體積電阻率表面電阻率測試儀技術
點擊次數：2985次 更新時間：2013-04-17
體積電阻(zu)率表面(mian)電阻(zu)率測試儀技術
3說明
3.1通常，絕(jue)(jue)緣材料用(yong)于電氣系統的各部件相互絕(jue)(jue)緣和對地絕(jue)(jue)緣，固(gu)體絕(jue)(jue)緣材料還(huan)起機(ji)械支撐(cheng)作用(yong)一般希(xi)望材料有盡可能(neng)(neng)高的絕(jue)(jue)緣電阻(zu)并具有合適的機(ji)械、化學和耐熱性能(neng)(neng)。 3.2體積(ji)電(dian)(dian)(dian)阻率可作為選擇絕緣(yuan)材(cai)料(liao)的一個參數，電(dian)(dian)(dian)阻率隨溫(wen)度和濕度的變化(hua)而顯(xian)著(zhu)變化(hua)體積(ji)電(dian)(dian)(dian)阻率的測量常(chang)(chang)常(chang)(chang)用來(lai)檢查絕緣(yuan)材(cai)料(liao)是否均(jun)勻.或者用來檢測那些能(neng)影響材料質(zhi)量而又(you)不能(neng)用其他方(fang)法檢測到的導電雜質(zhi)。
3.3當(dang)直流電壓(ya)加到(dao)(dao)(dao)與試樣接(jie)觸的兩(liang)電極間時通過試樣的電流會指數式地衰減到(dao)(dao)(dao)一個穩定值。電流隨時間的減小可能是由于電介質(zhi)極化和可動(dong)離(li)子位移到(dao)(dao)(dao)電極所致。對于體積電阻率小于1010Ω·m材料，其穩定狀(zhuang)態通(tong)常在1min內達到。因(yin)此，要(yao)經過這個電(dian)化時間后測(ce)定電(dian)阻(zu)。對(dui)于電(dian)阻(zu)率(lv)較高(gao)的(de)(de)材(cai)料(liao)(liao)，電(dian)流減小(xiao)的(de)(de)過程可(ke)(ke)能會持(chi)續兒分鐘、幾小(xiao)時、幾天，因(yin)此需(xu)要(yao)用(yong)較長(chang)的(de)(de)電(dian)化時間。如(ru)果(guo)需(xu)要(yao)的(de)(de)話，可(ke)(ke)用(yong)體積電(dian)阻(zu)率(lv)與時間的(de)(de)關系來描述材(cai)料(liao)(liao)的(de)(de)特性。
3.4由于體積電(dian)阻(zu)(zu)總是(shi)要(yao)被或多或少(shao)地包括到(dao)表(biao)(biao)(biao)面(mian)(mian)電(dian)阻(zu)(zu)的(de)測試(shi)(shi)中去，因此只能近似地測量(liang)(liang)表(biao)(biao)(biao)面(mian)(mian)電(dian)阻(zu)(zu)，測得的(de)表(biao)(biao)(biao)面(mian)(mian)電(dian)阻(zu)(zu)值主要(yao)反(fan)映被測試(shi)(shi)樣表(biao)(biao)(biao)面(mian)(mian)污染(ran)的(de)程度。所(suo)以，表(biao)(biao)(biao)面(mian)(mian)電(dian)阻(zu)(zu)率不是(shi)表(biao)(biao)(biao)征(zheng)材料(liao)本(ben)身特性(xing)(xing)的(de)參數(shu)，而(er)是(shi)一個有(you)關材料(liao)表(biao)(biao)(biao)面(mian)(mian)污染(ran)特性(xing)(xing)的(de)參數(shu)。當表(biao)(biao)(biao)面(mian)(mian)電(dian)阻(zu)(zu)較(jiao)高時(shi)，它(ta)常隨時(shi)間以不規則的(de)方式變化。測量(liang)(liang)表(biao)(biao)(biao)面(mian)(mian)電(dian)阻(zu)(zu)通常都(dou)規定1min的電化時間 4電源 電源為直(zhi)流(liu)穩壓電源，試驗(yan)電壓通常(chang)為100V,250V,500V,1000V，電壓(ya)誤(wu)差應(ying)小于士5%.在(zai)某些(xie)情況下，試樣的電阻與(yu)施加電壓的極性有關。若(ruo)電阻與(yu)極性有關，應該在(zai)報告中注明，并(bing)以兩次電阻值(zhi)的幾何(he)平均值(zhi)作為結果。
5測量方法和(he)精度
5.1方法(fa)(fa) 測量高電阻常用的方法(fa)(fa)是直接(jie)法(fa)(fa)和比較法(fa)(fa)
直(zhi)接法是(shi)測量加(jia)在試(shi)樣上(shang)的直(zhi)流電(dian)(dian)壓和流過試(shi)樣的電(dian)(dian)流而求得試(shi)樣電(dian)(dian)阻。直(zhi)接法主(zhu)要(yao)有(you)檢流計(ji)法（見附錄中Al.1條）和直流放大法（高阻計法，見(jian)附錄中Al.2條）;比較法(fa)主(zhu)要有(you)檢流計法(fa)（見附錄中A2.1條）和電橋法(fa)（見附錄中(zhong)A2.2條）。
5.2精度 對于(yu)大(da)于(yu)1010Ω的電阻，儀(yi)器(qi)誤差應在士20%的(de)范圍內;對于(yu)(yu)不大于(yu)(yu)1010Ω的電阻，儀器(qi)誤差應在士10%的(de)范圍(wei)內。 5.3保護 測量儀器用的(de)絕緣材料一般只(zhi)具(ju)有與(yu)被(bei)測材料差(cha)(cha)不多的(de)性能(neng)。試(shi)樣的(de)測試(shi)誤差(cha)(cha)可以由下列原因產生: a.外來(lai)寄生(sheng)電(dian)壓引起的(de)雜散電(dian)流(liu)。通常不知道(dao)它的(de)大(da)小，并且(qie)有漂移的(de)特點(dian); b.測(ce)量線路(lu)的(de)絕緣與試(shi)樣電阻(zu)(zu)標準電阻(zu)(zu)器或電流測(ce)量裝置(zhi)的(de)并(bing)聯。
使用高電阻(zu)絕緣材料可以改善(shan)測(ce)量誤(wu)差，但這種方(fang)法將使儀器昂貴而又(you)笨重(zhong)，而且對高阻(zu)值試樣的測(ce)量仍不能得到滿意(yi)的結果(guo)。較為滿意(yi)的改進(jin)方(fang)法是使用保(bao)護(hu)技術，即(ji)在所有主要的絕緣部(bu)位(wei)安(an)置保(bao)護(hu)導體.通(tong)過它截(jie)住了各(ge)種可(ke)能引起誤差(cha)的雜(za)散電(dian)流;將這些導(dao)體聯(lian)接(jie)在一起組(zu)成保(bao)護系統，并與測(ce)(ce)量端(duan)形成一個(ge)三端(duan)網絡。當(dang)線路(lu)連接(jie)洽當(dang)時(shi)，所有外來(lai)寄生(sheng)(sheng)電(dian)(dian)壓的雜散電(dian)(dian)流被保(bao)護系統分(fen)流到測(ce)(ce)量電(dian)(dian)路(lu)以(yi)外，這就可(ke)大(da)大(da)減少產生(sheng)(sheng)誤(wu)差的可(ke)能性 圖1給出(chu)了(le)各(ge)不同測試方式的(de)(de)保(bao)護系(xi)統(tong)的(de)(de)使(shi)用(yong)方法。 在(zai)系(xi)統(tong)的(de)(de)保(bao)護端(duan)和(he)被保(bao)護端(duan)之間存在(zai)的(de)(de)電(dian)解電(dian)勢(shi)、接觸電(dian)勢(shi)或熱(re)電(dian)動勢(shi)較小時，均能(neng)補(bu)償掉，使(shi)它們在(zai)測量中不引起顯著誤差。在(zai)電(dian)流測量中，由于被保(bao)護端(duan)和(he)保(bao)護端(duan)之間的(de)(de)電(dian)阻(zu)與電(dian)流測量裝(zhuang)置并聯可能(neng)產生誤差，因此前者至(zhi)少應為(wei)電(dian)流測童裝(zhuang)置輸入(ru)電(dian)阻(zu)的(de)(de)10倍，為100倍(bei)。在電(dian)橋法測(ce)量中(zhong)，保護(hu)端與測(ce)量端帶有大(da)致(zhi)相同的電(dian)位，但電(dian)橋中(zhong)的一個標(biao)準電(dian)阻與不保護(hu)端和保護(hu)端之間的電(dian)阻并聯，因此，后者至少為標(biao)準電(dian)阻的10倍(bei)，100倍(bei) 在開始(shi)測(ce)試前(qian)先斷開電源和(he)試樣的(de)連(lian)線進(jin)行一次測(ce)量，此(ci)時設(she)備(bei)應在它的(de)靈敏度許可范圍(wei)內指(zhi)示無窮大的(de)電阻。可用一些已知值的(de)標(biao)準電阻來檢(jian)查(cha)設(she)備(bei)運(yun)行是否(fou)良好。
6試(shi)樣與(yu)電極配置
6.1體積電阻率 為了測(ce)定體積電阻率，使用的保護系統應能(neng)抵(di)消(xiao)由表面(mian)電流引(yin)起(qi)的誤差。對表面(mian)泄漏可忽略(lve)的試樣，在測(ce)量(liang)體積電阻時可以去(qu)掉保護。
在(zai)被保護電(dian)極(ji)與保護電(dian)極(ji)之間的試樣表面(mian)上的間隙寬度要均勻，并且在(zai)表面(mian)泄漏不致引起測(ce)量誤(wu)差的條件(jian)下間隙應盡可能窄，實際使(shi)用時(shi)zui小為1mm,圖(tu)2、圖3給出了三電(dian)極裝置的配置。測量(liang)體積電(dian)阻時，電(dian)極①為(wei)被保護電極（測量電極），電極②為(wei)探(tan)護電(dian)極，電(dian)極③為不保(bao)護電(dian)(dian)極。測量電(dian)(dian)極的(de)直(zhi)徑d1或長(chang)度l1應至少為試樣厚(hou)度的10倍(bei)，實際使用時通常zui小(xiao)為25mm。不保護電極的直徑(jing)d4（或長(chang)度14）和保護電極(ji)的外徑d3（或保護電極兩外緣的長度(du)13）應該等(deng)于保護電(dian)極內徑(jing)d2（或保護電(dian)極兩內緣的長度l2）加上(shang)至少兩倍(bei)的試樣厚度。推薦使用d1（l1）=50mm,d2（12）=54mm,d3（13）=d4（14）=74mm.
6.2表面(mian)電阻(zu)率(lv) 為測定表面(mian)電阻(zu)率(lv)，使用(yong)的(de)保護系(xi)統應盡可能地抵消(xiao)體積電阻(zu)引起(qi)的(de)影(ying)響。圖2、圖(tu)3中(zhong)電(dian)極①為被(bei)保(bao)護電極，電極③為保護(hu)電(dian)極，電(dian)極②為不保(bao)護電極(ji)。表面電阻可(ke)在(zai)電極(ji)①和②之間(jian)測量，但(dan)這時測得的值包括了一部分(fen)體(ti)積電阻(zu)。要消除體(ti)積電阻(zu)的影(ying)響(xiang)，則保護間(jian)隙9至少應為(wei)試樣(yang)厚(hou)度(du)的兩倍(bei)，實際(ji)使用時，至少為(wei)1mm,被(bei)保護電極(ji)直徑（或(huo)長度）至少為試樣厚度的10倍，實(shi)際(ji)使用時，至少為25mm。推(tui)薦使用d1（l1）=50mm,d2（12）=60mm,d3（13）=d4（14）=80mm. 7電極材
7.1概述 電極(ji)(ji)材(cai)料是(shi)用于(yu)改善金屬(shu)塊(kuai)電極(ji)(ji)與試(shi)樣的(de)接(jie)觸而施加于(yu)試(shi)樣表面的(de)導電材(cai)料.電極(ji)(ji)材(cai)(cai)料應(ying)容易加(jia)到試樣上，能(neng)與試樣表面緊密(mi)接觸，且不(bu)致因電極(ji)(ji)電阻或對試祥(xiang)污染而(er)產(chan)生可觀的(de)(de)誤差。在試驗(yan)條件下，電極(ji)(ji)材(cai)(cai)料應(ying)能(neng)耐腐蝕。下面是(shi)一些(xie)可采(cai)用(yong)的(de)(de)電極(ji)(ji)材(cai)(cai)料。 如(ru)有必要可使(shi)用(yong)兩種不(bu)同(tong)的(de)(de)電極(ji)(ji)材(cai)(cai)料或兩種不(bu)同(tong)使(shi)用(yong)方(fang)法來了解電極(ji)(ji)材(cai)(cai)料是(shi)否會產(chan)生可觀誤差。
7．2真空鍍(du)膜和金(jin)屬(shu)噴鍍(du)電(dian)(dian)極(ji)(ji) 真空鍍(du)膜電(dian)(dian)極(ji)(ji)是(shi)在真空下將金(jin)界噴鍍(du)到試樣(yang)表面上(shang)形成的(de)(de)電(dian)(dian)極(ji)(ji)。金(jin)屬(shu)噴鍍(du)電(dian)(dian)極(ji)(ji)是(shi)將低熔點金(jin)屬(shu)噴鍍(du)到試樣(yang)上(shang)形成的(de)(de)電(dian)(dian)極(ji)(ji)。這(zhe)樣(yang)的(de)(de)電(dian)(dian)極(ji)(ji)一加到試樣(yang)上(shang)后(hou).即可進行(xing)試(shi)(shi)驗。電(dian)極(ji)是多孔(kong)性的(de)。因此，可將噴(pen)有金屬電(dian)極(ji)的(de)試(shi)(shi)樣(yang)進行(xing)預處(chu)理(li)。使(shi)用這種電(dian)極(ji)材料時試(shi)(shi)f應(ying)不受(shou)離(li)子轟(hong)擊或真空處(chu)理的影(ying)響(xiang)。
7.3液體電(dian)極(ji) 圖(tu)4表示了使(shi)(shi)用液體(ti)(ti)電極(ji)的(de)(de)裝(zhuang)置(zhi)，構成(cheng)上(shang)電極(ji)的(de)(de)液體(ti)(ti)應(ying)被(bei)框住，例如(ru)用不(bu)銹鋼(gang)環來框住。每個(ge)環的(de)(de)下(xia)面邊緣在不(bu)接觸液體(ti)(ti)的(de)(de)一邊被(bei)削成(cheng)銳邊。導電液體(ti)(ti)為汞(gong)(gong)，因(yin)汞(gong)(gong)蒸氣有毒，故不(bu)推柞長期使(shi)(shi)用或高溫下(xia)使(shi)(shi)用汞(gong)(gong)，液體(ti)(ti)電極(ji)往往能得到滿意的(de)(de)結果。
7.4膠(jiao)體(ti)石(shi)(shi)(shi)墨(mo) 分散在水中或其他合適媒(mei)質中的膠(jiao)體(ti)石(shi)(shi)(shi)墨(mo)按所(suo)規定的電極(ji)形狀仔細地(di)刷到試樣(yang)(yang)表(biao)面即可得(de)到膠(jiao)體(ti)石(shi)(shi)(shi)墨(mo)電極(ji)。這種電極(ji)是多孔性(xing)的。涂敷后(hou)試樣(yang)(yang)仍可進行預處理(li)（若膠體(ti)石墨的溶劑為水(shui)，則不容許(xu)進(jin)行浸水(shui)甚至受潮試驗）。這(zhe)種(zhong)電極特別適(shi)用(yong)于濕度(du)一(yi)電阻(zu)、溫度(du)一(yi)電阻(zu)關系的試(shi)驗。使(shi)用(yong)這(zhe)種(zhong)電極材料時(shi).溶劑對試樣應無影響 7.5導電橡(xiang)皮(pi)(pi) 導電橡(xiang)皮(pi)(pi)可作電極材料，它的(de)(de)優點是(shi)(shi)使用方便。由于只是(shi)(shi)在(zai)測定時才加電極到試樣上，因而它不妨礙試樣的(de)(de)條(tiao)件處理導電橡(xiang)皮(pi)(pi)的(de)(de)體積電阻率(lv)為不大于10n"m,邵氏硬度為40-60（A表(biao)）+使用(yong)時壓力為0.01MPa左(zuo)右
7.6金(jin)屬(shu)箔 金(jin)屬(shu)箔可(ke)粘(zhan)貼在試樣(yang)表面形成電極(ji).普(pu)遍使用的(de)金屬箔(bo)為(wei)鉛、鉛銻(ti)、退火(huo)鋁(lv)箔(bo)和錫(xi)箔(bo)。通常以(yi)極少(shao)量的(de)精(jing)煉(lian)幾士林、硅(gui)脂、硅(gui)油、電(dian)容器油以(yi)及其他(ta)合(he)適的(de)材料(liao)作為(wei)粘貼(tie)(tie)劑將金屬箔(bo)枯貼(tie)(tie)到試樣上去，也可以(yi)使用以(yi)下組分(fen)的(de)導(dao)電(dian)粘合(he)劑分(fen)子量為(wei)600的無水聚乙二醇800份質量比(bi) 水200份質量(liang)比 軟(ruan)肥(fei)皂1份質量比(bi)<br><br> 氯化鉀10份(fen)質量比 將粘(zhan)(zhan)有(you)粘(zhan)(zhan)合劑(ji)的(de)金(jin)屬箔放于試樣(yang)表面(mian)后，用軟(ruan)物以均勻(yun)的(de)力(li)自箔中心向(xiang)邊緣擠壓，以消除一(yi)切皺(zhou)褶、氣(qi)泡(pao)，并將多余(yu)的(de)粘(zhan)(zhan)合劑(ji)擠走。
7.7導電銀(yin)漆 它(ta)具有和(he)本標(biao)準7.4條相同(tong)的(de)用法和優(you)點，且比膠體(ti)石墨有更小(xiao)的(de)接觸電阻。
8試(shi)樣 試(shi)樣應比電極的zui大尺(chi)寸每邊多至(zhi)7mm。每組試樣至(zhi)少3個。 除非另(ling)有要求，試(shi)樣均(jun)采用原厚度(du)。
9試(shi)樣操作與(yu)安放 為了使電(dian)極之間、測(ce)量(liang)極與(yu)地(di)之間的雜散電(dian)流(liu)對(dui)測(ce)試(shi)儀器的讀數沒有(you)明顯(xian)的影(ying)響(xiang)，測(ce)試(shi)時加電(dian)極到試(shi)樣上和安放試(shi)樣時均要極為仔細，以免形成對(dui)測(ce)試(shi)結(jie)果有(you)影(ying)響(xiang)的雜散電(dian)流(liu)通道。 測(ce)量(liang)表(biao)面電(dian)阻時，除非另有(you)協議或(huo)規定，不(bu)要清洗及處理(li)表(biao)面，也不(bu)要用手或(huo)其他任何東西(xi)觸及。
10條(tiao)(tiao)件(jian)(jian)處理 試(shi)樣(yang)的(de)預(yu)處理條(tiao)(tiao)件(jian)(jian)取決于被測材料，這些條(tiao)(tiao)件(jian)(jian)在材料規(gui)范中規(gui)定. 推薦使(shi)用(yong)GB10580Q固體絕(jue)緣材料在試(shi)驗前和試(shi)驗時(shi)采用的標(biao)準條件》中規定的預處理方法。可使(shi)用甘(gan)油一水溶(rong)液潮濕箱進行(xing)濕度預處理。 測試(shi)條件應與預處理條件盡可能地一致，有些時(shi)候（如浸水處(chu)理(li)）不能(neng)保持預(yu)處理條件和測(ce)試條件一致時(shi)，則(ze)應在從預(yu)處理環境中取出后盡可能(neng)短(duan)的時(shi)間內完成測(ce)試。一般不超過5min
11試驗程序 試樣按本標準(zhun)第6,7,8,9,10章處理和準備(bei)試(shi)(shi)驗。 除(chu)非(fei)另有規定，在測(ce)量(liang)電極范圍內沿直(zhi)徑方向測(ce)量(liang)三點試(shi)(shi)樣(yang)的(de)厚(hou)度，以(yi)三點的(de)算術平均(jun)值作為試(shi)(shi)樣(yang)厚(hou)度測(ce)量(liang)誤差不大(da)于1%。
11.1體積電阻(zu) 在測(ce)試(shi)前應(ying)使試(shi)樣具有(you)電介質的(de)穩定狀態，即試(shi)樣不帶有(you)剩余電荷。 如(ru)有(you)必要，可(ke)通過測(ce)量如(ru)圖2,圖(tu)3中的電極①和電(dian)極③間的短路電流I。來觀察試樣的(de)(de)剩余電(dian)(dian)(dian)(dian)荷(he)狀態(tai)，該(gai)短路(lu)電(dian)(dian)(dian)(dian)流(liu)達到一(yi)個(ge)穩定(ding)值時，應小于(yu)電(dian)(dian)(dian)(dian)化(hua)電(dian)(dian)(dian)(dian)流(liu)的(de)(de)穩定(ding)值。由(you)于(yu)短路(lu)電(dian)(dian)(dian)(dian)流(liu)的(de)(de)方向(xiang)有可能(neng)改變，因此，即使短路(lu)電(dian)(dian)(dian)(dian)流(liu)為(wei)零，也(ye)要(yao)維持短路(lu)狀態(tai)到需(xu)要(yao)的(de)(de)時間(jian)，記下I。的方向(xiang)和大小。加上規(gui)定(ding)的直流電壓并(bing)同(tong)時(shi)開(kai)始計時(shi)，電化(hua)時(shi)間可從1min,2min,10min,50min,100min中(zhong)選取若試樣的(de)(de)電化(hua)電流很長時間(jian)達(da)不到穩定狀(zhuang)態，則記錄(lu)體(ti)積電化(hua)時間(jian)的(de)(de)函數關系。一(yi)般情況(kuang)下，采用1min電(dian)化時間。
11.2表面(mian)(mian)電(dian)阻 施加規定的直(zhi)流電(dian)壓(ya)于同一表面(mian)(mian)的兩個電(dian)極之間（圖lb），電化(hua)1min后讀數。
12試(shi)驗(yan)結果
12.1體積(ji)電阻(zu)率 體積(ji)電阻(zu)率按式(shi)（1）計算:P.=Rv·A/h（1） 式中: P.—體積電阻率，Ω·m; Rv—測得(de)的試樣(yang)體積電阻，Ω A測(ce)量電極的有效面積，m2，在附錄B中給出了某些電極裝置的有效面積A的計(ji)算公式 h—試樣(yang)的平均厚度,m 對于(yu)某些高電(dian)阻率材料，電(dian)化(hua)以前的短(duan)路電(dian)流Za與電(dian)化(hua)穩定(ding)電(dian)流相比不(bu)能忽(hu)略(lve)不(bu)計(ji)時，體積(ji)電(dian)阻應按式(shi)（2）計算: Rv=Un/（Is士Io） 式(shi)中： Rv—體積電(dian)阻，Ω Un—試(shi)驗電壓，V Is—電化(hua)后的穩(wen)定電流,A Io—電化前的短路電流，A 當了。與I，同向(xiang)時使用負號，反(fan)之用正號。 表面電阻率(lv) 表面電阻率(lv)應按式（3）計算: Ps=Rs·P/g 式中： Ps—表(biao)面電阻率，Ω Rs—試(shi)樣的表面電阻(zu)，Ω P—所使用(yong)的特定電(dian)極(ji)裝(zhuang)置(zhi)或測量電(dian)極(ji)裝(zhuang)置(zhi)中，測量電(dian)極(ji)的有效(xiao)周(zhou)長，m，附錄B中給出了某(mou)些電極(ji)裝置中戶的算法; g—兩電極之間的距離，m。12.3數據處(chu)(chu)理數據處(chu)(chu)理按產(chan)品(pin)標準(zhun)進行，若(ruo)產(chan)品(pin)無此項規定，則取(qu)各試驗值的幾何平均值作為zui終結果
13報告 試驗報告應包括下列內容(rong): a.材料的說明和標志（名(ming)稱、型號、生產廠等(deng)） b.試樣的形狀和尺寸 c.電極的形式、尺(chi)寸(cun)、材料 d.試樣的處理（清潔、預處(chu)理條件等） e.試驗條(tiao)件（溫度(du)、濕度(du)） f.測量儀器(qi)和(he)方(fang)法 9.測試(shi)電壓和(he)電化時間 h.測得的各(ge)個值和zui終結果 1.操作(zuo)者和試驗日期(qi)。 附錄(lu)A 幾(ji)種常用的(de)測扭方法 （參考件） A1直接法 Al.1檢流計法 如圖A2所示，被測試(shi)的電阻凡計算(suan)如下 Rx=UN/Cga（Al） 式中: Rx-試樣電阻(zu)，Ω U—試驗(yan)電壓(ya)，V N—分(fen)流(liu)比 a—檢流(liu)計(ji)偏(pian)轉數，用兩次讀數的平均(jun)值表(biao)示,mmCg—檢流計常(chang)數，A/mm A
1.2高阻計法 高阻計法又(you)稱直流放大法，它(ta)是將通(tong)過(guo)試樣的微弱(ruo)電流經過(guo)放大后，推(tui)動指示儀(yi)表，故(gu)可測量(liang)(liang)較(jiao)高的絕(jue)緣電阻。 通(tong)常在高阻計中(zhong)，有數(shu)個數(shu)量(liang)(liang)級(ji)不同的標(biao)準(zhun)電阻，以(yi)適應測量(liang)(liang)不同數(shu)量(liang)(liang)級(ji)的Rx的需(xu)要，被測(ce)電阻可以直接讀(du)出。高阻計法一般(ban)可測(ce)圖A2表示(shi)高阻計(ji)的(de)測量(liang)原理1017Ω以(yi)下的絕緣(yuan)電阻
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固(gu)體絕緣材料體積電阻率和(he)表面(mian)電阻率試驗方法GB1410一89代替GB1410—78 本(ben)標(biao)準(zhun)等效采(cai)用標(biao)準(zhun)IEC93《固體(ti)絕緣材料體(ti)積電阻率和表面(mian)電阻率試(shi)驗方法》（1980年版 1主題內容(rong)與適(shi)用范圍 本(ben)標準(zhun)規定了固(gu)體(ti)(ti)絕緣材(cai)料體(ti)(ti)積電(dian)阻(zu)(zu)率(lv)和表(biao)面電(dian)阻(zu)(zu)率(lv)的試(shi)驗方法(fa)。這些試(shi)驗方法(fa)包括(kuo)對固(gu)體(ti)(ti)絕緣材(cai)料體(ti)(ti)積電(dian)阻(zu)(zu)和表(biao)面電(dian)阻(zu)(zu)的測定程序(xu)及(ji)體(ti)(ti)積電(dian)阻(zu)(zu)率(lv)和表(biao)面電(dian)阻(zu)(zu)率(lv)的計算方法(fa)。 體(ti)(ti)積電(dian)阻(zu)(zu)和表(biao)面電(dian)阻(zu)(zu)的試(shi)驗都受下列(lie)因素影響:施(shi)加電壓(ya)的(de)大小和時間;電極(ji)的性質和尺(chi)寸;在(zai)試樣處(chu)理和(he)(he)測試過程中周圍大氣(qi)條件和(he)(he)試樣的(de)溫度、濕度。
2術語
2.1體(ti)積電(dian)阻(zu) 在試樣的(de)相對兩表面(mian)上放置的(de)兩電(dian)極(ji)(ji)間所(suo)加直流電(dian)壓與(yu)流過兩個電(dian)極(ji)(ji)之(zhi)間的(de)穩態電(dian)流之(zhi)商;該電(dian)流不(bu)(bu)包括沿材料表面的電(dian)流。在兩電(dian)極(ji)間可能形成(cheng)的極(ji)化忽(hu)略不(bu)(bu)計。
2.2體(ti)積(ji)電阻率(lv) 在絕緣材(cai)料里面的直流電場強度(du)與穩態電流密(mi)度(du)之(zhi)商，即單位體(ti)積(ji)內的體(ti)積(ji)電阻。
2.3表面電(dian)阻 在試(shi)樣的(de)某一(yi)表面上兩(liang)電(dian)極間所加(jia)電(dian)壓與經過一(yi)定時間后流(liu)(liu)過兩(liang)電(dian)極間的(de)電(dian)流(liu)(liu)之(zhi)商;該電流(liu)主要為流(liu)過試樣表層(ceng)的(de)電流(liu)，也包括一部分(fen)(fen)流(liu)過試樣體積的(de)電流(liu)成(cheng)分(fen)(fen)。在兩電極間(jian)可(ke)能形成(cheng)的(de)極化忽略不計
2.4表(biao)面(mian)電(dian)阻率 在絕緣材料的(de)(de)表(biao)面(mian)層的(de)(de)直(zhi)流電(dian)場(chang)強度與線電(dian)流密度之(zhi)商，即單(dan)位面(mian)積內的(de)(de)表(biao)面(mian)電(dian)阻。
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