四探針電阻測試儀可以選擇那些探頭？
探(tan)頭(tou)(tou)(tou)選(xuan)配：根據不同材(cai)(cai)料(liao)特性(xing)需要，探(tan)頭(tou)(tou)(tou)可(ke)有多款選(xuan)配。有高(gao)耐磨碳化(hua)鎢探(tan)針探(tan)頭(tou)(tou)(tou)，以測試(shi)(shi)硅類半(ban)(ban)導(dao)體、金(jin)(jin)屬(shu)、導(dao)電(dian)(dian)(dian)(dian)塑料(liao)類等硬質材(cai)(cai)料(liao)的(de)(de)電(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)率/方(fang)阻(zu)(zu)；也有球形(xing)鍍金(jin)(jin)銅合金(jin)(jin)探(tan)針探(tan)頭(tou)(tou)(tou)，可(ke)測柔性(xing)材(cai)(cai)料(liao)導(dao)電(dian)(dian)(dian)(dian)薄膜(mo)、金(jin)(jin)屬(shu)涂層或(huo)薄膜(mo)、陶(tao)瓷或(huo)玻璃等基(ji)底上導(dao)電(dian)(dian)(dian)(dian)膜(mo)（ITO 膜(mo)）或(huo)納米涂層等半(ban)(ban)導(dao)體材(cai)(cai)料(liao)的(de)(de)電(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)率/方(fang)阻(zu)(zu)。換上四端子(zi)測試(shi)(shi)夾(jia)具，還可(ke)對電(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)器體電(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)、金(jin)(jin)屬(shu)導(dao)體的(de)(de)低、中值電(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)以及開關類接觸(chu)電(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)進行測量。配探(tan)頭(tou)(tou)(tou)， 也可(ke)測試(shi)(shi)電(dian)(dian)(dian)(dian)池(chi)極片等箔上涂層電(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)率方(fang)阻(zu)(zu)。
儀器(qi)具(ju)有測量范圍寬、精度高(gao)、靈(ling)敏度高(gao)、穩定性好、智能化程度高(gao)、外形美(mei)觀、使用簡便(bian)等(deng)特點。
儀器適(shi)用(yong)于半(ban)導體材料廠器件廠、科研單位、高等院校對導體、半(ban)導體、類半(ban)導體材料的導電性能的測試(shi)。
BEST-300C 型材料電導(dao)(dao)率(lv)測(ce)(ce)試(shi)儀(yi)(yi)是運用四探針測(ce)(ce)量原(yuan)理測(ce)(ce)試(shi)試(shi)導(dao)(dao)體(ti)、半導(dao)(dao)體(ti)材料電阻率(lv)/方阻的多用途綜合(he)測(ce)(ce)量儀(yi)(yi)器。該儀(yi)(yi)器設計(ji)符合(he)單晶硅物(wu)理測(ce)(ce)試(shi)方法國(guo)家標準(zhun)并參考美國(guo) A.S.T.M 標準(zhun)。
儀(yi)器(qi)成(cheng)套(tao)組(zu)成(cheng)：由主機、選配的四(si)探針探頭和測試臺等三部分組(zu)成(cheng)。
主(zhu)機主(zhu)要由(you)數控(kong)恒(heng)流源，高(gao)分辨率(lv) ADC、嵌入式單片機系(xi)統(tong)組(zu)成。自動/手動量程可(ke)選；電阻率(lv)、方阻、電阻測(ce)試類別快捷切換：儀(yi)器所有參數設(she)定、功能轉換全部采用數字化鍵盤輸入，簡(jian)便可(ke)靠；具(ju)有零位、滿(man)度自校功能；測(ce)試結果(guo)由(you)數字表頭直接(jie)顯示。本(ben)測(ce)試儀(yi)采用可(ke)充電鋰(li)電池供(gong)電，適合(he)手持式變動場合(he)操作使用！
數字電壓表：
⑴量程(cheng)： 20.00mV
⑵誤(wu)差(cha)：±0.2%FSB±2LSB
⑶*分辨力：1.0µV
顯示: 4 位數(shu)字顯示，小數(shu)點自動(dong)顯示
數控恒流源
⑴電(dian)流(liu)輸(shu)出(chu)：直流(liu)電(dian)流(liu) 0.1µA～1.0A，系統自動調整。
⑵誤差(cha)：±0.2%FSB±2LSB
四探針測試探頭：
有(you)選配(pei)的型號確定，詳見《不同半導(dao)體材料電阻(zu)率/方阻(zu)測(ce)試的四(si)探針探頭和測(ce)試臺(tai)選配(pei)方
法》
電源：
功 耗：< 15W，輸入(ru):220V±10% 50Hz±2%
本儀(yi)器工作條件(jian)為： 溫 度： 0-40℃ 相對濕度： ≥60%
工作室內(nei)應(ying)無強電磁(ci)場干擾，不(bu)與高頻設備(bei)共用(yong)電源。
外形尺寸：主機 245mm（長）×220 mm（寬）×95mm（高）
BEST-300C 測試(shi)儀能夠(gou)測量半導(dao)體(ti)材料體(ti)電(dian)阻(zu)率ρ、方塊電(dian)阻(zu)（薄片電(dian)阻(zu)率）R 口
以及體電阻 R，測量時需(xu)調整相(xiang)應的修正系(xi)數和選擇(ze)相(xiang)應的功能(neng)。
本產品不但提供了電阻率ρ、方塊電阻 R 口以及體電阻 R 測試的基本修正系數設定， 還提供了產品厚度 G、外形和測試位置的修正系數 D 設定，極大的提高了測試精度。測試類別的快捷選擇方式，方便了用戶同時測試多個參數，提高測試效率。
對于(yu)電阻(zu)器類(lei)樣品，用四(si)端(duan)子測(ce)試(shi)線按照圖 5-1 連接好樣品，對于(yu)半導體材(cai)料，測(ce)試(shi)前表面應進(jin)行(xing)必要(yao)的處理。如圖 5-2，對于(yu)硅材(cai)料要(yao)進(jin)行(xing)噴砂或清潔處理，對于(yu)薄膜類(lei)的要(yao)保持(chi)表面清潔，必要(yao)的要(yao)進(jin)行(xing)清潔。樣品放在平整(zheng)的臺面上。將測(ce)試(shi)探頭的插頭與主機(ji)的輸入插座連接起來，連接好探頭和主機(ji)。將電源開(kai)關(guan)置(zhi)于(yu)開(kai)啟位置(zhi)，數字顯示亮。儀器預熱 15 分(fen)鐘以上，增(zeng)加讀數穩定(ding)性。
在設定模式下(xia)（設定完畢，保(bao)存好數(shu)據后），選擇測量(liang)類別（電阻(zu)率ρ、方塊(kuai)電阻(zu)
（薄(bo)片電(dian)阻(zu)率）R 口或體電(dian)阻(zu) R 中(zhong)三選一，切(qie)換儀器到(dao)“測量”模(mo)(mo)式(shi)，窗口左側(ce)“測量” 模(mo)(mo)式(shi)燈(deng)亮。電(dian)阻(zu)測量,注(zhu)意良好接(jie)觸(chu)(chu)，電(dian)壓(ya)測試端在內側(ce)；半導(dao)體參數測試，將探針與(yu)樣(yang)品(pin)良好接(jie)觸(chu)(chu)，注(zhu)意壓(ya)力(li)要(yao)適中(zhong)；由數字顯示窗直接(jie)讀出測量值。
注意(yi)！測量狀態中，電流(liu)(liu)量程(cheng)(cheng)(cheng)默認(ren)為自動方式(shi)，也(ye)可調(diao)整為手動方式(shi)，手動方式(shi)下(xia)， 電流(liu)(liu)量程(cheng)(cheng)(cheng)適合的(de)(de)，儀器會穩定(ding)顯示數據，電流(liu)(liu)量程(cheng)(cheng)(cheng)不(bu)適合的(de)(de)會給出(chu)超量程(cheng)(cheng)(cheng)或欠(qian)(qian)量程(cheng)(cheng)(cheng)閃爍提示，對于超量程(cheng)(cheng)(cheng)，說明電流(liu)(liu)過大(da)，要(yao)調(diao)到較(jiao)小電流(liu)(liu)檔；對于欠(qian)(qian)量程(cheng)(cheng)(cheng)，說明電流(liu)(liu)過小， 要(yao)調(diao)到較(jiao)大(da)電流(liu)(liu)檔。
