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直流式雙電四探針測試儀

型 號(hao)BEST-300C

更新時(shi)間2023-08-09

廠商(shang)性(xing)質生產廠家

報價(jia)

產品描述:直流式雙電四探針測試儀該儀器設計符合單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國A.S.T.M標準。利用電流探針、電壓探針的變換,進行兩次電測量,對數據進行雙電測分析,解決樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結果的影響.

產品概述

直流式雙電四探針測試儀簡介:

采用四探(tan)(tan)針組合(he)雙(shuang)電(dian)(dian)測量(liang)方(fang)法,液晶(jing)顯示,自動測量(liang),自動量(liang)程,自動系(xi)數(shu)(shu)補償.高集成電(dian)(dian)路系(xi)統、恒流輸(shu)出(chu);選配:PC軟(ruan)件(jian)進(jin)行(xing)(xing)數(shu)(shu)據管理(li)(li)和處(chu)理(li)(li).雙(shuang)電(dian)(dian)測數(shu)(shu)字式四探(tan)(tan)針測試(shi)儀是運用直線(xian)或方(fang)形四探(tan)(tan)針雙(shuang)位測量(liang)。該儀器設計符合(he)單晶(jing)硅(gui)物理(li)(li)測試(shi)方(fang)法國家標(biao)準(zhun)并(bing)參考美國A.S.T.M標(biao)準(zhun)。利用電(dian)(dian)流探(tan)(tan)針、電(dian)(dian)壓探(tan)(tan)針的(de)變換(huan),進(jin)行(xing)(xing)兩(liang)次電(dian)(dian)測量(liang),對(dui)數(shu)(shu)據進(jin)行(xing)(xing)雙(shuang)電(dian)(dian)測分析,解決樣品幾何(he)尺寸、邊(bian)界(jie)效應以及探(tan)(tan)針不(bu)等(deng)距(ju)和機械游移等(deng)因素對(dui)測量(liang)結果的(de)影響.


直流式雙電四探針測試儀參數特點:

1. 便于查看的顯(xian)(xian)示(shi)/直(zhi)觀的操(cao)作性:高亮度、超清晰4.3寸(cun)彩色LCD顯(xian)(xian)示(shi);操(cao)作易學(xue),直(zhi)觀使(shi)用;

2. 基本設(she)置操(cao)作簡(jian)單,方阻(zu)、電(dian)阻(zu)、電(dian)阻(zu)率(lv)、電(dian)導率(lv)和(he)分選結果;多種參數(shu)同時顯示。

3. 精度(du)高(gao):電(dian)阻基(ji)本準確(que)度(du): 0.05%;方阻基(ji)本準確(que)度(du):3%;電(dian)阻率基(ji)本準確(que)度(du):3%

4. 整機測(ce)量最大相對誤差:≤±3%;整機測(ce)量標準不確定度:≤±3%

5. 四(si)位半顯(xian)示讀數;八量程自動或(huo)手動測試;

6. 測(ce)量范圍寬(kuan): 電阻:10-4Ω~105Ω ;方(fang)阻:10-4Ω/□~105Ω/□;

7. 正反向電流源修正測量電阻誤差

8. 恒流(liu)(liu)源(yuan):電流(liu)(liu)量(liang)程分為(wei): 1uA、10uA、100uA、1mA、10mA 、100mA六檔;儀(yi)器配有恒流(liu)(liu)源(yuan)開關可有效(xiao)保護被(bei)測(ce)件,即先讓探針頭(tou)壓(ya)觸(chu)在被(bei)測(ce)材(cai)料(liao)(liao)上,后開恒流(liu)(liu)源(yuan)開關,避免接觸(chu)瞬間(jian)打火。為(wei)了提(ti)高工(gong)作效(xiao)率,如探針帶電壓(ya)觸(chu)單晶對材(cai)料(liao)(liao)及測(ce)量(liang)并無影響時,恒流(liu)(liu)源(yuan)開關可一直(zhi)處(chu)于開的狀態。

9. 可配合多種探(tan)頭進行(xing)測(ce)試;也可配合多種測(ce)試臺進行(xing)測(ce)試。

10. 校正功(gong)能:可手動(dong)或(huo)自動(dong)選擇測試(shi)量(liang)程 全量(liang)程自動(dong)清零。

11. 厚度可(ke)預(yu)設,自動修正樣品(pin)的(de)電阻率,無需(xu)查表即可(ke)計算(suan)出電阻率。

12. 自(zi)動進(jin)行電流換向(xiang),并進(jin)行正反向(xiang)電流下的電阻(zu)率(或方(fang)塊電阻(zu))測量,顯示平(ping)均值.測薄片(pian)時,可(ke)自(zi)動進(jin)行厚度(du)修正。

13. 雙電測測試模(mo)式,測量精度高、穩(wen)定性(xing)好.

14. 具(ju)備溫度(du)補償功能,修正(zheng)被測材(cai)料溫漂帶來(lai)的測試結果偏(pian)差。

15. 比(bi)較(jiao)器判(pan)斷燈直接顯示,勿需(xu)查看屏幕,作業效率得以提高。

3檔分(fen)選功能(neng):超上限,合格,超下限,可對被測件進(jin)行HI/LOW判斷,可直接(jie)在(zai)LCD使用標志顯(xian)示;也可通過USB接(jie)口(kou)、RS232接(jie)口(kou)輸出更為(wei)詳細(xi)的(de)分(fen)選結果。

16. 測試(shi)(shi)(shi)模式:可(ke)連接電腦測試(shi)(shi)(shi)、也可(ke)不連接電腦單機(ji)測試(shi)(shi)(shi)。

17. 豐(feng)富的接口(kou),Handler接口(kou)、RS232接口(kou)、USB HOST、USB DEVICE。實現遠程控制。U盤可記錄測試數(shu)據

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