碳素探針式電阻測試儀參數：

1. 材料尺寸(由選配測試臺和測試方式決定)

直(zhi) 徑：圓測(ce)試(shi)臺直(zhi)接測(ce)試(shi)方式(shi) Φ15～130mm，手(shou)持方式(shi)不限

方測(ce)試臺直(zhi)接測(ce)試方式(shi) 180mm×180mm，手(shou)持(chi)方式(shi)不限. 長(高(gao))度： 測(ce)試臺直(zhi)接測(ce)試方式(shi) H≤100mm, 手(shou)持(chi)方式(shi)不限.

BEST-300C 測試(shi)儀能(neng)夠測量(liang)半導體(ti)材料體(ti)電(dian)阻率ρ、方塊(kuai)電(dian)阻（薄片電(dian)阻率）R 口

以及體電阻 R，測量時(shi)需調(diao)整相應的修正系(xi)數(shu)和選擇相應的功能。

本(ben)產品(pin)(pin)不但提(ti)供了(le)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)(zu)率(lv)ρ、方(fang)(fang)塊電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)(zu) R 口以及體電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)(zu) R 測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)的(de)(de)(de)基本(ben)修(xiu)正(zheng)(zheng)系數(shu)(shu)設(she)定(ding)， 還提(ti)供了(le)產品(pin)(pin)厚(hou)度(du)(du)(du) G、外形和測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)位(wei)置(zhi)的(de)(de)(de)修(xiu)正(zheng)(zheng)系數(shu)(shu) D 設(she)定(ding)，極大的(de)(de)(de)提(ti)高了(le)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)精度(du)(du)(du)。測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)類(lei)別(bie)的(de)(de)(de)快(kuai)捷選擇方(fang)(fang)式(shi)，方(fang)(fang)便了(le)用戶同時測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)多個參數(shu)(shu)，提(ti)高測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)效(xiao)率(lv)。整機測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)最大相對誤差(cha)：≤±3%；整機測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)標準不確定(ding)度(du)(du)(du)：≤±3%四位(wei)半顯示(shi)讀(du)數(shu)(shu)；八量(liang)程自(zi)動(dong)(dong)或手(shou)(shou)動(dong)(dong)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)；范(fan)圍寬： 電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)(zu)：10-4Ω～105Ω ；方(fang)(fang)阻(zu)(zu)(zu)：10-4Ω/□～105Ω/□；正(zheng)(zheng)反向(xiang)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)(liu)源(yuan)(yuan)修(xiu)正(zheng)(zheng)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)(zu)誤差(cha)恒(heng)流(liu)(liu)(liu)源(yuan)(yuan)：電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)(liu)量(liang)程分(fen)為： 1uA、10uA、100uA、1mA、10mA 、100mA六(liu)檔；儀器(qi)配有(you)恒(heng)流(liu)(liu)(liu)源(yuan)(yuan)開關可有(you)效(xiao)保護(hu)被(bei)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)件，即(ji)(ji)先讓探(tan)針頭(tou)壓(ya)(ya)觸(chu)在(zai)被(bei)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)材料上，后開恒(heng)流(liu)(liu)(liu)源(yuan)(yuan)開關，避免接(jie)觸(chu)瞬間打火(huo)。為了(le)提(ti)高工作(zuo)效(xiao)率(lv)，如(ru)探(tan)針帶(dai)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)壓(ya)(ya)觸(chu)單(dan)晶對材料及測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)并無(wu)(wu)影響時，恒(heng)流(liu)(liu)(liu)源(yuan)(yuan)開關可一直處于開的(de)(de)(de)狀態。可配合多種(zhong)探(tan)頭(tou)進行測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)；也可配合多種(zhong)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)臺(tai)進行測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)。校(xiao)正(zheng)(zheng)功(gong)能：可手(shou)(shou)動(dong)(dong)或自(zi)動(dong)(dong)選擇測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)量(liang)程 全量(liang)程自(zi)動(dong)(dong)清零。厚(hou)度(du)(du)(du)可預設(she)，自(zi)動(dong)(dong)修(xiu)正(zheng)(zheng)樣品(pin)(pin)的(de)(de)(de)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)(zu)率(lv),無(wu)(wu)需(xu)查(cha)(cha)表即(ji)(ji)可計算出電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)(zu)率(lv)自(zi)動(dong)(dong)進行電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)(liu)換向(xiang),并進行正(zheng)(zheng)反向(xiang)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)(liu)下的(de)(de)(de)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)(zu)率(lv)(或方(fang)(fang)塊電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)(zu))測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang),顯示(shi)平均值.測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)薄(bo)片時,可自(zi)動(dong)(dong)進行厚(hou)度(du)(du)(du)修(xiu)正(zheng)(zheng)。雙電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)模(mo)式(shi)，測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)精度(du)(du)(du)高、穩定(ding)性(xing)好.具備溫度(du)(du)(du)補償功(gong)能，修(xiu)正(zheng)(zheng)被(bei)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)材料溫漂帶(dai)來(lai)的(de)(de)(de)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)結(jie)果偏差(cha)。比較器(qi)判斷燈直接(jie)顯示(shi)，勿(wu)需(xu)查(cha)(cha)看(kan)屏(ping)幕，作(zuo)業效(xiao)率(lv)得以提(ti)高。

3檔分(fen)(fen)選功(gong)(gong)能：超上(shang)限，合格(ge)，超下限，可(ke)對(dui)(dui)被測(ce)(ce)件(jian)進(jin)行(xing)HI/LOW判斷，可(ke)直接(jie)在LCD使用標(biao)志顯示；也(ye)可(ke)通過USB接(jie)口(kou)、RS232接(jie)口(kou)輸出更為詳(xiang)細的分(fen)(fen)選結果。測(ce)(ce)試(shi)模式：可(ke)連(lian)接(jie)電腦測(ce)(ce)試(shi)、也(ye)可(ke)不連(lian)接(jie)電腦單機測(ce)(ce)試(shi)。接(jie)口(kou)，Handler接(jie)口(kou)、RS232接(jie)口(kou)、USB HOST、USB DEVICE。實現遠程(cheng)控制(zhi)。U盤(pan)可(ke)記錄測(ce)(ce)試(shi)數(shu)據軟(ruan)件(jian)功(gong)(gong)能（選配）：軟(ruan)件(jian)可(ke)記錄、保存、各點的測(ce)(ce)試(shi)數(shu)據；可(ke)供用戶對(dui)(dui)數(shu)據進(jin)行(xing)各種數(shu)據分(fen)(fen)

在(zai)設定(ding)模式下(xia)（設定(ding)完(wan)畢，保存好數據后），選擇測量類別（電(dian)阻率(lv)ρ、方塊電(dian)阻

（薄片(pian)電(dian)阻率）R 口或體電(dian)阻 R 中(zhong)(zhong)三選一，切換儀器到“測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)"模式，窗口左側“測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)" 模式燈亮。電(dian)阻測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang),注(zhu)意(yi)良(liang)好接(jie)觸(chu)，電(dian)壓測(ce)(ce)(ce)(ce)試端在內側；半導(dao)體參數測(ce)(ce)(ce)(ce)試，將探針與樣品良(liang)好接(jie)觸(chu)，注(zhu)意(yi)壓力要適中(zhong)(zhong)；由數字顯示窗直接(jie)讀(du)出測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)值(zhi)。

注意(yi)！測量(liang)狀態中，電流(liu)量(liang)程(cheng)(cheng)(cheng)默認(ren)為(wei)自動(dong)方(fang)式，也可調(diao)整為(wei)手動(dong)方(fang)式，手動(dong)方(fang)式下(xia)， 電流(liu)量(liang)程(cheng)(cheng)(cheng)適合的，儀器會(hui)穩定顯示數據(ju)，電流(liu)量(liang)程(cheng)(cheng)(cheng)不(bu)適合的會(hui)給出(chu)超量(liang)程(cheng)(cheng)(cheng)或欠量(liang)程(cheng)(cheng)(cheng)閃爍(shuo)提示，對于(yu)超量(liang)程(cheng)(cheng)(cheng)，說(shuo)明電流(liu)過大(da)，要調(diao)到(dao)較小電流(liu)檔；對于(yu)欠量(liang)程(cheng)(cheng)(cheng)，說(shuo)明電流(liu)過小， 要調(diao)到(dao)較大(da)電流(liu)檔。

碳素探針式電阻測試儀注意事項:

1使用(yong)前(qian)務(wu)必詳(xiang)閱(yue)此說(shuo)明書，并遵(zun)照指(zhi)示步驟，依次操作。

2請勿使用非原廠提供之附(fu)件，以(yi)免發生(sheng)危(wei)險(xian)。

3進行(xing)測(ce)試時，本儀器測(ce)量端高(gao)壓輸(shu)出端上有直流高(gao)壓輸(shu)出，嚴禁人(ren)體接觸(chu)，以免(mian)觸(chu)電(dian)。

4為避免測(ce)試棒(bang)本身絕絳泄漏造成誤(wu)差，接儀器(qi)測(ce)量端(duan)輸入的測(ce)試棒(bang)應盡可能(neng)懸(xuan)空，不(bu)與(yu)外界物(wu)體(ti)相碰。

5當被測(ce)物絕攥電阻值(zhi)高(gao)(gao)，且測(ce)量出現(xian)指針不(bu)穩現(xian)兔時，可將(jiang)儀器測(ce)量線(xian)屏蔽端夾(jia)子(zi)接上。例如(ru):對電繞測(ce)纜芯與(yu)纜殼的(de)絕絳(jiang)時，除將(jiang)被測(ce)物兩端分(fen)別接于輸入端與(yu)高(gao)(gao)壓

端(duan)，再將(jiang)電纜殼，芯(xin)之間的(de)內(nei)層(ceng)絕絳物(wu)接(jie)儀器“G"，以消除(chu)因表面漏(lou)電而引起的(de)測(ce)量(liang)誤差。也可用加屏蔽(bi)盒(he)的(de)方法，即將(jiang)被(bei)測(ce)物(wu)置于金屋屏蔽(bi)盒(he)內(nei)，接(jie)上測(ce)量(liang)線。