玻璃鍍膜表面電阻測試儀體積電(dian)阻率能(neng)被(bei)用(yong)作(zuo)選擇特定(ding)用(yong)途(tu)絕(jue)緣(yuan)材料(liao)的(de)(de)一個(ge)參數。電(dian)阻率隨(sui)溫度和濕度的(de)(de)變化而(er)顯著變化,因此在為(wei)一些(xie)運(yun)行條件而(er)設計時必須對其了(le)解。體積電(dian)阻率的(de)(de)測(ce)量常被(bei)用(yong)于(yu)檢查絕(jue)緣(yuan)材料(liao)生(sheng)產(chan)是否(fou)始終(zhong)如一,或(huo)檢測(ce)能(neng)影響材料(liao)質(zhi)量而(er)又不能(neng)用(yong)其他方法檢測(ce)到的(de)(de)導電(dian)雜質(zhi)。 

玻璃鍍膜表面電阻測試儀技術指標

1、電阻測量范(fan)圍: 1×104Ω ～1×1018Ω。

2、電流測量(liang)范圍為: 2×10-4A～1×10-16A

3、顯(xian) 示 方 式(shi):數字(zi)彩屏觸摸顯(xian)示 

4、內置測(ce)試電壓: 10V 、50V、100V、250、500、1000V

5、基本準確度:1%  

6、使(shi)用環境(jing): 溫度(du):0℃～40℃,相對濕度(du)<80%

7、機內測試電壓(ya): 10V/50V/100/250/500/1000V 任(ren)意切換

8、供(gong)電(dian)形(xing)式: AC 220V,50HZ,功耗約5W

9、顯示類(lei)別:電(dian)阻、電(dian)阻率、電(dian)流。

10、輸入方式:真彩64位手寫觸摸。

11、顯示(shi)結果:電阻(zu)、電阻(zu)率(lv)、電流。

12、儀器特點:所有測試(shi)電(dian)壓(10V/50V/100/250/500/1000V) 測試(shi)時(shi)電(dian)阻(zu)與(yu)電(dian)阻(zu)率結果直讀,免(mian)去老式高(gao)阻(zu)計在(zai)不同(tong)測試(shi)電(dian)壓下(xia)或不同(tong)量程時(shi)要乘(cheng)以系數等(deng)使(shi)用不便的麻煩(fan)。既能測超高(gao)電(dian)阻(zu)又(you)能測微(wei)電(dian)流(liu)還可以直接測得(de)電(dian)阻(zu)率。

體積電阻率測定儀測量(liang)技術(shu) 

a.通常,絕(jue)緣(yuan)(yuan)材料(liao)(liao)用于電(dian)氣系統的各部(bu)件相互(hu)絕(jue)緣(yuan)(yuan)和(he)對地絕(jue)緣(yuan)(yuan),固體絕(jue)緣(yuan)(yuan)材料(liao)(liao)還起機械支(zhi)撐作用。一(yi)般希望材料(liao)(liao)有(you)盡可能(neng)高(gao)的絕(jue)緣(yuan)(yuan)電(dian)阻,并具(ju)有(you)合適的機械、化學和(he)耐熱(re)性能(neng)。

b.絕緣(yuan)材(cai)料(liao)的(de)電(dian)阻率一(yi)般都很(hen)(hen)高(gao),也就(jiu)是傳(chuan)導電(dian)流(liu)很(hen)(hen)小。如果(guo)(guo)不注意外界因素的(de)干擾和漏電(dian)流(liu)的(de)影響(xiang),測量(liang)結果(guo)(guo)就(jiu)會發生很(hen)(hen)大的(de)誤差。同時絕緣(yuan)材(cai)料(liao)本身的(de)吸濕性和環境(jing)條件(jian)的(de)變化(hua)對測量(liang)結果(guo)(guo)也有很(hen)(hen)大影響(xiang)。

c.影響(xiang)體積電(dian)(dian)阻率和(he)表(biao)面電(dian)(dian)阻率測(ce)(ce)試的(de)主(zhu)要因素是(shi)溫度(du)和(he)濕度(du)、電(dian)(dian)場強度(du)、充電(dian)(dian)時(shi)間及(ji)殘余(yu)電(dian)(dian)荷等。體積電(dian)(dian)阻率可作為選擇絕緣材(cai)料的(de)一個參數,電(dian)(dian)阻率隨溫度(du)和(he)濕度(du)的(de)變(bian)化而顯(xian)著變(bian)化。體積電(dian)(dian)阻率的(de)測(ce)(ce)量常常用(yong)來檢查絕緣材(cai)料是(shi)否均勻,或(huo)者(zhe)用(yong)來檢測(ce)(ce)那些能(neng)(neng)影響(xiang)材(cai)料質(zhi)量而又不能(neng)(neng)用(yong)其他方法(fa)檢測(ce)(ce)到(dao)的(de)導(dao)電(dian)(dian)雜(za)質(zhi)。

d.由于體積電阻(zu)總是(shi)要被或多或少地包括(kuo)到表(biao)(biao)面電阻(zu)的測(ce)(ce)試(shi)(shi)中去,因此只能近似地測(ce)(ce)量表(biao)(biao)面電阻(zu),測(ce)(ce)得的表(biao)(biao)面電阻(zu)值主要反映被測(ce)(ce)試(shi)(shi)樣(yang)表(biao)(biao)面污染(ran)的程度(du)。所以,表(biao)(biao)面電阻(zu)率(lv)不是(shi)表(biao)(biao)征材料(liao)本(ben)身(shen)特性(xing)的參數(shu),而是(shi)一個有關材料(liao)表(biao)(biao)面污染(ran)特性(xing)的參數(shu)。當表(biao)(biao)面電阻(zu)較高時,它常隨時間(jian)以不規則的方式變(bian)化。測(ce)(ce)量表(biao)(biao)面電阻(zu)通常都規定1min的電化時間(jian)。 

(1)溫(wen)度(du)和(he)濕(shi)度(du):固體(ti)絕緣(yuan)材(cai)料的(de)絕緣(yuan)電阻(zu)率(lv)隨溫(wen)度(du)和(he)濕(shi)度(du)的(de)升高而(er)降低(di),特別是(shi)體(ti)積(ji)電阻(zu)率(lv)隨溫(wen)度(du)改變(bian)而(er)變(bian)化(hua)非(fei)常(chang)大(da)。因此,電瓷材(cai)料不但要測定(ding)常(chang)溫(wen)下(xia)(xia)的(de)體(ti)積(ji)電阻(zu)率(lv),而(er)且還要測定(ding)高溫(wen)下(xia)(xia)的(de)體(ti)積(ji)電阻(zu)率(lv),以評定(ding)其絕緣(yuan)性能的(de)好壞。由于水的(de)電導大(da),隨著濕(shi)度(du)增(zeng)大(da),表(biao)面(mian)電阻(zu)率(lv)和(he)有開口孔(kong)隙的(de)電瓷材(cai)料的(de)體(ti)積(ji)電阻(zu)率(lv)急劇下(xia)(xia)降。因此,測定(ding)時應嚴格(ge)地按照規(gui)定(ding)的(de)試樣處理(li)要求和(he)測試的(de)環境(jing)條(tiao)件下(xia)(xia)進行。

(2)電(dian)(dian)(dian)場強(qiang)度:當電(dian)(dian)(dian)場強(qiang)度比較(jiao)高時,離子(zi)的(de)(de)遷(qian)移率隨電(dian)(dian)(dian)場強(qiang)度增高而增大(da)(da),而且在(zai)(zai)接近(jin)擊穿時還會出現(xian)大(da)(da)量的(de)(de)電(dian)(dian)(dian)子(zi)遷(qian)移,這時體積(ji)電(dian)(dian)(dian)阻率大(da)(da)大(da)(da)地降低。因(yin)此在(zai)(zai)測(ce)定時,施加的(de)(de)電(dian)(dian)(dian)壓應(ying)不超過規定的(de)(de)值。

(3)殘余電(dian)(dian)荷:試樣在(zai)加工和測(ce)試等(deng)過(guo)程中(zhong),可(ke)能產生靜電(dian)(dian),電(dian)(dian)阻越(yue)(yue)高越(yue)(yue)容易產生靜電(dian)(dian),影響測(ce)量的準(zhun)確性。因(yin)此,在(zai)測(ce)量時,試樣要*放電(dian)(dian),即可(ke)將幾個電(dian)(dian)極連在(zai)一起(qi)進行短路。

(4)雜(za)散(san)電(dian)(dian)(dian)勢(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)的(de)消除:在絕緣電(dian)(dian)(dian)阻測量(liang)電(dian)(dian)(dian)路中(zhong),可能存在某(mou)些雜(za)散(san)電(dian)(dian)(dian)勢(shi)(shi)(shi)(shi)(shi),如(ru)熱(re)電(dian)(dian)(dian)勢(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)、電(dian)(dian)(dian)解電(dian)(dian)(dian)勢(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)、接觸電(dian)(dian)(dian)勢(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)等(deng),其中(zhong)影響最(zui)大的(de)為電(dian)(dian)(dian)解電(dian)(dian)(dian)勢(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)。用(yong)高阻計測量(liang)表面潮濕(shi)的(de)試樣(yang)的(de)體積(ji)電(dian)(dian)(dian)阻時,測量(liang)極與保護極間可產(chan)生20mv的(de)電(dian)(dian)(dian)勢(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)。試驗前應檢查有無雜(za)散(san)電(dian)(dian)(dian)勢(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)。可根據(ju)試樣(yang)加壓前后(hou)高阻計的(de)二次指示是否相同(tong)來判斷有無雜(za)散(san)電(dian)(dian)(dian)勢(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)。如(ru)相同(tong),證明(ming)無雜(za)散(san)電(dian)(dian)(dian)勢(shi)(shi)(shi)(shi)(shi);否則應當(dang)尋找并排除產(chan)生雜(za)散(san)電(dian)(dian)(dian)勢(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)的(de)根源,才能進行測量(liang)。

(5)防止(zhi)漏電(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)的(de)(de)(de)(de)影響(xiang)(xiang):對于(yu)(yu)高(gao)電(dian)(dian)(dian)阻(zu)材(cai)料,只有采(cai)取保(bao)(bao)護(hu)(hu)技術才(cai)能(neng)去除漏電(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)對測量(liang)(liang)(liang)的(de)(de)(de)(de)影響(xiang)(xiang)。保(bao)(bao)護(hu)(hu)技術就(jiu)是(shi)(shi)(shi)在引起測量(liang)(liang)(liang)誤(wu)差的(de)(de)(de)(de)漏電(dian)(dian)(dian)路徑上安置保(bao)(bao)護(hu)(hu)導(dao)體(ti)(ti),截住可能(neng)引起測量(liang)(liang)(liang)誤(wu)差的(de)(de)(de)(de)雜(za)散(san)電(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu),使之(zhi)不(bu)流(liu)(liu)經測量(liang)(liang)(liang)回(hui)路或儀表(biao)。保(bao)(bao)護(hu)(hu)導(dao)體(ti)(ti)連接(jie)在一(yi)起構成(cheng)保(bao)(bao)護(hu)(hu)端(duan),通常保(bao)(bao)護(hu)(hu)端(duan)接(jie)地。測量(liang)(liang)(liang)體(ti)(ti)積電(dian)(dian)(dian)阻(zu)時,三(san)電(dian)(dian)(dian)極(ji)系統的(de)(de)(de)(de)保(bao)(bao)護(hu)(hu)極(ji)就(jiu)是(shi)(shi)(shi)保(bao)(bao)護(hu)(hu)導(dao)體(ti)(ti)。此(ci)時要(yao)求保(bao)(bao)護(hu)(hu)電(dian)(dian)(dian)極(ji)和測量(liang)(liang)(liang)電(dian)(dian)(dian)極(ji)間的(de)(de)(de)(de)試(shi)(shi)樣表(biao)面電(dian)(dian)(dian)阻(zu)高(gao)于(yu)(yu)與它并(bing)聯元件的(de)(de)(de)(de)電(dian)(dian)(dian)阻(zu)10～100倍。線(xian)(xian)路接(jie)好后,應首(shou)先檢查是(shi)(shi)(shi)否存在漏電(dian)(dian)(dian)。此(ci)時斷開與試(shi)(shi)樣連接(jie)的(de)(de)(de)(de)高(gao)壓(ya)線(xian)(xian),加上電(dian)(dian)(dian)壓(ya)。如在測量(liang)(liang)(liang)靈敏度(du)范圍內(nei),測量(liang)(liang)(liang)儀器指(zhi)示的(de)(de)(de)(de)電(dian)(dian)(dian)阻(zu)值為無限大,則線(xian)(xian)路無漏電(dian)(dian)(dian),可進行測量(liang)(liang)(liang)。

(6)條(tiao)件(jian)處(chu)理(li)和(he)測(ce)試(shi)條(tiao)件(jian)的(de)規定:固(gu)體絕(jue)緣材(cai)(cai)料的(de)電阻隨溫度、濕(shi)(shi)度的(de)增加而下降。試(shi)樣(yang)的(de)預處(chu)理(li)條(tiao)件(jian)取(qu)決于被測(ce)材(cai)(cai)料,這些條(tiao)件(jian)在(zai)(zai)材(cai)(cai)料規范中規定。推薦使用GB10580《固(gu)體絕(jue)緣材(cai)(cai)料在(zai)(zai)試(shi)驗(yan)前和(he)試(shi)驗(yan)時(shi)采(cai)用的(de)標(biao)準(zhun)條(tiao)件(jian)》中規定的(de)預處(chu)理(li)方法(fa)。可(ke)使用甘油—水(shui)溶液潮濕(shi)(shi)箱進行濕(shi)(shi)度預處(chu)理(li)。測(ce)試(shi)條(tiao)件(jian)應與預處(chu)理(li)條(tiao)件(jian)盡可(ke)能(neng)地(di)一(yi)(yi)(yi)致(zhi)(zhi),有些時(shi)候(hou)(如浸水(shui)處(chu)理(li))不能(neng)保(bao)持預處(chu)理(li)條(tiao)件(jian)和(he)測(ce)試(shi)條(tiao)件(jian)一(yi)(yi)(yi)致(zhi)(zhi)時(shi),則應在(zai)(zai)從(cong)預處(chu)理(li)環境中取(qu)出后在(zai)(zai)盡可(ke)能(neng)短時(shi)間(jian)內完成(cheng)測(ce)試(shi),一(yi)(yi)(yi)般不超(chao)過5分鐘。

(7)電(dian)化(hua)時(shi)間(jian)的(de)(de)(de)規定(ding):當直流電(dian)壓加到(dao)與(yu)試樣(yang)接觸的(de)(de)(de)兩電(dian)極(ji)間(jian)時(shi),通過試樣(yang)的(de)(de)(de)電(dian)流會(hui)指數(shu)式(shi)地衰減(jian)到(dao)一個穩定(ding)值。電(dian)流隨(sui)時(shi)間(jian)的(de)(de)(de)減(jian)小可(ke)(ke)能是由于電(dian)介質極(ji)化(hua)和可(ke)(ke)動離子位(wei)移到(dao)電(dian)極(ji)所致。對(dui)于體積(ji)電(dian)阻率小于1010Ω·m的(de)(de)(de)材(cai)料(liao),其穩定(ding)狀態通常在1分鐘(zhong)(zhong)內達到(dao)。因此,要(yao)經過這(zhe)個電(dian)化(hua)時(shi)間(jian)后測(ce)定(ding)電(dian)阻。對(dui)于電(dian)阻率較(jiao)(jiao)高的(de)(de)(de)材(cai)料(liao),電(dian)流減(jian)小的(de)(de)(de)過程(cheng)可(ke)(ke)能會(hui)持續(xu)幾分鐘(zhong)(zhong)、幾小時(shi)、幾天,因此需要(yao)用較(jiao)(jiao)長的(de)(de)(de)電(dian)化(hua)時(shi)間(jian)。如果需要(yao)的(de)(de)(de)話,可(ke)(ke)用體積(ji)電(dian)阻率與(yu)時(shi)間(jian)的(de)(de)(de)關系來(lai)描述材(cai)料(liao)的(de)(de)(de)特性。當表面(mian)電(dian)阻較(jiao)(jiao)高時(shi),它常隨(sui)時(shi)間(jian)以不(bu)規則的(de)(de)(de)方(fang)式(shi)變化(hua)。測(ce)量(liang)表面(mian)電(dian)阻通常都規定(ding)1分鐘(zhong)(zhong)的(de)(de)(de)電(dian)化(hua)時(shi)間(jian)。

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