絕緣材料高溫電阻率測定儀標準：GB/T 1410-2006《 塑料薄膜電阻率測定儀固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率試驗方法》

 GB/T 1410-2006本標準(zhun)規(gui)定了(le)固(gu)體(ti)(ti)(ti)(ti)(ti)絕(jue)(jue)緣材料體(ti)(ti)(ti)(ti)(ti)積(ji)電(dian)阻(zu)(zu)率和(he)(he)表(biao)面電(dian)阻(zu)(zu)率的(de)(de)試驗方法。這(zhe)些試驗方法包括對固(gu)體(ti)(ti)(ti)(ti)(ti)絕(jue)(jue)緣材料體(ti)(ti)(ti)(ti)(ti)積(ji)電(dian)阻(zu)(zu)和(he)(he)表(biao)面電(dian)阻(zu)(zu)的(de)(de)測定程序及體(ti)(ti)(ti)(ti)(ti)積(ji)電(dian)阻(zu)(zu)率和(he)(he)表(biao)面電(dian)阻(zu)(zu)率的(de)(de)計算(suan)方法

 體積電阻(zu)和表面電阻(zu)的(de)試驗(yan)都(dou)受到(dao)下列因素影響:施加電壓(ya)的(de)大小和時間;電極的(de)性質和尺寸;在

試(shi)(shi)樣(yang)處理和(he)測試(shi)(shi)過程(cheng)中周 圍大(da)氣(qi)條件 和(he)試(shi)(shi) 樣(yang)的溫度 、濕度 。

 影(ying)響(xiang)體積電(dian)(dian)(dian)阻率(lv)和表面電(dian)(dian)(dian)阻率(lv)測(ce)(ce)試(shi)的(de)(de)(de)主要因素是溫度(du)和濕(shi)(shi)度(du)、電(dian)(dian)(dian)場強度(du)、充電(dian)(dian)(dian)時間及殘(can)余電(dian)(dian)(dian)荷等(deng)。體積電(dian)(dian)(dian)阻率(lv)可作(zuo)為選擇絕(jue)緣材(cai)料(liao)的(de)(de)(de)一個參數，電(dian)(dian)(dian)阻率(lv)隨溫度(du)和濕(shi)(shi)度(du)的(de)(de)(de)變(bian)化(hua)而顯著變(bian)化(hua)。體積電(dian)(dian)(dian)阻率(lv)的(de)(de)(de)測(ce)(ce)量常常用來檢(jian)(jian)查絕(jue)緣材(cai)料(liao)是否均勻，或者用來檢(jian)(jian)測(ce)(ce)那些能(neng)影(ying)響(xiang)材(cai)料(liao)質量而又不能(neng)用其(qi)他(ta)方法檢(jian)(jian)測(ce)(ce)到的(de)(de)(de)導電(dian)(dian)(dian)雜質。

溫(wen)度(du)和(he)濕度(du)：固體絕(jue)緣材(cai)料的(de)絕(jue)緣電(dian)(dian)阻(zu)(zu)率隨(sui)溫(wen)度(du)和(he)濕度(du)的(de)升高而(er)降(jiang)低(di)，特別是體積(ji)電(dian)(dian)阻(zu)(zu)率隨(sui)溫(wen)度(du)改變而(er)變化(hua)非常大。因此，電(dian)(dian)瓷(ci)材(cai)料不但要測(ce)定(ding)常溫(wen)下(xia)的(de)體積(ji)電(dian)(dian)阻(zu)(zu)率，而(er)且還要測(ce)定(ding)高溫(wen)下(xia)的(de)體積(ji)電(dian)(dian)阻(zu)(zu)率，以評定(ding)其絕(jue)緣性能的(de)好壞。由于(yu)水的(de)電(dian)(dian)導(dao)大，隨(sui)著(zhu)濕度(du)增大，表(biao)面電(dian)(dian)阻(zu)(zu)率和(he)有開口孔隙(xi)的(de)電(dian)(dian)瓷(ci)材(cai)料的(de)體積(ji)電(dian)(dian)阻(zu)(zu)率急劇下(xia)降(jiang)。因此，測(ce)定(ding)時(shi)應嚴格地按照(zhao)規定(ding)的(de)試樣處(chu)理要求和(he)測(ce)試的(de)環境條(tiao)件下(xia)進行。

絕緣材料高溫電阻率測定儀測量指標

• 電阻測量范圍： 1×104Ω ～1×1018Ω。
• 電流測量范圍： 2×10-4A～1×10-16A
• 內置測試電壓： 10V 、50V、100V、250V、500V、1000V（任意切換）
• 基本準確度(du)：1% (*注)
• 供(gong)電形式(shi)： AC 220V，50HZ，功(gong)耗約5W
• 儀(yi)器(qi)尺寸(cun)： 285ｍｍ× 245ｍｍ× 120 mm
• 質量： 約5KG
• 體積小、重(zhong)量輕(qing)、準確度高，電(dian)阻、電(dian)流雙(shuang)顯示，性(xing)能好穩定、讀(du)數方便(bian)
• 顯 示 方 式：數字液(ye)晶顯示
• 使(shi)用環(huan)境： 溫度(du)：0℃～40℃，相對濕度(du)<80%

為(wei)什(shen)么測量(liang)完畢時(shi)一定要將量(liang)程(cheng)開關再撥到104檔后才能(neng)關電源？

這是因為在測(ce)(ce)量時(shi)被測(ce)(ce)物體及儀(yi)(yi)器(qi)(qi)輸入(ru)端都有(you)一(yi)定的電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)容(rong)，這個(ge)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)容(rong)在測(ce)(ce)量時(shi)已被充電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)到測(ce)(ce)量電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)時(shi)的電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)壓(ya)值(zhi)，如(ru)果儀(yi)(yi)器(qi)(qi)不撥到104擋后關(guan)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)源這個(ge)充電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)后的電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)容(rong)器(qi)(qi)會(hui)對(dui)儀(yi)(yi)器(qi)(qi)內的放(fang)大(da)器(qi)(qi)放(fang)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)而造成儀(yi)(yi)器(qi)(qi)損(sun)壞(huai)。當被測(ce)(ce)量物體電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)容(rong)越(yue)大(da)，測(ce)(ce)試電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)壓(ya)越(yue)高時(shi)，電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)容(rong)器(qi)(qi)所(suo)儲藏的電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)能(neng)越(yue)大(da)，更容(rong)易損(sun)壞(huai)儀(yi)(yi)器(qi)(qi)，特別是在電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)阻的高量程(cheng)或電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)流的低量程(cheng)時(shi)因儀(yi)(yi)器(qi)(qi)非常靈敏，儀(yi)(yi)器(qi)(qi)過載而損(sun)壞(huai)的可(ke)能(neng)性更大(da)。所(suo)以(yi)一(yi)定要將量程(cheng)開(kai)關(guan)再撥到104擋后才能(neng)關(guan)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)源。

為什么測量時儀器的讀數總是不穩？

    一般的(de)材(cai)(cai)料其導電(dian)性不是嚴格像(xiang)標準電(dian)阻樣在一定(ding)的(de)電(dian)壓下有很(hen)穩(wen)定(ding)的(de)電(dian)流，有很(hen)多材(cai)(cai)料特(te)別是防靜電(dian)材(cai)(cai)料其導電(dian)性不符合歐姆定(ding)律，所以在測量時其讀數不穩(wen)。

    這不是儀(yi)(yi)器(qi)的(de)(de)(de)問題，而(er)是被(bei)測量(liang)物體的(de)(de)(de)性能決定的(de)(de)(de)。有的(de)(de)(de)標(biao)準(zhun)規定以測量(liang)1分鐘時間(jian)的(de)(de)(de)讀(du)數(shu)為準(zhun)。通常在測量(liang)高電阻或微電流時測量(liang)準(zhun)確(que)度因重復性不好，對(dui)測量(liang)讀(du)數(shu)只要求2位(wei)或3位(wei)。另外在測量(liang)大(da)電阻時如果屏蔽不好也會因外界的(de)(de)(de)電磁(ci)信號對(dui)儀(yi)(yi)器(qi)測量(liang)結果造成讀(du)數(shu)不穩(wen)。

電(dian)源

要求(qiu)有很穩定的直流電(dian)(dian)(dian)壓源。這可(ke)用蓄電(dian)(dian)(dian)油或一(yi)個整流穩壓的電(dian)(dian)(dian)摞來提供。對電(dian)(dian)(dian)源的穩定度(du)要求(qiu) 是由(you)電(dian)(dian)(dian)壓變(bian)化導致的電(dian)(dian)(dian)流變(bian)化與被測電(dian)(dian)(dian)流相比(bi)可(ke)忽略不(bu)計。

加到(dao)整個試(shi)樣上的試(shi)驗電壓通常(chang)規定為100V、250V、500V、1000 V、2500 V、5000 V, 10000 V 和15000 V。 常(chang)用的電壓是100V、500V和1000 V。

在(zai)某(mou)些情(qing)況下，試樣的電阻(zu)與施加電壓(ya)的極性有關

如果電阻是與極性有關(guan)的(de)，則宜加以(yi)注(zhu)明(ming)。取兩次電阻值的(de)幾何平均值（對數(shu)算術平均值的(de)反(fan)對 數(shu)）作為結果。

由于試樣(yang)電阻可能(neng)與電壓(ya)有依存關系(xi)，因此應在報(bao)告中注明試驗電壓(ya)值。

電(dian)(dian)阻(zu)(zu)率(lv)：是(shi)用來表示各種(zhong)物質電(dian)(dian)阻(zu)(zu)特性的(de)(de)物理量。某種(zhong)材(cai)料(liao)(liao)制成的(de)(de)長1米(mi)、橫截面積是(shi)1平方(fang)毫米(mi)的(de)(de)導線的(de)(de)電(dian)(dian)阻(zu)(zu)，叫做這種(zhong)材(cai)料(liao)(liao)的(de)(de)電(dian)(dian)阻(zu)(zu)率(lv)。單位(wei)制中(zhong)，電(dian)(dian)阻(zu)(zu)率(lv)的(de)(de)單位(wei)是(shi)歐姆(mu)·米(mi)，常用單位(wei)是(shi)歐姆(mu)·平方(fang)毫米(mi)/米(mi)

工作原理

根據(ju)歐姆定(ding)律，被測電(dian)阻(zu)(zu)Rx等(deng)于(yu)施(shi)加電(dian)壓V除以(yi)(yi)通(tong)(tong)過的(de)(de)(de)(de)(de)電(dian)流I。傳(chuan)統的(de)(de)(de)(de)(de)高阻(zu)(zu)計的(de)(de)(de)(de)(de)工作原理(li)是測量(liang)電(dian)壓V固定(ding)，通(tong)(tong)過測量(liang)流過取樣電(dian)阻(zu)(zu)的(de)(de)(de)(de)(de)電(dian)流I來得到電(dian)阻(zu)(zu)值。從歐姆定(ding)律可(ke)以(yi)(yi)看(kan)出，由(you)于(yu)電(dian)流I是與電(dian)阻(zu)(zu)成(cheng)反比，而不是成(cheng)正(zheng)比，所(suo)以(yi)(yi)電(dian)阻(zu)(zu)的(de)(de)(de)(de)(de)顯示值是非線性的(de)(de)(de)(de)(de)，即電(dian)阻(zu)(zu)無窮大時(shi)，電(dian)流為零，即表頭(tou)的(de)(de)(de)(de)(de)零位處是∞，其附近的(de)(de)(de)(de)(de)刻(ke)度非常密，分(fen)辨率(lv)很低。整個(ge)刻(ke)度是非線性的(de)(de)(de)(de)(de)。又由(you)于(yu)測量(liang)不同的(de)(de)(de)(de)(de)電(dian)阻(zu)(zu)時(shi)，其電(dian)壓V也會(hui)有(you)些變化，所(suo)以(yi)(yi)普通(tong)(tong)的(de)(de)(de)(de)(de)高阻(zu)(zu)計是精度差、分(fen)辨率(lv)低。

本(ben)儀器是(shi)同(tong)時(shi)測出電(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)兩(liang)端(duan)的(de)(de)電(dian)(dian)(dian)(dian)壓V和(he)流(liu)過電(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)的(de)(de)電(dian)(dian)(dian)(dian)流(liu)I，通(tong)過內部(bu)的(de)(de)大規模集(ji)成(cheng)電(dian)(dian)(dian)(dian)路完成(cheng)電(dian)(dian)(dian)(dian)壓除以電(dian)(dian)(dian)(dian)流(liu)的(de)(de)計算，然后把所(suo)得到的(de)(de)結果經過A/D轉換后以數字(zi)顯示(shi)出電(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)值，即便是(shi)電(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)兩(liang)端(duan)的(de)(de)電(dian)(dian)(dian)(dian)壓V和(he)流(liu)過電(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)的(de)(de)電(dian)(dian)(dian)(dian)流(liu)I是(shi)同(tong)時(shi)變(bian)(bian)化(hua)，其顯示(shi)的(de)(de)電(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)值不象普通(tong)高阻(zu)(zu)計那樣因被測電(dian)(dian)(dian)(dian)壓V的(de)(de)變(bian)(bian)化(hua)或電(dian)(dian)(dian)(dian)流(liu)Ｉ的(de)(de)變(bian)(bian)化(hua)而變(bian)(bian)，所(suo)以，即使(shi)測量(liang)(liang)電(dian)(dian)(dian)(dian)壓、被測量(liang)(liang)電(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)、電(dian)(dian)(dian)(dian)源電(dian)(dian)(dian)(dian)壓等發生變(bian)(bian)化(hua)對其結果影響不大，其測量(liang)(liang)精度(du)很(hen)高，從理論(lun)上講其誤差(cha)可以做(zuo)到零，而實際誤差(cha)可以做(zuo)到千分之幾或萬分之幾。

條件處理

試樣的處(chu)理(li)(li)條(tiao)件取決于(yu)被試材(cai)(cai)料(liao)，這(zhe)些條(tiao)件應在(zai)材(cai)(cai)料(liao)規(gui)范中規(gui)定。推(tui)薦(jian)按 GB/T 10580一2003 進行條(tiao)件處(chu)理(li)(li)；由各種(zhong)鹽(yan)溶液所產(chan)生的相對溫度在(zai) IEC 60260 中給出。

可以采用(yong)機械蒸發系統(tong)。體(ti)積電(dian)阻(zu)(zu)(zu)率(lv)和表(biao)面(mian)電(dian)阻(zu)(zu)(zu)率(lv)都(dou)對(dui)溫(wen)度(du)變化特(te)別敏感。 這種變化是指數式的。 因(yin)此(ci)(ci)必須(xu)在規定的條件 下來測(ce)量試(shi)樣的體(ti)積電(dian)阻(zu)(zu)(zu)和表(biao)面(mian)電(dian)阻(zu)(zu)(zu)。 由于(yu)水分被(bei)吸收到電(dian)介質內是相對(dui)緩慢(man)的過程，因(yin)此(ci)(ci)測(ce)定溫(wen)度(du) 對(dui)體(ti)積電(dian)阻(zu)(zu)(zu)率(lv)的影響需(xu)要(yao)延長處理期(qi)。 吸收水分后通常會降低體(ti)積電(dian)阻(zu)(zu)(zu)。 有些試(shi)樣可能需(xu)要(yao)處理數月 才能達到平衡(heng)。

液體(ti)電極

使用液體(ti)(ti)電極往(wang)往(wang)能得到滿意(yi)的(de)結果。 構成(cheng)上電極的(de)液體(ti)(ti)應(ying)被框住，例如用不銹鋼環來框住，每個 環的(de)下邊(bian)緣在不接觸液體(ti)(ti)的(de)一面被斜削成(cheng)銳邊(bian)。 圖(tu) 4 給出了使用液體(ti)(ti)電極的(de)裝(zhuang)置。 不推薦長期使用或 在高溫下使用水銀(yin)，因(yin)為它有毒。