碳素電阻測試儀參數：

1. 材料尺寸(由選配測試臺和測試方式決定)

直(zhi) 徑：圓(yuan)測試(shi)臺直(zhi)接測試(shi)方(fang)式 Φ15～130mm，手持(chi)方(fang)式不限

方測(ce)(ce)試(shi)臺直(zhi)接測(ce)(ce)試(shi)方式(shi) 180mm×180mm，手持(chi)(chi)方式(shi)不限. 長(chang)(高)度： 測(ce)(ce)試(shi)臺直(zhi)接測(ce)(ce)試(shi)方式(shi) H≤100mm, 手持(chi)(chi)方式(shi)不限.

BEST-300C 測(ce)試儀能夠測(ce)量(liang)半導體材料體電(dian)阻(zu)(zu)率ρ、方(fang)塊電(dian)阻(zu)(zu)（薄片電(dian)阻(zu)(zu)率）R 口

以(yi)及體電阻(zu) R，測量時需調整相應(ying)的(de)修正系數和選擇(ze)相應(ying)的(de)功能。

本產品不(bu)但提(ti)供了(le)電阻(zu)率(lv)(lv)ρ、方(fang)塊電阻(zu) R 口(kou)以及(ji)體電阻(zu) R 測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)的(de)(de)基本修(xiu)正(zheng)系(xi)數設定， 還(huan)提(ti)供了(le)產品厚度(du)(du)(du) G、外形和(he)測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)位置的(de)(de)修(xiu)正(zheng)系(xi)數 D 設定，極(ji)大(da)的(de)(de)提(ti)高(gao)了(le)測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)精度(du)(du)(du)。測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)類別的(de)(de)快捷選擇(ze)方(fang)式，方(fang)便了(le)用(yong)戶同時(shi)測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)多個參數，提(ti)高(gao)測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)效(xiao)率(lv)(lv)。整(zheng)機測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)最大(da)相(xiang)對誤(wu)差：≤±3%；整(zheng)機測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)標準不(bu)確定度(du)(du)(du)：≤±3%四位半顯示(shi)讀(du)數；八量(liang)程(cheng)(cheng)自(zi)(zi)動(dong)(dong)或手動(dong)(dong)測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)；范圍寬： 電阻(zu)：10-4Ω～105Ω ；方(fang)阻(zu)：10-4Ω/□～105Ω/□；正(zheng)反向電流(liu)(liu)源(yuan)修(xiu)正(zheng)測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)電阻(zu)誤(wu)差恒流(liu)(liu)源(yuan)：電流(liu)(liu)量(liang)程(cheng)(cheng)分為(wei)： 1uA、10uA、100uA、1mA、10mA 、100mA六檔(dang)；儀器(qi)配有(you)恒流(liu)(liu)源(yuan)開關(guan)(guan)(guan)可(ke)(ke)(ke)(ke)有(you)效(xiao)保(bao)護(hu)被測(ce)(ce)(ce)(ce)件，即先讓探針頭(tou)(tou)壓觸(chu)在被測(ce)(ce)(ce)(ce)材料(liao)(liao)上，后(hou)開恒流(liu)(liu)源(yuan)開關(guan)(guan)(guan)，避免接(jie)觸(chu)瞬間打(da)火。為(wei)了(le)提(ti)高(gao)工(gong)作(zuo)效(xiao)率(lv)(lv)，如探針帶電壓觸(chu)單晶對材料(liao)(liao)及(ji)測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)并無影響時(shi)，恒流(liu)(liu)源(yuan)開關(guan)(guan)(guan)可(ke)(ke)(ke)(ke)一直處于開的(de)(de)狀態。可(ke)(ke)(ke)(ke)配合(he)多種探頭(tou)(tou)進行(xing)測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)；也可(ke)(ke)(ke)(ke)配合(he)多種測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)臺進行(xing)測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)。校(xiao)正(zheng)功能(neng)：可(ke)(ke)(ke)(ke)手動(dong)(dong)或自(zi)(zi)動(dong)(dong)選擇(ze)測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)量(liang)程(cheng)(cheng) 全量(liang)程(cheng)(cheng)自(zi)(zi)動(dong)(dong)清零。厚度(du)(du)(du)可(ke)(ke)(ke)(ke)預(yu)設，自(zi)(zi)動(dong)(dong)修(xiu)正(zheng)樣品的(de)(de)電阻(zu)率(lv)(lv),無需查表即可(ke)(ke)(ke)(ke)計算出電阻(zu)率(lv)(lv)自(zi)(zi)動(dong)(dong)進行(xing)電流(liu)(liu)換向,并進行(xing)正(zheng)反向電流(liu)(liu)下的(de)(de)電阻(zu)率(lv)(lv)(或方(fang)塊電阻(zu))測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang),顯示(shi)平均值.測(ce)(ce)(ce)(ce)薄片時(shi),可(ke)(ke)(ke)(ke)自(zi)(zi)動(dong)(dong)進行(xing)厚度(du)(du)(du)修(xiu)正(zheng)。雙電測(ce)(ce)(ce)(ce)測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)模(mo)式，測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)精度(du)(du)(du)高(gao)、穩定性(xing)好.具備溫度(du)(du)(du)補(bu)償功能(neng)，修(xiu)正(zheng)被測(ce)(ce)(ce)(ce)材料(liao)(liao)溫漂(piao)帶來的(de)(de)測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)結果偏(pian)差。比較器(qi)判斷燈直接(jie)顯示(shi)，勿需查看屏幕(mu)，作(zuo)業(ye)效(xiao)率(lv)(lv)得以提(ti)高(gao)。

3檔分選功能(neng)：超上限，合格，超下限，可(ke)(ke)對被(bei)測件進行(xing)HI/LOW判斷，可(ke)(ke)直接(jie)在LCD使(shi)用標志(zhi)顯示；也(ye)可(ke)(ke)通(tong)過USB接(jie)口(kou)(kou)、RS232接(jie)口(kou)(kou)輸出更為詳細的(de)分選結果(guo)。測試(shi)(shi)(shi)模(mo)式：可(ke)(ke)連(lian)接(jie)電腦測試(shi)(shi)(shi)、也(ye)可(ke)(ke)不連(lian)接(jie)電腦單機測試(shi)(shi)(shi)。接(jie)口(kou)(kou)，Handler接(jie)口(kou)(kou)、RS232接(jie)口(kou)(kou)、USB HOST、USB DEVICE。實(shi)現遠程控制。U盤可(ke)(ke)記(ji)錄測試(shi)(shi)(shi)數據軟件功能(neng)（選配）：軟件可(ke)(ke)記(ji)錄、保存(cun)、各點的(de)測試(shi)(shi)(shi)數據；可(ke)(ke)供用戶對數據進行(xing)各種(zhong)數據分

在設定模式下（設定完畢，保存好數據(ju)后），選(xuan)擇(ze)測量(liang)類(lei)別（電(dian)阻率ρ、方塊電(dian)阻

（薄片(pian)電(dian)阻率）R 口或體電(dian)阻 R 中(zhong)三選一，切(qie)換儀器到“測量(liang)"模(mo)式，窗口左側“測量(liang)" 模(mo)式燈亮。電(dian)阻測量(liang),注意良好(hao)(hao)接觸，電(dian)壓測試端在內側；半導體參數測試，將探針與樣品良好(hao)(hao)接觸，注意壓力要(yao)適中(zhong)；由數字顯示窗直接讀(du)出(chu)測量(liang)值(zhi)。

注意！測(ce)量(liang)狀態(tai)中，電(dian)流(liu)量(liang)程(cheng)默認為(wei)自動(dong)(dong)方式，也可(ke)調整為(wei)手動(dong)(dong)方式，手動(dong)(dong)方式下(xia)， 電(dian)流(liu)量(liang)程(cheng)適合(he)的，儀器會穩(wen)定顯示數據(ju)，電(dian)流(liu)量(liang)程(cheng)不適合(he)的會給出超(chao)量(liang)程(cheng)或(huo)欠量(liang)程(cheng)閃爍提示，對于超(chao)量(liang)程(cheng)，說明電(dian)流(liu)過(guo)大，要(yao)調到較(jiao)小電(dian)流(liu)檔；對于欠量(liang)程(cheng)，說明電(dian)流(liu)過(guo)小， 要(yao)調到較(jiao)大電(dian)流(liu)檔。

碳素電阻測試儀技術指標              

1、電阻測量范圍： 0.01×104Ω ～1×1018Ω。

2、電流測量范圍為： 2×10-4A～1×10-16A

3、顯 示 方 式：數字彩屏觸摸顯示

4、內置測試電壓： 10V 、50V、100V、250、500、1000V

5、基本準確度：1%

6、使用環境： 溫度：0℃～40℃，相對濕度<80%

7、機內測試電壓： 10V/50V/100/250/500/1000V 任意切換

8、供電形式： AC 220V，50HZ，功耗約5W

9、顯示類別：電阻、電阻率、電流。

10、輸入方式：真彩64位手寫觸摸。

11、顯示結果：電阻、電阻率、電流。

12、試驗要求：直徑大于100mm(小于此尺寸，電極需定做)