體積電阻率測定儀BEST-121正確操作方法
體積(ji)電阻率測定儀(yi)注意事(shi)項
儀器(qi)(qi)使(shi)用(yong)前(qian)請仔細閱讀以下內容，否則將造成(cheng)儀器(qi)(qi)損壞或電擊情(qing)況。
1.檢查儀器后面板電壓(ya)量程是否置于10V檔(dang)，電流電阻量程是否置于104檔(dang)。
2.接(jie)通電(dian)源調零，（注意此時主機(ji)不得(de)與屏(ping)蔽(bi)箱線路連接(jie)）在“Rx”兩端開路的(de)(de)情況下，調零使電(dian)流表的(de)(de)顯示為0000。然(ran)后關機(ji)。
3.將待測試樣平鋪在不保(bao)(bao)(bao)護(hu)(hu)電極正*，然后用(yong)保(bao)(bao)(bao)護(hu)(hu)電極壓住樣品(pin)，再插入被保(bao)(bao)(bao)護(hu)(hu)電極（不保(bao)(bao)(bao)護(hu)(hu)電極、保(bao)(bao)(bao)護(hu)(hu)電極、被保(bao)(bao)(bao)護(hu)(hu)電極應(ying)同軸且(qie)確認電極之間無短(duan)路）。
4.測(ce)體積(ji)電阻時測(ce)試按鈕撥(bo)到(dao)Rv邊，測(ce)表面(mian)電阻時測(ce)試按鈕撥(bo)到(dao)Rs邊，
5.接(jie)(jie)好測(ce)試線，將(jiang)測(ce)試線將(jiang)主機(ji)與屏(ping)蔽箱連接(jie)(jie)好。量程置于104檔，打(da)開(kai)主機(ji)后(hou)(hou)面板電(dian)(dian)源開(kai)關(guan)按(an)鈕。從儀器后(hou)(hou)面板調電(dian)(dian)壓(ya)按(an)鈕到(dao)所(suo)要求的測(ce)量電(dian)(dian)壓(ya)。(比如：GBT 1692-2008 硫化橡膠 絕緣電(dian)(dian)阻率的測(ce)定 標準中注明要求在500V電(dian)(dian)壓(ya)進行測(ce)定，那么電(dian)(dian)壓(ya)就要升到(dao)500V)
6.電流電阻(zu)(zu)量(liang)(liang)程(cheng)按鈕(niu)從低(di)檔位逐(zhu)漸撥，每撥一(yi)次停(ting)留1-2秒(miao)觀察顯(xian)示數(shu)字，當被(bei)測(ce)電阻(zu)(zu)大(da)于儀器測(ce)量(liang)(liang)量(liang)(liang)程(cheng)時，電阻(zu)(zu)表顯(xian)示“1”，此時應繼續將(jiang)儀器撥到(dao)量(liang)(liang)程(cheng)更高的位置(zhi)。測(ce)量(liang)(liang)儀器有顯(xian)示值時應停(ting)下，在1min的電化(hua)時間后測(ce)量(liang)(liang)電阻(zu)(zu)，當前的數(shu)字乘以(yi)檔次即(ji)是被(bei)測(ce)電阻(zu)(zu)。
7.測試(shi)完畢先(xian)將(jiang)量程撥(bo)至（104）檔，然后(hou)(hou)將(jiang)測量電壓撥(bo)至10V檔，zui后(hou)(hou)將(jiang)測試(shi)按鈕撥(bo)到*位置(zhi)后(hou)(hou)關(guan)閉電源。然后(hou)(hou)進行下一次測試(shi)。
8.應在“Rx”兩端開路時調零，一般(ban)一次調零后在測試過程中不需再調零。
9.禁止(zhi)將“RX”兩端(duan)短路，以免微電(dian)流放大器受大電(dian)流沖擊。
10.不得在測試過(guo)程中(zhong)不要隨意改動測量(liang)電壓(ya)。
11.測(ce)量時從低次檔(dang)逐漸撥往高次檔(dang)。
12.接通電源后，手指不能觸及(ji)高壓(ya)線的(de)金屬部分。
13.不(bu)得測(ce)試過程中(zhong)不(bu)能觸摸微(wei)電流測(ce)試端。
14.在測(ce)量高阻時(shi)，應采用屏蔽(bi)盒(he)將被測(ce)物體(ti)屏蔽(bi)。
15.嚴(yan)禁在(zai)試測(ce)過(guo)(guo)程隨(sui)意改變電壓(ya)量程及在(zai)通電過(guo)(guo)程中打開主(zhu)機。
16.嚴禁(jin)電流(liu)電阻量程(cheng)未在104檔及電壓在10V檔，更換試樣。
體積(ji)電(dian)阻率(lv)測(ce)定儀(yi)操作方(fang)式
BEST-121體積、表面(mian)電(dian)阻率測定儀是一臺能(neng)(neng)測量*電(dian)阻和非常微弱電(dian)流(liu)的精(jing)(jing)密儀器(qi)是因(yin)(yin)為(wei)機器(qi)內(nei)有(you)一個超(chao)高性能(neng)(neng)的靜電(dian)計放(fang)大(da)器(qi)，盡管儀器(qi)有(you)多種(zhong)保護措施，這(zhe)個超(chao)高性能(neng)(neng)的靜電(dian)放(fang)大(da)器(qi)在以下(xia)這(zhe)些不正(zheng)確(que)操作使用中均可能(neng)(neng)因(yin)(yin)過大(da)電(dian)流(liu)沖擊、過電(dian)壓(ya)或(huo)放(fang)電(dian)等*損壞或(huo)降低其測量精(jing)(jing)度與性能(neng)(neng)。
測試過程
不(bu)正確(que)的操作(zuo)方式后果
開機前
沒有將電壓撥(bo)(bo)至(zhi)10V，電阻(zu)電流量程(cheng)檔撥(bo)(bo)至(zhi)104
過電流(liu)沖擊造成儀器(qi)放大(da)器(qi)過電流(liu)而損(sun)壞
測(ce)試過程
隨意(yi)調節后面板電壓量程而改變測試電壓
過電(dian)流或反向放(fang)電(dian)沖擊造成儀器過電(dian)流而損壞(huai)
測試過程
改變(bian)屏蔽箱上體(ti)面電阻，表面電測(ce)測(ce)試開關
過電(dian)流或反向放(fang)電(dian)沖擊(ji)造成儀(yi)器過電(dian)流而損(sun)壞
測試過(guo)程(cheng)
測試電壓過(guo)高(gao)，導致測試材料擊穿
過(guo)電(dian)流或(huo)反向放電(dian)沖(chong)擊造成儀器過(guo)電(dian)流而損壞或(huo)測(ce)量性(xing)能降低(di)
測試過程
微電流測(ce)量線與高(gao)壓(ya)線短路
過電流(liu)或反向(xiang)放電沖擊(ji)造(zao)成儀器(qi)過電流(liu)而損壞或測量性(xing)能(neng)降低
測試完成
未將電(dian)壓量程(cheng)(cheng)撥至(zhi)10V，電(dian)阻電(dian)流(liu)量程(cheng)(cheng)檔(dang)撥至(zhi)104進行關機。
過電(dian)流或反向(xiang)放(fang)電(dian)沖擊造成儀器過電(dian)流而損壞或測量性能降低(di)
標簽：
電壓擊穿試驗儀
電阻(zu)率測試儀
