直流式探針測試儀簡介：

采用(yong)四探(tan)針組合雙(shuang)(shuang)電測(ce)(ce)量方(fang)法(fa)，液晶顯示，自(zi)動(dong)測(ce)(ce)量，自(zi)動(dong)量程，自(zi)動(dong)系(xi)數補償.高(gao)集(ji)成電路系(xi)統、恒流輸出(chu)；選配：PC軟件進(jin)(jin)行數據(ju)管理和處理.雙(shuang)(shuang)電測(ce)(ce)數字(zi)式四探(tan)針測(ce)(ce)試(shi)儀是運用(yong)直線或方(fang)形(xing)四探(tan)針雙(shuang)(shuang)位測(ce)(ce)量。該儀器設計(ji)符合單晶硅物理測(ce)(ce)試(shi)方(fang)法(fa)國家(jia)標(biao)準并參考美(mei)國A.S.T.M標(biao)準。利用(yong)電流探(tan)針、電壓(ya)探(tan)針的(de)變換(huan)，進(jin)(jin)行兩(liang)次電測(ce)(ce)量，對數據(ju)進(jin)(jin)行雙(shuang)(shuang)電測(ce)(ce)分析，解(jie)決樣品幾何(he)尺寸、邊界效(xiao)應以及探(tan)針不等距(ju)和機械(xie)游移(yi)等因素對測(ce)(ce)量結果的(de)影響.

具有測量范圍寬、精度高、靈敏度高、穩定性好、智能化程度高、外形美觀、使用簡便等特點。

儀器適用于半導體材料廠器件廠、科研單位、高等院校對導體、半導體、類半導體材料的導電性能的測試。

BEST-300C 型材料電導率測試儀是運用四探針測量原理測試試導體、半導體材料電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器設計符合單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國 A.S.T.M 標準。

儀器成套組成：由主機、選配的四探針探頭和測試臺等三部分組成。

主機主要由數控恒流源，高分辨率 ADC、嵌入式單片機系統組成。自動/手動量程可選；電阻率、方阻、電阻測試類別快捷切換：儀器所有參數設定、功能轉換全部采用數字化鍵盤輸入，簡便可靠；具有零位、滿度自校功能；測試結果由數字表頭直接顯示。本測試儀采用可充電鋰電池供電，適合手持式變動場合操作使用！

直流式探針測試儀參數特點：

1. 便于查看的顯示/直觀(guan)的操作(zuo)性：高亮度(du)、超清晰(xi)4.3寸彩色LCD顯示；操作(zuo)易學，直觀(guan)使用；

2. 基(ji)本設置(zhi)操作簡單，方阻、電(dian)阻、電(dian)阻率、電(dian)導(dao)率和分選結果；多種(zhong)參(can)數同(tong)時顯示(shi)。

3. 精(jing)度(du)(du)(du)高：電(dian)阻基本(ben)準確(que)度(du)(du)(du)： 0.05％；方阻基本(ben)準確(que)度(du)(du)(du)：3%；電(dian)阻率(lv)基本(ben)準確(que)度(du)(du)(du)：3%

4. 整(zheng)機(ji)測量(liang)最大相對誤(wu)差：≤±3%；整(zheng)機(ji)測量(liang)標準不確定度：≤±;3%

5. 四位半顯(xian)示(shi)讀數；八量(liang)程自動或(huo)手(shou)動測試；

6. 測量范圍寬： 電阻(zu)：10-4Ω～105Ω ；方阻(zu)：10-4Ω/□～105Ω/□；

7. 正(zheng)反向(xiang)電流源修正(zheng)測(ce)量(liang)電阻誤差

8. 恒(heng)流(liu)(liu)源：電流(liu)(liu)量程分為： 1uA、10uA、100uA、1mA、10mA 、100mA六(liu)檔；儀器(qi)配有恒(heng)流(liu)(liu)源開(kai)關(guan)可有效保護(hu)被測件，即先(xian)讓(rang)探(tan)針頭壓(ya)觸在被測材料(liao)上(shang)，后開(kai)恒(heng)流(liu)(liu)源開(kai)關(guan)，避免接觸瞬(shun)間打火。為了提高(gao)工作(zuo)效率，如探(tan)針帶電壓(ya)觸單晶對材料(liao)及測量并無影響時，恒(heng)流(liu)(liu)源開(kai)關(guan)可一直處于(yu)開(kai)的狀態。

9. 可配(pei)合多種(zhong)探(tan)頭進(jin)行測試(shi)；也可配(pei)合多種(zhong)測試(shi)臺進(jin)行測試(shi)。

10. 校正功(gong)能(neng)：可(ke)手動(dong)(dong)或(huo)自動(dong)(dong)選擇測(ce)試量程(cheng) 全量程(cheng)自動(dong)(dong)清零。

11. 厚(hou)度可預設，自動修正(zheng)樣品的電(dian)阻率,無需查表即可計算出電(dian)阻率。

12. 自動進(jin)(jin)行電(dian)流(liu)(liu)換(huan)向,并進(jin)(jin)行正(zheng)反(fan)向電(dian)流(liu)(liu)下的電(dian)阻(zu)率(或方塊電(dian)阻(zu))測量,顯示(shi)平均值.測薄片時,可(ke)自動進(jin)(jin)行厚度(du)修(xiu)正(zheng)。

13. 雙(shuang)電測測試模式(shi)，測量精度(du)高(gao)、穩定性(xing)好.

14. 具(ju)備溫度補償(chang)功能，修正被(bei)測材料溫漂帶來的測試結果(guo)偏差。

15. 比較器判斷燈(deng)直接(jie)顯示，勿需(xu)查看屏幕，作(zuo)業效率得(de)以提高。

3檔分(fen)選功能：超上限，合(he)格(ge)，超下(xia)限，可對被測件進行(xing)HI/LOW判斷，可直(zhi)接(jie)在LCD使(shi)用標志顯(xian)示；也可通過USB接(jie)口、RS232接(jie)口輸出更為(wei)詳(xiang)細的分(fen)選結果。

16. 測試模(mo)式：可(ke)連接(jie)(jie)電腦測試、也(ye)可(ke)不連接(jie)(jie)電腦單機測試。

17. 豐富的接口，Handler接口、RS232接口、USB HOST、USB DEVICE。實現遠程控(kong)制。U盤可(ke)記錄測試數據