直流碳素探針式電阻測試儀參數：

1. 材料尺寸(由選配測試臺和測試方式決定)

直(zhi) 徑：圓測試臺直(zhi)接測試方式 Φ15～130mm，手持(chi)方式不限

方測試(shi)臺直接(jie)測試(shi)方式(shi)(shi) 180mm×180mm，手持方式(shi)(shi)不限. 長(高(gao))度： 測試(shi)臺直接(jie)測試(shi)方式(shi)(shi) H≤100mm, 手持方式(shi)(shi)不限.

BEST-300C 測試儀能夠測量半導(dao)體(ti)材料體(ti)電(dian)阻(zu)率ρ、方塊電(dian)阻(zu)（薄片電(dian)阻(zu)率）R 口

以及體電阻 R，測量時需調整相(xiang)應(ying)(ying)的(de)修正(zheng)系數和選擇相(xiang)應(ying)(ying)的(de)功能(neng)。

本產品(pin)(pin)不但提(ti)(ti)(ti)供(gong)了(le)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)率(lv)ρ、方(fang)(fang)塊電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu) R 口以及體電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu) R 測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)的(de)(de)(de)基本修(xiu)(xiu)(xiu)(xiu)正(zheng)系數設(she)(she)(she)定(ding)， 還提(ti)(ti)(ti)供(gong)了(le)產品(pin)(pin)厚度 G、外形和測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)位置的(de)(de)(de)修(xiu)(xiu)(xiu)(xiu)正(zheng)系數 D 設(she)(she)(she)定(ding)，極大的(de)(de)(de)提(ti)(ti)(ti)高了(le)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)精度。測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)類(lei)別(bie)的(de)(de)(de)快捷(jie)選擇方(fang)(fang)式(shi)，方(fang)(fang)便(bian)了(le)用(yong)戶同時測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)多個(ge)參(can)數，提(ti)(ti)(ti)高測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)效(xiao)率(lv)。整機(ji)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)最(zui)大相對誤(wu)差：≤±3%；整機(ji)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)標準不確定(ding)度：≤±3%四(si)位半(ban)顯示讀數；八量(liang)(liang)程自(zi)動(dong)(dong)或(huo)手動(dong)(dong)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)；范圍(wei)寬： 電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)：10-4Ω～105Ω ；方(fang)(fang)阻(zu)：10-4Ω/□～105Ω/□；正(zheng)反向(xiang)(xiang)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)源(yuan)修(xiu)(xiu)(xiu)(xiu)正(zheng)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)誤(wu)差恒流(liu)(liu)源(yuan)：電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)量(liang)(liang)程分(fen)為： 1uA、10uA、100uA、1mA、10mA 、100mA六檔；儀器配有恒流(liu)(liu)源(yuan)開(kai)(kai)關(guan)可(ke)(ke)(ke)有效(xiao)保護被測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)件，即先讓探針(zhen)頭(tou)(tou)壓(ya)觸在被測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)材料(liao)上，后開(kai)(kai)恒流(liu)(liu)源(yuan)開(kai)(kai)關(guan)，避免接觸瞬間打火(huo)。為了(le)提(ti)(ti)(ti)高工作效(xiao)率(lv)，如探針(zhen)帶電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)壓(ya)觸單晶對材料(liao)及測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)并無影響(xiang)時，恒流(liu)(liu)源(yuan)開(kai)(kai)關(guan)可(ke)(ke)(ke)一直(zhi)處于開(kai)(kai)的(de)(de)(de)狀(zhuang)態。可(ke)(ke)(ke)配合多種(zhong)(zhong)探頭(tou)(tou)進行(xing)(xing)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)；也可(ke)(ke)(ke)配合多種(zhong)(zhong)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)臺進行(xing)(xing)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)。校正(zheng)功(gong)能：可(ke)(ke)(ke)手動(dong)(dong)或(huo)自(zi)動(dong)(dong)選擇測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)量(liang)(liang)程 全量(liang)(liang)程自(zi)動(dong)(dong)清零。厚度可(ke)(ke)(ke)預設(she)(she)(she)，自(zi)動(dong)(dong)修(xiu)(xiu)(xiu)(xiu)正(zheng)樣品(pin)(pin)的(de)(de)(de)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)率(lv),無需查(cha)表即可(ke)(ke)(ke)計算出電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)率(lv)自(zi)動(dong)(dong)進行(xing)(xing)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)換(huan)向(xiang)(xiang),并進行(xing)(xing)正(zheng)反向(xiang)(xiang)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)下的(de)(de)(de)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)率(lv)(或(huo)方(fang)(fang)塊電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu))測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang),顯示平均值.測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)薄片時,可(ke)(ke)(ke)自(zi)動(dong)(dong)進行(xing)(xing)厚度修(xiu)(xiu)(xiu)(xiu)正(zheng)。雙電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)模式(shi)，測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)精度高、穩定(ding)性好(hao).具(ju)備溫度補償功(gong)能，修(xiu)(xiu)(xiu)(xiu)正(zheng)被測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)材料(liao)溫漂帶來(lai)的(de)(de)(de)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)結果(guo)偏差。比較器判斷燈直(zhi)接顯示，勿需查(cha)看屏(ping)幕，作業效(xiao)率(lv)得(de)以提(ti)(ti)(ti)高。

3檔分選功能：超(chao)上限，合格(ge)，超(chao)下限，可(ke)對(dui)(dui)被測(ce)件進行HI/LOW判斷，可(ke)直(zhi)接(jie)(jie)(jie)在LCD使用(yong)標志顯示；也可(ke)通過USB接(jie)(jie)(jie)口(kou)、RS232接(jie)(jie)(jie)口(kou)輸出(chu)更為詳細的分選結果(guo)。測(ce)試(shi)模式：可(ke)連(lian)接(jie)(jie)(jie)電腦測(ce)試(shi)、也可(ke)不連(lian)接(jie)(jie)(jie)電腦單機測(ce)試(shi)。接(jie)(jie)(jie)口(kou)，Handler接(jie)(jie)(jie)口(kou)、RS232接(jie)(jie)(jie)口(kou)、USB HOST、USB DEVICE。實現(xian)遠程(cheng)控制。U盤可(ke)記錄(lu)測(ce)試(shi)數(shu)據(ju)軟件功能（選配）：軟件可(ke)記錄(lu)、保存(cun)、各(ge)點(dian)的測(ce)試(shi)數(shu)據(ju)；可(ke)供(gong)用(yong)戶對(dui)(dui)數(shu)據(ju)進行各(ge)種數(shu)據(ju)分

在(zai)設(she)定(ding)模式下（設(she)定(ding)完畢，保(bao)存好(hao)數據后），選擇(ze)測量(liang)類別（電阻(zu)率ρ、方(fang)塊電阻(zu)

（薄片(pian)電(dian)阻率）R 口或體(ti)電(dian)阻 R 中(zhong)三選一，切換(huan)儀器到(dao)“測(ce)量(liang)"模(mo)式，窗(chuang)口左側(ce)“測(ce)量(liang)" 模(mo)式燈亮。電(dian)阻測(ce)量(liang),注(zhu)意良(liang)好接觸(chu)，電(dian)壓(ya)測(ce)試端在內側(ce)；半導體(ti)參數(shu)測(ce)試，將探針(zhen)與(yu)樣品良(liang)好接觸(chu)，注(zhu)意壓(ya)力要適中(zhong)；由數(shu)字顯示窗(chuang)直接讀出測(ce)量(liang)值。

注意！測(ce)量(liang)狀態中，電(dian)(dian)流(liu)量(liang)程默認為自動(dong)方(fang)式(shi)，也可調整(zheng)為手動(dong)方(fang)式(shi)，手動(dong)方(fang)式(shi)下， 電(dian)(dian)流(liu)量(liang)程適合的(de)，儀器(qi)會穩定顯示(shi)數(shu)據，電(dian)(dian)流(liu)量(liang)程不適合的(de)會給出超(chao)(chao)量(liang)程或欠量(liang)程閃爍提示(shi)，對于超(chao)(chao)量(liang)程，說(shuo)明電(dian)(dian)流(liu)過大，要調到較(jiao)小電(dian)(dian)流(liu)檔(dang)；對于欠量(liang)程，說(shuo)明電(dian)(dian)流(liu)過小， 要調到較(jiao)大電(dian)(dian)流(liu)檔(dang)。

直流碳素探針式電阻測試儀注意事項:

1使用(yong)前務(wu)必詳閱此說明(ming)書，并(bing)遵照指示(shi)步驟，依(yi)次操作。

2請勿使用非原廠提供(gong)之附(fu)件，以免發生危險。

3進(jin)行測(ce)試時，本儀器測(ce)量端高壓輸(shu)出(chu)端上有直流高壓輸(shu)出(chu)，嚴禁(jin)人體(ti)接觸，以免觸電。

4為避免測(ce)(ce)試棒(bang)本身(shen)絕絳泄(xie)漏造成誤(wu)差(cha)，接儀器測(ce)(ce)量(liang)端輸入(ru)的測(ce)(ce)試棒(bang)應盡可能(neng)懸空，不與外界物(wu)體(ti)相碰。

5當(dang)被測物絕攥電阻(zu)值高，且測量(liang)出現(xian)指針(zhen)不穩現(xian)兔時(shi)，可(ke)將(jiang)儀器測量(liang)線屏(ping)蔽(bi)端夾子(zi)接上(shang)。例(li)如:對電繞測纜芯與纜殼的絕絳時(shi)，除將(jiang)被測物兩(liang)端分(fen)別接于輸入端與高壓

端，再將電纜殼(ke)，芯之間的(de)(de)內(nei)層絕絳物(wu)接儀器“G"，以消除因表面(mian)漏電而引起(qi)的(de)(de)測(ce)(ce)量誤差。也(ye)可用加屏(ping)蔽盒的(de)(de)方法，即將被測(ce)(ce)物(wu)置于金屋屏(ping)蔽盒內(nei)，接上測(ce)(ce)量線。

操作：

1、測試溫度23±;2℃，相(xiang)對濕度65±5%，無外界(jie)電磁場干擾(rao)環(huan)境(jing)中進(jin)行(xing)。

2、測(ce)試時對試樣所加電壓為100V~500V的直流電壓，選擇電壓檔次(ci)。

3、將試樣倒入高壓電極內(nei)，使液面剛好和環電極下(xia)綠全(quan)部接觸為止(zhi)。

4、將充(chong)分放電后的試(shi)樣和電極，按(an)固(gu)體(液(ye)體)體積及表面電阻率測試(shi)儀要求接(jie)線。