四探針導電電阻測試儀豐富(fu)的接口，Handler接口、RS232接口、USB HOST、USB DEVICE。實現遠程(cheng)控制。U盤可記錄測試數據

技術參數：

1.電阻率：10-5～2×106Ω-cm
2.電   阻(zu)：10-5～2×106Ω

3.電導率：5×10-6～105ms/cm

4.分(fen)辨(bian)率： 小0.1μΩ測量誤(wu)差±（0.05%讀數±5字(zi)）

5.測量電壓量程(cheng)： 2mV   20mV  200mV 2V 測量精度±（0.1%讀數）

6.分辨率(lv)：  0.1uV  1uV  10uV  100uV

7.電流輸出：直流電流 0～1000mA 連續可調，由交流電源供電。
量(liang)程：1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，1000mA, 誤(wu)差：±0.2%讀數(shu)±2字(zi)

8.顯示(shi)方式：液(ye)晶顯示(shi)電(dian)(dian)(dian)阻(zu)值、電(dian)(dian)(dian)阻(zu)率(lv)、電(dian)(dian)(dian)導率(lv)值、溫度、壓強值、單位自動換算

9.傳感器壓力：200kg  (其他規格可(ke)以定制)

10.粉末(mo)測量裝置 模具：內徑10mm；高(gao)：25mm；

加壓方式：手動液壓加壓/自動加壓方式（選(xuan)購）

11.電源：220±10% 50HZ/60HZ

12.主機外(wai)形尺寸：330mm*350mm*120mm

13.凈重量：約6kg

14.標配外選(xuan)購(gou)：1）.標

導(dao)電(dian)(dian)電(dian)(dian)阻率(lv)測試儀(yi)功能介紹：本儀(yi)器采(cai)(cai)用(yong)(yong)(yong)(yong)四端(duan)測量法適用(yong)(yong)(yong)(yong)于碳(tan)素(su)粉(fen)末(mo)(mo)廠(chang)、焦(jiao)化廠(chang)、石化廠(chang)、粉(fen)末(mo)(mo)冶金廠(chang)、高(gao)等院校、科研部(bu)門，是檢驗和(he)分析粉(fen)末(mo)(mo)樣品質量的(de)一種重要(yao)的(de)工(gong)具。本儀(yi)器采(cai)(cai)用(yong)(yong)(yong)(yong)4.3吋大液晶屏(ping)幕顯示(shi)(shi)，同時顯示(shi)(shi)電(dian)(dian)阻值(zhi)、電(dian)(dian)阻率(lv)、電(dian)(dian)導(dao)率(lv)值(zhi)、溫度、壓強值(zhi)、單位自動(dong)換算，配置不同的(de)測試治具可(ke)以滿足不同材(cai)料的(de)測試要(yao)求(qiu)。測試治具可(ke)以根(gen)據產品及測試項目要(yao)求(qiu)選購.使用(yong)(yong)(yong)(yong)薄(bo)膜(mo)按鍵開關面板，操作簡單，耐用(yong)(yong)(yong)(yong)，符合人體(ti)工(gong)學操作規范(fan). 提供中文(wen)或英文(wen)兩種語言操作界(jie)面

導電電阻率測試(shi)儀滿(man)足(zu)：YST 587.6-2006 炭陽極用煅(duan)后石油(you)焦(jiao)檢(jian)測方法(fa) 第6部分(fen) 粉末電阻率的測定(ding)

配置(zhi)(zhi)手動粉末(mo)(mo)測試裝置(zhi)(zhi)也(ye)可以（選購）自動粉末(mo)(mo)測試裝置(zhi)(zhi)，測試粉末(mo)(mo)時可以通過裝置(zhi)(zhi)獲得粉末(mo)(mo)壓實后高度(du)、直徑、壓強等數據，輸入儀器后自動計(ji)算(suan)出(chu)所(suo)需(xu)數據.能方(fang)便解決粉末(mo)(mo)及(ji)顆粒(li)物料電阻、電阻率及(ji)電導(dao)率測量需(xu)求，經濟實惠(hui)，功能突出(chu)，設計(ji)合理，是粉末(mo)(mo)行(xing)業理想之測試儀器.

BEST-300C導電(dian)材料電(dian)阻率測定儀

按照(zhao)硅(gui)片電阻(zu)率(lv)(lv)測(ce)(ce)(ce)量的國(guo)(guo)際標(biao)準(zhun)（ASTM F84）及標(biao)準(zhun)設計制造該儀(yi)器(qi)設計符合GB/T 1551-2009 《硅(gui)單晶(jing)電阻(zu)率(lv)(lv)測(ce)(ce)(ce)定方法(fa)》、GB/T 1551-1995《硅(gui)、鍺(zang)單晶(jing)電阻(zu)率(lv)(lv)測(ce)(ce)(ce)定直流(liu)兩探針(zhen)法(fa)》、GB/T 1552-1995《硅(gui)、鍺(zang)單晶(jing)電阻(zu)率(lv)(lv)測(ce)(ce)(ce)定直流(liu)四探針(zhen)法(fa)》并參考美(mei)國(guo)(guo) A.S.T.M 標(biao)準(zhun)，本機(ji)配(pei)置232電腦(nao)接口(kou)及USB兩種接口(kou)，本機(ji)采用(yong)范德堡測(ce)(ce)(ce)量原理能改善樣品(pin)因(yin)幾何尺寸、邊(bian)界(jie)效應、探針(zhen)不等距和(he)機(ji)械(xie)游移等外部(bu)因(yin)素對(dui)測(ce)(ce)(ce)量結(jie)果(guo)的影響(xiang)及誤差，比市場上(shang)其他普通的四探針(zhen)測(ce)(ce)(ce)試方法(fa)更加完善和(he)進步,特別是方塊電阻(zu)值(zhi)較小的產品(pin)測(ce)(ce)(ce)量，更加準(zhun)確.

本(ben)儀(yi)器本(ben)儀(yi)器采用(yong)四(si)探針單(dan)電(dian)(dian)(dian)(dian)測(ce)量法適用(yong)于生(sheng)產企業、高等院校(xiao)、科研部門，是檢驗和分析導體材(cai)料和半導體材(cai)料質(zhi)量的一種重(zhong)要(yao)的工具。本(ben)儀(yi)器配置(zhi)各類測(ce)量裝置(zhi)可(ke)以(yi)(yi)測(ce)試(shi)不同(tong)材(cai)料。液晶(jing)顯(xian)(xian)示，無(wu)需(xu)人工計算，并(bing)帶有溫(wen)(wen)(wen)度(du)(du)補償功能，電(dian)(dian)(dian)(dian)阻率(lv)單(dan)位(wei)自動(dong)選擇(ze)，儀(yi)器自動(dong)測(ce)量并(bing)根據測(ce)試(shi)結果自動(dong)轉(zhuan)換(huan)量程，無(wu)需(xu)人工多次和重(zhong)復設置(zhi)。采用(yong)高精度(du)(du)AD芯(xin)片控制(zhi)，恒(heng)流(liu)輸(shu)出，結構合理、質(zhi)量輕便，運輸(shu)安全、使用(yong)方便；選配：配備軟件可(ke)以(yi)(yi)由電(dian)(dian)(dian)(dian)腦操控，并(bing)保存和打印數據，自動(dong)生(sheng)成報表(biao)；本(ben)儀(yi)器采用(yong)4.3吋大液晶(jing)屏(ping)幕顯(xian)(xian)示，同(tong)時顯(xian)(xian)示液晶(jing)顯(xian)(xian)示：電(dian)(dian)(dian)(dian)阻、電(dian)(dian)(dian)(dian)阻率(lv)、方阻、溫(wen)(wen)(wen)度(du)(du)、單(dan)位(wei)換(huan)算、溫(wen)(wen)(wen)度(du)(du)系(xi)數、電(dian)(dian)(dian)(dian)流(liu)、電(dian)(dian)(dian)(dian)壓、探針形狀、探針間(jian)距、厚度(du)(du) 、電(dian)(dian)(dian)(dian)導率(lv)，配置(zhi)不同(tong)的測(ce)試(shi)治(zhi)具可(ke)以(yi)(yi)滿足不同(tong)材(cai)料的測(ce)試(shi)要(yao)求。測(ce)試(shi)治(zhi)具可(ke)以(yi)(yi)根據產品及測(ce)試(shi)項目(mu)要(yao)求選購

四探針導電電阻測試儀校正(zheng)功能：可手動(dong)或自(zi)動(dong)選擇測(ce)試量(liang)程(cheng) 全量(liang)程(cheng)自(zi)動(dong)清零。厚度可預(yu)設，自(zi)動(dong)修正(zheng)樣品的(de)電(dian)(dian)阻率,無需查表即可計算出電(dian)(dian)阻率。自(zi)動(dong)進(jin)行電(dian)(dian)流(liu)換向(xiang),并進(jin)行正(zheng)反向(xiang)電(dian)(dian)流(liu)下的(de)電(dian)(dian)阻率(或方塊(kuai)電(dian)(dian)阻)測(ce)量(liang),顯(xian)示平均(jun)值.測(ce)薄片時(shi),可自(zi)動(dong)進(jin)行厚度修正(zheng)。雙電(dian)(dian)測(ce)測(ce)試模(mo)式，測(ce)量(liang)精度高、穩(wen)定性好.具備(bei)溫度補(bu)償功能，修正(zheng)被測(ce)材料溫漂(piao)帶來的(de)測(ce)試結果偏差(cha)