直流碳素電阻測試儀參數：

1. 材料尺寸(由選配測試臺和測試方式決定)

直(zhi) 徑：圓(yuan)測(ce)試(shi)臺直(zhi)接測(ce)試(shi)方式 Φ15～130mm，手持方式不限

方(fang)測試臺直(zhi)接測試方(fang)式(shi)(shi) 180mm×180mm，手持方(fang)式(shi)(shi)不限. 長(高)度： 測試臺直(zhi)接測試方(fang)式(shi)(shi) H≤100mm, 手持方(fang)式(shi)(shi)不限.

BEST-300C 測(ce)試(shi)儀能夠測(ce)量半導體(ti)材料(liao)體(ti)電阻率ρ、方塊(kuai)電阻（薄片電阻率）R 口

以及體電阻 R，測量時(shi)需(xu)調(diao)整相應的修正系數(shu)和選(xuan)擇相應的功能。

本產(chan)品不(bu)但提(ti)供了(le)(le)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)率(lv)ρ、方塊電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu) R 口以及體電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu) R 測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)的基(ji)本修(xiu)(xiu)正(zheng)系(xi)數(shu)設(she)定， 還提(ti)供了(le)(le)產(chan)品厚(hou)度(du)(du)(du) G、外形(xing)和(he)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)位置的修(xiu)(xiu)正(zheng)系(xi)數(shu) D 設(she)定，極大的提(ti)高(gao)(gao)了(le)(le)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)精(jing)度(du)(du)(du)。測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)類(lei)別的快捷選擇方式，方便了(le)(le)用戶同時(shi)(shi)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)多(duo)個參(can)數(shu)，提(ti)高(gao)(gao)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)效率(lv)。整(zheng)機測(ce)(ce)(ce)量(liang)最大相(xiang)對誤差：≤±3%；整(zheng)機測(ce)(ce)(ce)量(liang)標(biao)準不(bu)確定度(du)(du)(du)：≤±3%四(si)位半(ban)顯(xian)(xian)示(shi)讀數(shu)；八量(liang)程自(zi)(zi)動(dong)(dong)或手動(dong)(dong)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)；范圍寬(kuan)： 電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)：10-4Ω～105Ω ；方阻(zu)(zu)：10-4Ω/□～105Ω/□；正(zheng)反向電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)源(yuan)修(xiu)(xiu)正(zheng)測(ce)(ce)(ce)量(liang)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)誤差恒(heng)流(liu)(liu)源(yuan)：電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)量(liang)程分為： 1uA、10uA、100uA、1mA、10mA 、100mA六檔(dang)；儀器(qi)配有恒(heng)流(liu)(liu)源(yuan)開關(guan)可(ke)(ke)(ke)(ke)有效保護被測(ce)(ce)(ce)件(jian)，即先讓探(tan)針頭壓(ya)觸(chu)在被測(ce)(ce)(ce)材料上，后開恒(heng)流(liu)(liu)源(yuan)開關(guan)，避免接觸(chu)瞬間打火。為了(le)(le)提(ti)高(gao)(gao)工(gong)作(zuo)(zuo)效率(lv)，如探(tan)針帶(dai)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)壓(ya)觸(chu)單(dan)晶對材料及測(ce)(ce)(ce)量(liang)并無影響(xiang)時(shi)(shi)，恒(heng)流(liu)(liu)源(yuan)開關(guan)可(ke)(ke)(ke)(ke)一直(zhi)處于開的狀態。可(ke)(ke)(ke)(ke)配合多(duo)種探(tan)頭進行(xing)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)；也可(ke)(ke)(ke)(ke)配合多(duo)種測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)臺進行(xing)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)。校正(zheng)功(gong)能(neng)：可(ke)(ke)(ke)(ke)手動(dong)(dong)或自(zi)(zi)動(dong)(dong)選擇測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)量(liang)程 全量(liang)程自(zi)(zi)動(dong)(dong)清零。厚(hou)度(du)(du)(du)可(ke)(ke)(ke)(ke)預設(she)，自(zi)(zi)動(dong)(dong)修(xiu)(xiu)正(zheng)樣品的電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)率(lv),無需(xu)查表即可(ke)(ke)(ke)(ke)計算出電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)率(lv)自(zi)(zi)動(dong)(dong)進行(xing)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)換向,并進行(xing)正(zheng)反向電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)下(xia)的電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)率(lv)(或方塊電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu))測(ce)(ce)(ce)量(liang),顯(xian)(xian)示(shi)平均值.測(ce)(ce)(ce)薄(bo)片時(shi)(shi),可(ke)(ke)(ke)(ke)自(zi)(zi)動(dong)(dong)進行(xing)厚(hou)度(du)(du)(du)修(xiu)(xiu)正(zheng)。雙電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)測(ce)(ce)(ce)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)模式，測(ce)(ce)(ce)量(liang)精(jing)度(du)(du)(du)高(gao)(gao)、穩(wen)定性(xing)好.具備(bei)溫(wen)度(du)(du)(du)補償功(gong)能(neng)，修(xiu)(xiu)正(zheng)被測(ce)(ce)(ce)材料溫(wen)漂(piao)帶(dai)來的測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)結果偏差。比較器(qi)判斷燈直(zhi)接顯(xian)(xian)示(shi)，勿需(xu)查看屏幕，作(zuo)(zuo)業效率(lv)得以提(ti)高(gao)(gao)。

3檔分選(xuan)功能(neng)：超(chao)上限，合格(ge)，超(chao)下限，可對被測(ce)(ce)(ce)(ce)件(jian)進行HI/LOW判斷，可直(zhi)接(jie)(jie)(jie)在LCD使(shi)用標志顯示；也可通過USB接(jie)(jie)(jie)口(kou)、RS232接(jie)(jie)(jie)口(kou)輸出(chu)更為詳細(xi)的分選(xuan)結果(guo)。測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)模(mo)式：可連接(jie)(jie)(jie)電腦測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)、也可不(bu)連接(jie)(jie)(jie)電腦單機測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)。接(jie)(jie)(jie)口(kou)，Handler接(jie)(jie)(jie)口(kou)、RS232接(jie)(jie)(jie)口(kou)、USB HOST、USB DEVICE。實現遠程控(kong)制。U盤可記(ji)錄(lu)測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)數據軟件(jian)功能(neng)（選(xuan)配）：軟件(jian)可記(ji)錄(lu)、保存(cun)、各點的測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)數據；可供用戶對數據進行各種數據分

在(zai)設定模式下（設定完畢，保存(cun)好數據(ju)后），選擇測(ce)量類別（電(dian)(dian)阻(zu)率ρ、方(fang)塊電(dian)(dian)阻(zu)

（薄片(pian)電阻率）R 口(kou)(kou)或(huo)體電阻 R 中三選一，切換儀器(qi)到“測(ce)量"模(mo)式，窗口(kou)(kou)左側“測(ce)量" 模(mo)式燈亮。電阻測(ce)量,注(zhu)意良好(hao)接觸(chu)，電壓測(ce)試端在內(nei)側；半導體參(can)數(shu)測(ce)試，將探(tan)針與樣品良好(hao)接觸(chu)，注(zhu)意壓力要適(shi)中；由數(shu)字顯示窗直接讀出測(ce)量值。

注意！測量(liang)(liang)狀(zhuang)態中，電流(liu)(liu)量(liang)(liang)程(cheng)(cheng)默認為(wei)自(zi)動方(fang)式，也可調(diao)整為(wei)手動方(fang)式，手動方(fang)式下， 電流(liu)(liu)量(liang)(liang)程(cheng)(cheng)適合的，儀器會(hui)穩定(ding)顯示數據，電流(liu)(liu)量(liang)(liang)程(cheng)(cheng)不(bu)適合的會(hui)給出超量(liang)(liang)程(cheng)(cheng)或欠量(liang)(liang)程(cheng)(cheng)閃爍提示，對于超量(liang)(liang)程(cheng)(cheng)，說(shuo)明(ming)電流(liu)(liu)過(guo)大(da)，要(yao)調(diao)到(dao)較小電流(liu)(liu)檔；對于欠量(liang)(liang)程(cheng)(cheng)，說(shuo)明(ming)電流(liu)(liu)過(guo)小， 要(yao)調(diao)到(dao)較大(da)電流(liu)(liu)檔。

直流碳素電阻測試儀操作：

1、測試溫度(du)23±2℃，相(xiang)對濕度(du)65±5%，無外界(jie)電磁場干擾環境中進行(xing)。

2、測試(shi)時對試(shi)樣所加電(dian)壓(ya)為100V~500V的(de)直流電(dian)壓(ya)，選擇電(dian)壓(ya)檔次。

3、將試樣倒入(ru)高(gao)壓電(dian)極內，使液面剛(gang)好和(he)環電(dian)極下綠(lv)全部(bu)接觸為止。

4、將充分放電后的試樣和電極(ji)，按固(gu)體(液體)體積及表面電阻率測試儀要求(qiu)接線。