高頻/音頻介電常數測試儀作為新一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器，測試頻率上限達到目前國內高的160MHz。

 高頻/音頻介電常數測試儀技術參數：

1．Q值測(ce)量

a．Q值(zhi)測量范圍：2～1023。

b．Q值量程(cheng)分(fen)檔(dang)：30、100、300、1000、自動換(huan)檔(dang)或(huo)手動換(huan)檔(dang)。

c．標稱誤差(cha)

     頻率(lv)(lv)范(fan)圍（100kHz～10MHz）： 頻率(lv)(lv)范(fan)圍（10MHz～160MHz）：

     固(gu)有誤差(cha)：≤5％±滿度(du)值(zhi)的(de)2% 固(gu)有誤差(cha)：≤6％±滿度(du)值(zhi)的(de)2%

     工作(zuo)誤差：≤7％±滿(man)度值的2% 工作(zuo)誤差：≤8％±滿(man)度值的2%

2．電感(gan)測量范圍：4.5nH~7.9mH

3．電容測量：1~205

     主電(dian)容調(diao)節范圍：18～220pF

     準確度：150pF以下±1.5pF； 150pF以上±1%

     注：大于直(zhi)接(jie)測量范(fan)圍的(de)電容測量見(jian)后頁(ye)使用說(shuo)明(ming)

4.  信號源頻率覆蓋(gai)范圍

     頻率范圍(wei)CH1:0.1～0.999999MHz, CH2: 1～9.99999MHz,

     CH3:10～99.9999MHz, CH1 :100～160MHz,

5．Q合(he)格指(zhi)示預置(zhi)功能(neng):      預置(zhi)范圍(wei)：5～1000。

6．B-測試(shi)儀正常(chang)工作(zuo)條件

a.  環境溫度：0℃～+40℃；

b．相對濕度：<80％；

c．電源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。

7．其他

a．消耗功率：約(yue)25W；

b．凈重(zhong)：約7kg；

c. 外型尺寸：（l×b×h）mm：380×132×280。

測試注意事項

a．本儀器應水平安(an)放；

b．如果你需要較(jiao)精確地測量(liang)，請接通(tong)電源后，預熱30分鐘；

c．調節主調電(dian)容(rong)或主調電(dian)容(rong)數碼(ma)開關時，當(dang)接(jie)近(jin)諧振(zhen)點時請緩調；

d．被測(ce)件(jian)和測(ce)試電路接(jie)線柱間的接(jie)線應(ying)盡(jin)量(liang)短，足夠粗，并應(ying)接(jie)觸良好、可(ke)靠，以減少因接(jie)線的電阻和分布參數所帶來的測(ce)量(liang)誤差；

e．被測件不要直接擱在面板頂(ding)部，離頂(ding)部一公分以上，必要時可用低損(sun)耗的絕(jue)緣(yuan)材料(liao)如聚苯乙烯等做成的襯(chen)墊(dian)物襯(chen)墊(dian)；

f．手不得靠近試(shi)件(jian)，以免(mian)人體感(gan)應(ying)影響造(zao)成測量(liang)誤(wu)差，有屏蔽的試(shi)件(jian)，屏蔽罩應(ying)連接在低電(dian)位端的接線柱(zhu)。

影響介電性能(neng)的因(yin)素

 下面分別討論頻率、溫(wen)度、濕(shi)度和電(dian)氣強度對介電(dian)性能(neng)的影(ying)響(xiang)。

1頻(pin)率(lv)

 因(yin)為只有(you)少數材(cai)料如石英玻(bo)璃(li)、聚苯(ben)乙烯(xi)或聚乙烯(xi)在很寬的(de)頻(pin)率范圍內(nei)它們的(de) 。r和 tans幾(ji)乎是恒(heng)定(ding)的(de)，且(qie)被用(yong)作(zuo)工程電(dian)介(jie)質(zhi)材(cai)料，然而(er)一般的(de)電(dian)介(jie)質(zhi)材(cai)料必須在所使用(yong)的(de)頻(pin)率下(xia)測量(liang)其介(jie)質(zhi)損耗因(yin)數和電(dian)容率。

 電容(rong)率和介(jie)(jie)質(zhi)(zhi)損耗因數的變化(hua)是由于介(jie)(jie)質(zhi)(zhi)極(ji)化(hua)和電導而產(chan)生，重要的變化(hua)是極(ji)性(xing)分子引起(qi)的偶極(ji)子極(ji)化(hua)和材料的不(bu)均勻性(xing)導致的界(jie)面極(ji)化(hua)所引起(qi)的.

2溫度(du)

 損(sun)(sun)耗(hao)指(zhi)數在(zai)一個頻率下可(ke)以出現一個大(da)值，這個頻率值與電介(jie)質(zhi)(zhi)材料的(de)(de)(de)溫度(du)有關。介(jie)質(zhi)(zhi)損(sun)(sun)耗(hao)因(yin)數和電容率的(de)(de)(de)溫度(du)系數可(ke)以是正的(de)(de)(de)或負的(de)(de)(de)，這取決于(yu)在(zai)測量溫度(du)下的(de)(de)(de)介(jie)質(zhi)(zhi)損(sun)(sun)耗(hao)指(zhi)數大(da)值位置。

3濕度(du)

 極化的(de)程度隨水分的(de)吸收量或電介質(zhi)材料(liao)表(biao)面水膜(mo)的(de)形成而(er)增加，其結果使電容率、介質(zhi)損耗因(yin)數和直流電導率增大。因(yin)此試(shi)(shi)驗(yan)前和試(shi)(shi)驗(yan)時對環(huan)境濕(shi)度進行控制是*的(de).

 注:濕度的顯著影響常(chang)常(chang)發生(sheng)在 1MHz以下(xia)及微波頻率范圍(wei)內(nei)

4電場強度(du)

 存在界面極化時，自由離(li)子(zi)的數(shu)目隨(sui)(sui)電(dian)場(chang)強度增大(da)而(er)增加，其損耗指(zhi)數(shu)大(da)值的大(da)小和位(wei)置也隨(sui)(sui)此(ci)而(er)變。

 在較高的頻(pin)率下，只要(yao)電介質中不出現局部放(fang)電，電容率和介質損耗因數(shu)與電場強度(du)無關

測量方法的(de)選(xuan)擇：

&nbsp;測量電容(rong)率和(he)介質損耗(hao)因(yin)數的方(fang)法(fa)可分成兩種:零點指示法(fa)和(he)諧振法(fa)。

1 零(ling)點(dian)指示法適用(yong)于頻率(lv)不(bu)(bu)超過50 MHz時的測量。測量電(dian)容率(lv)和(he)介質損(sun)耗(hao)因數可用(yong)替(ti)代法;也(ye)就是(shi)在接(jie)人試(shi)樣和(he)不(bu)(bu)接(jie)試(shi)樣兩種狀態下，調節回路的一(yi)個臂使電(dian)橋(qiao)(qiao)平(ping)衡。通常回路采(cai)用(yong)西林(lin)電(dian)橋(qiao)(qiao)、變壓器電(dian)橋(qiao)(qiao)(也(ye)就是(shi)互感藕合比例(li)臂電(dian)橋(qiao)(qiao))和(he)并(bing)聯 T型網(wang)絡(luo)。變壓器電(dian)橋(qiao)(qiao)的優點(dian):采(cai)用(yong)保護電(dian)極不(bu)(bu)需任(ren)何外加(jia)附件或(huo)過多操作，就可采(cai)用(yong)保護電(dian)極;它沒有其(qi)他網(wang)絡(luo)的缺點(dian)。

2 諧振法(fa)適用于10 kHz一(yi)幾百MHz的頻率范(fan)圍內的測(ce)量(liang)。該方法(fa)為替代法(fa)測(ce)量(liang)，常用的是變電抗法(fa)。但該方法(fa)不適合采用保護電極。

 注:典型的電橋和(he)電路示例見附錄。附錄中(zhong)所舉的例子自然是(shi)不全(quan)面的，敘(xu)述電橋和(he)側量方法(fa)報導見有關文獻(xian)和(he)該種儀(yi)器的原理說明書(shu)。

試驗報告

 試驗(yan)報(bao)告(gao)中應給出下列相關內(nei)容:

 絕緣材料的型號名稱及種類、供貨形式、取(qu)樣(yang)方(fang)法、試樣(yang)的形狀及尺(chi)寸和(he)取(qu)樣(yang) 日期(qi)(并注(zhu)明(ming)試樣(yang)厚度和(he)試樣(yang)在與電極接(jie)觸的表面進行(xing)處理的情(qing)況(kuang));

 試樣條件處理(li)的(de)方法和(he)處理(li)時間;

&nbsp;電(dian)極裝置類(lei)型，若有加在(zai)試樣(yang)上的(de)電(dian)極應注(zhu)明其(qi)類(lei)型;

 測(ce)量儀器(qi);

 試(shi)驗時的溫度和相對濕度以及試(shi)樣的溫度;

 施加的電(dian)壓;

 施加(jia)的(de)頻率;

 相對電容率ε(平均值);

 介質(zhi)損(sun)耗因數 tans(平(ping)均值);

 試(shi)驗 日期 ;

 相(xiang)對電容率和(he)介質(zhi)損(sun)耗因(yin)數值(zhi)以及由它們(men)計算得到的值(zhi)如損(sun)耗指數和(he)損(sun)耗角，必要(yao)時，應給出與溫(wen)度和(he)頻率的關系。

特點：

◎ 本(ben)公司創新的(de)自動Q值保持技術，使測Q分(fen)辨(bian)率至(zhi)0.1Q，使tanδ分(fen)辨(bian)率至(zhi)0.00005 。

◎ 能對固體絕緣材料在10kHz～120MHz介質損(sun)耗角(tanδ)和介電常(chang)數(&epsilon;)變化的測試(shi)。

◎ 調(diao)諧回路殘(can)余電感(gan)值低至8nH，保證100MHz的(tanδ)和(ε)的誤差(cha)較小(xiao)。

◎ 特制LCD屏菜單式顯示多參數(shu)：Q值(zhi)，測試頻率，調諧狀(zhuang)態(tai)等。

◎ Q值量程(cheng)自(zi)動/手(shou)動量程(cheng)控制。

◎ DPLL合成發生1kHz～60MHz, 50kHz～160MHz測(ce)試信(xin)(xin)號。獨立(li)信(xin)(xin)號 源(yuan)(yuan)輸出口，所以本機又是(shi)一臺合成信(xin)(xin)號源(yuan)(yuan)。

◎ 測試裝置符(fu)合國(guo)標GB/T 1409-2006,美標ASTM D150以及(ji)IEC60250規范(fan)要(yao)求(qiu)。

介(jie)(jie)(jie)質(zhi)(zhi)損(sun)耗：絕緣材(cai)料在電(dian)場作用下，由于介(jie)(jie)(jie)質(zhi)(zhi)電(dian)導(dao)和(he)介(jie)(jie)(jie)質(zhi)(zhi)極化的(de)(de)滯后效應，在其內部(bu)引起的(de)(de)能量(liang)損(sun)耗。也叫介(jie)(jie)(jie)質(zhi)(zhi)損(sun)失，簡稱(cheng)介(jie)(jie)(jie)損(sun)。在交變電(dian)場作用下，電(dian)介(jie)(jie)(jie)質(zhi)(zhi)內流(liu)過(guo)的(de)(de)電(dian)流(liu)相量(liang)和(he)電(dian)壓(ya)相量(liang)之間(jian)的(de)(de)夾角(jiao)（功率因(yin)數角(jiao)Φ）的(de)(de)余角(jiao)δ稱(cheng)為介(jie)(jie)(jie)質(zhi)(zhi)損(sun)耗角(jiao)。

損耗(hao)(hao)(hao)因子也指耗(hao)(hao)(hao)損正切，是(shi)交(jiao)流電被轉化為熱能(neng)的介電損耗(hao)(hao)(hao)（耗(hao)(hao)(hao)散的能(neng)量）的量度，一(yi)般(ban)情(qing)況下都(dou)期望耗(hao)(hao)(hao)損因子低些好

概念：

電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)介(jie)質(zhi)(zhi)(zhi)(zhi)(zhi)在(zai)外電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)場(chang)作用(yong)下，其內(nei)部會有發(fa)熱(re)現象，這說(shuo)明有部分電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)能(neng)已轉化為(wei)熱(re)能(neng)耗散(san)掉，電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)介(jie)質(zhi)(zhi)(zhi)(zhi)(zhi)在(zai)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)場(chang)作用(yong)下，在(zai)單位時間內(nei)因發(fa)熱(re)而(er)消(xiao)耗的(de)能(neng)量稱(cheng)為(wei)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)介(jie)質(zhi)(zhi)(zhi)(zhi)(zhi)的(de)損耗功(gong)率，或簡稱(cheng)介(jie)質(zhi)(zhi)(zhi)(zhi)(zhi)損耗（diclectric loss）。介(jie)質(zhi)(zhi)(zhi)(zhi)(zhi)損耗是應用(yong)于交流電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)場(chang)中電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)介(jie)質(zhi)(zhi)(zhi)(zhi)(zhi)的(de)重要品質(zhi)(zhi)(zhi)(zhi)(zhi)指標之(zhi)一。介(jie)質(zhi)(zhi)(zhi)(zhi)(zhi)損耗不但消(xiao)耗了電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)能(neng)，而(er)且使(shi)元件發(fa)熱(re)影響其正常工(gong)作。如果(guo)介(jie)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)損耗較(jiao)大，甚至會引起介(jie)質(zhi)(zhi)(zhi)(zhi)(zhi)的(de)過熱(re)而(er)絕緣破壞，所以從這種意義上講(jiang)，介(jie)質(zhi)(zhi)(zhi)(zhi)(zhi)損耗越小越好。

主要技(ji)術特(te)性：

介(jie)質(zhi)(zhi)損(sun)耗和介(jie)電(dian)(dian)(dian)常(chang)數(shu)是各種(zhong)電(dian)(dian)(dian)瓷、裝(zhuang)置瓷、電(dian)(dian)(dian)容(rong)(rong)(rong)器(qi)(qi)(qi)等(deng)陶瓷，還有復合材料等(deng)的一(yi)項重要的物理性(xing)質(zhi)(zhi)，通(tong)過測定介(jie)質(zhi)(zhi)損(sun)耗角正切tanδ及介(jie)電(dian)(dian)(dian)常(chang)數(shu)(ε)，可進一(yi)步了(le)解影響(xiang)介(jie)質(zhi)(zhi)損(sun)耗和介(jie)電(dian)(dian)(dian)常(chang)數(shu)的各種(zhong)因素，為(wei)(wei)提(ti)高(gao)(gao)(gao)材料的性(xing)能提(ti)供依據；儀器(qi)(qi)(qi)的基本原理是采用(yong)(yong)高(gao)(gao)(gao)頻(pin)諧(xie)振法，并(bing)提(ti)供了(le)，通(tong)用(yong)(yong)、多用(yong)(yong)途、多量(liang)(liang)程的阻(zu)抗(kang)測試(shi)(shi)。它以單片(pian)計算機作為(wei)(wei)儀器(qi)(qi)(qi)的控制(zhi)，測量(liang)(liang)核心(xin)采用(yong)(yong)了(le)頻(pin)率數(shu)字鎖(suo)定，標準頻(pin)率測試(shi)(shi)點自動(dong)設定，諧(xie)振點自動(dong)搜索，Q值(zhi)(zhi)量(liang)(liang)程自動(dong)轉換(huan)，數(shu)值(zhi)(zhi)顯(xian)示等(deng)新(xin)技術，改進了(le)調(diao)諧(xie)回路(lu)，使(shi)(shi)得(de)調(diao)諧(xie)測試(shi)(shi)回路(lu)的殘(can)余電(dian)(dian)(dian)感(gan)減至低，并(bing)保(bao)留了(le)原Q表中自動(dong)穩幅等(deng)技術，使(shi)(shi)得(de)新(xin)儀器(qi)(qi)(qi)在(zai)使(shi)(shi)用(yong)(yong)時更(geng)(geng)為(wei)(wei)方便，測量(liang)(liang)值(zhi)(zhi)更(geng)(geng)為(wei)(wei)精確。儀器(qi)(qi)(qi)能在(zai)較高(gao)(gao)(gao)的測試(shi)(shi)頻(pin)率條件下，測量(liang)(liang)高(gao)(gao)(gao)頻(pin)電(dian)(dian)(dian)感(gan)或諧(xie)振回路(lu)的Q值(zhi)(zhi)，電(dian)(dian)(dian)感(gan)器(qi)(qi)(qi)的電(dian)(dian)(dian)感(gan)量(liang)(liang)和分布電(dian)(dian)(dian)容(rong)(rong)(rong)量(liang)(liang)，電(dian)(dian)(dian)容(rong)(rong)(rong)器(qi)(qi)(qi)的電(dian)(dian)(dian)容(rong)(rong)(rong)量(liang)(liang)和損(sun)耗角正切值(zhi)(zhi)，電(dian)(dian)(dian)工材料的高(gao)(gao)(gao)頻(pin)介(jie)質(zhi)(zhi)損(sun)耗，高(gao)(gao)(gao)頻(pin)回路(lu)有效(xiao)并(bing)聯及串聯電(dian)(dian)(dian)阻(zu)，傳輸線的特性(xing)阻(zu)抗(kang)等(deng)。

使用方法

高(gao)頻Q表是多用途的(de)(de)阻抗測量(liang)儀器，為了(le)提高(gao)測量(liang)精度，除(chu)了(le)使Q表測試(shi)回路(lu)本身(shen)殘(can)余參量(liang)盡(jin)(jin)可能(neng)地(di)小，使耦合回路(lu)的(de)(de)頻響盡(jin)(jin)可能(neng)地(di)好之外，還要掌(zhang)握正確的(de)(de)測試(shi)方法(fa)和殘(can)余參數修正方法(fa)。

1．測試(shi)注意事項

a．本(ben)儀器應水平安放；

b．如果你需要較精確地(di)測量，請接通電源(yuan)后，預(yu)熱(re)30分(fen)鐘(zhong)；

c．調(diao)(diao)節主(zhu)調(diao)(diao)電(dian)容或主(zhu)調(diao)(diao)電(dian)容數(shu)碼開關時(shi)，當接(jie)近諧振點(dian)時(shi)請(qing)緩調(diao)(diao)；

d．被測件和測試電路(lu)接(jie)線柱間的(de)接(jie)線應(ying)盡量(liang)短，足(zu)夠粗(cu)，并(bing)應(ying)接(jie)觸良好、可(ke)靠，以減(jian)少因接(jie)線的(de)電阻和分布參數所帶來的(de)測量(liang)誤差；

e．被(bei)測件不要直接(jie)擱在面板頂(ding)部，離頂(ding)部一公分以(yi)上(shang)，必要時可(ke)用低損(sun)耗(hao)的(de)絕緣材料(liao)如聚苯乙(yi)烯等做成的(de)襯墊物襯墊；

f．手不得靠(kao)近試件，以免人體感應(ying)影響(xiang)造成測(ce)量誤差，有屏蔽的試件，屏蔽罩應(ying)連接在低電位(wei)端(duan)的接線柱。

2．高頻線(xian)圈的Q值測量（基(ji)本測量法(fa)）

原始(shi)包裝(zhuang)：

請(qing)(qing)保(bao)留所有的(de)原始(shi)包(bao)裝材(cai)料(liao)，如果機器(qi)必須回廠維修(xiu)，請(qing)(qing)用原來的(de)包(bao)裝材(cai)料(liao)包(bao)裝。并(bing)請(qing)(qing)先(xian)與制造(zao)廠的(de)維修(xiu)中心(xin)聯絡。送修(xiu)時(shi)，請(qing)(qing)務必將全(quan)部的(de)附(fu)件一起送回，請(qing)(qing)注明故(gu)障現(xian)象(xiang)和(he)原因。另外，請(qing)(qing)在(zai)包(bao)裝上注明“易碎(sui)品”請(qing)(qing)小(xiao)心(xin)搬運(yun)。

安全注意(yi)事項(xiang)：

開機之前(qian)，敬請(qing)仔細閱讀本 使用指南，以防(fang)止出現對(dui)(dui)操(cao)作(zuo)(zuo)(zuo)人員的(de)意外傷害或對(dui)(dui)儀(yi)(yi)器的(de)損(sun)壞等的(de)事件(jian)。操(cao)作(zuo)(zuo)(zuo)前(qian)，請(qing)閱讀“安裝與設置(zhi)”，保證對(dui)(dui)儀(yi)(yi)器各部件(jian)的(de)正確(que)安裝與連接。在(zai)*次操(cao)作(zuo)(zuo)(zuo)前(qian)，務必請(qing)有(you)操(cao)作(zuo)(zuo)(zuo)經驗的(de)人員進行指導(dao)，防(fang)止誤操(cao)作(zuo)(zuo)(zuo)造成意外事件(jian)的(de)發生。電(dian)擊危險： 確(que)保在(zai)安裝或維修該儀(yi)(yi)器之前(qian)使所有(you)導(dao)線斷電(dian)，防(fang)止在(zai)帶電(dian)情況下，對(dui)(dui)人員或設備造成傷害。

注(zhu)意事(shi)項: 1、該儀器初始的包裝(zhuang)材料需小(xiao)心保存(cun)，安裝(zhuang)需由(you)本(ben)公司的專業技術人(ren)員進行操作(zuo)。2、若儀器由(you)于任何(he)原因(yin)必須(xu)返修，必須(xu)將其(qi)裝(zhuang)入原紙(zhi)箱(xiang)中以防運輸途(tu)中損壞。3、在開(kai)機(ji)前，操作(zuo)者要首先熟悉操作(zuo)方法(fa)。

電(dian)性能檢測(ce)儀(yi)器：介電(dian)強度測(ce)試儀(yi)、體(ti)積(ji)表(biao)面(mian)電(dian)阻率測(ce)試儀(yi)、介電(dian)常(chang)數介質損耗(hao)測(ce)試儀(yi)、漏電(dian)起痕試驗(yan)儀(yi)、耐電(dian)弧試驗(yan)儀(yi)；

塑料(liao)橡膠性能檢測儀(yi)(yi)器：無轉子硫化儀(yi)(yi)、門尼粘度試(shi)驗機(ji)、熱變形維卡(ka)溫度測定儀(yi)(yi)、簡(jian)支梁沖(chong)擊試(shi)驗機(ji)、毛細管(guan)流(liu)變儀(yi)(yi)、橡膠塑料(liao)滑動摩擦試(shi)驗機(ji)

物理性能檢(jian)測儀(yi)器：氧(yang)指數(shu)測定(ding)儀(yi)、水平垂直燃(ran)燒試驗機、熔(rong)體流動(dong)速率測定(ding)儀(yi)、低溫脆(cui)性測試儀(yi)

力學(xue)性(xing)能試(shi)驗(yan)機(ji)：萬能試(shi)驗(yan)機(ji)

北廣(guang)其(qi)他檢測(ce)海綿儀器：海綿泡(pao)沫壓陷硬度測(ce)試儀、海綿泡(pao)沫落球(qiu)回彈測(ce)試儀、海綿泡(pao)沫壓縮變(bian)形試驗儀

另(ling)外(wai)我公(gong)司有：環(huan)境測(ce)(ce)(ce)試儀(yi)(yi)器、生(sheng)物制藥測(ce)(ce)(ce)試儀(yi)(yi)器、動物行為測(ce)(ce)(ce)試儀(yi)(yi)、環(huan)境監測(ce)(ce)(ce)試驗(yan)儀(yi)(yi)