直流四探針電阻測試儀探(tan)(tan)(tan)(tan)頭選(xuan)配：根據不同材料(liao)(liao)特性需(xu)要，探(tan)(tan)(tan)(tan)頭可(ke)(ke)有(you)多款選(xuan)配。有(you)高(gao)耐磨(mo)碳化鎢探(tan)(tan)(tan)(tan)針(zhen)(zhen)探(tan)(tan)(tan)(tan)頭，以測試硅類半(ban)導(dao)(dao)(dao)體(ti)、金(jin)屬、導(dao)(dao)(dao)電塑(su)料(liao)(liao)類等(deng)硬(ying)質材料(liao)(liao)的(de)(de)電阻(zu)率/方(fang)阻(zu)；也(ye)有(you)球形鍍金(jin)銅合金(jin)探(tan)(tan)(tan)(tan)針(zhen)(zhen)探(tan)(tan)(tan)(tan)頭，可(ke)(ke)測柔性材料(liao)(liao)導(dao)(dao)(dao)電薄膜(mo)、金(jin)屬涂(tu)層(ceng)或(huo)(huo)薄膜(mo)、陶瓷或(huo)(huo)玻璃等(deng)基底(di)上(shang)導(dao)(dao)(dao)電膜(mo)（ITO 膜(mo)）或(huo)(huo)納(na)米涂(tu)層(ceng)等(deng)半(ban)導(dao)(dao)(dao)體(ti)材料(liao)(liao)的(de)(de)電阻(zu)率/方(fang)阻(zu)。換上(shang)四(si)端子測試夾具，還可(ke)(ke)對電阻(zu)器體(ti)電阻(zu)、金(jin)屬導(dao)(dao)(dao)體(ti)的(de)(de)低、中值電阻(zu)以及開關類接(jie)觸電阻(zu)進行測量。配專用探(tan)(tan)(tan)(tan)頭， 也(ye)可(ke)(ke)測試電池極片等(deng)箔上(shang)涂(tu)層(ceng)電阻(zu)率方(fang)阻(zu)。

直流四探針電阻測試儀儀(yi)器(qi)具(ju)有(you)測量范圍(wei)寬、精(jing)度高、靈敏度高、穩定性好、智能化程度高、外形美觀(guan)、使用(yong)簡便等(deng)特點。儀(yi)器(qi)適用(yong)于(yu)半導體(ti)材料廠(chang)器(qi)件(jian)廠(chang)、科研單(dan)位、高等(deng)院(yuan)校(xiao)對導體(ti)、半導體(ti)、類半導體(ti)材料的(de)導電(dian)性能的(de)測試。

1. 材料尺寸(由選配測試臺和測試方式決定)

直(zhi) 徑：圓測試臺直(zhi)接測試方式 Φ15～130mm，手持方式不(bu)限(xian)

方(fang)測(ce)試臺直(zhi)接(jie)(jie)測(ce)試方(fang)式(shi)(shi) 180mm×180mm，手持(chi)方(fang)式(shi)(shi)不限. 長(chang)(高)度： 測(ce)試臺直(zhi)接(jie)(jie)測(ce)試方(fang)式(shi)(shi) H≤100mm, 手持(chi)方(fang)式(shi)(shi)不限.

BEST-300C 測(ce)試儀能夠測(ce)量(liang)半導體(ti)材料體(ti)電阻率(lv)ρ、方塊(kuai)電阻（薄片電阻率(lv)）R 口

以(yi)及體(ti)電阻 R，測量(liang)時需調整相(xiang)應的修正系數和選擇相(xiang)應的功能。

本(ben)產品(pin)不但(dan)提(ti)(ti)(ti)供(gong)了電(dian)阻(zu)(zu)(zu)率ρ、方(fang)(fang)(fang)塊(kuai)電(dian)阻(zu)(zu)(zu) R 口以(yi)及(ji)體電(dian)阻(zu)(zu)(zu) R 測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)的(de)(de)基本(ben)修正系數(shu)(shu)設定， 還提(ti)(ti)(ti)供(gong)了產品(pin)厚度(du)(du) G、外形和測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)位(wei)置的(de)(de)修正系數(shu)(shu) D 設定，極大(da)的(de)(de)提(ti)(ti)(ti)高(gao)了測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)精度(du)(du)。測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)類別的(de)(de)快捷選擇(ze)方(fang)(fang)(fang)式(shi)，方(fang)(fang)(fang)便了用戶(hu)同時測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)多個參數(shu)(shu)，提(ti)(ti)(ti)高(gao)測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)效(xiao)率。整(zheng)機(ji)(ji)測(ce)(ce)量(liang)(liang)最(zui)大(da)相對誤差(cha)：≤±3%；整(zheng)機(ji)(ji)測(ce)(ce)量(liang)(liang)標準不確定度(du)(du)：≤±3%四位(wei)半顯(xian)示(shi)(shi)讀數(shu)(shu)；八(ba)量(liang)(liang)程自動(dong)或手(shou)動(dong)測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)；范圍寬： 電(dian)阻(zu)(zu)(zu)：10-4Ω～105Ω ；方(fang)(fang)(fang)阻(zu)(zu)(zu)：10-4Ω/□～105Ω/□；正反向電(dian)流(liu)(liu)源(yuan)(yuan)(yuan)修正測(ce)(ce)量(liang)(liang)電(dian)阻(zu)(zu)(zu)誤差(cha)恒(heng)流(liu)(liu)源(yuan)(yuan)(yuan)：電(dian)流(liu)(liu)量(liang)(liang)程分為(wei)： 1uA、10uA、100uA、1mA、10mA 、100mA六(liu)檔；儀器配有恒(heng)流(liu)(liu)源(yuan)(yuan)(yuan)開(kai)關可(ke)(ke)有效(xiao)保護被測(ce)(ce)件，即(ji)先讓探針(zhen)頭壓觸(chu)在被測(ce)(ce)材料(liao)上(shang)，后開(kai)恒(heng)流(liu)(liu)源(yuan)(yuan)(yuan)開(kai)關，避免接觸(chu)瞬間打火(huo)。為(wei)了提(ti)(ti)(ti)高(gao)工(gong)作效(xiao)率，如探針(zhen)帶電(dian)壓觸(chu)單晶對材料(liao)及(ji)測(ce)(ce)量(liang)(liang)并無影(ying)響時，恒(heng)流(liu)(liu)源(yuan)(yuan)(yuan)開(kai)關可(ke)(ke)一直處于開(kai)的(de)(de)狀態。可(ke)(ke)配合多種(zhong)探頭進(jin)(jin)行測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)；也(ye)可(ke)(ke)配合多種(zhong)測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)臺進(jin)(jin)行測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)。校(xiao)正功(gong)能：可(ke)(ke)手(shou)動(dong)或自動(dong)選擇(ze)測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)量(liang)(liang)程 全量(liang)(liang)程自動(dong)清零。厚度(du)(du)可(ke)(ke)預設，自動(dong)修正樣品(pin)的(de)(de)電(dian)阻(zu)(zu)(zu)率,無需查(cha)表即(ji)可(ke)(ke)計算出電(dian)阻(zu)(zu)(zu)率自動(dong)進(jin)(jin)行電(dian)流(liu)(liu)換向,并進(jin)(jin)行正反向電(dian)流(liu)(liu)下的(de)(de)電(dian)阻(zu)(zu)(zu)率(或方(fang)(fang)(fang)塊(kuai)電(dian)阻(zu)(zu)(zu))測(ce)(ce)量(liang)(liang),顯(xian)示(shi)(shi)平均值.測(ce)(ce)薄片時,可(ke)(ke)自動(dong)進(jin)(jin)行厚度(du)(du)修正。雙電(dian)測(ce)(ce)測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)模(mo)式(shi)，測(ce)(ce)量(liang)(liang)精度(du)(du)高(gao)、穩定性好.具備(bei)溫度(du)(du)補償功(gong)能，修正被測(ce)(ce)材料(liao)溫漂帶來的(de)(de)測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)結果(guo)偏差(cha)。比較器判斷(duan)燈直接顯(xian)示(shi)(shi)，勿需查(cha)看屏幕，作業(ye)效(xiao)率得以(yi)提(ti)(ti)(ti)高(gao)。

3檔分選功(gong)能：超(chao)上限，合格，超(chao)下限，可(ke)(ke)(ke)對(dui)被測(ce)件進行(xing)HI/LOW判斷，可(ke)(ke)(ke)直接在LCD使用(yong)標(biao)志(zhi)顯示；也(ye)可(ke)(ke)(ke)通過USB接口(kou)(kou)、RS232接口(kou)(kou)輸(shu)出更為詳細的分選結果。測(ce)試(shi)(shi)模式：可(ke)(ke)(ke)連接電腦測(ce)試(shi)(shi)、也(ye)可(ke)(ke)(ke)不連接電腦單機測(ce)試(shi)(shi)。接口(kou)(kou)，Handler接口(kou)(kou)、RS232接口(kou)(kou)、USB HOST、USB DEVICE。實現遠(yuan)程控(kong)制。U盤可(ke)(ke)(ke)記(ji)錄(lu)測(ce)試(shi)(shi)數(shu)(shu)據軟件功(gong)能（選配）：軟件可(ke)(ke)(ke)記(ji)錄(lu)、保存(cun)、各點的測(ce)試(shi)(shi)數(shu)(shu)據；可(ke)(ke)(ke)供用(yong)戶(hu)對(dui)數(shu)(shu)據進行(xing)各種數(shu)(shu)據分

在設定模式下（設定完畢，保存好數(shu)據后），選擇(ze)測(ce)量類別（電阻率ρ、方(fang)塊電阻

（薄(bo)片電阻(zu)率）R 口(kou)或體電阻(zu) R 中(zhong)三選一，切(qie)換儀器到“測(ce)(ce)(ce)量"模式，窗口(kou)左側“測(ce)(ce)(ce)量" 模式燈亮。電阻(zu)測(ce)(ce)(ce)量,注意(yi)良好接(jie)觸，電壓測(ce)(ce)(ce)試端在內(nei)側；半導(dao)體參數(shu)測(ce)(ce)(ce)試，將探針與樣品(pin)良好接(jie)觸，注意(yi)壓力要(yao)適中(zhong)；由數(shu)字(zi)顯示(shi)窗直接(jie)讀(du)出(chu)測(ce)(ce)(ce)量值。

注意！測量(liang)(liang)(liang)狀態中(zhong)，電(dian)流(liu)(liu)量(liang)(liang)(liang)程(cheng)默(mo)認(ren)為(wei)自(zi)動方(fang)式(shi)，也可調整(zheng)為(wei)手(shou)(shou)動方(fang)式(shi)，手(shou)(shou)動方(fang)式(shi)下， 電(dian)流(liu)(liu)量(liang)(liang)(liang)程(cheng)適合的(de)，儀(yi)器(qi)會穩定顯(xian)示數據，電(dian)流(liu)(liu)量(liang)(liang)(liang)程(cheng)不適合的(de)會給出超(chao)量(liang)(liang)(liang)程(cheng)或欠(qian)量(liang)(liang)(liang)程(cheng)閃爍提(ti)示，對于超(chao)量(liang)(liang)(liang)程(cheng)，說明電(dian)流(liu)(liu)過(guo)大，要調到(dao)較(jiao)小(xiao)電(dian)流(liu)(liu)檔(dang)；對于欠(qian)量(liang)(liang)(liang)程(cheng)，說明電(dian)流(liu)(liu)過(guo)小(xiao)， 要調到(dao)較(jiao)大電(dian)流(liu)(liu)檔(dang)。