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塑料損耗指數測試儀

型 號GDAT—--A

更新時間2023-08-08

廠商性質生產廠家

報價(jia)

產品描述:塑料損耗指數測試儀 足標準:GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長在內)下電容率和介質損耗因數的方法

產品概述

塑料損耗指數測試儀  VFD顯示 采用新穎的大屏幕VFD點陣顯示器,在嚴冬和盛夏都能清晰顯示。全中文操作菜單,操作提示各種警告信息,直觀明了,不需查閱說明書即可操作。

打印 儀器(qi)附有微型打印機,以中文方式打印輸出測量結果(guo)及狀態。

RS232 儀器具有(you)RS232接口,與(yu)計算機連接便于(yu)數(shu)據的統計和(he)處理及保存。

可選(xuan)購與計算(suan)機通信(xin)應(ying)用程序。

 

塑料損耗指數測試儀 電介質的用途

 電介質(zhi)一般被用(yong)在兩個不同的方面:用(yong)作(zuo)電氣回(hui)路元件的支撐(cheng),并且使元件對地絕(jue)緣(yuan)及元件之間(jian)相互絕(jue)緣(yuan); 用(yong)作(zuo)電容(rong)器介質(zhi)。

 

技術參數(shu):

1.Q值測量范圍:1—1023;

2.Q值量程分(fen)檔(dang):30、100、300、1000、自動換檔(dang)或手動換檔(dang);

3.電感測量(liang)范圍:1nH—140mH;

4.電容直(zhi)接(jie)測量(liang)范圍:1pF~25nF;

5.主電容調節范(fan)圍:17pF—240pF

6.準確度?150pF以(yi)(yi)下±1pF;150pF以(yi)(yi)上±1%

7.信號源頻率覆蓋范圍100kHz—160MHz;

8.合格指示預(yu)置功(gong)能范圍:5~1000

9.環境溫度(du):0℃~+40℃;

10.消(xiao)耗功率(lv):約25W;電源:220V±22V,50Hz±2.5Hz。

11.信(xin)號源:100KHZ-160MHZ

12.提供廠家授權書原(yuan)件及產(chan)品(pin)彩頁。

13.電感(gan)組LKI-1,分別有0.05uH?、0.1μH、0.5μH、2.5μH、10μH、50μH、100μH、1mH、5mH、10mH十(shi)個電感(gan)組成。

14.?介(jie)質(zhi)損耗(hao)測試(shi)夾(jia)具:

A:4位數顯(xian)式(shi)調節微桿;

B:極片尺寸:Φ50mm?或(huo)Φ38mm(二選一(yi));

C:夾具損耗正切(qie)值(zhi)≤4×10-4?(1MHz)。

15.液體杯

直(zhi)徑(jing)48mm?深度(du)7mm,可與S916下極片(pian)互換使(shi)用。

16.夾(jia)具(ju)工作特性

極片尺寸(cun):??Φ50mm/Φ38mm可選(xuan);

極(ji)片間(jian)距可調范圍:≥15mm;夾具插頭間(jian)距:25mm±0.01mm;

夾具損(sun)耗正切值:≤4×10-4?(1MHz);

測微桿(gan)分辨率:≤0.001mm。

17.配置(zhi):

主機  一臺

電感  一套

夾具  一套(tao)

 

主(zhu)要技(ji)術(shu)特性:

介(jie)質(zhi)損耗和(he)(he)介(jie)電(dian)(dian)(dian)常(chang)(chang)數(shu)是(shi)各種(zhong)電(dian)(dian)(dian)瓷、裝置瓷、電(dian)(dian)(dian)容(rong)(rong)器(qi)等(deng)(deng)陶瓷,還(huan)有復合材(cai)料(liao)(liao)等(deng)(deng)的一項重要的物理性質(zhi),通(tong)過測(ce)(ce)(ce)定介(jie)質(zhi)損耗角正切(qie)tanδ及(ji)介(jie)電(dian)(dian)(dian)常(chang)(chang)數(shu)(ε),可進一步了(le)解影響(xiang)介(jie)質(zhi)損耗和(he)(he)介(jie)電(dian)(dian)(dian)常(chang)(chang)數(shu)的各種(zhong)因素(su),為(wei)提高材(cai)料(liao)(liao)的性能提供依據;儀(yi)器(qi)的基本原理是(shi)采用(yong)(yong)高頻(pin)(pin)諧(xie)振(zhen)法,并(bing)提供了(le),通(tong)用(yong)(yong)、多用(yong)(yong)途、多量(liang)程(cheng)的阻(zu)抗測(ce)(ce)(ce)試。它以(yi)單片計算機作為(wei)儀(yi)器(qi)的控制,測(ce)(ce)(ce)量(liang)核心(xin)采用(yong)(yong)了(le)頻(pin)(pin)率數(shu)字(zi)鎖定,標(biao)準頻(pin)(pin)率測(ce)(ce)(ce)試點自動(dong)設定,諧(xie)振(zhen)點自動(dong)搜索(suo),Q值(zhi)(zhi)量(liang)程(cheng)自動(dong)轉換,數(shu)值(zhi)(zhi)顯示(shi)等(deng)(deng)新(xin)技(ji)術,改(gai)進了(le)調(diao)諧(xie)回(hui)路(lu)(lu),使(shi)(shi)得調(diao)諧(xie)測(ce)(ce)(ce)試回(hui)路(lu)(lu)的殘余電(dian)(dian)(dian)感(gan)減至 低(di),并(bing)保留(liu)了(le)原Q表中自動(dong)穩幅等(deng)(deng)技(ji)術,使(shi)(shi)得新(xin)儀(yi)器(qi)在使(shi)(shi)用(yong)(yong)時更為(wei)方便(bian),測(ce)(ce)(ce)量(liang)值(zhi)(zhi)更為(wei)精(jing)確。儀(yi)器(qi)能在較高的測(ce)(ce)(ce)試頻(pin)(pin)率條件(jian)下,測(ce)(ce)(ce)量(liang)高頻(pin)(pin)電(dian)(dian)(dian)感(gan)或諧(xie)振(zhen)回(hui)路(lu)(lu)的Q值(zhi)(zhi),電(dian)(dian)(dian)感(gan)器(qi)的電(dian)(dian)(dian)感(gan)量(liang)和(he)(he)分布電(dian)(dian)(dian)容(rong)(rong)量(liang),電(dian)(dian)(dian)容(rong)(rong)器(qi)的電(dian)(dian)(dian)容(rong)(rong)量(liang)和(he)(he)損耗角正切(qie)值(zhi)(zhi),電(dian)(dian)(dian)工材(cai)料(liao)(liao)的高頻(pin)(pin)介(jie)質(zhi)損耗,高頻(pin)(pin)回(hui)路(lu)(lu)有效并(bing)聯及(ji)串聯電(dian)(dian)(dian)阻(zu),傳輸(shu)線的特性阻(zu)抗等(deng)(deng)。

 

 

低頻電橋

 一般為(wei)高(gao)壓電(dian)橋,這不(bu)僅是(shi)由于靈敏度的緣(yuan)故,也(ye)因為(wei)在低(di)頻下正是(shi)高(gao)電(dian)壓技術(shu)特(te)別對電(dian)介(jie)質損耗

關注(zhu)的問題。電(dian)容臂(bei)和測量臂(bei)兩者的阻抗大小(xiao)在數量級上相(xiang)差很多,結(jie)果,絕大部分電(dian)壓都施(shi)加在電(dian)容

Cx和 C}上,使(shi)電壓分配不(bu)平衡(heng) 上面(mian)給出(chu)的電橋平衡(heng)條件(jian)(jian)只是當低壓元件(jian)(jian)對高壓元件(jian)(jian)屏蔽時(shi)才成

立。同時,屏蔽(bi)(bi)必須接(jie)地,以保(bao)(bao)證平衡(heng)穩(wen)定(ding)。如圖A. 2所示。屏蔽(bi)(bi)與使用被保(bao)(bao)護的電容 C、和 C、是(shi)一

致的,這個(ge)保護對于Ch來說是*的。

 由于選擇不同的接地(di)方法,實際(ji)上形成了兩類電橋。

 

 

電極系(xi)統

 1 加到試樣上的電極

 電(dian)(dian)極可(ke)選用(yong) 5.1.3中任意一(yi)種(zhong)。如(ru)果(guo)不用(yong)保護環。而且試樣上下的兩(liang)個電(dian)(dian)極難以對齊時,其中一(yi)個電(dian)(dian)極應比另一(yi)個電(dian)(dian)極大些。已經加有電(dian)(dian)極的試樣應放(fang)置在(zai)兩(liang)個金屬(shu)電(dian)(dian)極之間,這兩(liang)個金屬(shu)電(dian)(dian)極要(yao)比試樣上的電(dian)(dian)極稍(shao)小些。對于平板(ban)形和圓柱形這兩(liang)種(zhong)不同(tong)電(dian)(dian)極結構的電(dian)(dian)容計算(suan)(suan)公(gong)式以及邊緣電(dian)(dian)容近似(si)計算(suan)(suan)的經驗公(gong)式由(you)表1給出.

 對于介質損耗因數的(de)測量,這(zhe)種類型的(de)電極在高頻下不能滿足要求,除非試樣的(de)表面和金(jin)屬板都非常平(ping)整。圖 1所示的(de)電極系(xi)統也要求試樣厚度(du)均勻

2 試(shi)樣上(shang)不加(jia)電極

 表面電(dian)(dian)導率很低的試樣(yang)可以不加(jia)電(dian)(dian)極而(er)將試樣(yang)插人(ren)電(dian)(dian)極系統中(zhong)測(ce)量,在這個(ge)電(dian)(dian)極系統中(zhong),試樣(yang)的一側(ce)或(huo)兩側(ce)有(you)一個(ge)充滿空(kong)氣或(huo)液體的間隙。

 平(ping)板電極或圓柱形電極結構的電容計算公式由表 3給(gei)出。

 下面兩種型式的電極裝置特別合適

2.1 空氣填充測微計電(dian)極

 當(dang)試樣插人和不插人時(shi),電(dian)(dian)(dian)容都(dou)能(neng)調節到同一個值 ,不需進行(xing)測量系統的電(dian)(dian)(dian)氣校正就能(neng)測定(ding)電(dian)(dian)(dian)容率。電(dian)(dian)(dian)極(ji)(ji)系統中可包(bao)括保(bao)護(hu)電(dian)(dian)(dian)極(ji)(ji).

2.2 流(liu)體排出法

 在電容率(lv)近似等于試樣(yang)(yang)(yang)的(de)電容率(lv),而介質損(sun)耗因(yin)數可以忽(hu)略的(de)一種液體(ti)內進(jin)行測(ce)量,這種測(ce)量與試樣(yang)(yang)(yang)厚度測(ce)量的(de)精度關系不(bu)大。當相(xiang)繼采(cai)用(yong)兩種流體(ti)時(shi),試樣(yang)(yang)(yang)厚度和(he)電極系統的(de)尺寸可以從計算(suan)公(gong)式(shi)中消去

 試(shi)(shi)(shi)樣為與試(shi)(shi)(shi)驗池電極直(zhi)徑相同的圓片,或對測微(wei)計電極來說,試(shi)(shi)(shi)樣可以(yi)比(bi)電極小到足以(yi)使(shi)邊緣(yuan)效應忽略不計 在測微(wei)計電極中,為了忽略邊緣(yuan)效應,試(shi)(shi)(shi)樣直(zhi)徑約比(bi)測微(wei)計電極直(zhi)徑小兩倍的試(shi)(shi)(shi)樣厚度。

 

維(wei)修

1.新購儀器的檢(jian)查

新(xin)購的(de)儀器 能先用LKI-1電感(gan)組,將各(ge)個電感(gan)在各(ge)個不同頻(pin)率(lv)測(ce)試(shi)Q值,把(ba)測(ce)試(shi)的(de)情況,例使用的(de)電感(gan)號、測(ce)試(shi)頻(pin)率(lv)Q讀數、電容(rong)讀數等多次測(ce)得數及(ji)測(ce)試(shi)環(huan)境(jing)條件逐一詳細記錄,并把(ba)記錄保存起來,以供以后維修時(shi)作參考。

LKI-1電(dian)(dian)感(gan)(gan)(gan)組是測(ce)試(shi)時作(zuo)輔助(zhu)電(dian)(dian)感(gan)(gan)(gan)用的,不(bu)能把這些電(dian)(dian)感(gan)(gan)(gan)當作(zuo)高精度的標(biao)準(zhun)電(dian)(dian)感(gan)(gan)(gan)看待。隨著測(ce)試(shi)環境(jing)條件不(bu)同,測(ce)得電(dian)(dian)感(gan)(gan)(gan)器Q值和分布電(dian)(dian)容可(ke)能略有(you)不(bu)同。

2.使用和保養

高頻(pin)Q表(biao)是比(bi)較精密的(de)阻(zu)抗測量儀器,在合理(li)使用和注意保養情況(kuang)下,才(cai)能保證長期穩定和較高的(de)測試精度。

a.熟悉本說明書,正確地(di)使用儀器;

b.使儀器經常(chang)保持(chi)清潔(jie)、干燥;

c.本(ben)(ben)儀器保用期為18個月(yue),如發現機械故(gu)障(zhang)或失去準確度,可以(yi)原封送回本(ben)(ben)廠,免費修(xiu)理(li)。

 

 

試驗步(bu)驟

1 試樣(yang)的制(zhi)備

 試樣應(ying)從固體材料上截取,為了滿足要求,應(ying)按相(xiang)關的(de)標準方法的(de)要求來制備(bei)。

 應精確地測量厚度,使偏差在士(0. 2%士。.005 mm)以內,測量點應均勻地分布在試(shi)樣(yang)表面。必要時,應測其有效面積。

2 條件處理

 條(tiao)件處理應按相關規范規定進行。

3 測量

 ;電氣測量(liang)按本標準(zhun)(zhun)或所使用的(de)儀器(電橋)制造商(shang)推薦的(de)標準(zhun)(zhun)及相(xiang)應的(de)方(fang)法進行。

 在 1 MHz或更高頻率下,必須減小(xiao)接(jie)線的電(dian)感對測(ce)量結果的影響。此時,可采(cai)用(yong)同軸接(jie)線系統(見圖 1所示),當用(yong)變電(dian)抗法測(ce)量時,應提供一(yi)個固定微調電(dian)容器。

 

 

試(shi)驗報告

 試驗報告中應給出下(xia)列相關(guan)內容:

 絕(jue)緣材料的(de)(de)型號名稱及種類、供貨形(xing)式、取(qu)樣方法、試樣的(de)(de)形(xing)狀及尺寸(cun)和取(qu)樣 日(ri)期(并(bing)注明試樣厚(hou)度和試樣在與(yu)電極接觸的(de)(de)表(biao)面(mian)進行處理的(de)(de)情況(kuang));

 試樣條件處理(li)的方法和處理(li)時間(jian);

 電極裝置類型,若有(you)加在(zai)試樣上的電極應注明(ming)其類型;

 測量儀器(qi);

 試驗時的溫度和(he)相對濕度以(yi)及試樣的溫度;

 施(shi)加的(de)電壓;

 施加的頻率;

 相對電容率ε(平均值);

 介質(zhi)損耗因(yin)數(shu) tans(平均值);

 試驗 日(ri)期 ;

 相對電(dian)容率和(he)介質損耗(hao)因數(shu)值以及由它(ta)們計(ji)算得到的(de)值如損耗(hao)指數(shu)和(he)損耗(hao)角,必(bi)要(yao)時,應(ying)給(gei)出與溫度和(he)頻率的(de)關系。

售后服務
售后內容:
我公司派工程師負責安裝調試及培訓。
產品自客戶驗收之日起,免費保修 2 年,終身維修。
1、設備安裝調試:
免費為用戶提供所購儀器的安裝調試服務。在進行安裝調試前用戶方應
提供相應的準備工作,并予以提前通知,具體安裝調試日期雙方可以協商而
定。設備安裝調試由多年行業資深工程師免費進行。保證用戶可以正確使用、
軟件操作和一般維護以及應及故障的處理。
2、培 訓:
我公司工程師免費為用戶提供操作人員培訓,直到操作人員能獨立操作
為止。
3、設備驗收標準:
用戶方按訂貨技術要求進行驗收。并符合國家標準要求。設備驗收在用
戶方進行并由我公司安裝調試技術人員和用戶共同在維修報告上簽字以確
認儀器的調試工作完成。
4、設備維修服務:
我公司產品自用戶現場調試驗收合格后 2 年內免費保修,終身維護。在
2 年免費保修期內產品發生非人為質量問題,我公司為客戶提供免費維修。
如產品在免費保修期外出現故障,維修服務只適當收取材料成本費。
5、技術支持:
對于所需儀器的用戶,根據用戶的要求提供專業的技術方案。除了常規
的儀器服務外,我公司技術部還可為用戶提供各種非常規設備的技術支持。
6、售后響應:
在接到用戶維修邀請后,2 小時內做出反應,并給予解決。如未解決,
我公司指派工程師及時到達用戶現場,解決問題至設備正常使用為止。

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