四探針電阻率測試儀的量程范圍是多少？
BEST-300C四探針電阻率測試儀范圍：
1、電阻率： 1×10-6～2×106Ω.cm、
電 阻：1×10-5～2×105Ω
電(dian)導率：5×10-6～1×108ms/cm
分辨率： 小1μΩ
測量誤差±5%
2、測量電壓量程： 2mV 20mV 200mV 2V
測量精度±（0.1%讀數） 分辨率： 0.1uV 1uV 10uV 100uV
3、⑴電流輸出：直流電流 0～1000mA 連續可調，由交流電源供電。
⑵量程：1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，1000mA,
⑶誤差：±0.2%讀數±2字
4. 主機外形尺(chi)寸：330mm*340mm*120mm
5、顯示方式：液晶顯示6、電(dian)源(yuan)：220±10% 50HZ/60HZ
7、標配：測(ce)試平臺(tai)一(yi)套(tao)、主機一(yi)套(tao)、電源線數據線一(yi)套(tao)。
自(zi)動量程，自(zi)動測量電阻，電阻率，電導率數(shu)據.
以及體電阻 R，測量(liang)時需調整相(xiang)應(ying)的(de)修正(zheng)系數和選(xuan)擇相(xiang)應(ying)的(de)功能。
為測定表(biao)面(mian)電阻率，試樣的形狀(zhuang)不限，只(zhi)要允許使用(yong)第三電極來抵消體(ti)(ti)積效應引起的誤差即可。
也可測(ce)試電池極(ji)片等箔上涂(tu)層電阻率方阻。
可(ke)配置(zhi)不(bu)同測(ce)量(liang)裝置(zhi)測(ce)試不(bu)同類型材料之電阻(zu)率(lv)。液晶顯示(shi)，溫度補償功能，自動(dong)量(liang)程(cheng)，自動(dong)測(ce)量(liang)電阻(zu)，電阻(zu)率(lv)，電導率(lv)數(shu)據。
量(liang)程： 20.00mV
配置(zhi)不(bu)同測(ce)量裝(zhuang)置(zhi)測(ce)試不(bu)同類型(xing)材料之電阻率.
大分辨力(li)：1.0µV
然(ran)而，對于很寬范圍的(de)環境條件和材料(liao)性能，當電極尺(chi)寸合適時， 體(ti)積(ji)電阻的(de)影響可忽(hu)略不計。
以及體(ti)電阻 R，測量時需調(diao)整相(xiang)應的修(xiu)正系數和(he)選擇相(xiang)應的功能。
恒流源(yuan)輸(shu)出；選(xuan)配：PC軟件過程數據處理(li)和標(biao)準電(dian)阻校準儀器，薄膜(mo)按鍵操作簡單(dan)，中文(wen)或(huo)英文(wen)兩(liang)種語言(yan)界面選(xuan)擇.
顯(xian)示(shi): 4 位數(shu)(shu)字顯(xian)示(shi)，小數(shu)(shu)點自動顯(xian)示(shi)
采(cai)用四端測量法(fa)適用于生(sheng)產(chan)企業、高等院校、科研部門，實驗(yan)(yan)室；是檢驗(yan)(yan)和(he)分析(xi)導體(ti)材(cai)料和(he)半導體(ti)材(cai)料質(zhi)量的(de)工具。
有(you)高(gao)耐磨碳化鎢探針(zhen)探頭，以(yi)測試硅類(lei)半導體、金屬、導電(dian)塑料類(lei)等硬(ying)質材料的電(dian)阻(zu)率/方阻(zu)；
PC軟件過程數(shu)據處理.
有高耐磨碳(tan)化鎢探(tan)針探(tan)頭，以測試硅(gui)類(lei)半導體、金(jin)屬、導電塑料類(lei)等硬質材(cai)料的電阻率/方(fang)阻；
為(wei)測定表(biao)面電阻率，試樣的(de)(de)形狀不限，只(zhi)要允(yun)許(xu)使用第三電極來(lai)抵(di)消體積效(xiao)應引(yin)起的(de)(de)誤(wu)差即可(ke)。
外形尺(chi)寸：
液(ye)晶顯示，溫度(du)補償功能(neng).
電(dian)(dian)流輸(shu)出：直流電(dian)(dian)流 0.1µA～1.0A，系統自動(dong)調整。四(si)探針電(dian)(dian)阻(zu)率測(ce)試(shi)(shi)儀采用4.3吋大液晶屏幕顯示(shi)，同(tong)時顯示(shi)電(dian)(dian)阻(zu)值、電(dian)(dian)阻(zu)率、方阻(zu)、電(dian)(dian)導率值、溫度、壓強值、單位自動(dong)換算，配(pei)置(zhi)不(bu)同(tong)的(de)測(ce)試(shi)(shi)治(zhi)具可以滿足不(bu)同(tong)材料的(de)測(ce)試(shi)(shi)要求。測(ce)試(shi)(shi)治(zhi)具可以根(gen)據(ju)產品(pin)及測(ce)試(shi)(shi)項目要求選購.自動(dong)測(ce)量(liang)(liang)并(bing)根(gen)據(ju)測(ce)試(shi)(shi)結果(guo)自動(dong)轉換量(liang)(liang)程(cheng)，無需人工多次(ci)和(he)重復設置(zhi)。選配(pei)：配(pei)備軟件可以由電(dian)(dian)腦操控，并(bing)保存和(he)打印數(shu)據(ju)，自動(dong)生成圖(tu)表和(he)報表。
