硅橡膠體積電阻率測試儀技術指標

1、電阻測量范圍(wei)： 1×104Ω ～1×1018Ω。

2、電流測量范(fan)圍為： 2×10-4A～1×10-16A

3、雙表頭顯(xian)示： 3.1/2位LED顯(xian)示

4、內置測試電(dian)壓：10V、50V、100V、250、500、1000V

5、基本準(zhun)確度：1% (*注(zhu))

6、使用環境(jing)： 溫(wen)度：0℃～40℃，相對濕度<80%

7、機內測試電壓： 10/50/100/250/500/1000V 任意切(qie)換

8、供電形式： AC 220V，50HZ，功耗約(yue)5W

9、儀器尺寸： 285ｍｍ× 245ｍｍ× 120 mm

10、質量： 約2.5KG

硅橡膠體積電阻率測試儀

使(shi)用注意事項

★高阻測(ce)量一(yi)定要嚴格按(an)使用方法步聚進行，否則有可能造成儀器損(sun)壞(huai)或電人。

1 應在“Rx”兩端開(kai)路時(shi)調零（主機開(kai)機）

如接(jie)在(zai)電(dian)阻(zu)箱或被測量物(wu)體上時調(diao)零(ling)后(hou)測量會(hui)產生很大的誤差(cha)。一(yi)般(ban)一(yi)次調(diao)零(ling)后(hou)在(zai)測試過程(cheng)中不需再調(diao)零(ling)，但改變測量電(dian)壓后(hou)可能要重新調(diao)零(ling)。

2 禁止將“Rx”兩端(duan)短路，以(yi)免微電流放大器(qi)受大電流沖擊

3 在測(ce)試過程中不要(yao)隨意改動測(ce)量電壓，

★隨意改(gai)動測量電(dian)(dian)壓可能(neng)因(yin)電(dian)(dian)壓的過高或電(dian)(dian)流過大(da)損壞被測試(shi)器件或測試(shi)儀器，而且有的材料是(shi)非線(xian)性(xing)的，即電(dian)(dian)壓與電(dian)(dian)流是(shi)不符合歐(ou)姆定律，有改(gai)變電(dian)(dian)壓時由于電(dian)(dian)流不是(shi)線(xian)性(xing)變化，所以測量的電(dian)(dian)阻也(ye)會變化。

4 測(ce)量時從低次檔逐漸拔(ba)往高(gao)次檔

★每(mei)撥(bo)一次稍停留1～2秒以便觀察(cha)顯(xian)(xian)示(shi)(shi)(shi)(shi)數(shu)字(zi)(zi)，當(dang)有(you)(you)顯(xian)(xian)示(shi)(shi)(shi)(shi)值時(shi)(shi)應(ying)(ying)停下，記錄當(dang)前的數(shu)字(zi)(zi)即是被測電(dian)阻(zu)值。若顯(xian)(xian)示(shi)(shi)(shi)(shi)“1”時(shi)(shi)，表示(shi)(shi)(shi)(shi)欠量程應(ying)(ying)往高次檔拔。直到(dao)有(you)(you)顯(xian)(xian)示(shi)(shi)(shi)(shi)數(shu)字(zi)(zi)時(shi)(shi)為止。當(dang)有(you)(you)顯(xian)(xian)示(shi)(shi)(shi)(shi)數(shu)字(zi)(zi)時(shi)(shi)不能再往高次檔撥(bo)，否則有(you)(you)可能損壞儀(yi)器(機內(nei)有(you)(you)過(guo)電(dian)流保護電(dian)路)。除104 Ω檔之外，當(dang)顯(xian)(xian)示(shi)(shi)(shi)(shi)低于1.99，表示(shi)(shi)(shi)(shi)過(guo)量程應(ying)(ying)換低檔!

5 大部分絕緣材(cai)料，特別是防靜(jing)電(dian)(dian)材(cai)料的電(dian)(dian)阻值在(zai)加電(dian)(dian)壓后會有一定變(bian)化(hua)(hua)而引起數字變(bian)化(hua)(hua)

★由于本儀器的分辯(bian)率很高，因(yin)而(er)會(hui)引起顯(xian)示值的末尾幾位數(shu)也變化，這不是(shi)儀器本身的問題，而(er)是(shi)被測量(liang)對象的導電機理復雜(za)而(er)使得阻值有些變化。在這種情況下往往取2位有效數(shu)就夠了(le)。

6 接通電(dian)源后，手指(zhi)不能觸及高壓線的金(jin)屬部分

★本儀表有(you)二連根線(xian)(xian):高(gao)壓線(xian)(xian)(紅)和(he)微電流測試線(xian)(xian)。在(zai)使用時要注意高(gao)壓線(xian)(xian)，開機(ji)后(hou)人不能觸及高(gao)壓線(xian)(xian)，以免電人或(huo)麻手(shou)。

7 測試過程中不能觸(chu)摸微電流測試端

★微(wei)電流(liu)(liu)測試端 怕受到(dao)大電流(liu)(liu)或人體(ti)感應電壓(ya)及靜(jing)電的沖(chong)擊。所以在開(kai)機后和測試過(guo)程中不能與微(wei)電流(liu)(liu)測試端接(jie)觸，以免損壞儀表。

8 在測(ce)量(liang)高阻時(shi)，應(ying)采用屏(ping)蔽盒將被測(ce)物體(ti)屏(ping)蔽.

★在測(ce)量(liang)大于1010 Ω以上時，為防止外界干擾(rao)面而引起讀數(shu)不穩(wen)。

9 每次(ci)測(ce)量完時應(ying)將量程開關撥回“104 &rdquo;檔再(zai)進(jin)行下次(ci)測(ce)試

在測量(liang)(liang)時(shi)應逐(zhu)漸將量(liang)(liang)程(cheng)(cheng)(cheng)(cheng)開(kai)(kai)關撥(bo)(bo)到高阻檔，測量(liang)(liang)完(wan)時(shi)應將電(dian)(dian)流(liu)電(dian)(dian)阻量(liang)(liang)程(cheng)(cheng)(cheng)(cheng)、電(dian)(dian)壓量(liang)(liang)程(cheng)(cheng)(cheng)(cheng)開(kai)(kai)關撥(bo)(bo)回低(di)檔。以 確保下次開(kai)(kai)機時(shi)量(liang)(liang)程(cheng)(cheng)(cheng)(cheng)開(kai)(kai)關處(chu)在低(di)阻量(liang)(liang)程(cheng)(cheng)(cheng)(cheng)檔。

應(ying)用范圍 ：

a    材料(liao)(liao)高阻(zu)測(ce)試測(ce)量如防靜電產(chan)品（防靜電鞋、防靜電塑(su)料(liao)(liao)橡膠制品、計 算機房防靜電活動地(di)板等）電阻(zu)值(zhi)的檢測(ce)；

b    材料體積電阻(率)和表(biao)面電阻(率)測量；

c    電化學和材(cai)(cai)料(liao)(liao)測試,以及物理(li),光學和材(cai)(cai)料(liao)(liao)研究;

d    微弱電(dian)(dian)(dian)流(liu)測量(liang)如光電(dian)(dian)(dian)效應和器件(jian)暗電(dian)(dian)(dian)流(liu)測量(liang)。

范圍：

1本試驗方法包含(han)直流絕緣電(dian)(dian)阻(zu)，體(ti)積電(dian)(dian)阻(zu)和(he)(he)表(biao)面電(dian)(dian)阻(zu)的(de)(de)(de)測量(liang)所用直流程序。通過該測量(liang)及樣本和(he)(he)電(dian)(dian)極(ji)的(de)(de)(de)幾何尺寸，可以計算出電(dian)(dian)絕緣材料的(de)(de)(de)體(ti)積電(dian)(dian)阻(zu)和(he)(he)表(biao)面電(dian)(dian)阻(zu)，同時(shi)還可以計算出相應的(de)(de)(de)電(dian)(dian)導(dao)和(he)(he)電(dian)(dian)導(dao)率。

2這些試驗方(fang)法不適用于測量中等導電材料的電阻/電導。這些材料評估可(ke)采用試驗方(fang)法D4496。

3本標(biao)準描(miao)述了(le)幾種可選擇的測量(liang)電(dian)(dian)阻（或電(dian)(dian)導(dao)）的普通備用(yong)方法。特(te)殊(shu)材(cai)料(liao)科采用(yong)合(he)適的標(biao)準ASTM試驗方法進行測試，這(zhe)些特(te)殊(shu)材(cai)料(liao)具有電(dian)(dian)壓應力范圍和(he)有限(xian)起電(dian)(dian)時(shi)間，同時(shi)規(gui)定了(le)樣本結構和(he)電(dian)(dian)極幾何形狀(zhuang)。這(zhe)些個別特(te)殊(shu)試驗方法將能更好得(de)定義(yi)測量(liang)值的精(jing)度(du)和(he)偏(pian)差。

4本標準并沒有*列舉所(suo)有的安(an)(an)全聲明(ming)，如果有必(bi)要，根據(ju)實際使用(yong)情況(kuang)進(jin)行(xing)斟酌。使用(yong)本規(gui)范(fan)前，使用(yong)者(zhe)有責任制定符合(he)安(an)(an)全和健康要求的條例和規(gui)范(fan)，并明(ming)確該規(gui)范(fan)的使用(yong)范(fan)圍。

電阻的作用(yong)：

電(dian)(dian)阻在電(dian)(dian)路(lu)(lu)中(zhong)的(de)作用：利(li)用著名(ming)的(de)歐姆定律可以(yi)利(li)用電(dian)(dian)阻控(kong)制(zhi)電(dian)(dian)路(lu)(lu)中(zhong)的(de)電(dian)(dian)壓(ya)、電(dian)(dian)流。

電(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)的(de)(de)主要物理特(te)征就是可以變電(dian)(dian)(dian)能(neng)(neng)為熱能(neng)(neng)，因此熱水器(qi)中的(de)(de)發熱元件、電(dian)(dian)(dian)燈泡、電(dian)(dian)(dian)燙斗(dou)就是利(li)用了電(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)的(de)(de)作(zuo)(zuo)用制成的(de)(de)。另外電(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)有怕熱的(de)(de)特(te)性，當導體(ti)材料溫(wen)度(du)升(sheng)高時材料的(de)(de)電(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)率會增(zeng)大（有些材料則(ze)表(biao)現為減小），因此利(li)用電(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)的(de)(de)這(zhe)種特(te)性可以制作(zuo)(zuo)溫(wen)度(du)測量計(ji)（不知(zhi)道你看見過沒(mei)，插一根“鐵絲”就能(neng)(neng)測量溫(wen)度(du)的(de)(de)方法就是利(li)用了這(zhe)種電(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)材料作(zuo)(zuo)用的(de)(de)）。

另(ling)外一(yi)些材料的(de)電(dian)阻還(huan)會受到(dao)光(guang)(guang)線照射(she)的(de)印象(xiang)，而利用這樣的(de)材料可以(yi)制成(cheng)光(guang)(guang)敏電(dian)阻，利用這點作用可以(yi)方(fang)便的(de)設計光(guang)(guang)控電(dian)路以(yi)及光(guang)(guang)的(de)測量和(he)光(guang)(guang)電(dian)轉換等領域。

試步驟：

1、測試(shi)溫度23&plusmn;2℃，相對濕度65±5%，無(wu)外界電磁場干擾環(huan)境中進行。

2、測試時(shi)對試樣(yang)所加電(dian)壓為(wei)100V~500V的直流電(dian)壓，選擇(ze)電(dian)壓檔次(ci)。

3、將試樣倒入高壓電極內，使(shi)液面剛好和(he)環電極下(xia)緣全(quan)部接觸為止(zhi)。

4、將充分放電(dian)后的試樣和電(dian)極，按固體(ti)（液體(ti)）體(ti)積及表面電(dian)阻率(lv)測(ce)試儀要求接線(xian)。

外(wai)電極(ji)（高壓電極(ji)）接高固(gu)體(ti)（液體(ti)）體(ti)積及表面電阻率(lv)測(ce)試儀的(de)高壓輸出端。

內電(dian)(dian)極（測(ce)量(liang)(liang)電(dian)(dian)極）接(jie)固體（液體）體積及(ji)表面電(dian)(dian)阻率測(ce)試(shi)儀的測(ce)量(liang)(liang)端(duan)。

中電極（環電極）接固體(ti)（液體(ti)）體(ti)積及表面(mian)電阻率測(ce)試儀的接地端(duan)。

5、儀器預熱(re)30分(fen)(fen)鐘，穩定后(hou)(hou)調(diao)整(zheng)儀器（調(diao)零），加上試驗1分(fen)(fen)鐘，讀(du)取電阻指示(shi)值，然后(hou)(hou)放(fang)電1分(fen)(fen)鐘，再測試一(yi)次，以二次的算(suan)術平(ping)均值作為試驗樣品電阻指示(shi)值。

報告(gao)

報告應(ying)至(zhi)少包括下述(shu)情況：

a) 電阻率(lv)測(ce)試儀(yi)(yi)（電阻率(lv)測(ce)定儀(yi)(yi)）關于材料的說明(ming)和標(biao)志（名(ming)稱(cheng)、等級、顏色、制(zhi)造商等）；

b) 電(dian)阻(zu)率測試(shi)儀（電(dian)阻(zu)率測定儀）試(shi)樣的形狀和(he)尺寸(cun)；

c) 電(dian)(dian)阻(zu)率測試儀(yi)(yi)（電(dian)(dian)阻(zu)率測定儀(yi)(yi)）電(dian)(dian)極(ji)和保(bao)護裝置(zhi)的形式、材料和尺寸；

d) 電阻率測試儀（電阻率測定儀）試樣(yang)的處理(li)（清潔、預干燥、處理(li)時間、濕度和溫(wen)度）等；

e) 電(dian)阻(zu)率測(ce)試(shi)儀（電(dian)阻(zu)率測(ce)定儀）試(shi)驗條件(jian)（試(shi)樣溫度、相(xiang)對(dui)由(you)度）；

f) 電阻(zu)率測(ce)試儀（電阻(zu)率測(ce)定儀）測(ce)量方法；

g) 電阻率測試儀(yi)（電阻率測定儀(yi)）施加電壓；

h) 電阻(zu)率(lv)測(ce)試儀(yi)（電阻(zu)率(lv)測(ce)定儀(yi)）體(ti)和、電阻(zu)率(lv)（需要時）；

注(zhu)1：當規定了一個固定的電(dian)(dian)化時(shi)間(jian)(jian)時(shi)，注(zhu)明此時(shi)間(jian)(jian)，給出個別值，并報告中值作為體積電(dian)(dian)阻率。

注 2 ： 當在(zai)不同的(de)電(dian)化時(shi)間后測試時(shi)，應按如(ru)下(xia)要(yao)求報告：

當在相同的(de)電(dian)化時間(jian)里試(shi)(shi)樣(yang)(yang)(yang)達到一個穩定狀(zhuang)態肘(zhou)，給出(chu)個別值，并報告中(zhong)值作為(wei)體(ti)積(ji)電(dian)阻率。 在這個電(dian)化時 間(jian)里有某些試(shi)(shi)樣(yang)(yang)(yang)不能(neng)達到穩定狀(zhuang)態，則報告不能(neng)達到穩定狀(zhuang)態的(de)試(shi)(shi)樣(yang)(yang)(yang)數，并分別地(di)給出(chu)它(ta)們的(de)結果(guo)。 當測試(shi)(shi)結果(guo)取決于電(dian)化時間(jian)時，則報告它(ta)們之間(jian)的(de)關系(xi)，例(li)如．以(yi)圖的(de)形式或給出(chu)在電(dian)化Imin、10min和100min后(hou)的(de)體(ti)積(ji)電(dian)阻率的(de)中(zhong)值。

i) 表面電阻率（需要時）：

給(gei)出電化(hua)時間為1 min的個別值(zhi)，并報告其(qi)中值(zhi)作(zuo)為表(biao)面(mian)電阻率。

體(ti)積電阻

在(zai)測試以前應使(shi)試樣具有電(dian)(dian)介質穩定狀(zhuang)態。為(wei)此(ci)，通過測量(liang)裝置將試樣的測量(liang)電(dian)(dian)極(ji)1和3短(duan)路(lu)(lu) （圖la）），逐步(bu)增加(jia)電(dian)(dian)流測量(liang)裝置的靈敏度到符合要(yao)(yao)求(qiu)，同時(shi)觀(guan)察短(duan)路(lu)(lu)電(dian)(dian)流的變化，如此(ci)繼(ji)續到短(duan)路(lu)(lu)電(dian)(dian) 流達(da)到相當恒定的值為(wei)止，此(ci)值應小于(yu)電(dian)(dian)化電(dian)(dian)流的穩定值，或者小于(yu)電(dian)(dian)化100min的電(dian)(dian)流。由于(yu)短(duan)路(lu)(lu)電(dian)(dian) 流有可(ke)能改變方向，因此(ci)即使(shi)電(dian)(dian)流為(wei)零，也(ye)要(yao)(yao)維持(chi)短(duan)路(lu)(lu)狀(zhuang)態到需要(yao)(yao)的時(shi)間。當短(duan)路(lu)(lu)電(dian)(dian)流Io變得基本恒 定時(shi)（可(ke)能需要(yao)(yao)幾小時(shi)），記下Io的值和方向。

然后加上規(gui)定的(de)直流電(dian)(dian)(dian)壓井同(tong)時(shi)(shi)開始記(ji)(ji)時(shi)(shi)。除非(fei)另(ling)有規(gui)定，在(zai)如(ru)下每個電(dian)(dian)(dian)化(hua)時(shi)(shi)間作一(yi)次測量： 1 min、2min、5min、10min、50min、100min。如(ru)果連(lian)續兩(liang)次測量得出同(tong)樣的(de)結果，責(ze)可以結束試驗(yan)并(bing)用這個電(dian)(dian)(dian)流值來計算體(ti)(ti)積電(dian)(dian)(dian)阻(zu)。記(ji)(ji)錄次觀察到相同(tong)測量結果時(shi)(shi)的(de)電(dian)(dian)(dian)化(hua)時(shi)(shi)間。如(ru)果在(zai)100min內不 能達到穩(wen)定狀態，則記(ji)(ji)錄體(ti)(ti)積電(dian)(dian)(dian)阻(zu)與電(dian)(dian)(dian)化(hua)時(shi)(shi)間的(de)函數關系。

作(zuo)為驗收試驗，按(an)照有關規(gui)范的(de)規(gui)定，使用一(yi)個固(gu)定的(de)電(dian)化時間如lmin后的(de)電(dian)流(liu)值來計算體(ti)(ti)積電(dian)阻(zu)率。

電(dian)源(yuan)

要求有(you)很(hen)穩定的(de)直流電(dian)壓源。這可用蓄電(dian)油或一個(ge)整流穩壓的(de)電(dian)摞來提(ti)供。對電(dian)源的(de)穩定度要求 是(shi)由電(dian)壓變表面電(dian)阻率

為(wei)測定表面(mian)電(dian)阻率，試(shi)樣(yang)(yang)的(de)(de)形(xing)狀不限，只要(yao)允許(xu)使(shi)用第三(san)電(dian)極(ji)(ji)(ji)(ji)(ji)來抵消體積(ji)效應引起的(de)(de)誤差即可。推(tui)薦使(shi)用圖2及圖3所(suo)示(shi)的(de)(de)三(san)電(dian)極(ji)(ji)(ji)(ji)(ji)裝置。用電(dian)極(ji)(ji)(ji)(ji)(ji)1作為(wei)被保護(hu)(hu)電(dian)極(ji)(ji)(ji)(ji)(ji)，電(dian)極(ji)(ji)(ji)(ji)(ji)3作為(wei)保護(hu)(hu)電(dian)極(ji)(ji)(ji)(ji)(ji)，電(dian)極(ji)(ji)(ji)(ji)(ji)2作為(wei)不 保護(hu)(hu)電(dian)極(ji)(ji)(ji)(ji)(ji)。可直(zhi)接測量電(dian)極(ji)(ji)(ji)(ji)(ji)1和(he)(he)2之間(jian)表面(mian)間(jian)隙的(de)(de)電(dian)阻。這樣(yang)(yang)測得(de)的(de)(de)電(dian)阻包括(kuo)了電(dian)極(ji)(ji)(ji)(ji)(ji)1和(he)(he)2之間(jian)的(de)(de)表面(mian)電(dian)阻和(he)(he)這兩個電(dian)極(ji)(ji)(ji)(ji)(ji)間(jian)的(de)(de)體積(ji)電(dian)阻。然而，對(dui)于很寬范圍的(de)(de)環境條件和(he)(he)材料性(xing)能，當電(dian)極(ji)(ji)(ji)(ji)(ji)尺(chi)寸合適時， 體積(ji)電(dian)阻的(de)(de)影響可忽略不計。為(wei)此(ci)，對(dui)于圖2和(he)(he)圖3所(suo)示(shi)的(de)(de)裝置，電(dian)極(ji)(ji)(ji)(ji)(ji)的(de)(de)間(jian)隙寬度(du)(du)g至(zhi)少應為(wei)試(shi)樣(yang)(yang)厚度(du)(du) 的(de)(de)2倍，一般說(shuo)來，1mm為(wei)切(qie)實可行的(de)(de) 小(xiao)間(jian)隙。被保護(hu)(hu)電(dian)極(ji)(ji)(ji)(ji)(ji)尺(chi)寸d1（或長度(du)(du)l1）應至(zhi)少為(wei)試(shi)樣(yang)(yang)厚度(du)(du)h 的(de)(de)10倍，通常至(zhi)少為(wei)25mm。

也可以使用條形電(dian)極或具有合適尺寸(cun)的其他裝置。

注：由于通過(guo)試樣內層的(de)電流的(de)影響(xiang)，表(biao)面電阻率(lv)的(de)計(ji)算值與試樣和電極的(de)尺寸有(you)很(hen)大(da)的(de)關(guan)系，因此，為了測(ce)定時可進行(xing)比(bi)較，推薦使用與圖(tu)2所示的(de)電極裝(zhuang)置(zhi)的(de)尺寸相一致的(de)試樣，其中d1= 50 mm, d2 = 60 mm, ds = 80 mm,

化導致(zhi)的(de)電流(liu)變(bian)化與被測電流(liu)相(xiang)比(bi)可忽略不計。

加到整個試(shi)樣上的試(shi)驗電(dian)壓通常規(gui)定為100V、250V、500V、1000 V、2500 V、5000 V, 10000 V 和15000 V。 常用的電(dian)壓是100V、500V和1000 V。

在某些(xie)情況下，試(shi)樣的(de)(de)電(dian)阻與施加(jia)電(dian)壓的(de)(de)極性有關

如果(guo)電阻是與(yu)極性有關的(de)，則(ze)宜加以注明(ming)。取(qu)兩次電阻值的(de)幾何平(ping)均值（對數(shu)算術平(ping)均值的(de)反對 數(shu)）作為結(jie)果(guo)。

由于試(shi)(shi)樣電(dian)阻可能與電(dian)壓有依存關系，因(yin)此應在報告中(zhong)注(zhu)明試(shi)(shi)驗電(dian)壓值(zhi)。