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100MHZ高頻介電常數測試儀

型 號GDAT-A

更(geng)新時間2023-12-25

廠商(shang)性質生產廠家

報(bao)價

產品描述:100MHZ高頻介電常數測試儀介電常數介質損耗測試儀B“Q"的定義
Q表是根據串聯諧振原理設計,以諧振電壓的比值來定位Q值。
“Q"表示元件或系統的“品質因數",其物理含義是在一個振蕩周期內貯存的能量與損耗的能量之比。對于電抗元件(電感或電容)來說,即在測試頻率上呈現的電抗與電阻之比。

產品概述

100MHZ高頻(pin)介電常數測(ce)(ce)試(shi)儀Q表的工作原理框圖如圖二所示。它(ta)以ATM128單(dan)片機作為控(kong)制(zhi)核心(xin),實(shi)現對(dui)各(ge)種功能的控(kong)制(zhi)。數字直接合成(cheng)信(xin)(xin)(xin)(xin)(xin)號(hao)(hao)(hao)源為Q值(zhi)測(ce)(ce)量提供了(le)一(yi)(yi)個(ge)優質的高頻(pin)信(xin)(xin)(xin)(xin)(xin)號(hao)(hao)(hao)。信(xin)(xin)(xin)(xin)(xin)號(hao)(hao)(hao)源輸出(chu)一(yi)(yi)路(lu)送(song)到(dao)(dao)程控(kong)衰減器(qi)和自(zi)(zi)動(dong)穩幅(fu)放(fang)大控(kong)制(zhi)單(dan)元(yuan)(yuan),該單(dan)元(yuan)(yuan)根(gen)據CPU的指令對(dui)信(xin)(xin)(xin)(xin)(xin)號(hao)(hao)(hao)衰減后(hou)送(song)往信(xin)(xin)(xin)(xin)(xin)號(hao)(hao)(hao)激(ji)(ji)勵放(fang)大器(qi),同時(shi)對(dui)信(xin)(xin)(xin)(xin)(xin)號(hao)(hao)(hao)檢(jian)波(bo)(bo)(bo)后(hou)送(song)出(chu)一(yi)(yi)直流(liu)控(kong)制(zhi)信(xin)(xin)(xin)(xin)(xin)號(hao)(hao)(hao)到(dao)(dao)壓(ya)控(kong)信(xin)(xin)(xin)(xin)(xin)號(hao)(hao)(hao)源實(shi)現自(zi)(zi)動(dong)穩幅(fu)。信(xin)(xin)(xin)(xin)(xin)號(hao)(hao)(hao)激(ji)(ji)勵部分(fen)(fen)輸出(chu)送(song)到(dao)(dao)一(yi)(yi)個(ge)寬(kuan)帶分(fen)(fen)壓(ya)器(qi),由分(fen)(fen)壓(ya)器(qi)饋(kui)給(gei)測(ce)(ce)試(shi)調(diao)諧(xie)(xie)回路(lu)一(yi)(yi)個(ge)恒定幅(fu)度(du)的信(xin)(xin)(xin)(xin)(xin)號(hao)(hao)(hao)。當(dang)測(ce)(ce)試(shi)回路(lu)處于諧(xie)(xie)振狀態(tai)時(shi),在調(diao)諧(xie)(xie)電容CT兩(liang)端的信(xin)(xin)(xin)(xin)(xin)號(hao)(hao)(hao)幅(fu)度(du)將是分(fen)(fen)壓(ya)器(qi)提供的信(xin)(xin)(xin)(xin)(xin)號(hao)(hao)(hao)幅(fu)度(du)Q倍。在CT兩(liang)端取得的調(diao)諧(xie)(xie)信(xin)(xin)(xin)(xin)(xin)號(hao)(hao)(hao)被信(xin)(xin)(xin)(xin)(xin)號(hao)(hao)(hao)放(fang)大單(dan)元(yuan)(yuan)適當(dang)放(fang)大后(hou)送(song)到(dao)(dao)檢(jian)波(bo)(bo)(bo)和數字取樣(yang)單(dan)元(yuan)(yuan),檢(jian)波(bo)(bo)(bo)后(hou)送(song)到(dao)(dao)控(kong)制(zhi)中心(xin)CPU去進(jin)行數據處理。

調諧電容帶動傳感器,不斷地將電容變化的信息送往中心控制CPU,經處理后計算出電容值,再根據頻率值計算出諧振時的頻率值。  
調諧電容有步進馬達帶動,根據不同電容值由CPU計算脈沖數去控制馬達。電容值可預置并可電容搜索。  
Q表工作頻(pin)率值(zhi)、頻(pin)段、主調電(dian)容器值(zhi)、諧(xie)振(zhen)電(dian)感值(zhi)、Q值(zhi)、Q值(zhi)比較(jiao)設置狀態(tai)、Q值(zhi)量程、手(shou)/自(zi)動狀態(tai)、頻(pin)率或(huo)電(dian)容搜(sou)索指示、Q值(zhi)調諧(xie)指示帶(dai)都顯示在液晶屏(ping)上,如圖三所示。

 GBT 1409-2006 測量電氣絕緣材料在(zai)工頻(pin)、音頻(pin)、高頻(pin)(包括(kuo)米波(bo)波(bo)長在(zai)

內)下電容率和介質損耗因數的推薦方法(fa)

平板電容極片Φ50mm/Φ38mm
可選頻率范圍20KHz-60MHz/200KHz-160MHz
間距可調范圍≥15mm
頻率指示誤差3×10-5±1個字
夾具插頭間距25mm±0.01mm
主電容調節范圍30-500/18-220pF
測微桿分辨率0.001mm
主調電容誤差<1%或1pF
夾具損耗角正(zheng)切值≦4×10-4 (1MHz)

1.檢驗環境要求

a.環境溫度:20℃±2℃,相對濕度<50%;
b.供電電源:220V±10V,50Hz±1Hz;
c.被檢設備要預熱(re)30分鐘以上。

2.檢驗設備要求
a. 設備應在計量后的有效使用期內;
b. 檢驗設備應按儀器規定預熱。
3.Q值指示檢驗
a.檢驗設備:標準線圈一套;
b.把標準Q值線圈接入Q表電感接線柱上;
c.選擇標準Q值線圈所規定的檢定頻率;
d.Q表的Q值讀數的相對誤差應符合二.1.C條中的固有誤差之規定。
4.調諧電容器準確度檢驗
a. 測試時如發現干擾,應斷開內部信號源;
b.設備連接(jie)(jie)如圖六(liu)所示(shi),連接(jie)(jie)線應盡量短,盡可能(neng)減小分布電容(rong);

100MHZ高頻介電常數測試儀特(te)點:

1. 優化的測試電路設計使殘值更(geng)小(xiao)

2. 高頻信號采(cai)用數碼調(diao)諧器和頻率(lv)鎖定技(ji)術

3. LED 數字讀出品(pin)質因數,手動/自動量程切(qie)換

4. 自動掃描被測件諧振點,標頻單鍵設置和鎖定,大大提高測試速度1.Q值測量
a.Q值測量范圍:2~1023。
b.Q值量程分檔:30、100、300、1000、自動換檔或手動換檔。
c.標稱誤差
頻率范圍20kHz~10MHz;
固有誤差5%滿度值的2%;
工作誤差7%滿度值的2%;
頻率范圍10MHz~60MHz;
固有誤差6%;滿度值的2%;
工作誤差8%;滿度值的2%。
2.電感測量范圍:14.5nH~8.14H
3.電容測量:1~ 460
直接測量范圍1~460pF
主電容調節范圍30~500pF150pF以下±1.5pF;
準確度150pF以上±1%
注:大于直接測量范圍的電容測量見使用規則
4.信號源頻率覆蓋范圍
頻率范圍10kHz~50MHz
頻率分段(虛擬)
10~99.9999kHz
100~999.999kHz
1~9.99999MHz
10~60MHz
頻率指示誤差3times;10-5plusmn;1個字
5.Q合格指示預置功能
預置范圍:5~1000。
a. 環境溫度:0℃~+40℃
b.相對濕度:<80%;
c.電源:220Vplusmn;22V,50Hzplusmn;2.5Hz。
7.其他
a.消耗功率:約25W;
b.凈重:約7kg;
c. 外型尺寸:mm:380*132*280。
8.產品配置:
a.測試主機一臺;
b.電感9只;
c.夾具一 套

陶瓷材料的損耗

陶瓷材料的介質(zhi)損耗(hao)(hao)(hao)主(zhu)要來源于(yu)電導損耗(hao)(hao)(hao)、松弛質(zhi)點(dian)的極化(hua)損耗(hao)(hao)(hao)和結構損耗(hao)(hao)(hao)。此外,表面氣孔吸附水(shui)分、油污及灰(hui)塵等造成的表面電導也會引起(qi)較大的損耗(hao)(hao)(hao)。

在結(jie)構緊密的陶瓷(ci)中,介質(zhi)損(sun)耗主要來源于玻(bo)(bo)璃相。為了改善某些陶瓷(ci)的工藝性能(neng),往往在配方中引人此易熔物質(zhi)(如黏土(tu)),形成(cheng)玻(bo)(bo)璃相,這(zhe)樣就使損(sun)耗增大(da)(da)。如滑石瓷(ci)、尖晶石瓷(ci)隨(sui)黏土(tu)含量增大(da)(da),介質(zhi)損(sun)耗也增大(da)(da)。因(yin)面一般高(gao)頻瓷(ci),如氧(yang)化鋁瓷(ci)、金紅(hong)石等(deng)很少含有玻(bo)(bo)璃相。大(da)(da)多(duo)數電陶瓷(ci)的離子松(song)弛(chi)極化損(sun)耗較(jiao)大(da)(da),主要的原因(yin)是:主晶相結(jie)構松(song)散,生成(cheng)了缺固(gu)濟體、多(duo)品型轉變等(deng)。

漏導損耗

實際使用中的(de)(de)絕緣材料都(dou)(dou)不是完善的(de)(de)理(li)想的(de)(de)電(dian)(dian)(dian)(dian)介(jie)質(zhi),在(zai)外(wai)電(dian)(dian)(dian)(dian)場(chang)的(de)(de)作用下,總有一(yi)(yi)些(xie)帶電(dian)(dian)(dian)(dian)粒子會發生(sheng)移動(dong)而引起微(wei)弱的(de)(de)電(dian)(dian)(dian)(dian)流(liu),這種微(wei)小(xiao)電(dian)(dian)(dian)(dian)流(liu)稱(cheng)為漏(lou)導(dao)(dao)電(dian)(dian)(dian)(dian)流(liu),漏(lou)導(dao)(dao)電(dian)(dian)(dian)(dian)流(liu)流(liu)經介(jie)質(zhi)時使介(jie)質(zhi)發熱而損(sun)耗了電(dian)(dian)(dian)(dian)能。這種因電(dian)(dian)(dian)(dian)導(dao)(dao)而引起的(de)(de)介(jie)質(zhi)損(sun)耗稱(cheng)為“漏(lou)導(dao)(dao)損(sun)耗”。由于實阿的(de)(de)電(dian)(dian)(dian)(dian)介(jie)質(zhi)總存(cun)(cun)在(zai)一(yi)(yi)些(xie)缺陷,或多或少(shao)存(cun)(cun)在(zai)一(yi)(yi)些(xie)帶電(dian)(dian)(dian)(dian)粒子或空位,因此介(jie)質(zhi)不論(lun)在(zai)直流(liu)電(dian)(dian)(dian)(dian)場(chang)或交變電(dian)(dian)(dian)(dian)場(chang)作用下都(dou)(dou)會發生(sheng)漏(lou)導(dao)(dao)損(sun)耗。

介(jie)質(zhi)損(sun)(sun)(sun)耗(hao):絕緣(yuan)材料(liao)在電場作(zuo)用下,由于介(jie)質(zhi)電導和(he)介(jie)質(zhi)極(ji)化的(de)(de)滯后效(xiao)應,在其內部引(yin)起(qi)的(de)(de)能(neng)量(liang)損(sun)(sun)(sun)耗(hao)。也叫介(jie)質(zhi)損(sun)(sun)(sun)失,簡稱介(jie)損(sun)(sun)(sun)。在交變電場作(zuo)用下,電介(jie)質(zhi)內流(liu)過的(de)(de)電流(liu)相(xiang)量(liang)和(he)電壓(ya)相(xiang)量(liang)之間的(de)(de)夾角(功(gong)率因數角Φ)的(de)(de)余角δ稱為(wei)介(jie)質(zhi)損(sun)(sun)(sun)耗(hao)角。

主要技術特性:

介(jie)(jie)(jie)(jie)質損(sun)耗(hao)和(he)(he)介(jie)(jie)(jie)(jie)電(dian)(dian)(dian)(dian)常(chang)(chang)數是各種電(dian)(dian)(dian)(dian)瓷(ci)(ci)、裝置瓷(ci)(ci)、電(dian)(dian)(dian)(dian)容(rong)器(qi)等(deng)陶瓷(ci)(ci),還有復合材(cai)料等(deng)的(de)(de)一(yi)項重要的(de)(de)物(wu)理性(xing)質,通(tong)過(guo)測定(ding)(ding)介(jie)(jie)(jie)(jie)質損(sun)耗(hao)角(jiao)正切tanδ及介(jie)(jie)(jie)(jie)電(dian)(dian)(dian)(dian)常(chang)(chang)數(ε),可進一(yi)步了解(jie)影響(xiang)介(jie)(jie)(jie)(jie)質損(sun)耗(hao)和(he)(he)介(jie)(jie)(jie)(jie)電(dian)(dian)(dian)(dian)常(chang)(chang)數的(de)(de)各種因(yin)素,為(wei)提高(gao)(gao)材(cai)料的(de)(de)性(xing)能提供依據;儀(yi)器(qi)的(de)(de)基(ji)本原(yuan)理是采用高(gao)(gao)頻(pin)(pin)諧振法,并提供了,通(tong)用、多(duo)用途、多(duo)量(liang)(liang)程的(de)(de)阻(zu)(zu)抗測試(shi)。它以單(dan)片計算機作為(wei)儀(yi)器(qi)的(de)(de)控制,測量(liang)(liang)核心(xin)采用了頻(pin)(pin)率數字鎖定(ding)(ding),標準頻(pin)(pin)率測試(shi)點自(zi)動(dong)設定(ding)(ding),諧振點自(zi)動(dong)搜索,Q值量(liang)(liang)程自(zi)動(dong)轉換,數值顯示等(deng)新(xin)技(ji)術,改進了調(diao)諧回(hui)(hui)(hui)路,使(shi)(shi)得調(diao)諧測試(shi)回(hui)(hui)(hui)路的(de)(de)殘余電(dian)(dian)(dian)(dian)感(gan)(gan)(gan)減(jian)至低,并保(bao)留(liu)了原(yuan)Q表中自(zi)動(dong)穩幅(fu)等(deng)技(ji)術,使(shi)(shi)得新(xin)儀(yi)器(qi)在使(shi)(shi)用時更為(wei)方便,測量(liang)(liang)值。儀(yi)器(qi)能在較(jiao)高(gao)(gao)的(de)(de)測試(shi)頻(pin)(pin)率條件下,測量(liang)(liang)高(gao)(gao)頻(pin)(pin)電(dian)(dian)(dian)(dian)感(gan)(gan)(gan)或諧振回(hui)(hui)(hui)路的(de)(de)Q值,電(dian)(dian)(dian)(dian)感(gan)(gan)(gan)器(qi)的(de)(de)電(dian)(dian)(dian)(dian)感(gan)(gan)(gan)量(liang)(liang)和(he)(he)分布電(dian)(dian)(dian)(dian)容(rong)量(liang)(liang),電(dian)(dian)(dian)(dian)容(rong)器(qi)的(de)(de)電(dian)(dian)(dian)(dian)容(rong)量(liang)(liang)和(he)(he)損(sun)耗(hao)角(jiao)正切值,電(dian)(dian)(dian)(dian)工材(cai)料的(de)(de)高(gao)(gao)頻(pin)(pin)介(jie)(jie)(jie)(jie)質損(sun)耗(hao),高(gao)(gao)頻(pin)(pin)回(hui)(hui)(hui)路有效并聯及串(chuan)聯電(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu),傳輸線的(de)(de)特性(xing)阻(zu)(zu)抗等(deng)。

行:左(zuo)邊  信號(hao)源頻率(lv)指示,共6位

第(di)二(er)行:左邊  調諧電(dian)容指示值,4位

第三(san)行:左(zuo)邊  Q值指示值   

第(di)四(si)行:左邊&nbsp; Q值(zhi)量程(cheng),手(shou)動(dong)/自動(dong)切換(huan)指示/調諧點自動(dong)搜(sou)索指示

右邊(bian)下(xia)部  Q值(zhi)調諧光帶指(zhi)示

采(cai)用了較低的臺式機箱,面(mian)板采(cai)用PC絲印面(mian)板,美觀大方。

前面板各功能鍵說明:

作頻段(duan)選擇/2按(an)鍵(jian)(jian),每按(an)一次,切換至(zhi)高一個頻段(duan)工作;先(xian)按(an)12鍵(jian)(jian)后,再按(an)此鍵(jian)(jian),功能為數字鍵(jian)(jian)2。

Q值高一檔量程選擇(手(shou)動(dong)方式時有(you)效)/4按鍵(jian)(jian);先按12鍵(jian)(jian)后,再按此(ci)鍵(jian)(jian),功能為數字(zi)鍵(jian)(jian)4。

諧振(zhen)點電容搜索/6按鍵(jian),按此(ci)(ci)鍵(jian)后,電容指示不斷在(zai)變化(hua)、步(bu)進馬達發出(chu)輕微的聲響時儀器正工(gong)作(zuo)在(zai)電容自(zi)動搜索被測(ce)量器件的諧振(zhen)點,如需(xu)退出(chu)搜索,再(zai)按此(ci)(ci)鍵(jian);先按12鍵(jian)后,再(zai)按此(ci)(ci)鍵(jian),功能為(wei)數字(zi)鍵(jian)6。

 

Q值合(he)格(ge)(ge)范(fan)圍比較值設定/7按鍵(jian),按此(ci)鍵(jian)后(hou)(hou),顯示屏第三行(xing)右部出現COMP字(zi)符,當Q合(he)格(ge)(ge)時,顯示OK,並同時鳴響蜂(feng)鳴器(qi),Q不合(he)格(ge)(ge)時,顯示NO。設置(zhi)Q值合(he)格(ge)(ge)范(fan)圍詳細說明(ming)見后(hou)(hou)頁。先(xian)按12鍵(jian)后(hou)(hou),再按此(ci)鍵(jian),功能(neng)為數字(zi)鍵(jian)7。

 

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