雙電四探針測試儀采(cai)用(yong)四探(tan)針(zhen)組合(he)雙(shuang)(shuang)電(dian)測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)方(fang)法(fa)，液(ye)晶(jing)顯示，自(zi)動(dong)(dong)測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)，自(zi)動(dong)(dong)量(liang)(liang)(liang)程(cheng)，自(zi)動(dong)(dong)系(xi)數補償.高集成電(dian)路(lu)系(xi)統、恒(heng)流(liu)輸出；選配：PC軟件(jian)進(jin)(jin)行(xing)數據管(guan)理和處理.雙(shuang)(shuang)電(dian)測(ce)(ce)(ce)數字式四探(tan)針(zhen)測(ce)(ce)(ce)試儀(yi)是運用(yong)直線或方(fang)形(xing)四探(tan)針(zhen)雙(shuang)(shuang)位測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)。該儀(yi)器設計符合(he)單(dan)晶(jing)硅物理測(ce)(ce)(ce)試方(fang)法(fa)國(guo)家標(biao)準并(bing)參考美(mei)國(guo)A.S.T.M標(biao)準。利用(yong)電(dian)流(liu)探(tan)針(zhen)、電(dian)壓探(tan)針(zhen)的(de)變換(huan)，進(jin)(jin)行(xing)兩次電(dian)測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)，對(dui)數據進(jin)(jin)行(xing)雙(shuang)(shuang)電(dian)測(ce)(ce)(ce)分析，解決(jue)樣品(pin)幾(ji)何(he)尺寸、邊界效應以及(ji)探(tan)針(zhen)不等(deng)距和機械游移(yi)等(deng)因(yin)素對(dui)測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)結果的(de)影(ying)響.

1. 便于查看的(de)顯(xian)示(shi)/直觀的(de)操作性(xing)：高亮度、超清(qing)晰(xi)4.3寸彩色(se)LCD顯(xian)示(shi)；操作易(yi)學，直觀使用；

2. 基本設(she)置操(cao)作簡單，方阻、電(dian)(dian)阻、電(dian)(dian)阻率、電(dian)(dian)導(dao)率和分選(xuan)結果；多種參數同(tong)時顯示。

3. 精(jing)度(du)高：電(dian)阻(zu)(zu)基(ji)(ji)本準(zhun)確(que)度(du)： 0.05％；方(fang)阻(zu)(zu)基(ji)(ji)本準(zhun)確(que)度(du)：3%；電(dian)阻(zu)(zu)率基(ji)(ji)本準(zhun)確(que)度(du)：3%

4. 整(zheng)機(ji)測量最大相對誤差(cha)：≤±3%；整(zheng)機(ji)測量標準不確定(ding)度：≤±3%

5. 四(si)位半顯示讀(du)數；八量程自動或手動測試；

6. 測量范圍寬： 電(dian)阻：10-4Ω～105Ω ；方阻：10-4Ω/□～105Ω/□；

7. 正(zheng)(zheng)反向電流源修正(zheng)(zheng)測量電阻誤差(cha)

8. 恒(heng)(heng)流源(yuan)：電流量程分為： 1uA、10uA、100uA、1mA、10mA 、100mA六檔(dang)；儀器配(pei)有(you)恒(heng)(heng)流源(yuan)開(kai)關(guan)可有(you)效保護(hu)被測(ce)件，即先讓探(tan)(tan)針(zhen)頭壓觸(chu)在被測(ce)材(cai)料上(shang)，后(hou)開(kai)恒(heng)(heng)流源(yuan)開(kai)關(guan)，避(bi)免接觸(chu)瞬(shun)間(jian)打火。為了提(ti)高工(gong)作效率，如探(tan)(tan)針(zhen)帶電壓觸(chu)單晶(jing)對材(cai)料及測(ce)量并無(wu)影(ying)響時，恒(heng)(heng)流源(yuan)開(kai)關(guan)可一直處(chu)于開(kai)的狀態。

9. 可(ke)配合多種(zhong)(zhong)探(tan)頭進(jin)行測試(shi)；也可(ke)配合多種(zhong)(zhong)測試(shi)臺進(jin)行測試(shi)。

10. 校正功能：可手(shou)動或自(zi)動選擇測試量程(cheng) 全量程(cheng)自(zi)動清零。

11. 厚度可(ke)預設，自動(dong)修(xiu)正樣品的電阻(zu)率(lv),無需查(cha)表即可(ke)計算出(chu)電阻(zu)率(lv)。

12. 自動(dong)進(jin)行電(dian)流(liu)(liu)換(huan)向(xiang),并(bing)進(jin)行正反向(xiang)電(dian)流(liu)(liu)下(xia)的(de)電(dian)阻(zu)率(或方塊電(dian)阻(zu))測量,顯示平(ping)均值.測薄片(pian)時(shi),可自動(dong)進(jin)行厚(hou)度修正。

13. 雙電測(ce)測(ce)試模式，測(ce)量精度(du)高、穩定性(xing)好(hao).

14. 具備溫度補償功能，修正被測(ce)材料溫漂帶來的測(ce)試結果偏差。

15. 比較器(qi)判斷燈直接顯示，勿需查(cha)看屏幕，作業(ye)效率得(de)以(yi)提高。

3檔分選功能：超上限，合(he)格，超下限，可(ke)對(dui)被測(ce)件(jian)進行HI/LOW判斷，可(ke)直接在LCD使用標志顯示；也可(ke)通過USB接口、RS232接口輸出(chu)更為(wei)詳(xiang)細的分選結果(guo)。

16. 測試(shi)模式：可連接電(dian)腦(nao)測試(shi)、也可不連接電(dian)腦(nao)單機測試(shi)。

17. 豐富的接口，Handler接口、RS232接口、USB HOST、USB DEVICE。實(shi)現遠程控制。U盤可記(ji)錄測試數據(ju)

雙電四探針測試儀恒(heng)流(liu)(liu)源(yuan)電(dian)(dian)(dian) 流(liu)(liu)量(liang)(liang)(liang)程(cheng)分為1μA、10μA、100μA、1mA、10mA、100mA六檔，各檔電(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)連(lian)續可(ke)調數(shu)字電(dian)(dian)(dian)壓表(biao)  量(liang)(liang)(liang)程(cheng)及(ji)(ji)表(biao)示(shi)形(xing)式：000.00～199.99mV分辨力：10μV；輸入阻(zu)(zu)(zu)(zu)抗(kang)：>1000MΩ；精(jing)度：±0.1% ；顯示(shi)：四(si)(si)位(wei)半(ban)紅(hong)色發光管數(shu)字顯示(shi)；極性(xing)、超量(liang)(liang)(liang)程(cheng)自動顯示(shi)；四(si)(si)探(tan)針(zhen)探(tan)頭基本指(zhi)標(biao)  間(jian)距(ju)：1±0.01mm；概述：本品(pin)(pin)為解決四(si)(si)探(tan)針(zhen)法測(ce)(ce)試(shi)(shi)超低阻(zu)(zu)(zu)(zu)材(cai)(cai)料(liao)方(fang)(fang)阻(zu)(zu)(zu)(zu)及(ji)(ji)電(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)(zu)(zu)率，最(zui)小(xiao)可(ke)以(yi)測(ce)(ce)試(shi)(shi)到(dao)(dao)1uΩ方(fang)(fang)阻(zu)(zu)(zu)(zu)值，是目(mu)(mu)前同行業中能測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)到(dao)(dao)的最(zui)小(xiao)值，采用高精(jing)度AD芯片控制，恒(heng)流(liu)(liu)輸出，結(jie)構合(he)理、質(zhi)(zhi)量(liang)(liang)(liang)輕便(bian)，運輸安全(quan)、使用方(fang)(fang)便(bian)；適用于生產企業、高等院校、科研部門，是檢驗和分析(xi)導體(ti)(ti)材(cai)(cai)料(liao)和半(ban)導體(ti)(ti)材(cai)(cai)料(liao)質(zhi)(zhi)量(liang)(liang)(liang)的一(yi)種重(zhong)(zhong)要的工(gong)具(ju)。本儀器配置(zhi)各類測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)裝置(zhi)可(ke)以(yi)測(ce)(ce)試(shi)(shi)不(bu)(bu)同材(cai)(cai)料(liao)。液(ye)(ye)(ye)晶顯示(shi)，無需人(ren)工(gong)計算，并(bing)帶有溫(wen)度補償功能，電(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)(zu)(zu)率單位(wei)自動選擇，儀器自動測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)并(bing)根(gen)據(ju)測(ce)(ce)試(shi)(shi)結(jie)果自動轉換(huan)(huan)量(liang)(liang)(liang)程(cheng)，無需人(ren)工(gong)多次(ci)和重(zhong)(zhong)復(fu)設置(zhi)。選配：配備軟件(jian)可(ke)以(yi)由電(dian)(dian)(dian)腦操控，并(bing)保存(cun)和打印(yin)數(shu)據(ju)，自動生成報表(biao)；本儀器采用4.3吋大液(ye)(ye)(ye)晶屏(ping)幕顯示(shi)，同時顯示(shi)液(ye)(ye)(ye)晶顯示(shi)：電(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)(zu)(zu)、電(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)(zu)(zu)率、方(fang)(fang)阻(zu)(zu)(zu)(zu)、溫(wen)度、單位(wei)換(huan)(huan)算、溫(wen)度系數(shu)、電(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)、電(dian)(dian)(dian)壓、探(tan)針(zhen)形(xing)狀、探(tan)針(zhen)間(jian)距(ju)、厚度 、電(dian)(dian)(dian)導率，配置(zhi)不(bu)(bu)同的測(ce)(ce)試(shi)(shi)治具(ju)可(ke)以(yi)滿足不(bu)(bu)同材(cai)(cai)料(liao)的測(ce)(ce)試(shi)(shi)要求。測(ce)(ce)試(shi)(shi)治具(ju)可(ke)以(yi)根(gen)據(ju)產品(pin)(pin)及(ji)(ji)測(ce)(ce)試(shi)(shi)項(xiang)目(mu)(mu)要求選購.運用直(zhi)線或方(fang)(fang)形(xing)四(si)(si)探(tan)針(zhen)雙位(wei)測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)。該(gai)儀器設計符合(he)單晶硅物理測(ce)(ce)試(shi)(shi)方(fang)(fang)法國家(jia)標(biao)準并(bing)參考美(mei)國 A.S.T.M 標(biao)準。利(li)用電(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)探(tan)針(zhen)、電(dian)(dian)(dian)壓探(tan)針(zhen)的變換(huan)(huan)，進(jin)行兩次(ci)電(dian)(dian)(dian)測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)，對(dui)數(shu)據(ju)進(jin)行雙電(dian)(dian)(dian)測(ce)(ce)分析(xi)，自動消除(chu)樣品(pin)(pin)幾(ji)何尺寸、邊界效應以(yi)及(ji)(ji)探(tan)針(zhen)不(bu)(bu)等距(ju)和機械游移等因素對(dui)測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)結(jie)果的影響，它與單電(dian)(dian)(dian)測(ce)(ce)直(zhi)線或方(fang)(fang)形(xing)四(si)(si)探(tan)針(zhen)相比，大大提高精(jing)確(que)度，特別是適用于斜置(zhi)式四(si)(si)探(tan)針(zhen)對(dui)于微區的測(ce)(ce)試(shi)(shi)。