塑料、絕緣材料介電常數測試儀作為新一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器，測試頻率上限達到目前國內高的160MHz。

 塑料、絕緣材料介電常數測試儀技術參數：

1．Q值(zhi)測量

a．Q值測量(liang)范圍：2～1023。

b．Q值量程(cheng)分檔(dang)：30、100、300、1000、自動(dong)(dong)換檔(dang)或(huo)手動(dong)(dong)換檔(dang)。

c．標稱誤差

     頻(pin)率(lv)范(fan)圍(wei)（100kHz～10MHz）：  頻(pin)率(lv)范(fan)圍(wei)（10MHz～160MHz）：

     固(gu)有誤差(cha)：≤5％±滿度(du)值(zhi)的2%  固(gu)有誤差(cha)：≤6％±滿度(du)值(zhi)的2%

     工(gong)作誤差(cha)：≤7％±滿度值的(de)2%  工(gong)作誤差(cha)：≤8％±滿度值的(de)2%

2．電(dian)感測量范圍：4.5nH~7.9mH

3．電容(rong)測量(liang)：1~205

     主電(dian)容調節范圍(wei)：18～220pF

     準(zhun)確度：150pF以下±1.5pF；  150pF以上±1%

     注：大于直接測量范(fan)圍的電容測量見后頁(ye)使用說明

4.   信號(hao)源頻率覆蓋范圍

     頻率范圍CH1:0.1～0.999999MHz, CH2:  1～9.99999MHz,

     CH3:10～99.9999MHz, CH1  :100～160MHz,

5．Q合格指示預置功(gong)能(neng):      預置范圍：5～1000。

6．B-測試(shi)儀正常工作條件(jian)

a.   環境溫度：0℃～+40℃；

b．相對濕(shi)度：<80％；

c．電(dian)源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。

7．其他

a．消(xiao)耗(hao)功率：約25W；

b．凈重：約7kg；

c.  外型尺寸：（l×b×h）mm：380&times;132×280。

高頻/音頻介電常數測(ce)試(shi)儀GDAT-A測(ce)試(shi)注意事項(xiang)

a．本(ben)儀(yi)器應(ying)水平安放；

b．如果你需要(yao)較精確(que)地測量，請(qing)接通電源后(hou)，預(yu)熱30分鐘；

c．調(diao)(diao)(diao)節(jie)主調(diao)(diao)(diao)電容(rong)或主調(diao)(diao)(diao)電容(rong)數碼開關(guan)時(shi)，當接(jie)近諧振(zhen)點時(shi)請緩調(diao)(diao)(diao)；

d．被測件和(he)測試電路接線柱間的(de)接線應盡量短，足夠(gou)粗，并應接觸良好、可(ke)靠(kao)，以減少因接線的(de)電阻和(he)分布參數所帶來的(de)測量誤(wu)差；

e．被(bei)測件不要直接擱在面板頂部，離(li)頂部一公分以(yi)上，必(bi)要時(shi)可用低損耗的絕(jue)緣材料如聚苯乙烯等做成的襯(chen)墊物襯(chen)墊；

f．手不得靠近(jin)試(shi)(shi)件，以免(mian)人體感應(ying)影響造成測量誤(wu)差，有屏蔽的試(shi)(shi)件，屏蔽罩應(ying)連接(jie)在(zai)低電位(wei)端(duan)的接(jie)線柱(zhu)。

影響介(jie)電(dian)性能的因(yin)素(su)

 下(xia)面分別討(tao)論頻(pin)率(lv)、溫度、濕度和電氣強度對介電性能(neng)的影響。

1頻率(lv)

 因(yin)為只有少數(shu)材(cai)(cai)料(liao)如石英(ying)玻璃、聚苯乙烯(xi)或聚乙烯(xi)在(zai)很寬的(de)(de)頻率范圍內它(ta)們的(de)(de) 。r和  tans幾乎是恒定(ding)的(de)(de)，且被用(yong)作工程電(dian)介質材(cai)(cai)料(liao)，然(ran)而一般的(de)(de)電(dian)介質材(cai)(cai)料(liao)必須在(zai)所使(shi)用(yong)的(de)(de)頻率下測量其(qi)介質損(sun)耗因(yin)數(shu)和電(dian)容(rong)率。

 電容率和(he)介(jie)質損耗因(yin)數的(de)變化是由于介(jie)質極(ji)(ji)化和(he)電導(dao)而產生，重要(yao)的(de)變化是極(ji)(ji)性分子引起的(de)偶極(ji)(ji)子極(ji)(ji)化和(he)材料的(de)不(bu)均勻(yun)性導(dao)致(zhi)的(de)界(jie)面極(ji)(ji)化所引起的(de).

2溫度

 損耗指數(shu)(shu)在一(yi)個頻率下(xia)可(ke)(ke)以出現(xian)一(yi)個大值(zhi)，這(zhe)個頻率值(zhi)與電介(jie)質(zhi)材料的(de)溫度(du)(du)有(you)關。介(jie)質(zhi)損耗因數(shu)(shu)和電容率的(de)溫度(du)(du)系數(shu)(shu)可(ke)(ke)以是正的(de)或負的(de)，這(zhe)取決于在測(ce)量溫度(du)(du)下(xia)的(de)介(jie)質(zhi)損耗指數(shu)(shu)大值(zhi)位置(zhi)。

3濕度

 極化的程(cheng)度(du)隨水分的吸收量或電(dian)介質材料表面水膜的形成(cheng)而增(zeng)加(jia)，其結果使電(dian)容率、介質損耗(hao)因數和直流電(dian)導率增(zeng)大。因此試驗前和試驗時對(dui)環境濕度(du)進(jin)行控制是*的.

 注:濕度的顯著影響常常發生在 1MHz以(yi)下(xia)及微波(bo)頻率范(fan)圍內(nei)

4電場強度

&nbsp;存在界面極化時，自由離子(zi)的(de)數目(mu)隨電場強度增大而增加，其損耗(hao)指數大值(zhi)的(de)大小和位置也隨此而變。

 在(zai)較高的頻(pin)率下，只要電介(jie)質中不出(chu)現局部(bu)放電，電容率和介(jie)質損(sun)耗(hao)因數與電場強度無關(guan)

測量方法的選擇：

 高頻/音(yin)頻介(jie)(jie)電常數測(ce)試儀GDAT-A測(ce)量電容(rong)率和介(jie)(jie)質損(sun)耗因數的(de)方法(fa)可分成兩(liang)種(zhong):零點指示法(fa)和諧振法(fa)。

1  零點指示法適用于頻率不(bu)超過50  MHz時(shi)的(de)測量(liang)。測量(liang)電(dian)容(rong)率和介質損耗因數可用替代法;也就是(shi)(shi)在(zai)接(jie)人試(shi)樣和不(bu)接(jie)試(shi)樣兩種狀態下，調(diao)節回(hui)(hui)路(lu)的(de)一(yi)個(ge)臂使電(dian)橋(qiao)平衡。通常回(hui)(hui)路(lu)采用西(xi)林電(dian)橋(qiao)、變壓器電(dian)橋(qiao)(也就是(shi)(shi)互感藕合比例臂電(dian)橋(qiao))和并(bing)聯  T型網絡(luo)(luo)。變壓器電(dian)橋(qiao)的(de)優點:采用保護電(dian)極不(bu)需任何(he)外加(jia)附件(jian)或過多操作，就可采用保護電(dian)極;它沒有其他網絡(luo)(luo)的(de)缺點。

2 諧振(zhen)法(fa)適用(yong)于10  kHz一(yi)幾百(bai)MHz的(de)頻率范圍內的(de)測(ce)量(liang)。該(gai)方(fang)法(fa)為(wei)替代法(fa)測(ce)量(liang)，常用(yong)的(de)是變電(dian)抗(kang)法(fa)。但該(gai)方(fang)法(fa)不適合(he)采用(yong)保(bao)護電(dian)極。

 注:典型的(de)電橋(qiao)和電路示例見附(fu)錄。附(fu)錄中所舉的(de)例子(zi)自(zi)然(ran)是不全面的(de)，敘述電橋(qiao)和側量方法報導見有關文獻和該種儀(yi)器(qi)的(de)原(yuan)理說明書。

試驗報告

 試驗報告(gao)中應給出下列相關內容:

 絕緣(yuan)材料的(de)(de)型號(hao)名稱及(ji)種類(lei)、供貨形式、取(qu)樣(yang)方(fang)法(fa)、試(shi)(shi)樣(yang)的(de)(de)形狀及(ji)尺(chi)寸(cun)和取(qu)樣(yang)  日期(qi)(并注明試(shi)(shi)樣(yang)厚度和試(shi)(shi)樣(yang)在與電極(ji)接(jie)觸的(de)(de)表面進行(xing)處理的(de)(de)情(qing)況);

 試樣條件處理(li)的方(fang)法和(he)處理(li)時(shi)間;

&nbsp;電極(ji)裝置(zhi)類(lei)型(xing)，若有加在試樣上的電極(ji)應注(zhu)明其類(lei)型(xing);

 測(ce)量儀器(qi);

 試(shi)驗時的溫度和相對濕度以(yi)及試(shi)樣(yang)的溫度;

 施加(jia)的電壓;

 施加的頻(pin)率;

 相對電(dian)容率ε(平(ping)均值);

 介質損耗因(yin)數  tans(平(ping)均值);

 試(shi)驗 日(ri)期  ;

 相對電容率(lv)和(he)介質損(sun)耗(hao)(hao)因數值以及由它們計算(suan)得到的值如損(sun)耗(hao)(hao)指數和(he)損(sun)耗(hao)(hao)角，必要時，應(ying)給出與溫度和(he)頻率(lv)的關系(xi)。

特點：  

◎  本公司創(chuang)新(xin)的自(zi)動Q值保持(chi)技術，使測Q分(fen)辨率至(zhi)0.1Q，使tanδ分(fen)辨率至(zhi)0.00005 。

◎  能對固體(ti)絕(jue)緣材(cai)料在10kHz～120MHz介質損耗角(jiao)(tanδ)和介電常數(ε)變化的測試。

◎  調諧回路殘余電感值低至8nH，保證100MHz的(de)(tanδ)和(ε)的(de)誤(wu)差較小。

◎  特制LCD屏(ping)菜(cai)單式顯示多參數：Q值，測試頻(pin)率，調諧狀態(tai)等。

◎  Q值量程自動/手動量程控制(zhi)。

◎  DPLL合成發生1kHz～60MHz, 50kHz～160MHz測試信(xin)號。獨(du)立信(xin)號 源輸出口，所以本機又是一臺合成信(xin)號源。

◎  測試裝(zhuang)置符合國標(biao)GB/T 1409-2006,美標(biao)ASTM D150以及IEC60250規范要求。

介(jie)質(zhi)損(sun)耗(hao)：絕緣材(cai)料在(zai)(zai)(zai)電場作(zuo)用下，由(you)于介(jie)質(zhi)電導和(he)介(jie)質(zhi)極化的(de)滯后效應(ying)，在(zai)(zai)(zai)其內(nei)部引起(qi)的(de)能(neng)量(liang)損(sun)耗(hao)。也叫介(jie)質(zhi)損(sun)失，簡稱介(jie)損(sun)。在(zai)(zai)(zai)交變(bian)電場作(zuo)用下，電介(jie)質(zhi)內(nei)流過的(de)電流相量(liang)和(he)電壓相量(liang)之間(jian)的(de)夾(jia)角(jiao)(jiao)（功率因數角(jiao)(jiao)Φ）的(de)余角(jiao)(jiao)δ稱為介(jie)質(zhi)損(sun)耗(hao)角(jiao)(jiao)。

損(sun)耗(hao)因子(zi)也(ye)指耗(hao)損(sun)正切，是(shi)交流電(dian)被轉(zhuan)化為(wei)熱(re)能(neng)的介(jie)電(dian)損(sun)耗(hao)（耗(hao)散的能(neng)量）的量度，一(yi)般情況(kuang)下都期望耗(hao)損(sun)因子(zi)低(di)些好(hao)

概念：

電(dian)(dian)(dian)介(jie)(jie)質(zhi)(zhi)(zhi)在外(wai)電(dian)(dian)(dian)場(chang)作(zuo)(zuo)用下，其內部會(hui)有(you)發(fa)熱(re)現象，這說明有(you)部分電(dian)(dian)(dian)能已轉化為熱(re)能耗(hao)(hao)(hao)散(san)掉(diao)，電(dian)(dian)(dian)介(jie)(jie)質(zhi)(zhi)(zhi)在電(dian)(dian)(dian)場(chang)作(zuo)(zuo)用下，在單位時間(jian)內因發(fa)熱(re)而消耗(hao)(hao)(hao)的能量稱為電(dian)(dian)(dian)介(jie)(jie)質(zhi)(zhi)(zhi)的損(sun)耗(hao)(hao)(hao)功(gong)率，或簡稱介(jie)(jie)質(zhi)(zhi)(zhi)損(sun)耗(hao)(hao)(hao)（diclectric  loss）。介(jie)(jie)質(zhi)(zhi)(zhi)損(sun)耗(hao)(hao)(hao)是應(ying)用于交流電(dian)(dian)(dian)場(chang)中(zhong)電(dian)(dian)(dian)介(jie)(jie)質(zhi)(zhi)(zhi)的重要品(pin)質(zhi)(zhi)(zhi)指標之一。介(jie)(jie)質(zhi)(zhi)(zhi)損(sun)耗(hao)(hao)(hao)不但消耗(hao)(hao)(hao)了電(dian)(dian)(dian)能，而且使元件(jian)發(fa)熱(re)影(ying)響其正常工作(zuo)(zuo)。如果介(jie)(jie)電(dian)(dian)(dian)損(sun)耗(hao)(hao)(hao)較大，甚(shen)至會(hui)引起介(jie)(jie)質(zhi)(zhi)(zhi)的過熱(re)而絕緣破(po)壞(huai)，所以(yi)從這種意義上講，介(jie)(jie)質(zhi)(zhi)(zhi)損(sun)耗(hao)(hao)(hao)越小越好。

主要技術特性(xing)：

介質損(sun)(sun)(sun)耗(hao)(hao)和介電常(chang)數(shu)是(shi)各種(zhong)電瓷、裝置瓷、電容器(qi)(qi)(qi)等(deng)(deng)陶(tao)瓷，還有復合材料(liao)等(deng)(deng)的(de)(de)一項重要(yao)的(de)(de)物理性(xing)質，通過測(ce)定(ding)介質損(sun)(sun)(sun)耗(hao)(hao)角正(zheng)切tanδ及介電常(chang)數(shu)(ε)，可(ke)進一步了(le)解影響(xiang)介質損(sun)(sun)(sun)耗(hao)(hao)和介電常(chang)數(shu)的(de)(de)各種(zhong)因(yin)素，為(wei)提(ti)高(gao)(gao)材料(liao)的(de)(de)性(xing)能(neng)提(ti)供(gong)(gong)依據；儀(yi)器(qi)(qi)(qi)的(de)(de)基(ji)本原理是(shi)采用高(gao)(gao)頻(pin)(pin)(pin)諧(xie)振法(fa)，并(bing)(bing)提(ti)供(gong)(gong)了(le)，通用、多(duo)用途、多(duo)量程的(de)(de)阻(zu)抗測(ce)試(shi)(shi)。它以單(dan)片計算機作為(wei)儀(yi)器(qi)(qi)(qi)的(de)(de)控制(zhi)，測(ce)量核心(xin)采用了(le)頻(pin)(pin)(pin)率數(shu)字鎖定(ding)，標(biao)準頻(pin)(pin)(pin)率測(ce)試(shi)(shi)點自動設定(ding)，諧(xie)振點自動搜(sou)索，Q值量程自動轉換，數(shu)值顯(xian)示(shi)等(deng)(deng)新(xin)技術(shu)，改進了(le)調(diao)諧(xie)回路，使(shi)得調(diao)諧(xie)測(ce)試(shi)(shi)回路的(de)(de)殘余電感減(jian)至(zhi)低，并(bing)(bing)保(bao)留(liu)了(le)原Q表(biao)中自動穩幅(fu)等(deng)(deng)技術(shu)，使(shi)得新(xin)儀(yi)器(qi)(qi)(qi)在(zai)使(shi)用時更(geng)為(wei)方便，測(ce)量值更(geng)為(wei)精確。儀(yi)器(qi)(qi)(qi)能(neng)在(zai)較高(gao)(gao)的(de)(de)測(ce)試(shi)(shi)頻(pin)(pin)(pin)率條件下，測(ce)量高(gao)(gao)頻(pin)(pin)(pin)電感或諧(xie)振回路的(de)(de)Q值，電感器(qi)(qi)(qi)的(de)(de)電感量和分布電容量，電容器(qi)(qi)(qi)的(de)(de)電容量和損(sun)(sun)(sun)耗(hao)(hao)角正(zheng)切值，電工材料(liao)的(de)(de)高(gao)(gao)頻(pin)(pin)(pin)介質損(sun)(sun)(sun)耗(hao)(hao)，高(gao)(gao)頻(pin)(pin)(pin)回路有效并(bing)(bing)聯(lian)及串(chuan)聯(lian)電阻(zu)，傳輸線的(de)(de)特性(xing)阻(zu)抗等(deng)(deng)。

使用方法

高頻Q表是多用(yong)途的(de)阻抗(kang)測(ce)量儀器，為了(le)提(ti)高測(ce)量精度，除了(le)使(shi)Q表測(ce)試(shi)回路本(ben)身殘余參量盡可能地(di)小，使(shi)耦合回路的(de)頻響盡可能地(di)好(hao)之外，還要(yao)掌握正確(que)的(de)測(ce)試(shi)方(fang)法和殘余參數修正方(fang)法。

1．測試注意事項

a．本儀(yi)器(qi)應水平(ping)安放；

b．如果你需要較(jiao)精確(que)地測量，請接(jie)通電源(yuan)后，預(yu)熱(re)30分(fen)鐘；

c．調節主調電(dian)容或主調電(dian)容數(shu)碼(ma)開關時(shi)，當(dang)接近諧振(zhen)點時(shi)請(qing)緩調；

d．被測(ce)件和測(ce)試電路接(jie)線柱間的(de)接(jie)線應盡量短，足夠(gou)粗，并(bing)應接(jie)觸良好、可靠，以(yi)減(jian)少因接(jie)線的(de)電阻和分布參數所帶來(lai)的(de)測(ce)量誤差；

e．被測件(jian)不要直接擱在(zai)面(mian)板(ban)頂部，離(li)頂部一(yi)公分以上，必要時可用低損(sun)耗的絕緣材料如聚苯乙烯等(deng)做成的襯墊物襯墊；

f．手不(bu)得靠近試(shi)件(jian)，以免(mian)人體感應影響造成測量(liang)誤差，有屏蔽的試(shi)件(jian)，屏蔽罩應連(lian)接在(zai)低(di)電位端的接線柱。

2．高頻(pin)線圈(quan)的Q值(zhi)測量（基本(ben)測量法）

介電常數介質損耗測試儀  VFD顯示 采用新穎的大屏幕VFD點陣顯示器，在嚴冬和盛夏都能清晰顯示。全中文操作菜單，操作提示各種警告信息，直觀明了，不需查閱說明書即可操作。

打印(yin) 儀器附有(you)微型打印(yin)機，以中文(wen)方式打印(yin)輸出測量(liang)結(jie)果(guo)及狀態(tai)。

RS232 儀器具有RS232接(jie)口，與計算(suan)機連接(jie)便于(yu)數據的統計和(he)處理及保存。

可選購與計算(suan)機(ji)通信應(ying)用程序(xu)。

硫化橡膠介電常數介質損耗測試儀 電介質的用途

 電(dian)(dian)介質(zhi)一(yi)般被用(yong)(yong)在兩(liang)個不同的(de)(de)方面:用(yong)(yong)作電(dian)(dian)氣回路元件的(de)(de)支撐，并且使元件對地(di)絕(jue)緣(yuan)(yuan)及元件之間相(xiang)互絕(jue)緣(yuan)(yuan); 用(yong)(yong)作電(dian)(dian)容(rong)器介質(zhi)。

低頻電橋(qiao)

 一(yi)般(ban)為高(gao)壓電橋，這(zhe)不僅(jin)是(shi)由于(yu)靈敏度(du)的緣故，也因(yin)為在低(di)頻(pin)下正是(shi)高(gao)電壓技術(shu)特別對電介(jie)質(zhi)損(sun)耗

關注(zhu)的問(wen)題。電容臂(bei)和(he)測量臂(bei)兩者(zhe)的阻抗(kang)大小(xiao)在(zai)數(shu)量級上相差很多，結果，絕大部分電壓都施加在(zai)電容

Cx和 C}上，使(shi)電壓分配(pei)不平衡 上面給出(chu)的電橋平衡條件(jian)只是當低壓元件(jian)對高壓元件(jian)屏蔽時(shi)才成

立。同(tong)時，屏蔽(bi)必須接地，以保證(zheng)平衡穩定。如圖A. 2所示(shi)。屏蔽(bi)與使用(yong)被保護的電容 C、和(he) C、是一

致的，這(zhe)個保護對(dui)于Ch來(lai)說是*的。

 由于選(xuan)擇不同的接地方法，實際上形成了兩類電橋。

電極系統(tong)

 1 加到試樣上的(de)電極(ji)

 電(dian)(dian)(dian)極(ji)(ji)可選用 5.1.3中任意一種。如果(guo)不用保(bao)護環(huan)。而且試樣上下的兩個電(dian)(dian)(dian)極(ji)(ji)難以(yi)對(dui)齊時，其中一個電(dian)(dian)(dian)極(ji)(ji)應比另一個電(dian)(dian)(dian)極(ji)(ji)大些(xie)。已(yi)經加(jia)有電(dian)(dian)(dian)極(ji)(ji)的試樣應放置(zhi)在兩個金屬電(dian)(dian)(dian)極(ji)(ji)之間(jian)，這兩個金屬電(dian)(dian)(dian)極(ji)(ji)要(yao)比試樣上的電(dian)(dian)(dian)極(ji)(ji)稍(shao)小(xiao)些(xie)。對(dui)于平(ping)板形(xing)和圓柱形(xing)這兩種不同(tong)電(dian)(dian)(dian)極(ji)(ji)結構的電(dian)(dian)(dian)容計算(suan)公(gong)(gong)式(shi)以(yi)及邊緣電(dian)(dian)(dian)容近似計算(suan)的經驗公(gong)(gong)式(shi)由表1給出.

 對(dui)于介(jie)質損耗因數的測(ce)量，這種類型(xing)的電(dian)(dian)極在高頻下不能滿(man)足要(yao)求(qiu)，除(chu)非試樣的表面和金屬板都非常平整。圖 1所示的電(dian)(dian)極系統也要(yao)求(qiu)試樣厚度均勻

2 試樣上不加電(dian)極

 表面(mian)電導(dao)率很低的(de)試樣(yang)可(ke)以不加電極(ji)而將(jiang)試樣(yang)插(cha)人電極(ji)系統中(zhong)測量，在這個電極(ji)系統中(zhong)，試樣(yang)的(de)一側或(huo)兩側有一個充(chong)滿空(kong)氣或(huo)液體的(de)間隙。

 平板(ban)電極(ji)或圓柱形電極(ji)結構(gou)的(de)電容計算(suan)公式由表 3給出(chu)。

 下面兩種型式的電極裝置(zhi)特別合適

2.1 空氣(qi)填充(chong)測微計電極

 當試樣(yang)插(cha)人(ren)和不(bu)插(cha)人(ren)時，電容都(dou)能(neng)調節(jie)到同一個值 ，不(bu)需進行測量系統的(de)電氣(qi)校正就(jiu)能(neng)測定(ding)電容率。電極系統中可(ke)包括保護電極.

2.2 流體排出(chu)法

 在(zai)電容(rong)率(lv)近似等于試樣的(de)電容(rong)率(lv)，而介質損耗(hao)因(yin)數可(ke)以忽略的(de)一種(zhong)液體內進行測量，這(zhe)種(zhong)測量與試樣厚度測量的(de)精度關系(xi)不大。當相繼采用兩種(zhong)流體時，試樣厚度和電極(ji)系(xi)統(tong)的(de)尺寸可(ke)以從計算(suan)公式中消(xiao)去

 試(shi)樣(yang)為與試(shi)驗池電極直徑相同(tong)的圓片，或對(dui)測微計(ji)電極來說，試(shi)樣(yang)可以比(bi)電極小到足以使邊緣效應忽略(lve)不計(ji) 在測微計(ji)電極中(zhong)，為了忽略(lve)邊緣效應，試(shi)樣(yang)直徑約比(bi)測微計(ji)電極直徑小兩倍的試(shi)樣(yang)厚度。

原始包裝：

請保留所有的原始(shi)包裝材料，如(ru)果機器必須回(hui)廠維修，請用原來的包裝材料包裝。并請先與制造廠的維修中心(xin)聯絡(luo)。送修時，請務必將全(quan)部的附(fu)件一起送回(hui)，請注明(ming)故障現象和原因。另外(wai)，請在包裝上(shang)注明(ming)“易(yi)碎品”請小心(xin)搬(ban)運。

安全(quan)注意事(shi)項：

開機之前，敬請仔(zi)細閱(yue)讀本  使(shi)用指南，以防(fang)止(zhi)(zhi)(zhi)出現對(dui)(dui)操(cao)作(zuo)人(ren)員(yuan)的意(yi)外傷害或對(dui)(dui)儀器的損(sun)壞等的事件。操(cao)作(zuo)前，請閱(yue)讀“安裝與設置(zhi)”，保證(zheng)對(dui)(dui)儀器各部件的正確安裝與連(lian)接。在*次操(cao)作(zuo)前，務(wu)必請有(you)操(cao)作(zuo)經驗的人(ren)員(yuan)進(jin)行指導，防(fang)止(zhi)(zhi)(zhi)誤操(cao)作(zuo)造成意(yi)外事件的發生。電(dian)(dian)(dian)擊危險：  確保在安裝或維(wei)修該儀器之前使(shi)所(suo)有(you)導線斷(duan)電(dian)(dian)(dian)，防(fang)止(zhi)(zhi)(zhi)在帶電(dian)(dian)(dian)情況下，對(dui)(dui)人(ren)員(yuan)或設備造成傷害。

注意事項:  1、該儀器(qi)(qi)初始的(de)(de)包裝材料(liao)需(xu)小心保存，安裝需(xu)由本公司的(de)(de)專(zhuan)業技術(shu)人員進行操(cao)(cao)作(zuo)。2、若儀器(qi)(qi)由于任何原因必須(xu)(xu)返(fan)修，必須(xu)(xu)將其裝入原紙箱中以防(fang)運輸途(tu)中損壞。3、在開機前(qian)，操(cao)(cao)作(zuo)者要首先熟悉操(cao)(cao)作(zuo)方法。

電(dian)性能檢(jian)測(ce)儀(yi)器：介(jie)(jie)電(dian)強度測(ce)試(shi)(shi)(shi)儀(yi)、體積表面電(dian)阻率測(ce)試(shi)(shi)(shi)儀(yi)、介(jie)(jie)電(dian)常數介(jie)(jie)質損(sun)耗測(ce)試(shi)(shi)(shi)儀(yi)、漏電(dian)起痕試(shi)(shi)(shi)驗儀(yi)、耐電(dian)弧(hu)試(shi)(shi)(shi)驗儀(yi)；

塑料(liao)(liao)橡(xiang)膠(jiao)性能檢測儀(yi)器(qi)：無轉子硫化(hua)儀(yi)、門尼粘度試驗(yan)機、熱變形維(wei)卡溫(wen)度測定儀(yi)、簡支梁(liang)沖擊試驗(yan)機、毛細管流變儀(yi)、橡(xiang)膠(jiao)塑料(liao)(liao)滑(hua)動摩擦試驗(yan)機

物理性能(neng)檢測(ce)儀器：氧(yang)指(zhi)數測(ce)定(ding)儀、水平垂直燃燒(shao)試驗機、熔體流動速率測(ce)定(ding)儀、低(di)溫脆(cui)性測(ce)試儀

力學性能試(shi)(shi)驗(yan)機(ji)：試(shi)(shi)驗(yan)機(ji)

北廣其他(ta)檢測海綿(mian)(mian)儀(yi)器：海綿(mian)(mian)泡(pao)沫壓陷(xian)硬度測試(shi)(shi)儀(yi)、海綿(mian)(mian)泡(pao)沫落(luo)球回彈(dan)測試(shi)(shi)儀(yi)、海綿(mian)(mian)泡(pao)沫壓縮變形試(shi)(shi)驗儀(yi)

另外我公司(si)有：環境(jing)測(ce)試儀(yi)(yi)器、生物制藥(yao)測(ce)試儀(yi)(yi)器、動物行(xing)為測(ce)試儀(yi)(yi)、環境(jing)監測(ce)試驗(yan)儀(yi)(yi)