硅膠片表面體積電阻測試儀導電銀漆

某(mou)些高導電(dian)(dian)率的(de)商品銀漆(qi),無論是(shi)氣干(gan)的(de)或低(di)溫烘干(gan)的(de),是(shi)足夠疏(shu)松(song)的(de)、能透(tou)過濕(shi)(shi)氣,因此可(ke)在加上 電(dian)(dian)極后對試(shi)樣進行條件(jian)處理。這種(zhong)特點特別適合研究電(dian)(dian)阻-……濕(shi)(shi)氣效應以及電(dian)(dian)阻隨溫度的(de)變化。然 而,在導電(dian)(dian)漆(qi)被(bei)用(yong)(yong)(yong)作一種(zhong)電(dian)(dian)極材(cai)料以前,應證實漆(qi)中的(de)溶劑不(bu)影響試(shi)樣的(de)電(dian)(dian)性能。用(yong)(yong)(yong)精巧的(de)毛刷(shua)可(ke)做(zuo)到 使(shi)保護電(dian)(dian)極的(de)邊緣相當(dang)光(guang)滑。但對于圓電(dian)(dian)極,可(ke)先用(yong)(yong)(yong)圓規畫出(chu)電(dian)(dian)極的(de)輪(lun)廊,然后用(yong)(yong)(yong)刷(shua)子來(lai)涂滿內部(bu)的(de)方 法來(lai)獲得精細的(de)邊緣。如(ru)電(dian)(dian)極漆(qi)是(shi)用(yong)(yong)(yong)噴槍(qiang)噴上去的(de),則可(ke)采(cai)用(yong)(yong)(yong)固(gu)定模框。

噴鍍金(jin)屬

可(ke)使用(yong)能滿意地粘合在試(shi)樣上的噴(pen)(pen)鍍(du)金屬。薄的噴(pen)(pen)鍍(du)電極的優點是(shi)一(yi)旦噴(pen)(pen)在試(shi)樣上便(bian)可(ke)立即使 用(yong)。這種(zhong)電極或許(xu)是(shi)足夠(gou)疏松的,可(ke)允許(xu)對試(shi)樣進行條件處(chu)理,但這一(yi)特點應被證實.固定的模框可(ke)用(yong) 來制取被保護電極與(yu)保護電極之間的間隙。

硅膠片表面體積電阻測試儀

技術指(zhi)標

1、電阻測量范(fan)圍: 1×104Ω ～1×1018Ω。

2、電流測(ce)量(liang)范圍為: 2×10-4A～1×10-16A

3、顯 示(shi) 方 式:數字(zi)彩屏觸(chu)摸顯示(shi) 

4、內置測試電壓: 10V 、50V、100V、250、500、1000V

5、基(ji)本準(zhun)確度:1% (*注)

6、使用環境(jing): 溫度:0℃～40℃,相對(dui)濕度<80%

7、機內測試電(dian)壓: 10V/50V/100/250/500/1000V 任意(yi)切(qie)換

8、供電形式: AC 220V,50HZ,功(gong)耗約5W

9、顯(xian)示類別:電(dian)阻、電(dian)阻率、電(dian)流。

10、輸入方(fang)式:真彩64位手寫觸摸。

11、顯(xian)示結果:電(dian)阻、電(dian)阻率、電(dian)流。

12、試樣(yang)要求:建議(yi)直徑為100mm(試樣(yang)小于50mm,電極需(xu)定做)

固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率
試驗方法

1范圍(wei)

本標準規定了固體(ti)絕緣(yuan)材料(liao)體(ti)積(ji)電(dian)阻率和(he)表面電(dian)阻率的(de)試驗方(fang)法。這些試驗方(fang)法包括對固體(ti)絕緣(yuan) 材料(liao)體(ti)積(ji)電(dian)阻和(he)表面電(dian)阻的(de)測定程序及體(ti)積(ji)電(dian)阻率和(he)表面電(dian)阻率的(de)計(ji)算方(fang)法。

體積(ji)電阻和(he)表面電阻的(de)試(shi)驗都(dou)受到下(xia)列因素影響:施(shi)加電壓的(de)大小和(he)時間(jian);電極(ji)的(de)性質和(he)尺寸;在 試(shi)樣(yang)處(chu)理和(he)測(ce)試(shi)過程中周圍(wei)大氣(qi)條件和(he)試(shi)樣(yang)的(de)溫(wen)度、濕度。

2規(gui)范性引(yin)用文(wen)件

下列文件(jian)中的(de)(de)(de)條(tiao)款通過本(ben)標準(zhun)的(de)(de)(de)引(yin)用(yong)而成(cheng)為本(ben)標準(zhun)的(de)(de)(de)條(tiao)款。凡是注日(ri)期的(de)(de)(de)引(yin)用(yong)文件(jian),其隨后所有 的(de)(de)(de)修(不包括勘誤的(de)(de)(de)內(nei)容)或修訂版(ban)均不適(shi)(shi)用(yong)于本(ben)標準(zhun),然而,鼓勵根(gen)據(ju)本(ben)標準(zhun)達成(cheng)協議的(de)(de)(de)各方研究 是否可使用(yong)這些文件(jian)的(de)(de)(de)最新(xin)版(ban)本(ben)。凡是不注日(ri)期的(de)(de)(de)引(yin)用(yong)文件(jian),其最新(xin)版(ban)本(ben)適(shi)(shi)用(yong)于本(ben)標準(zhun)。

GB/T 10064—2006 測定固(gu)體(ti)絕緣材(cai)料(liao)絕緣電(dian)阻的試驗(yan)方法(IEC 60167 : 1964 JDT)

GB/T 10580—2003 固體絕緣材料在試驗(yan)前(qian)和試驗(yan)時采(cai)用的標準(zhun)條件(jian)(IEC 60212 : 1971,IDT)

IEC 60260 = 1968非注入式恒定相(xiang)對濕(shi)度的(de)試驗箱(xiang)

3定(ding)義

下(xia)列定義(yi)適用于本標準(zhun)。

3. 1

體積電阻 volume resistance

在試(shi)樣兩(liang)相(xiang)對表(biao)面(mian)上(shang)(shang)放置的(de)兩(liang)電(dian)極間所加直流(liu)(liu)電(dian)壓(ya)與流(liu)(liu)過這兩(liang)個(ge)電(dian)極之(zhi)間的(de)穩態電(dian)流(liu)(liu)之(zhi)商,不(bu)(bu)包(bao) 括沿(yan)試(shi)樣表(biao)面(mian)的(de)電(dian)流(liu)(liu),在兩(liang)電(dian)極上(shang)(shang)可能形成(cheng)的(de)極化忽略不(bu)(bu)計。

注:除非(fei)另有規(gui)定,體積電(dian)阻(zu)是在電(dian)化一分鐘后測定。

3.2 .

體積電阻率(lv) volume resistivity

在絕緣(yuan)材(cai)料里面的(de)直(zhi)流電場強度(du)和穩態(tai)電流密度(du)之商,即單位體(ti)積內的(de)體(ti)積電阻(zu)。

注(zhu):體積電阻率的SI單(dan)位(wei)是￡1 • mo實(shi)際上(shang)也使(shi)用0 • cm這(zhe)一(yi)單(dan)位(wei)。

3. 3

表面電阻 surface resistance

在(zai)試樣的其(qi)表面上的兩(liang)電(dian)極間(jian)所加電(dian)壓(ya)與在(zai)規定的電(dian)化(hua)(hua)時間(jian)里(li)流(liu)過(guo)兩(liang)電(dian)極間(jian)的電(dian)流(liu)之商(shang),在(zai)兩(liang)電(dian) 極上可能形成的極化(hua)(hua)忽略不計。

注1:除非另有規(gui)定(ding),表面電阻(zu)是在(zai)電化(hua)一分鐘后測定(ding)。

注2:通常(chang)電(dian)流主(zhu)要(yao)流過試樣(yang)的一個(ge)表(biao)面層,但也包括流過試樣(yang)體積(ji)內的成分。

3.4

表面電阻率 surface resistivity

在絕緣材料的(de)(de)表面(mian)(mian)層(ceng)里(li)的(de)(de)直流電(dian)場(chang)強度與(yu)線電(dian)流密(mi)度之商,即(ji)單位面(mian)(mian)積內的(de)(de)表面(mian)(mian)電(dian)阻。面(mian)(mian)積的(de)(de)大 小(xiao)是(shi)不重要(yao)的(de)(de)。

注:表(biao)面電阻率的SI單(dan)位(wei)是Q。實際上有時(shi)也用“歐每平方單(dan)位(wei)"來表(biao)示。

3.5

電極(ji) electrodes

電極(ji)是具(ju)有一定形狀、尺(chi)寸和結構的與被(bei)測試樣相接觸的導(dao)體。

注:絕緣電(dian)(dian)阻(zu)是加在與(yu)試樣相接觸的(de)兩電(dian)(dian)極之(zhi)間的(de)直流電(dian)(dian)壓(ya)與(yu)通過(guo)兩電(dian)(dian)極的(de)總電(dian)(dian)流之(zhi)商(shang)。絕緣電(dian)(dian)阻(zu)取決(jue)于試樣的(de) 表面(mian)電(dian)(dian)阻(zu)和體積電(dian)(dian)阻(zu)(見GB/T 10064—2006).

4意義

4. 1通常,絕(jue)(jue)緣(yuan)材料(liao)用(yong)(yong)于將電氣系統的各部件相互絕(jue)(jue)緣(yuan)和對地絕(jue)(jue)緣(yuan);固儕絕(jue)(jue)緣(yuan)材料(liao)還起機械支撐作用(yong)(yong)。 對于這些用(yong)(yong)途,一(yi)般(ban)都希望材料(liao)具(ju)有(you)盡(jin)可能高的絕(jue)(jue)緣(yuan)電阻,有(you)均勻一(yi)致的、得到認可的機械、化學和耐熱 性能。表面電阻隨(sui)(sui)濕度(du)變化很快,而體(ti)積電阻隨(sui)(sui)溫度(du)變化卻很慢,盡(jin)管其最終的變化也許較大。

4.2體(ti)積(ji)電阻(zu)(zu)率能被用(yong)作選擇(ze)特定用(yong)途(tu)絕(jue)(jue)緣(yuan)材(cai)料的一個參數。電阻(zu)(zu)率隨溫度和濕度的變化而顯著變 化,因此在為一些運(yun)行(xing)條件而設計時必須對其(qi)了(le)解。體(ti)積(ji)電阻(zu)(zu)率的測(ce)量常被用(yong)于檢(jian)査絕(jue)(jue)緣(yuan)材(cai)料生產是 否(fou)始(shi)終如一,或檢(jian)測(ce)能影響材(cai)料質(zhi)量而又不(bu)能用(yong)其(qi)他方法檢(jian)測(ce)到的導(dao)電雜質(zhi)。

4.3當(dang)一(yi)直流(liu)電(dian)(dian)壓加在(zai)與試(shi)樣相接觸的(de)兩電(dian)(dian)極之間(jian)時,通過(guo)試(shi)樣的(de)電(dian)(dian)流(liu)會(hui)漸近地減小到(dao)一(yi)個穩定(ding)(ding)值。 電(dian)(dian)流(liu)隨時間(jian)的(de)減小可能是由(you)于(yu)(yu)電(dian)(dian)介質極化和可動離子位(wei)移到(dao)電(dian)(dian)極所致。對于(yu)(yu)體積(ji)電(dian)(dian)阻率小于(yu)(yu) 1010 Q • m的(de)材(cai)料,其(qi)穩定(ding)(ding)狀態通常在(zai)一(yi)分(fen)鐘內達到(dao),因(yin)此(ci),經過(guo)這個電(dian)(dian)化時間(jian)后測定(ding)(ding)電(dian)(dian)阻。對于(yu)(yu)體積(ji)電(dian)(dian) 阻率較(jiao)高的(de)材(cai)料,電(dian)(dian)流(liu)減小的(de)過(guo)程可能會(hui)持續(xu)到(dao)幾(ji)分(fen)鐘、幾(ji)小時、幾(ji)天甚(shen)至(zhi)幾(ji)星期。因(yin)此(ci)對于(yu)(yu)這樣的(de)材(cai) 料,采用(yong)較(jiao)長的(de)電(dian)(dian)化時間(jian),且如果合(he)適,可用(yong)體積(ji)電(dian)(dian)阻率與時間(jian)的(de)關(guan)系(xi)來描述材(cai)料的(de)特性。

4.4由于或(huo)(huo)多或(huo)(huo)少的(de)(de)體積(ji)電(dian)導(dao)總是(shi)要被包括到表(biao)(biao)(biao)面電(dian)導(dao)測(ce)(ce)試(shi)(shi)中去,因此(ci)不(bu)能精(jing)確而(er)只能近似地測(ce)(ce)量表(biao)(biao)(biao) 面電(dian)阻(zu)或(huo)(huo)表(biao)(biao)(biao)面電(dian)導(dao)。測(ce)(ce)得的(de)(de)值主要反映被測(ce)(ce)試(shi)(shi)樣(yang)表(biao)(biao)(biao)面污(wu)染的(de)(de)特(te)性(xing),而(er)且試(shi)(shi)樣(yang)的(de)(de)電(dian)容率(lv)影響污(wu)染物質的(de)(de) 沉積(ji),它們的(de)(de)導(dao)電(dian)能力(li)又(you)受試(shi)(shi)樣(yang)的(de)(de)表(biao)(biao)(biao)面特(te)性(xing)所影響。因此(ci),表(biao)(biao)(biao)面電(dian)阻(zu)率(lv)不(bu)是(shi)一(yi)(yi)個真正意義的(de)(de)材料特(te)性(xing), 而(er)是(shi)材料表(biao)(biao)(biao)面含有污(wu)染物質時與(yu)材料特(te)性(xing)有關的(de)(de)一(yi)(yi)個參數。

某些材(cai)(cai)料(liao)如層壓材(cai)(cai)料(liao)在表面層和內(nei)部可能(neng)有(you)很(hen)不同(tong)的(de)(de)(de)電阻率,因此測量清潔(jie)的(de)(de)(de)表面的(de)(de)(de)內(nei)在性(xing)能(neng)是 有(you)意義的(de)(de)(de)。應完整地規定(ding)為(wei)獲得(de)一致(zhi)的(de)(de)(de)結果(guo)而進行清潔(jie)處理的(de)(de)(de)程序(xu),并要記錄清潔(jie)過程中溶劑或其他 因素對于表面特(te)性(xing)可能(neng)產生的(de)(de)(de)影響.

表面(mian)電(dian)阻(zu),特別是當它較高時(shi),常(chang)(chang)以不規則方(fang)式(shi)變化(hua),且通(tong)常(chang)(chang)非常(chang)(chang)依賴(lai)于電(dian)化(hua)時(shi)間。因此,測量時(shi)通(tong) 常(chang)(chang)規定一分(fen)鐘的(de)電(dian)化(hua)時(shi)間。

5電(dian)源

要求(qiu)(qiu)有(you)很穩定的直流電(dian)(dian)壓源(yuan)(yuan)(yuan)。這可(ke)用蓄電(dian)(dian)池或一•個整流穩壓的電(dian)(dian)源(yuan)(yuan)(yuan)來(lai)提供。對電(dian)(dian)源(yuan)(yuan)(yuan)的穩定度要求(qiu)(qiu) 是由電(dian)(dian)壓變(bian)(bian)化(hua)導致的電(dian)(dian)流變(bian)(bian)化(hua)與被測(ce)電(dian)(dian)流相比可(ke)忽略不計(ji)。

加到整個試樣上的試驗(yan)電(dian)壓通常(chang)規定為100 V.250 V.500 va 000 V、2 500 V,5 000 VJO 000 V 和(he)15 000 V。電(dian)壓是100 V.500 V和(he)1 000 V。

在(zai)某些情況(kuang)下(xia),試樣的電阻與施加電壓的極性有關。

如果電阻是與極性有關的(de)(de),則宜加以注明。取兩次電阻值(zhi)的(de)(de)幾何平均值(zhi)(對數算術平均值(zhi)的(de)(de)反對 數)作為結果。

由于試(shi)樣電(dian)(dian)阻可(ke)能與電(dian)(dian)壓有(you)依存關系,因此應(ying)在(zai)報(bao)告中注明(ming)試(shi)驗電(dian)(dian)壓值。

6測量方法和(he)精確度

6. 1方法(fa)

測量高電阻(zu)常用的方法(fa)是直接法(fa)或(huo)比較法(fa)。

直接法是測(ce)量加在試樣上的直流(liu)電壓和流(liu)過它的電流(liu)(伏安(an)法)而求(qiu)得未(wei)知電阻。

比(bi)較(jiao)法是(shi)確定電(dian)(dian)橋(qiao)線路(lu)中試樣未知電(dian)(dian)阻與電(dian)(dian)阻器(qi)已知電(dian)(dian)阻之間的比(bi)值,或(huo)是(shi)在固定電(dian)(dian)壓下比(bi)較(jiao)通(tong)

過這兩(liang)種電阻(zu)的電流(liu)。

附錄(lu)A給出了描述(shu)這些原理(li)的例子(zi)。

伏(fu)安(an)法(fa)需要一(yi)適當精度的(de)伏(fu)特表,但(dan)該方法(fa)的(de)靈敏(min)度和精確度主要取決于電(dian)流測量裝置(zhi)的(de)性能(neng),該 裝置(zhi)可以是一(yi)個檢流計或電(dian)子放大器(qi)或靜電(dian)計。

電(dian)(dian)橋(qiao)法(fa)只需要一(yi)靈敏的(de)電(dian)(dian)流檢測(ce)器(qi)作為零點指示器(qi),測(ce)量精確度主要取決于(yu)已知(zhi)的(de)橋(qiao)臂電(dian)(dian)阻(zu)器(qi),這 些橋(qiao)臂電(dian)(dian)阻(zu)應(ying)在寬的(de)電(dian)(dian)阻(zu)值范圍(wei)內具有高的(de)精密度和(he)穩定(ding)性。

電(dian)流比較(jiao)法的(de)精(jing)確(que)度取決于(yu)已知電(dian)阻(zu)器(qi)的(de)精(jing)確(que)度和電(dian)流測量裝置(zhi),包(bao)括(kuo)與它相連(lian)的(de)測量電(dian)阻(zu)器(qi)的(de) 穩(wen)定度和線性度。只(zhi)要(yao)電(dian)壓是恒定的(de),電(dian)流的(de)確(que)切數(shu)值并不重要(yao)。

對于不大(da)于IO11 Q的電阻(zu)(zu),可(ke)以按照11. 1用檢流(liu)計采用伏特計一安培計法來測定(ding)其(qi)體積電阻(zu)(zu)率。 對于較高的電阻(zu)(zu),則推薦(jian)使用直流(liu)放大(da)器(qi)或靜(jing)電計。

在電橋法中,不可能直接(jie)測量短路試樣(yang)中的(de)電流(見11. 1)。

利用電流測(ce)量裝置的方(fang)法可以(yi)自動記(ji)錄電流,以(yi)簡(jian)化(hua)穩態測(ce)試過程(cheng)(見(jian)11. l)o

現已(yi)有測量(liang)高電阻的一些(xie)專門的線路和(he)儀器。只要它們(men)有足(zu)夠的精(jing)確度(du)和(he)穩定度(du),且在(zai)(zai)需要時能 使(shi)試樣*短路并在(zai)(zai)電化前(qian)測量(liang)電流(liu)者,均可使(shi)用.

6.2精確(que)度

對于低于io10 n的電阻,測量(liang)(liang)裝置測量(liang)(liang)未(wei)知電阻的總(zong)精確(que)度應(ying)至少(shao)為(wei)(wei)士io%。而對于更高的電 阻,總(zong)精確(que)度應(ying)至少(shao)為(wei)(wei)士20%。詳見附錄A。

6.3保護(hu)

組成測量線路的(de)絕緣材料,最好(hao)應具有與被試(shi)材料差(cha)不多的(de)性(xing)能。試(shi)樣的(de)測量誤(wu)差(cha)可以由(you)下列(lie)原 因產(chan)生:

a) 外來寄(ji)生電壓引起的(de)雜散(san)電流,通(tong)常不知道它的(de)大小,并具有漂移的(de)特(te)點;

b) 具(ju)有未(wei)知而(er)易變(bian)的(de)(de)電(dian)(dian)阻(zu)值的(de)(de)絕(jue)緣與試樣(yang)電(dian)(dian)阻(zu)、標(biao)準(zhun)電(dian)(dian)阻(zu)器或電(dian)(dian)流測量裝置的(de)(de)不正常(chang)的(de)(de)分路.

使線路(lu)所有部分在使用狀(zhuang)態下有盡可(ke)能高(gao)的絕緣電阻(zu)來近似地(di)修正這(zhe)些影響因素。這(zhe)種(zhong)做法可(ke)能 導致測(ce)試(shi)設備(bei)很笨重(zhong),而又不足以測(ce)量高(gao)于幾(ji)百兆歐(ou)的絕緣電阻(zu)。較為滿意(yi)的修正方法是使用保護技 術來實現。

保(bao)(bao)(bao)護(hu)就是(shi)在所(suo)(suo)有關鍵的(de)絕緣部位插入保(bao)(bao)(bao)護(hu)導體(ti),保(bao)(bao)(bao)護(hu)導體(ti)截住所(suo)(suo)有可能引(yin)起誤差的(de)雜散電(dian)流(liu)。這 些保(bao)(bao)(bao)護(hu)導體(ti)聯接在一起,組成保(bao)(bao)(bao)護(hu)系統(tong)并與測量端(duan)形(xing)成三端(duan)網絡(luo)。當線(xian)路(lu)(lu)聯接恰當時(shi),所(suo)(suo)有外(wai)來寄(ji)生(sheng)電(dian) 壓(ya)產生(sheng)的(de)雜散電(dian)流(liu)被保(bao)(bao)(bao)護(hu)系統(tong)分流(liu)到測量電(dian)路(lu)(lu)以外(wai),任(ren)一測量端(duan)到保(bao)(bao)(bao)護(hu)系統(tong)的(de)絕緣電(dian)阻與一電(dian)阻低(di)得(de) 多的(de)線(xian)路(lu)(lu)元件并聯,試樣(yang)電(dian)阻僅限于兩測量端(duan)之間。采用(yong)這個技(ji)術可大大地減小誤差概率。圖(tu)1為使(shi) 用(yong)保(bao)(bao)(bao)護(hu)電(dian)極(ji)測量體(ti)積電(dian)阻和表(biao)面電(dian)阻的(de)基本線(xian)路(lu)(lu)。

圖5和圖7給出了電(dian)流(liu)測(ce)量法(fa)中保(bao)(bao)(bao)(bao)護系(xi)統的(de)(de)使用方法(fa),圖中指(zhi)出保(bao)(bao)(bao)(bao)護系(xi)統接(jie)到電(dian)源和電(dian)流(liu)測(ce)量裝 置的(de)(de)連(lian)接(jie)點(dian)。圖6表示惠斯(si)登(deng)電(dian)橋法(fa),其保(bao)(bao)(bao)(bao)護系(xi)統接(jie)到兩個較(jiao)低電(dian)阻值的(de)(de)橋臂(bei)的(de)(de)連(lian)接(jie)點(dian)上。在(zai)所有情 況下,保(bao)(bao)(bao)(bao)護系(xi)統必須完善(shan),包括對測(ce)試人(ren)員在(zai)測(ce)量時(shi)操作(zuo)的(de)(de)任(ren)何(he)控制(zhi)儀器的(de)(de)保(bao)(bao)(bao)(bao)護。

在(zai)(zai)保(bao)護端和(he)被保(bao)護端之(zhi)間所(suo)存在(zai)(zai)的電解電動(dong)勢(shi)(shi)、接(jie)觸電動(dong)勢(shi)(shi)或熱電動(dong)勢(shi)(shi)較小時,均能被補償掉,使 這樣的電動(dong)勢(shi)(shi)在(zai)(zai)測(ce)量中不會引入(ru)顯著的誤差(cha)。

在電(dian)(dian)(dian)流測量(liang)(liang)法(fa)中,由于(yu)電(dian)(dian)(dian)流測量(liang)(liang)裝置與被保護(hu)端(duan)和(he)保護(hu)系統之間的(de)電(dian)(dian)(dian)阻(zu)并聯可能產生(sheng)誤差,因此(ci), 這個電(dian)(dian)(dian)阻(zu)宜至(zhi)少為電(dian)(dian)(dian)流測量(liang)(liang)裝置電(dian)(dian)(dian)阻(zu)的(de)10倍,最(zui)好(hao)為100倍。在有些電(dian)(dian)(dian)橋法(fa)中,保護(hu)端(duan)和(he)測量(liang)(liang)端(duan)具有 大致相同的(de)電(dian)(dian)(dian)位,不(bu)過電(dian)(dian)(dian)橋中的(de)一個標準電(dian)(dian)(dian)阻(zu)器與不(bu)保護(hu)端(duan)和(he)保護(hu)系統之間的(de)電(dian)(dian)(dian)阻(zu)是并聯的(de)。這個電(dian)(dian)(dian) 阻(zu)應至(zhi)少為標準電(dian)(dian)(dian)阻(zu)的(de)10倍,最(zui)好(hao)為100倍。

為確保設備(bei)的(de)(de)操作(zuo)令人(ren)滿意,應(ying)先(xian)斷(duan)開電(dian)源和(he)試樣的(de)(de)連線進行一(yi)次測量。此時(shi),設備(bei)應(ying)在它的(de)(de)靈敏 度許可范圍內指示(shi)出無(wu)窮大(da)的(de)(de)電(dian)阻。如果有一(yi)些已知電(dian)阻值的(de)(de)標準電(dian)阻,則可用來檢查(cha)設備(bei)運(yun)行是否(fou) 良好。

7試樣

7. 1體積電阻(zu)率

為(wei)測(ce)定體積(ji)(ji)電(dian)阻率,試樣(yang)的(de)(de)形狀不(bu)限,只(zhi)要能允(yun)許(xu)使用第三電(dian)極來抵消表面效應引起的(de)(de)誤差即可(ke)。 對(dui)于(yu)表面泄漏可(ke)忽(hu)略不(bu)計的(de)(de)試樣(yang),測(ce)量(liang)體積(ji)(ji)電(dian)阻時可(ke)去掉保(bao)護(hu),只(zhi)要已證明(ming)去掉保(bao)護(hu)對(dui)結果的(de)(de)影響(xiang)可(ke)忽(hu) 略不(bu)計。

在(zai)被(bei)保(bao)護(hu)電極(ji)(ji)與保(bao)護(hu)電極(ji)(ji)之間(jian)的(de)試樣表面上的(de)間(jian)隙(xi)(xi)要有(you)均勻(yun)的(de)寬度,并(bing)且在(zai)表面泄(xie)漏不致于引起 測量誤(wu)差的(de)條件(jian)下間(jian)隙(xi)(xi)應盡可(ke)能的(de)窄。1 mm的(de)間(jian)隙(xi)(xi)通(tong)常(chang)為切實可(ke)行(xing)的(de)最小(xiao)間(jian)隙(xi)(xi)。

圖(tu)2及圖(tu)3給出了(le)三(san)電極(ji)(ji)(ji)裝(zhuang)置的(de)例子(zi)。在測量體積電阻時,電極(ji)(ji)(ji)1是被保(bao)(bao)護(hu)(hu)電極(ji)(ji)(ji),電極(ji)(ji)(ji)2為(wei)保(bao)(bao)護(hu)(hu)電 極(ji)(ji)(ji),電極(ji)(ji)(ji)3為(wei)不保(bao)(bao)護(hu)(hu)電極(ji)(ji)(ji)。被保(bao)(bao)護(hu)(hu)電極(ji)(ji)(ji)的(de)直(zhi)(zhi)徑(jing)(jing)M (圖(tu)2)或長度(du)(du)丄(圖(tu)3)應(ying)至(zhi)少(shao)為(wei)試樣厚度(du)(du)/1的(de)10倍(bei),通(tong) 常至(zhi)少(shao)為(wei)25 mm。不保(bao)(bao)護(hu)(hu)電極(ji)(ji)(ji)的(de)直(zhi)(zhi)徑(jing)(jing)也(或長度(du)(du)厶)和(he)保(bao)(bao)護(hu)(hu)電極(ji)(ji)(ji)的(de)外(wai)直(zhi)(zhi)徑(jing)(jing)公(或保(bao)(bao)護(hu)(hu)電極(ji)(ji)(ji)兩外(wai)邊(bian)緣之間 的(de)長度(du)(du)G應(ying)該等于保(bao)(bao)護(hu)(hu)電極(ji)(ji)(ji)的(de)內徑(jing)(jing)必(或保(bao)(bao)護(hu)(hu)電極(ji)(ji)(ji)兩內邊(bian)緣之間的(de)長度(du)(du)上)加(jia)上至(zhi)少(shao)2倍(bei)的(de)試樣 厚度(du)(du)。

7.2表面(mian)電阻率

為(wei)測定(ding)表(biao)面電(dian)(dian)阻(zu)率,試(shi)樣的(de)(de)(de)(de)形狀不限,只要允許使用(yong)(yong)第三電(dian)(dian)極(ji)(ji)(ji)來抵消體積(ji)效應(ying)引起的(de)(de)(de)(de)誤差鄭可(ke)(ke)(ke)。推(tui) 薦使用(yong)(yong)圖2及圖3所示(shi)(shi)的(de)(de)(de)(de)三電(dian)(dian)極(ji)(ji)(ji)裝(zhuang)置。用(yong)(yong)電(dian)(dian)極(ji)(ji)(ji)1作為(wei)被保護電(dian)(dian)極(ji)(ji)(ji),電(dian)(dian)極(ji)(ji)(ji)3作為(wei)保護電(dian)(dian)極(ji)(ji)(ji),電(dian)(dian)極(ji)(ji)(ji)2作為(wei)不 保護電(dian)(dian)極(ji)(ji)(ji)。可(ke)(ke)(ke)直接測量電(dian)(dian)極(ji)(ji)(ji)1和(he)(he)2之間(jian)表(biao)面間(jian)隙的(de)(de)(de)(de)電(dian)(dian)阻(zu),這樣測得(de)的(de)(de)(de)(de)電(dian)(dian)阻(zu)包(bao)括了電(dian)(dian)極(ji)(ji)(ji)1和(he)(he)2之間(jian)的(de)(de)(de)(de)表(biao) 面電(dian)(dian)阻(zu)和(he)(he)這兩個電(dian)(dian)極(ji)(ji)(ji)間(jian)的(de)(de)(de)(de)體積(ji)電(dian)(dian)阻(zu)。然而,對于很寬范圍的(de)(de)(de)(de)環境條件和(he)(he)材料性能,當電(dian)(dian)極(ji)(ji)(ji)尺寸合適時, 體積(ji)電(dian)(dian)阻(zu)的(de)(de)(de)(de)影響可(ke)(ke)(ke)忽(hu)略不計。為(wei)此,對于圖2和(he)(he)圖3所示(shi)(shi)的(de)(de)(de)(de)裝(zhuang)置,電(dian)(dian)極(ji)(ji)(ji)的(de)(de)(de)(de)間(jian)隙寬度g至少應(ying)為(wei)試(shi)樣厚度 的(de)(de)(de)(de)2倍,一般說(shuo)來,〕mm為(wei)切實可(ke)(ke)(ke)行的(de)(de)(de)(de)最小間(jian)原(yuan)。被保護電(dian)(dian)極(ji)(ji)(ji)尺寸払(或長度ZQ應(ying)至少為(wei)試(shi)樣厚度先 的(de)(de)(de)(de)10倍,通常至少為(wei)25 mm。

也(ye)可以(yi)使用條形電極或(huo)具有(you)合(he)適(shi)尺(chi)寸的其他裝置。

注:由于通過試(shi)樣(yang)內層的(de)(de)電(dian)(dian)流的(de)(de)影(ying)響(xiang),表(biao)面電(dian)(dian)阻率的(de)(de)計(ji)算值與試(shi)樣(yang)和電(dian)(dian)極(ji)的(de)(de)尺(chi)寸有很大的(de)(de)關系,因此,為了測定時 可進行比較,推薦使用(yong)與圖2所示(shi)的(de)(de)電(dian)(dian)極(ji)裝置的(de)(de)尺(chi)寸相一致(zhi)的(de)(de)試(shi)樣(yang),其中由=5。=60

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