各種材料介電常數測試儀技術指標
1．Q值測量
a．Q值測量范圍：2～1023。
b．Q值量程分檔：30、100、300、1000、自動換檔或手動換檔。
c．標稱誤差
頻率范圍20kHz～10MHz；
固有誤差5％滿度值的2％；
工作誤差7％滿度值的2％；
頻率范圍10MHz～60MHz；
固有誤差6％;滿度值的2％；
工作誤差8％;滿度值的2％。
2．電感測量范圍：14.5nH~8.14H
3．電容測量：1~ 460
直接測量范圍1～460pF
主電容調節范圍30～500pF150pF以下±1.5pF；
準確度150pF以上±1％
注：大于直接測量范圍的電容測量見使用規則
4．信號源頻率覆蓋范圍
頻率范圍10kHz～50MHz
頻率分段（虛擬）
10～99.9999kHz
100～999.999kHz
1～9.99999MHz
10～60MHz
頻率指示誤差3times;10-5plusmn;1個字
5．Q合格指示預置功能
預置范圍：5～1000。
a. 環境溫度：0℃～+40℃
b．相對濕度：<80％；
c．電源：220Vplusmn;22V，50Hzplusmn;2.5Hz。
7．其他
a．消耗功率：約25W；
b．凈重：約7kg；
c. 外型尺寸：mm：380*132*280。
8．產品配置：
a.測試主機一臺；
b.電感9只；
c.夾具一 套

各種材料介電常數測試儀

各種因(yin)素，為(wei)(wei)提高(gao)材料的(de)(de)性能提供(gong)依據；儀器(qi)(qi)的(de)(de)基本原(yuan)理是采(cai)(cai)用高(gao)頻諧振(zhen)法，并提供(gong)了，通用、多(duo)用途、多(duo)量(liang)(liang)(liang)程的(de)(de)阻(zu)(zu)抗測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)。它以單片(pian)計算機作為(wei)(wei)儀器(qi)(qi)的(de)(de)控制(zhi)，測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)核心采(cai)(cai)用了頻率數字鎖定，標準頻率測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)點(dian)自動(dong)(dong)設(she)定，諧振(zhen)點(dian)自動(dong)(dong)搜索(suo)，Q值量(liang)(liang)(liang)程自動(dong)(dong)轉換，數值顯示等(deng)新技術，改進了調諧回路，使(shi)得(de)調諧測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)回路的(de)(de)殘(can)余電感減(jian)至低，并保留了原(yuan)Q表(biao)中(zhong)自動(dong)(dong)穩幅等(deng)技術，使(shi)得(de)新儀器(qi)(qi)在(zai)使(shi)用時更為(wei)(wei)方便(bian)，測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)值更為(wei)(wei)精(jing)確。儀器(qi)(qi)能在(zai)較高(gao)的(de)(de)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)頻率條件下(xia)，測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)高(gao)頻電感或諧振(zhen)回路的(de)(de)Q值，電感器(qi)(qi)的(de)(de)電感量(liang)(liang)(liang)和(he)分布(bu)電容(rong)量(liang)(liang)(liang)，電容(rong)器(qi)(qi)的(de)(de)電容(rong)量(liang)(liang)(liang)和(he)損耗角正切值，電工(gong)材料的(de)(de)高(gao)頻介質(zhi)損耗，高(gao)頻回路有效并聯(lian)及串聯(lian)電阻(zu)(zu)，傳輸線的(de)(de)特(te)性阻(zu)(zu)抗等(deng)。

該儀(yi)器用(yong)于(yu)科研機(ji)關、學校、工廠等單位對無機(ji)非金(jin)屬(shu)新材料(liao)性(xing)能的應用(yong)研究。

滿足標準：GBT 1409-2006 測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長在
內）下電容率和介質損耗因數的推薦方法

平板電容極片Φ50mm/Φ38mm
可選頻率范圍20KHz-60MHz/200KHz-160MHz
間距可調范圍≥15mm
頻率指示誤差3×10-5±1個字
夾具插頭間距25mm±0.01mm
主電容調節范圍30-500/18-220pF
測微桿分辨率0.001mm
主調電容誤差<1%或1pF
夾具損耗角正切值≦4×10-4 （1MHz)
Q測試范圍2～1023

測試注意事項(xiang)

a．本儀器應(ying)水平安放；

b．如果你需要(yao)較精確地測量，請接通(tong)電源后，預熱30分鐘；

c．調節(jie)主調電容或主調電容數碼開關時，當接近(jin)諧振點時請緩調；

d．被測(ce)件和測(ce)試電路接(jie)線(xian)柱間的接(jie)線(xian)應盡量(liang)短，足夠粗(cu)，并(bing)應接(jie)觸良(liang)好、可靠，以減少因接(jie)線(xian)的電阻和分布參數所帶來的測(ce)量(liang)誤差；

e．被測件(jian)不要直(zhi)接擱在面(mian)板頂部(bu)，離頂部(bu)一公分以上，必(bi)要時可用低(di)損耗(hao)的絕緣材料如聚苯乙烯等做成的襯(chen)墊物襯(chen)墊；

f．手不(bu)得靠近試(shi)件，以免人體感應影響造(zao)成測量誤差，有屏蔽的(de)試(shi)件，屏蔽罩應連接(jie)(jie)在低電位(wei)端的(de)接(jie)(jie)線(xian)柱。

特點(dian)：

1． 優化的(de)測試電路(lu)設計使(shi)殘值更小(xiao)

2． 高頻信號采用數(shu)碼調諧器和頻率鎖定技術

3． LED 數字讀出品質(zhi)因數，手動(dong)/自動(dong)量程切換

4． 自(zi)動(dong)掃描被(bei)測(ce)件諧振(zhen)點，標頻(pin)單鍵設置和鎖定，大大提高測(ce)試速度

主(zhu)要技術特性：

介質(zhi)(zhi)損(sun)耗(hao)(hao)和介電(dian)(dian)(dian)常(chang)數(shu)(shu)是各種電(dian)(dian)(dian)瓷、裝(zhuang)置(zhi)瓷、電(dian)(dian)(dian)容(rong)器(qi)等(deng)(deng)陶瓷，還有復合材料(liao)等(deng)(deng)的(de)(de)(de)一項(xiang)重要的(de)(de)(de)物理性質(zhi)(zhi)，通(tong)過測(ce)定介質(zhi)(zhi)損(sun)耗(hao)(hao)角正切tanδ及介電(dian)(dian)(dian)常(chang)數(shu)(shu)(ε)，可(ke)進(jin)一步了(le)解影響(xiang)介質(zhi)(zhi)損(sun)耗(hao)(hao)和介電(dian)(dian)(dian)常(chang)數(shu)(shu)的(de)(de)(de)各種因素(su)，為提高(gao)(gao)(gao)(gao)材料(liao)的(de)(de)(de)性能提供(gong)(gong)依據；儀(yi)器(qi)的(de)(de)(de)基本原(yuan)理是采(cai)用(yong)高(gao)(gao)(gao)(gao)頻(pin)(pin)(pin)諧(xie)振(zhen)法，并提供(gong)(gong)了(le)，通(tong)用(yong)、多(duo)用(yong)途、多(duo)量(liang)(liang)程(cheng)的(de)(de)(de)阻(zu)抗測(ce)試(shi)。它以單(dan)片計算(suan)機(ji)作為儀(yi)器(qi)的(de)(de)(de)控(kong)制，測(ce)量(liang)(liang)核心采(cai)用(yong)了(le)頻(pin)(pin)(pin)率數(shu)(shu)字鎖定，標準頻(pin)(pin)(pin)率測(ce)試(shi)點自(zi)動(dong)設定，諧(xie)振(zhen)點自(zi)動(dong)搜(sou)索，Q值量(liang)(liang)程(cheng)自(zi)動(dong)轉(zhuan)換(huan)，數(shu)(shu)值顯示等(deng)(deng)新技(ji)術，改進(jin)了(le)調(diao)諧(xie)回(hui)路(lu)，使(shi)得調(diao)諧(xie)測(ce)試(shi)回(hui)路(lu)的(de)(de)(de)殘余電(dian)(dian)(dian)感(gan)(gan)(gan)減至 低(di)，并保留了(le)原(yuan)Q表中(zhong)自(zi)動(dong)穩幅等(deng)(deng)技(ji)術，使(shi)得新儀(yi)器(qi)在(zai)使(shi)用(yong)時更(geng)為方便，測(ce)量(liang)(liang)值更(geng)為精確(que)。儀(yi)器(qi)能在(zai)較高(gao)(gao)(gao)(gao)的(de)(de)(de)測(ce)試(shi)頻(pin)(pin)(pin)率條(tiao)件下，測(ce)量(liang)(liang)高(gao)(gao)(gao)(gao)頻(pin)(pin)(pin)電(dian)(dian)(dian)感(gan)(gan)(gan)或諧(xie)振(zhen)回(hui)路(lu)的(de)(de)(de)Q值，電(dian)(dian)(dian)感(gan)(gan)(gan)器(qi)的(de)(de)(de)電(dian)(dian)(dian)感(gan)(gan)(gan)量(liang)(liang)和分(fen)布(bu)電(dian)(dian)(dian)容(rong)量(liang)(liang)，電(dian)(dian)(dian)容(rong)器(qi)的(de)(de)(de)電(dian)(dian)(dian)容(rong)量(liang)(liang)和損(sun)耗(hao)(hao)角正切值，電(dian)(dian)(dian)工材料(liao)的(de)(de)(de)高(gao)(gao)(gao)(gao)頻(pin)(pin)(pin)介質(zhi)(zhi)損(sun)耗(hao)(hao)，高(gao)(gao)(gao)(gao)頻(pin)(pin)(pin)回(hui)路(lu)有效(xiao)并聯(lian)及串聯(lian)電(dian)(dian)(dian)阻(zu)，傳輸(shu)線的(de)(de)(de)特(te)性阻(zu)抗等(deng)(deng)。

售后(hou)服務

一、安(an)裝調試(shi)：協助試(shi)驗機的(de)安(an)裝，負責試(shi)驗機的(de)運輸(shu)、調試(shi)。

二、提供(gong)對故障2小(xiao)時內響(xiang)應,24小(xiao)時內的現場服務。

三、培(pei)訓(xun)：安裝調試同(tong)(tong)時(shi)，在儀器操(cao)作(zuo)(zuo)(zuo)現場一次性免(mian)費培(pei)訓(xun)操(cao)作(zuo)(zuo)(zuo)人員(yuan)2-3名，該操(cao)作(zuo)(zuo)(zuo)人員(yuan)應(ying)是由需方(fang)選(xuan)派的長(chang)期穩定(ding)的員(yuan)工，培(pei)訓(xun)后能(neng)夠(gou)對(dui)設(she)(she)備基本(ben)原理(li)(li)、軟(ruan)件使用(yong)、操(cao)作(zuo)(zuo)(zuo)、維(wei)護事項理(li)(li)解(jie)和應(ying)用(yong)，使人員(yuan)能(neng)夠(gou)獨立操(cao)作(zuo)(zuo)(zuo)設(she)(she)備對(dui)樣品進行(xing)檢(jian)測、分析，同(tong)(tong)時(shi)能(neng)進行(xing)基本(ben)的維(wei)護。

四、軟(ruan)件升級：終生免費(fei)提供新版本控制(zhi)軟(ruan)件。

五(wu)、提供適用、詳細、全面的中文(wen)產(chan)品說明書(shu)和(he)維(wei)修(xiu)手冊。

六、驗(yan)收標(biao)準：試驗(yan)機按訂貨技術附件(jian)進行驗(yan)收。終驗(yan)收在買方進行，對用戶提供(gong)的試樣進行試驗(yan)，并提供(gong)測試報告。

七、物流情況：及時(shi)提供貨源，確(que)保(bao)全(quan)國范圍內(nei)2-10內(nei)到貨，持續(xu)穩定地為(wei)(wei)代(dai)理商做全(quan)面服務(wu)工(gong)作，提供合理的運作空間。公司(si)有(you)專業的技術(shu)人員為(wei)(wei)您安裝指導。

試驗(yan)步(bu)驟

1 試樣(yang)的制(zhi)備

&nbsp;試樣應(ying)從固體材料上截取，為了滿足要求(qiu)，應(ying)按相關的標準(zhun)方(fang)法的要求(qiu)來(lai)制(zhi)備。

 應精確地測量厚度，使偏差在士(shi)(0. 2%士(shi)。.005 mm)以內，測量點應均勻(yun)地分布在試樣表面。必要時，應測其有效面積。

2 條件處(chu)理

 條件處理應按相關規范規定進行。

3 測量

 電(dian)氣測量(liang)按本標準(zhun)或所(suo)使用的儀(yi)器(電(dian)橋)制造(zao)商推(tui)薦的標準(zhun)及(ji)相應(ying)的方法(fa)進行。

 在 1 MHz或更(geng)高頻(pin)率下，必須(xu)減小接(jie)線的電感(gan)對測量結果的影(ying)響。此時(shi)，可采用同軸接(jie)線系統(見圖 1所(suo)示)，當用變電抗法測量時(shi)，應提(ti)供一個固定微(wei)調電容器。

電(dian)極系統

 1. 試樣上不加(jia)電極

 表面電(dian)導率很(hen)低的試樣(yang)(yang)可以不加電(dian)極而將試樣(yang)(yang)插人(ren)電(dian)極系統中測量，在這個(ge)電(dian)極系統中，試樣(yang)(yang)的一(yi)側(ce)或兩側(ce)有一(yi)個(ge)充滿空(kong)氣或液體的間(jian)隙。

 平板電極(ji)(ji)或圓柱形電極(ji)(ji)結構的電容計算公式由表 3給出。

 下面兩種(zhong)型式的電極(ji)裝置特別合適(shi)

1.1 空氣填充測微計電極

 當試樣插人和不插人時，電(dian)(dian)(dian)容都能調節到(dao)同一(yi)個值 ，不需進行測(ce)(ce)量系統(tong)的電(dian)(dian)(dian)氣校正(zheng)就能測(ce)(ce)定電(dian)(dian)(dian)容率。電(dian)(dian)(dian)極系統(tong)中(zhong)可(ke)包括保護(hu)電(dian)(dian)(dian)極.

1.2 流體排(pai)出法(fa)

 在電(dian)容率近似等于試樣的(de)電(dian)容率，而介(jie)質損耗因(yin)數可以(yi)忽略的(de)一種(zhong)(zhong)液體(ti)(ti)(ti)內進行(xing)測量(liang)，這(zhe)種(zhong)(zhong)測量(liang)與試樣厚(hou)度(du)測量(liang)的(de)精度(du)關(guan)系不大。當相繼采用兩種(zhong)(zhong)流體(ti)(ti)(ti)時(shi)，試樣厚(hou)度(du)和電(dian)極(ji)系統的(de)尺寸可以(yi)從(cong)計算公式中(zhong)消去

 試(shi)樣為與試(shi)驗池(chi)電極(ji)(ji)直徑相(xiang)同的(de)圓片，或對測微(wei)計(ji)電極(ji)(ji)來(lai)說，試(shi)樣可以(yi)比(bi)電極(ji)(ji)小(xiao)到足以(yi)使邊緣效應忽略不(bu)計(ji) 在測微(wei)計(ji)電極(ji)(ji)中，為了忽略邊緣效應，試(shi)樣直徑約(yue)比(bi)測微(wei)計(ji)電極(ji)(ji)直徑小(xiao)兩倍的(de)試(shi)樣厚度。

加到試樣上的(de)電(dian)極

2. 電(dian)極可選(xuan)用 5.1.3中任(ren)意(yi)一(yi)種(zhong)。如果不用保護環(huan)。而(er)且(qie)試樣上下的(de)兩(liang)個(ge)電(dian)極難以對(dui)齊時，其中一(yi)個(ge)電(dian)極應(ying)比另一(yi)個(ge)電(dian)極大些(xie)。已經加(jia)有(you)電(dian)極的(de)試樣應(ying)放置在(zai)兩(liang)個(ge)金屬(shu)(shu)電(dian)極之(zhi)間，這兩(liang)個(ge)金屬(shu)(shu)電(dian)極要比試樣上的(de)電(dian)極稍小些(xie)。對(dui)于平(ping)板形和(he)圓柱形這兩(liang)種(zhong)不同電(dian)極結構的(de)電(dian)容(rong)計算(suan)公式(shi)以及邊(bian)緣電(dian)容(rong)近似(si)計算(suan)的(de)經驗公式(shi)由表1給出.

 對于介質損(sun)耗因數的(de)測量(liang)，這種類型的(de)電極在高頻下不能(neng)滿(man)足(zu)要求，除非試(shi)樣的(de)表面(mian)和金屬板都(dou)非常(chang)平(ping)整。圖 1所示的(de)電極系統也要求試(shi)樣厚度均勻

試驗報告

• 試驗報告中應給出下列(lie)相關內容:
• 絕緣材料的(de)(de)型號名(ming)稱及(ji)種類、供貨形(xing)式(shi)、取(qu)樣(yang)方法(fa)、試樣(yang)的(de)(de)形(xing)狀(zhuang)及(ji)尺寸和取(qu)樣(yang) 日(ri)期(并注明試樣(yang)厚度和試樣(yang)在與電極接觸的(de)(de)表面(mian)進行(xing)處理的(de)(de)情況);
• 電(dian)(dian)極(ji)裝置類型(xing)(xing)，若有加在試樣上的電(dian)(dian)極(ji)應注明其(qi)類型(xing)(xing);
• 試樣條件處理的方法和處理時(shi)間;
• 施加的電壓;
• 介(jie)質損(sun)耗因數(shu) tans(平均值);
• 測(ce)量儀器;
• 試驗時(shi)的(de)溫度和(he)相對濕度以及(ji)試樣的(de)溫度;
• 施加(jia)的頻率;
• 相對(dui)電容率ε(平(ping)均值);
• 試驗(yan) 日(ri)期 ;

帶(dai)屏(ping)蔽的簡單西(xi)林電橋

 橋的(de)(de)B點(在測量臂邊(bian)的(de)(de)電源接線端子)與屏蔽相連并接地。

 屏蔽能很好地起到防護高壓邊影響的作用，但是增加了屏蔽與接到測量臂接線端 M和 N的各根導線之間電容.此電容承受跨接測量臂兩端的電壓 這樣會引人一個通常使 tans的測量精度限于0.1%數量級的誤差，當電容C_X和C_N不平衡時尤為顯著。

高頻電橋
由于它不再是一個高壓電橋，因此承受電壓U₁的臂能容易地引人可調元件;替代法在此適用
 還應指出，帶有分開的初級繞組的電橋允許電源和檢測器互換位置。其平衡與在次級繞組中對應
的安匝數的補償相符.

低(di)頻電橋

 一般為高(gao)壓(ya)電(dian)橋，這(zhe)不僅是由于(yu)(yu)靈(ling)敏度(du)的緣故，也因(yin)為在(zai)(zai)低(di)頻(pin)下(xia)正是高(gao)電(dian)壓(ya)技術(shu)特(te)別對電(dian)介(jie)質損耗關注的問題。電(dian)容(rong)臂(bei)和(he)測(ce)量臂(bei)兩者的阻抗大小(xiao)在(zai)(zai)數量級上相差很多，結果，絕(jue)大部分電(dian)壓(ya)都施(shi)加在(zai)(zai)電(dian)容(rong)Cx和(he) C}上，使電(dian)壓(ya)分配不平衡(heng) 上面(mian)給出的電(dian)橋平衡(heng)條件只(zhi)是當(dang)低(di)壓(ya)元件對高(gao)壓(ya)元件屏(ping)蔽(bi)時才成立。同時，屏(ping)蔽(bi)必須接地，以保(bao)證平衡(heng)穩(wen)定(ding)。如(ru)圖A. 2所示。屏(ping)蔽(bi)與使用被保(bao)護(hu)的電(dian)容(rong) C、和(he) C、是一致(zhi)的，這(zhe)個(ge)保(bao)護(hu)對于(yu)(yu)Ch來說(shuo)是*的。

 由(you)于選擇不同的接地方(fang)法，實際(ji)上形(xing)成(cheng)了兩(liang)類(lei)電橋。