銅合金導電電阻測試儀

電(dian)源

要求(qiu)有很穩(wen)(wen)定的(de)(de)直流(liu)電(dian)(dian)(dian)壓源(yuan)。這可用蓄電(dian)(dian)(dian)油或一個整流(liu)穩(wen)(wen)壓的(de)(de)電(dian)(dian)(dian)摞來提供。對電(dian)(dian)(dian)源(yuan)的(de)(de)穩(wen)(wen)定度要求(qiu) 是由電(dian)(dian)(dian)壓變表面電(dian)(dian)(dian)阻率

為(wei)測(ce)定(ding)表面(mian)(mian)電(dian)阻(zu)率，試樣(yang)(yang)的(de)(de)形狀不(bu)限(xian)，只(zhi)要允許使用第(di)三電(dian)極(ji)(ji)(ji)來抵(di)消體積效應引起的(de)(de)誤差即可(ke)。推薦使用圖(tu)(tu)2及圖(tu)(tu)3所(suo)示(shi)的(de)(de)三電(dian)極(ji)(ji)(ji)裝置。用電(dian)極(ji)(ji)(ji)1作為(wei)被保護電(dian)極(ji)(ji)(ji)，電(dian)極(ji)(ji)(ji)3作為(wei)保護電(dian)極(ji)(ji)(ji)，電(dian)極(ji)(ji)(ji)2作為(wei)不(bu) 保護電(dian)極(ji)(ji)(ji)。可(ke)直(zhi)接(jie)測(ce)量電(dian)極(ji)(ji)(ji)1和(he)(he)2之(zhi)間(jian)(jian)表面(mian)(mian)間(jian)(jian)隙的(de)(de)電(dian)阻(zu)。這樣(yang)(yang)測(ce)得(de)的(de)(de)電(dian)阻(zu)包(bao)括了電(dian)極(ji)(ji)(ji)1和(he)(he)2之(zhi)間(jian)(jian)的(de)(de)表面(mian)(mian)電(dian)阻(zu)和(he)(he)這兩(liang)個電(dian)極(ji)(ji)(ji)間(jian)(jian)的(de)(de)體積電(dian)阻(zu)。然而(er)，對于很寬范(fan)圍的(de)(de)環境(jing)條件和(he)(he)材料性能，當電(dian)極(ji)(ji)(ji)尺(chi)寸合(he)適(shi)時， 體積電(dian)阻(zu)的(de)(de)影(ying)響可(ke)忽(hu)略不(bu)計(ji)。為(wei)此，對于圖(tu)(tu)2和(he)(he)圖(tu)(tu)3所(suo)示(shi)的(de)(de)裝置，電(dian)極(ji)(ji)(ji)的(de)(de)間(jian)(jian)隙寬度(du)g至少(shao)應為(wei)試樣(yang)(yang)厚(hou)度(du) 的(de)(de)2倍，一般說來，1mm為(wei)切實可(ke)行(xing)的(de)(de) 小間(jian)(jian)隙。被保護電(dian)極(ji)(ji)(ji)尺(chi)寸d1（或(huo)長度(du)l1）應至少(shao)為(wei)試樣(yang)(yang)厚(hou)度(du)h 的(de)(de)10倍，通常至少(shao)為(wei)25mm。

也可以使用條(tiao)形電(dian)極或具有合適尺寸的其他裝(zhuang)置(zhi)。

注：由于通(tong)過試(shi)(shi)樣(yang)內層的(de)(de)電(dian)流的(de)(de)影響，表面電(dian)阻(zu)率的(de)(de)計算(suan)值與試(shi)(shi)樣(yang)和電(dian)極的(de)(de)尺寸有很大(da)的(de)(de)關(guan)系，因此，為了(le)測定時可進行比(bi)較，推薦使用(yong)與圖2所示的(de)(de)電(dian)極裝(zhuang)置的(de)(de)尺寸相(xiang)一致的(de)(de)試(shi)(shi)樣(yang)，其(qi)中d1= 50 mm, d2 = 60 mm, ds = 80 mm,

化導致的電流變化與被測電流相比可忽略不計(ji)。

加(jia)到整個試樣上的試驗電壓通常(chang)(chang)規定(ding)為100V、250V、500V、1000 V、2500 V、5000 V, 10000 V 和(he)15000 V。 常(chang)(chang)用(yong)的電壓是100V、500V和(he)1000 V。

在(zai)某(mou)些情況下，試樣(yang)的電(dian)(dian)阻與施加電(dian)(dian)壓的極(ji)性(xing)有關

如果(guo)電(dian)阻是與(yu)極性(xing)有關(guan)的(de)，則宜加以注明。取兩次(ci)電(dian)阻值(zhi)的(de)幾何平均值(zhi)（對數算術平均值(zhi)的(de)反對 數）作為結果(guo)。

由于試(shi)樣電阻(zu)可能與電壓(ya)有依存關系，因此應在(zai)報告中注明試(shi)驗電壓(ya)值。

按照硅(gui)片電(dian)(dian)阻(zu)率測(ce)量(liang)的(de)標(biao)準(zhun)（ASTM F84）及標(biao)準(zhun)設(she)計(ji)制造該儀器設(she)計(ji)符合(he)GB/T 1551-2009 《硅(gui)單晶(jing)電(dian)(dian)阻(zu)率測(ce)定(ding)方法(fa)(fa)(fa)》、GB/T 1551-1995《硅(gui)、鍺單晶(jing)電(dian)(dian)阻(zu)率測(ce)定(ding)直(zhi)流(liu)兩探(tan)針法(fa)(fa)(fa)》、GB/T 1552-1995《硅(gui)、鍺單晶(jing)電(dian)(dian)阻(zu)率測(ce)定(ding)直(zhi)流(liu)四(si)探(tan)針法(fa)(fa)(fa)》并參考美(mei)國 A.S.T.M 標(biao)準(zhun)，本機(ji)配置232電(dian)(dian)腦(nao)接(jie)口及USB兩種接(jie)口，本機(ji)采(cai)用范(fan)德(de)堡(bao)測(ce)量(liang)原理(li)能改善樣(yang)品因幾何尺(chi)寸、邊(bian)界(jie)效應、探(tan)針不等距和機(ji)械游移(yi)等外部因素對測(ce)量(liang)結果的(de)影(ying)響及誤差(cha)，比市場上(shang)其他普通的(de)四(si)探(tan)針測(ce)試方法(fa)(fa)(fa)更加完善和進步,特(te)別是方塊(kuai)電(dian)(dian)阻(zu)值較(jiao)小的(de)產品測(ce)量(liang)，更加準(zhun)確(que).

本儀器(qi)(qi)(qi)本儀器(qi)(qi)(qi)采(cai)用四探(tan)(tan)針(zhen)單(dan)電(dian)測(ce)量法適用于生產企業、高等(deng)院校、科(ke)研部門，是檢驗和分析導體材(cai)料(liao)(liao)和半導體材(cai)料(liao)(liao)質量的一種(zhong)重要的工具。本儀器(qi)(qi)(qi)配(pei)置(zhi)各類測(ce)量裝置(zhi)可以測(ce)試(shi)(shi)不同(tong)(tong)材(cai)料(liao)(liao)。液晶(jing)顯(xian)示，無需(xu)人(ren)工計算，并帶有溫度(du)(du)補償功能，電(dian)阻率(lv)單(dan)位(wei)自(zi)動(dong)(dong)選擇，儀器(qi)(qi)(qi)自(zi)動(dong)(dong)測(ce)量并根據(ju)測(ce)試(shi)(shi)結(jie)果自(zi)動(dong)(dong)轉換量程，無需(xu)人(ren)工多次和重復(fu)設置(zhi)。采(cai)用高精度(du)(du)AD芯片控(kong)(kong)制，恒流輸出，結(jie)構合(he)理、質量輕便(bian)，運輸安全、使用方便(bian)；選配(pei)：配(pei)備軟件可以由電(dian)腦操控(kong)(kong)，并保存和打印數據(ju)，自(zi)動(dong)(dong)生成(cheng)報表(biao)；本儀器(qi)(qi)(qi)采(cai)用4.3吋大液晶(jing)屏幕顯(xian)示，同(tong)(tong)時顯(xian)示液晶(jing)顯(xian)示：電(dian)阻、電(dian)阻率(lv)、方阻、溫度(du)(du)、單(dan)位(wei)換算、溫度(du)(du)系數、電(dian)流、電(dian)壓、探(tan)(tan)針(zhen)形狀、探(tan)(tan)針(zhen)間距、厚度(du)(du) 、電(dian)導率(lv)，配(pei)置(zhi)不同(tong)(tong)的測(ce)試(shi)(shi)治具可以滿足不同(tong)(tong)材(cai)料(liao)(liao)的測(ce)試(shi)(shi)要求(qiu)。測(ce)試(shi)(shi)治具可以根據(ju)產品及測(ce)試(shi)(shi)項(xiang)目要求(qiu)選購(gou)。

維護和保養(yang)

1 .使用者的維護(hu)

為了(le)防止意外發(fa)(fa)生，請(qing)不(bu)要接觸(chu)機(ji)(ji)內(nei)部(bu)件。本機(ji)(ji)器(qi)(qi)內(nei)部(bu)所有(you)的零(ling)件，不(bu)需使用者(zhe)的維(wei)護(hu)。如果(guo)機(ji)(ji)器(qi)(qi)有(you)異常情況發(fa)(fa)生，請(qing)直接與瑞柯儀器(qi)(qi)公(gong)司廠家(jia)或其(qi)的經銷商(shang)給予維(wei)護(hu)。

2. 使用者的修改(gai)

使用者不得(de)自行更(geng)(geng)改(gai)機(ji)器(qi)的(de)線(xian)路或零(ling)件(jian)，如被(bei)更(geng)(geng)改(gai)機(ji)器(qi)后保修(xiu)(xiu)則(ze)自動失效并且本公司不負(fu)任何(he)事故責任。在保修(xiu)(xiu)內(nei)使用未經(jing)我公司認(ren)可(ke)的(de)零(ling)件(jian)或附件(jian)造成故障也不予保證。如發現送回(hui)(hui)檢修(xiu)(xiu)的(de)機(ji)器(qi)被(bei)更(geng)(geng)改(gai)，將機(ji)器(qi)的(de)電路和零(ling)件(jian)修(xiu)(xiu)復回(hui)(hui)原來設計的(de)狀態，并收取修(xiu)(xiu)護費用。

3.測試工作站(zhan)

3.1工作位置

工(gong)(gong)作(zuo)站的位置(zhi)選(xuan)擇必(bi)須(xu)(xu)安(an)排在一般人員(yuan)非(fei)必(bi)經(jing)的處所，使非(fei)工(gong)(gong)作(zuo)人員(yuan)選(xuan)離工(gong)(gong)作(zuo)站。如果(guo)因為(wei)條件限制的安(an)排而(er)無法做(zuo)到時(shi)，必(bi)須(xu)(xu)將(jiang)工(gong)(gong)作(zuo)站與其這它設施隔(ge)開并(bing)且特(te)別(bie)(bie)標明(ming)“測試(shi)(shi)工(gong)(gong)作(zuo)站”。如果(guo)工(gong)(gong)作(zuo)站與其它作(zuo)業站非(fei)常接近(jin)時(shi)，必(bi)須(xu)(xu)特(te)別(bie)(bie)注意安(an)全的問題。在測試(shi)(shi)時(shi)必(bi)須(xu)(xu)標明(ming)“測試(shi)(shi)執行中，非(fei)工(gong)(gong)作(zuo)人員(yuan)請勿靠(kao)近(jin)”

4.輸入電源

輸(shu)入：220V±10%  使用頻率：50Hz

4.3.3工作場所

盡可(ke)能使用非導電的工作(zuo)桌工作(zuo)臺。操作(zuo)人員和待測物(wu)(wu)(wu)之間不(bu)得(de)使用任何金屬。操作(zuo)人員的位(wei)置不(bu)得(de)有(you)跨越待測物(wu)(wu)(wu)去操作(zuo)或調(diao)整測試儀器的現象。測試場所必(bi)須隨時保持(chi)整齊、干凈，不(bu)得(de)雜亂無章。測試站及其(qi)周邊之空(kong)氣(qi)中(zhong)不(bu)能含有(you)可(ke)燃氣(qi)體(ti)或在易(yi)燃物(wu)(wu)(wu)質。

4.3.4人(ren)員資格

本儀(yi)器(qi)為精密儀(yi)器(qi)，必須由訓(xun)練合格的人員使用和操作(zuo)。

4.3.5安全守(shou)則

操(cao)作人員必須隨時(shi)給(gei)予教育和訓練(lian)，使其了解(jie)各種操(cao)作規則(ze)的重要性，并依安全規則(ze)操(cao)作。

4.3.6衣(yi)著規定

操(cao)作人(ren)員不可穿有金(jin)屬(shu)(shu)裝飾(shi)的(de)衣服或戴(dai)金(jin)屬(shu)(shu)手飾(shi)和手表等，這些金(jin)屬(shu)(shu)飾(shi)物(wu)很容(rong)易造成意(yi)外的(de)感(gan)電。

4.3.7醫學規定(ding)

不能讓有心臟(zang)病或配戴心律調整器的人(ren)員操作。

4.4測試安全程序(xu)規定(ding)

一定要按照規定程序操作(zuo)。操作(zuo)人員必須確(que)定能夠*自(zi)主(zhu)掌控(kong)各部位的控(kong)制開關和功能。

4.5安全要點

● 非合(he)格的操(cao)作人員和不(bu)相關的人員應遠離(li)測試區。

● 萬一發生問題，請(qing)立(li)即(ji)關閉(bi)電源并及時處理故障原因。

1.使用(yong)前期準(zhun)備(bei)--測(ce)試前準(zhun)備(bei)工作：

1.1.開(kai)機預(yu)熱：將220V電(dian)源(yuan)插(cha)頭插(cha)入電(dian)源(yuan)插(cha)座，打(da)開(kai)電(dian)源(yuan)開(kai)關，讓儀器預(yu)熱15分鐘(zhong)，保證(zheng)測試數(shu)據(ju)穩定(ding)。若測試儀無常啟(qi)動，請按以(yi)下步驟(zou)檢查(cha)：

①檢(jian)查電源線是否(fou)接觸(chu)良(liang)好(hao)；

②檢(jian)查后面板上的電源開關(guan)是否(fou)已經打開

③檢查保險絲是否熔斷，如(ru)有必(bi)要，請更(geng)換保險絲

④ 如經上述(shu)檢查(cha)無誤后，測(ce)試儀仍(reng)未正常啟動，請本公(gong)司進行解決。

1.2.準備好被測(ce)物，鏈接(jie)好測(ce)試探頭，把測(ce)試探頭接(jie)口與主機(ji)接(jie)口相連接(jie)，并(bing)鎖定，防止松動或接(jie)觸不良而對測(ce)試結果(guo)造成影(ying)響(xiang).

1.3.接通(tong)電源，開啟電源開關，待儀(yi)器液晶顯(xian)(xian)示(shi)屏上(shang)顯(xian)(xian)示(shi)出廠(chang)家和(he)產品信息后，如(ru)圖3，按“顯(xian)(xian)示(shi)”鍵進入，

1.4.進入測(ce)試功(gong)能界(jie)(jie)面(mian)如(ru)圖4、圖5；如(ru)測(ce)試方(fang)阻(zu)時，請(qing)選(xuan)擇(ze)(ze)液晶(jing)顯(xian)示屏(ping)又側對(dui)應 的功(gong)能按鍵(jian)“方(fang)阻(zu)”，則進入方(fang)阻(zu)測(ce)試界(jie)(jie)面(mian)；如(ru)測(ce)試其他材料時，請(qing)選(xuan)擇(ze)(ze)“材料”則進入材料電(dian)(dian)阻(zu)，電(dian)(dian)阻(zu)率，電(dian)(dian)導(dao)率測(ce)試儀界(jie)(jie)面(mian)。

1.5.設置(zhi)好被(bei)測(ce)物(wu)所(suo)需之(zhi)參數，把(ba)被(bei)測(ce)物(wu)放于測(ce)試(shi)治具(ju)平臺上操作，測(ce)試(shi)完畢直接顯(xian)示(shi)測(ce)試(shi)數據。如配置(zhi)軟件，軟件操作說明(ming)書(shu)同安(an)裝軟件在一(yi)起，請注意(yi)查看操作步驟.

以下分(fen)別講(jiang)解方(fang)阻和材(cai)料測試的(de)設置

2.四探針方阻測試步驟

2.1.上述步驟(zou)中(zhong)1項，使用前期準備(bei)

2.2 把被測物測試(shi)所需(xu)要之參數(shu)數(shu)據設定(ding)：

2.2.1依據不(bu)同之測試(shi)樣品，選擇被測試(shi)電(dian)流(liu)，電(dian)流(liu)設置(zhi)：按(an)方(fang)(fang)向(xiang)(xiang)鍵移(yi)動光標至(zhi)“電(dian)流(liu)”功能，按(an)“設置(zhi)”鍵進(jin)(jin)入(ru)；再按(an)“左右”方(fang)(fang)向(xiang)(xiang)鍵選擇電(dian)流(liu)數據，選擇完畢后按(an)“確定”鍵進(jin)(jin)行確認。按(an)照以上步(bu)驟和方(fang)(fang)法選擇電(dian)壓、長度(du)單(dan)位、探(tan)針形狀設定、溫度(du).

2.2.2.探(tan)(tan)針(zhen)(zhen)(zhen)間距數(shu)據的(de)輸入(ru)，探(tan)(tan)針(zhen)(zhen)(zhen)間距出廠(chang)時已經標(biao)(biao)定(ding)(ding)，無(wu)需(xu)再(zai)(zai)次測量，探(tan)(tan)針(zhen)(zhen)(zhen)頭上有詳細(xi)的(de)探(tan)(tan)針(zhen)(zhen)(zhen)數(shu)據資(zi)料(liao)，探(tan)(tan)針(zhen)(zhen)(zhen)間距的(de)設(she)置：將光標(biao)(biao)移動(dong)至“探(tan)(tan)針(zhen)(zhen)(zhen)間距”按(an)“設(she)置”鍵進入(ru)，通過面板上面的(de)“數(shu)字(zi)”按(an)鍵輸入(ru)數(shu)據按(an)“確(que)定(ding)(ding)”鍵進行確(que)認(ren)；按(an)照以上方(fang)法(fa)和(he)步驟設(she)定(ding)(ding)”厚(hou)度“，注意厚(hou)度和(he)探(tan)(tan)針(zhen)(zhen)(zhen)間距修正(zheng)系數(shu)表已經設(she)置在儀器程序中，自動(dong)修正(zheng)，無(wu)需(xu)再(zai)(zai)次輸入(ru)和(he)查(cha)詢表格(ge)。

2.3.測(ce)(ce)試探頭(tou)和測(ce)(ce)試平(ping)臺操作

選配測(ce)試平(ping)臺的將被(bei)測(ce)物(wu)放(fang)在測(ce)試平(ping)臺上，調節探(tan)頭(tou)(tou)(tou)探(tan)針(zhen)與樣(yang)品良(liang)好(hao)接觸，探(tan)頭(tou)(tou)(tou)有二種，一種是(shi)探(tan)針(zhen)是(shi)彈簧針(zhen)型，一種是(shi)硬針(zhen)而探(tan)頭(tou)(tou)(tou)內腔有彈簧；探(tan)頭(tou)(tou)(tou)有方型和(he)直(zhi)線(xian)型兩種結(jie)構；調節測(ce)試平(ping)臺上的水平(ping)定(ding)位角，保(bao)證水平(ping)儀水準在中心位置(zhi)(zhi)；放(fang)置(zhi)(zhi)好(hao)被(bei)測(ce)物(wu)品，后(hou)壓下探(tan)頭(tou)(tou)(tou)

銅合金導電電阻測試儀

采用(yong)四(si)端測(ce)(ce)量(liang)(liang)法適(shi)用(yong)于(yu)生產(chan)企業、高等院校(xiao)、科研部門，實驗室；是檢(jian)驗和分析(xi)導(dao)(dao)體材(cai)料和半(ban)導(dao)(dao)體材(cai)料質量(liang)(liang)的工(gong)具。可(ke)配(pei)置(zhi)不(bu)同測(ce)(ce)量(liang)(liang)裝置(zhi)測(ce)(ce)試不(bu)同類型材(cai)料之電阻率(lv)。液晶顯示，溫度補償(chang)功(gong)能，自動量(liang)(liang)程(cheng)，自動測(ce)(ce)量(liang)(liang)電阻，電阻率(lv)，電導(dao)(dao)率(lv)數據(ju)。恒流(liu)源輸出；選配(pei)：PC軟件過程(cheng)數據(ju)處理和標準電阻校(xiao)準儀(yi)器，薄(bo)膜按鍵操(cao)作簡單，中文(wen)或英文(wen)兩種語(yu)言界面選擇.

測(ce)(ce)(ce)試儀采用4.3吋(cun)大液(ye)晶屏(ping)幕顯示(shi)，同時顯示(shi)電阻(zu)值、電阻(zu)率、方(fang)阻(zu)、電導(dao)率值、溫度(du)、壓(ya)強(qiang)值、單(dan)位自(zi)動換算，配置不同的(de)測(ce)(ce)(ce)試治具(ju)可以滿足(zu)不同材料的(de)測(ce)(ce)(ce)試要求。測(ce)(ce)(ce)試治具(ju)可以根據產品及測(ce)(ce)(ce)試項目要求選購.

配套(tao)方案：解決各材料(liao)狀(zhuang)態(tai) --固態(tai)、液(ye)態(tai)、氣態(tai)、顆粒狀(zhuang) 電阻(zu)、電阻(zu)率、電導率測量

本儀器配置(zhi)(zhi)各類測量(liang)裝置(zhi)(zhi)可以測試(shi)不同(tong)材料之電(dian)導率。液晶顯(xian)示，無需(xu)人工計算，并(bing)帶有溫度補(bu)償功能，電(dian)導率單位自動選擇。