BEST絕緣電阻測試儀測試電壓 （V）  10  50   100  250  500  1000 電阻測量范圍 1×104Ω ～1×1018 Ω；電流測量范圍 2×10-4Ａ ～1×10-16Ａ；體積小、重量輕、準確度高；*的被測電阻、和流過電阻的電流雙顯示，使操作測量更加方便；性能穩定、讀數方便；既能測電阻又能測電流；測試電壓有六種選擇DC10V、50V、100V、250V、500V、1000V；使用操作簡便，在任何電阻量程和測試電壓下均直接讀顯示數字結果，免去要乘以一個系數的麻煩，使測量超高電阻就如用萬用表測量普通電阻樣簡便。

在某些(xie)情況下，試樣的(de)電阻(zu)與(yu)施加電壓(ya)的(de)極性(xing)有關。

表面(mian)電阻和體積電阻(見(jian)GB／T 10064—2006)。

因(yin)此測量清潔的(de)表面的(de)內在性能是有(you)意(yi)義的(de)。

電阻率隨溫(wen)度(du)和濕度(du)的變化而顯(xian)著變。因此在為一些運行條件而設計時對其了解。體(ti)積電阻率的測量常被用(yong)于檢查絕緣材料生產是

施加電(dian)壓的大小和(he)時間l電(dian)極的性質(zhi)和(he)尺(chi)寸；在試(shi)樣(yang)處(chu)理和(he)測試(shi)過程(cheng)中周圍大氣(qi)條件(jian)和(he)試(shi)樣(yang)的溫度、濕度。

面電阻或表(biao)面電導。測得的值主要反映被測試樣(yang)表(biao)面污(wu)染(ran)的特(te)性。而且試樣(yang)的電容率(lv)影(ying)響污(wu)染(ran)物質的

方法(fa)

注，表(biao)面電阻(zu)率的s1單位是n。實(shi)際上有時也甩。歐每平(ping)方(fang)單位”來(lai)表(biao)示·

比較(jiao)法是確(que)定(ding)電橋線路中試樣未(wei)知電阻與電阻器(qi)已知電阻之間的比值(zhi)。或是在固(gu)定(ding)電壓下比較(jiao)通表面(mian)電阻

在試樣兩(liang)相對表面上(shang)放置的兩(liang)電(dian)極問所(suo)加直流電(dian)壓與(yu)流過這兩(liang)個電(dian)極之間的穩態(tai)電(dian)流之商·不包

BEST絕緣電阻測試儀

特別是(shi)當它(ta)較高(gao)時，常以不規則方式變(bian)化，且(qie)通常非常依賴于電化時間。因此，測量(liang)時通

電極是(shi)具有(you)一(yi)定形狀(zhuang)、尺(chi)寸和結(jie)構的(de)(de)與被測試樣相接(jie)觸的(de)(de)導體。

由(you)于試樣電阻可(ke)能與(yu)電壓有(you)依存關系，因此應在(zai)報告中(zhong)注明試驗電壓值。

性能(neng)。表面電(dian)阻(zu)隨濕度(du)變(bian)化很快，而體(ti)積電(dian)阻(zu)隨溫度(du)變(bian)化卻很慢(man)，盡管其(qi)終(zhong)的變(bian)化也許較大。

材料體積電(dian)阻和表(biao)面電(dian)阻的測(ce)定程序及體積電(dian)阻率和表(biao)面電(dian)阻率的計算方(fang)法． 體積電(dian)阻和表(biao)面電(dian)阻的試驗都受到下列因素影響(xiang)：

性能。表面電阻隨(sui)濕度變(bian)化(hua)很(hen)快，而體積電阻隨(sui)溫度變(bian)化(hua)卻很(hen)慢，盡(jin)管其終(zhong)的變(bian)化(hua)也許較大。

凡是不注日期的引用文(wen)件(jian)，其版本(ben)適用于本(ben)標準·

當一(yi)直流(liu)電壓加在(zai)與試(shi)樣(yang)(yang)相接觸(chu)的兩(liang)電極(ji)之間時，通過試(shi)樣(yang)(yang)的電流(liu)會(hui)漸近地減小到(dao)一(yi)個(ge)穩定(ding)值·

由于(yu)試樣電(dian)阻可能(neng)與電(dian)壓有依存關(guan)系(xi)，因此應(ying)在報告中注明試驗電(dian)壓值。

電(dian)極elect=odes在絕緣材料的表面(mian)(mian)層里的直流電(dian)場強(qiang)度(du)與線(xian)電(dian)流密度(du)之商，即單(dan)位面(mian)(mian)積(ji)內(nei)的表面(mian)(mian)電(dian)阻。面(mian)(mian)積(ji)的大

特別是當它較高時，常以不(bu)規(gui)則方式變化，且通常非常依賴于電化時間。因此(ci)，測量時通

對于體積(ji)電(dian)阻率較高的(de)(de)材料(liao)，電(dian)流減(jian)小(xiao)的(de)(de)過程可(ke)能(neng)會持續到幾分(fen)鐘、幾小(xiao)時、幾天(tian)甚至幾星期。因此對于這樣的(de)(de)材料(liao)，采用較長的(de)(de)電(dian)化時間，且如果(guo)合適，可(ke)用體積(ji)電(dian)阻率與時間的(de)(de)關系來描述材料(liao)的(de)(de)特性。

GB／T 10064--2006測定固體(ti)絕緣材料絕緣電阻的試驗方法(IEC 60167 11964，IDT)

表面電(dian)阻率surface resistivity

特別是(shi)當它較(jiao)高時，常(chang)以不規則方式變化，且(qie)通常(chang)非(fei)常(chang)依賴于電化時間。因此，測量時通

表面電阻(zu)和體積電阻(zu)(見GB／T 10064—2006)。

加(jia)到整個試樣上的(de)(de)試驗電壓(ya)通常規定(ding)為100 V、250 V，500 V、1 000 V、2 500 V、5 000 V、10 000 V和(he)15 000 V。。它們的(de)(de)導電能力(li)又(you)受試樣的(de)(de)表面特(te)性所(suo)影響。

括沿(yan)試樣表面的(de)電(dian)流，在兩電(dian)極(ji)上可能形(xing)成(cheng)的(de)極(ji)化忽略不計。

電源(yuan)

GB／T 1410一．2006／IEC 60093；1980

凡(fan)是不注日期的引用文件，其版本適用于本標(biao)準·

由于或多或少的體(ti)積(ji)電導總(zong)是要被包括到表(biao)面(mian)電導測(ce)試中去，因此不(bu)能(neng)精確(que)而只能(neng)近似(si)地測(ce)量表(biao)

要求(qiu)有(you)很(hen)穩(wen)定的直(zhi)流電壓(ya)源。這可(ke)用蓄電池或(huo)一個整流穩(wen)壓(ya)的電源來(lai)提供。對(dui)電源的穩(wen)定度要求(qiu)

體(ti)積電阻(zu)率能被(bei)用(yong)作選擇特(te)定用(yong)途(tu)絕緣材(cai)料(liao)的一個參數。