值，電(dian)(dian)(dian)(dian)感(gan)的(de)(de)電(dian)(dian)(dian)(dian)感(gan)和分布電(dian)(dian)(dian)(dian)容以(yi)及(ji)電(dian)(dian)(dian)(dian)容器的(de)(de)電(dian)(dian)(dian)(dian)容和損(sun)耗角正切。電(dian)(dian)(dian)(dian)氣(qi)材料(liao)的(de)(de)高(gao)頻(pin)介(jie)電(dian)(dian)(dian)(dian)損(sun)耗，高(gao)頻(pin)回路的(de)(de)有效(xiao)并(bing)聯和串聯電(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)，傳輸線的(de)(de)特性(xing)阻(zu)抗等(deng)(deng)。 該設備(bei)廣泛用于(yu)(yu)科研機構，學(xue)校，工(gong)廠等(deng)(deng)部門。 它主(zhu)要(yao)用于(yu)(yu)測量玻璃，陶(tao)瓷和其他材料(liao)在高(gao)頻(pin)信號下的(de)(de)介(jie)電(dian)(dian)(dian)(dian)損(sun)耗和介(jie)電(dian)(dian)(dian)(dian)常數。

電(dian)(dian)源(yuan)——要(yao)求采用(yong)(yong)穩定(ding)的直流電(dian)(dian)壓電(dian)(dian)源(yuan)(見X1.7.3)。蓄電(dian)(dian)池或(huo)其它(ta)穩定(ding)直流電(dian)(dian)壓電(dian)(dian)源(yuan)已經證明適用(yong)(yong)于該用(yong)(yong)途。

保(bao)護(hu)(hu)回路(lu)(lu)(lu)——不(bu)管(guan)是采用兩(liang)個(ge)電(dian)極(沒有保(bao)護(hu)(hu))測(ce)量(liang)絕緣材料的(de)(de)電(dian)阻,或(huo)者是采用三個(ge)終(zhong)端系統(兩(liang)個(ge)電(dian)極加上保(bao)護(hu)(hu))測(ce)量(liang)絕緣材料的(de)(de)電(dian)阻,都要考(kao)慮(lv)怎(zen)樣(yang)在試(shi)(shi)驗(yan)設(she)備和試(shi)(shi)驗(yan)樣(yang)本(ben)之間(jian)(jian)進行電(dian)連接(jie)。如果試(shi)(shi)驗(yan)樣(yang)本(ben)遠離試(shi)(shi)驗(yan)設(she)備一段距離,或(huo)者試(shi)(shi)驗(yan)樣(yang)本(ben)在濕熱條件下(xia)進行測(ce)試(shi)(shi),或(huo)者樣(yang)本(ben)電(dian)阻預(yu)期(qi)相對(dui)比(bi)較高(1010~1015ohms),則試(shi)(shi)驗(yan)設(she)備和試(shi)(shi)驗(yan)樣(yang)本(ben)之間(jian)(jian)可能容易存在虛(xu)假的(de)(de)電(dian)阻通路(lu)(lu)(lu)。有必要采用保(bao)護(hu)(hu)回路(lu)(lu)(lu)來使得(de)這些虛(xu)假通路(lu)(lu)(lu)的(de)(de)干涉降(jiang)至*(也可見X1.9)。

帶(dai)保護(hu)電(dian)(dian)極——使(shi)用(yong)同軸電(dian)(dian)纜,其芯部通向(xiang)保護(hu)電(dian)(dian)極,屏(ping)蔽端通向(xiang)保護(hu)電(dian)(dian)極,以使(shi)得試(shi)驗設備和(he)試(shi)驗樣本之間獲得適(shi)當的保護(hu)連(lian)接。

沒有(you)保(bao)護電極——使用同軸電纜,芯部通向某一(yi)電極,屏蔽端端接到從芯部末端大約1cm處(也可見圖10)。

直(zhi)(zhi)接測(ce)量(liang)——采(cai)用任何設(she)備(bei)(bei)(設(she)備(bei)(bei)具有±10%的靈敏度和精度)測(ce)量(liang)在固定(ding)電壓下通過樣本的電流。適用的電流測(ce)量(liang)設(she)備(bei)(bei)包括(kuo)靜電計(ji),帶指(zhi)示器(qi)(qi)的直(zhi)(zhi)流放大器(qi)(qi),和電流計(ji)。典型方法和回路見(jian)附錄X3規定(ding)。當校準(zhun)測(ce)量(liang)設(she)備(bei)(bei)刻度盤來直(zhi)(zhi)接讀取歐(ou)姆電阻(zu)值時,則不要(yao)求計(ji)算電阻(zu)測(ce)量(liang)值。

比較法——惠斯登電橋回路可采用標準電阻器電阻來比較樣本電阻(見附錄X3)。

精度和偏差考慮:

概述(shu)——作為設備(bei)選(xuan)擇的(de)(de)(de)指導(dao),表(biao)2總結了相關的(de)(de)(de)考(kao)慮因素,但(dan)是不暗(an)示(shi)(shi)列舉的(de)(de)(de)示(shi)(shi)例是*適用(yong)(yong)的(de)(de)(de)。該擬用(yong)(yong)于(yu)(yu)采(cai)用(yong)(yong)現代(dai)設備(bei)顯(xian)(xian)示(shi)(shi)明顯(xian)(xian)可(ke)能的(de)(de)(de)范圍。在任何(he)場合(he),只有小心選(xuan)擇設備(bei)組合(he),才可(ke)以獲得或者超(chao)過(guo)這些范圍。然而(er),必須強(qiang)調(diao)考(kao)慮的(de)(de)(de)誤(wu)差(cha)只是測(ce)量儀(yi)器的(de)(de)(de)誤(wu)差(cha)。如附錄X1討論的(de)(de)(de)誤(wu)差(cha)是一個*不同問題。在后面的(de)(de)(de)連接中,表(biao)2的(de)(de)(de)*一列列舉了采(cai)用(yong)(yong)不同方法由保護(hu)電極和保護(hu)體系之間的(de)(de)(de)絕緣電阻(zu)(zu)分流(liu)的(de)(de)(de)電阻(zu)(zu)。通常來說,該電阻(zu)(zu)值越(yue)低,由于(yu)(yu)過(guo)度分流(liu)導(dao)致的(de)(de)(de)誤(wu)差(cha)可(ke)能性就越(yue)小。

注2:不管采用何種(zhong)測量方(fang)法(fa),只(zhi)有認真評估所(suo)有誤差源,才可獲得(de)*的(de)精度。有可能確立(li)這些零部(bu)件的(de)任何測量方(fang)法(fa),或者(zhe)獲得(de)完整試驗裝置的(de)測量方(fang)法(fa)。通常(chang)來說,采用高靈敏(min)度電(dian)流計(ji)的(de)方(fang)法(fa)要求(qiu)比采用指示器或記錄器的(de)方(fang)法(fa)獲得(de)更加*得(de)安(an)裝。采用指示器(例(li)如電(dian)壓表,電(dian)流計(ji),直流放大(da)器和(he)靜電(dian)計(ji))的(de)方(fang)法(fa)要求(qiu)手動調節最小,同時(shi)(shi)容(rong)易(yi)讀數,但(dan)是(shi)要求(qiu)操作者(zhe)在特(te)定(ding)時(shi)(shi)間(jian)內進行讀數。惠斯(si)登電(dian)橋(qiao)(圖X1.4)和(he)電(dian)位(wei)計(ji)方(fang)法(fa)(圖X1.2(b))要求(qiu)操作者(zhe)專心保持平(ping)衡,但(dan)是(shi)允(yun)許在空閑時(shi)(shi)設(she)定(ding)在特(te)定(ding)時(shi)(shi)間(jian)時(shi)(shi)讀數。